唐曉燕,連海根,余俊松,杜 雪
(1.中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十七研究所,河南 鄭州 450047;2.陸軍裝備部駐西安地區(qū)軍事代表局駐鄭州地區(qū)軍事代表室,河南 鄭州 450047)
武器系統(tǒng)的效能評(píng)估是武器研制過(guò)程中十分重要的一個(gè)問(wèn)題。射擊精度是衡量武器系統(tǒng)能否命中目標(biāo)的一個(gè)重要戰(zhàn)技指標(biāo),精確打擊是現(xiàn)代兵器發(fā)展的最終追求目標(biāo)。射擊精度的估計(jì)與評(píng)定一直受到武器研制和鑒定部門(mén)的關(guān)注。射擊精度包括射擊準(zhǔn)確度和射擊密集度,前者描述了落點(diǎn)的系統(tǒng)性偏差,后者描述了落點(diǎn)的隨機(jī)散布特性。
電磁軌道炮發(fā)射彈丸的速度突破了普通火炮的性能極限,彈丸具有重大的動(dòng)能,大大增強(qiáng)了對(duì)目標(biāo)的毀傷能力,同時(shí)減小了彈丸到達(dá)目標(biāo)的飛行時(shí)間,增加了對(duì)付快速目標(biāo)的有效性和命中率,電磁軌道炮視為未來(lái)防空作戰(zhàn)中的重要備選武器之一,電磁軌道炮精確打擊在電磁軌道炮研究領(lǐng)域具有非常重要的地位。
在相同條件下,向同一目標(biāo)發(fā)射出多枚射彈,由于多種因素的影響,射彈的彈著點(diǎn)將在目標(biāo)附近形成散布,其平均彈著點(diǎn)(散布中心)到瞄準(zhǔn)點(diǎn)(一般為目標(biāo)中心)的距離稱(chēng)為炮彈的系統(tǒng)誤差,每個(gè)彈著點(diǎn)到平均彈著點(diǎn)的距離稱(chēng)為隨機(jī)誤差,亦稱(chēng)散布度。通常系統(tǒng)誤差比隨機(jī)誤差小并可以修正,因此又近似地把瞄準(zhǔn)點(diǎn)作為平均彈著點(diǎn)。
電磁發(fā)射系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差主要包括發(fā)射系統(tǒng)集成裝配誤差、膛口抖動(dòng)誤差等。隨機(jī)誤差主要包括膛口抖動(dòng)和電弧力作用誤差等。
對(duì)于電磁軌道炮,系統(tǒng)誤差可以通過(guò)標(biāo)校進(jìn)行修正,本文通過(guò)電磁軌道炮的打擊精度重點(diǎn)考慮射擊密集度情況,即射向散布情況。通過(guò)對(duì)不同的射向散布計(jì)算方法進(jìn)行對(duì)比分析,尋找適合的射擊精度評(píng)估方法。
武器系統(tǒng)射擊精度的估計(jì)方法有許多種,火炮、輕武器、地地戰(zhàn)略導(dǎo)彈等武器系統(tǒng)常用圓概率誤差CEP50的計(jì)算方法進(jìn)行效能評(píng)估,本文根據(jù)CEP50的計(jì)算方法給出相應(yīng)的CEP70、CEP80計(jì)算公式,同時(shí)提出最大包絡(luò)法、高速射像質(zhì)心法和圖解法這三種新的射向散布計(jì)算方法,下面對(duì)上述不同散布評(píng)估方法進(jìn)行介紹。
