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        基于連續(xù)動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整算法的工業(yè)機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度分析

        2021-07-02 09:28:52王炳榮崔曉玲
        光學(xué)精密工程 2021年5期
        關(guān)鍵詞:測量

        李 睿,王炳榮,崔曉玲

        (北京工業(yè)大學(xué)北京市精密測控技術(shù)與儀器工程技術(shù)研究中心,北京100124)

        1 引 言

        工業(yè)機(jī)器人是智能制造的關(guān)鍵裝備之一,隨著工業(yè)機(jī)器人在精密制造、航空航天、精密測量等高精度領(lǐng)域應(yīng)用的不斷增加,對(duì)機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)性能要求也越來越高[1]。機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度和重復(fù)性指標(biāo)是衡量機(jī)器人性能最關(guān)鍵的指標(biāo)之一,國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 9283(Manipulating industrial robots-Performance criteria and related test methods)[2],國標(biāo)GB/T 12642-2003:工業(yè)機(jī)器人性能規(guī)范及其試驗(yàn)方法[3],歐洲工業(yè)機(jī)器人標(biāo)準(zhǔn)改進(jìn)項(xiàng)目[4](IRIS)以及美國國家標(biāo)準(zhǔn)ANSI/RIA R15.05-2-1992:Path-Related and Dynamic Performance Characteristics Evaluation[5],均對(duì)機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度和重復(fù)性測試方法進(jìn)行了定義。

        目前,以上3 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)廣泛被應(yīng)用于工業(yè)機(jī)器人軌跡性能測試中。根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 9283 中對(duì)位姿精度