圓概率誤差是衡量炮彈命中精度的一個(gè)尺度。計(jì)算圓概率誤差的一般方法是先測(cè)出各彈著點(diǎn)的坐標(biāo),求出平均彈著點(diǎn)的坐標(biāo),再用數(shù)學(xué)公式進(jìn)行計(jì)算。對(duì)立靶目標(biāo)進(jìn)行射擊,以目標(biāo)為中心,射擊方位方向分為橫軸,射擊高低方向分為縱軸,以(Y,Z)表示立靶靶面彈丸落點(diǎn)坐標(biāo),且(Y,Z)服從正態(tài)分布,縱橫向獨(dú)立。
圓概率誤差CEP:
式中:σz、σy表示方向、高低散布標(biāo)準(zhǔn)差;μy、μz表示方向、高低散布均值;ρ表示高低、方向落點(diǎn)偏差相關(guān)系數(shù),0≤|ρ|<1;
(1)CEP50計(jì)算公式如下:
根據(jù)上述CEP50的計(jì)算過(guò)程,用同樣地計(jì)算方法,給出CEP70,CEP80的圓概率誤差計(jì)算公式。
(2)CEP70計(jì)算公式如下:
(3)CEP80計(jì)算公式如下:
射向散布:2CEP/L(全角),L為炮口到靶心距離。
根據(jù)一組試驗(yàn)射彈在靶板上的彈著點(diǎn)最大包絡(luò)進(jìn)行計(jì)算。
假設(shè)試驗(yàn)最大包絡(luò)尺寸為Y*Z(Y方向?yàn)楦┭龇较?,Z方向?yàn)樗椒较颍瑥楅L(zhǎng)為D,炮口距離靶面垂直距離為S,η為射彈姿態(tài)有翻轉(zhuǎn)的情況,著靶后擴(kuò)大彈孔采取縮減系數(shù),則下彈著點(diǎn)包絡(luò)在俯仰和水平方向的射向散布分別是:
對(duì)于圖解法,本文通過(guò)計(jì)算不同射彈落點(diǎn)與平均坐標(biāo)點(diǎn)之間的距離,并將這些距離由小到大排序,這些距離可以看做是不同大小的半徑,以平均坐標(biāo)為圓心,可以繪制出若干不同的圓,這些圓包含射彈落點(diǎn)數(shù)依次為1,2,3……,n,(n表示為試驗(yàn)中發(fā)射的射彈量)。根據(jù)落點(diǎn)數(shù)量可計(jì)算不同圓對(duì)應(yīng)的落點(diǎn)率,由此得到不同落點(diǎn)對(duì)應(yīng)的射向散布精度。具體步驟如下:
(1)先測(cè)出各彈著點(diǎn)的坐標(biāo),(Yi,Zi)表示立靶靶面彈丸落點(diǎn)i(i=1、2、…、n)的俯仰、水平坐標(biāo)。
(2)根據(jù)已測(cè)得彈著點(diǎn)坐標(biāo),計(jì)算出平均彈著點(diǎn)坐標(biāo),即散布中心
(3)計(jì)算各點(diǎn)的散布半徑Ri。
(4)對(duì)計(jì)算出的各點(diǎn)散布半徑進(jìn)行從小到大的排序,得到R'j,其中j=1、2、…、n。
(5)繪制包絡(luò)圓,以散布中心(Y,Z)為圓心,排序后的各散布半徑R'j(j=1、2、…、n),得到的圓命名為C(j)(j=1、2、…、n),包含的落點(diǎn)數(shù)量分別對(duì)應(yīng)1、2、3,……,n。
(6)計(jì)算對(duì)應(yīng)要求落點(diǎn)率的射向散布精度。
a.落點(diǎn)率:η=j/n。
b.不同落點(diǎn)率對(duì)應(yīng)的射向散布精度:δ=2R'j/L。
某電磁發(fā)射進(jìn)行若干發(fā)次模擬發(fā)射試驗(yàn),模擬試驗(yàn)前約定散布要求,按照上一章節(jié)射向散布計(jì)算方法進(jìn)行計(jì)算繪圖,結(jié)合落點(diǎn)率和散布要求進(jìn)行方法對(duì)比分析。
(1)對(duì)于圓概率誤差法,圖1給出圓概率誤差CEP50、CEP70、CEP80包含射彈點(diǎn)數(shù)。
圖1 圓概率誤差法示意圖
從圖1中可看出:CEP50、CEP70、CEP80這三種圓概率誤差法通過(guò)計(jì)算公式繪圖的實(shí)際落點(diǎn)率要遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于計(jì)算公式對(duì)應(yīng)的落點(diǎn)率,這是由于圓概率誤差計(jì)算方法適用于試驗(yàn)數(shù)據(jù)較大情形,在試驗(yàn)數(shù)據(jù)較小的情況下圓概率誤差方法將不適用。
(2)對(duì)于圖解法,根據(jù)不同落點(diǎn)率要求進(jìn)行畫(huà)圓,獲取足夠數(shù)量的落點(diǎn)以滿(mǎn)足不同落點(diǎn)率要求。圖2給出采用圖解法繪制的圓圖,不同的圓包含不同的射彈落點(diǎn)情況。
圖2 圖解法畫(huà)圓示意圖
從圖2中可看出不同圓中的落點(diǎn)率與實(shí)際要求完全一致。
(3)對(duì)于最大包絡(luò)法,可以快速計(jì)算出射向散布結(jié)果,且包含全數(shù)落點(diǎn),但考慮全數(shù)落點(diǎn)會(huì)致使射向散布偏大,不滿(mǎn)足要求,對(duì)此可以縮小包絡(luò),采用滿(mǎn)足散布要求的方框進(jìn)行替代,在此方框內(nèi)計(jì)算相應(yīng)落點(diǎn)率,檢測(cè)在射向散布要求下是否滿(mǎn)足落點(diǎn)率要求。
從圖3中可以得到,在不進(jìn)行全數(shù)落點(diǎn)統(tǒng)計(jì)的情況下,進(jìn)行滿(mǎn)足散布要求的最大包絡(luò)繪制,并進(jìn)行落點(diǎn)率統(tǒng)計(jì),得出既滿(mǎn)足散布要求,又不低于落點(diǎn)率要求的最優(yōu)包絡(luò)。
圖3 最大包絡(luò)示意圖
按照射向散布要求,可以將靶面繪制成圓形,也可繪制成方框形狀,圖4給出按照散布要求繪制的圖形。
從圖4中可得出以下結(jié)果:
圖4 散布要求示意圖
a.圓形和方框包絡(luò)對(duì)應(yīng)的落點(diǎn)率不同,方框落點(diǎn)率要優(yōu)于圓形落點(diǎn)率。
b.由于方框包絡(luò)面積大于圓形包絡(luò),在滿(mǎn)足射向散布要求前提下,落點(diǎn)率情況方框優(yōu)于圓形。
四種射向散布計(jì)算分析方法,都可以有效獲得射向散布結(jié)果,不同的計(jì)算方法對(duì)指標(biāo)滿(mǎn)足度有一定的影響。
(1)由于受到電磁動(dòng)能武器壽命限制,受到試驗(yàn)數(shù)據(jù)量的影響,圓概率誤差法在計(jì)算落點(diǎn)率結(jié)果上存在較大偏差,實(shí)際落點(diǎn)情況優(yōu)于計(jì)算公式對(duì)應(yīng)的落點(diǎn)率。
(2)圖解法可以有效解決圓概率誤差方法中存在的落點(diǎn)率不一致問(wèn)題。
(3)最大包絡(luò)法可以有效計(jì)算出所有落點(diǎn)情況下的射向散布結(jié)果,在全數(shù)落點(diǎn)情況下,射向散布結(jié)果可能出現(xiàn)超出要求情況,對(duì)此收縮小包絡(luò),采用滿(mǎn)足散布要求的方框進(jìn)行替代,在此方框內(nèi)計(jì)算相應(yīng)落點(diǎn)率,檢測(cè)在射向散布要求下是否滿(mǎn)足落點(diǎn)率要求。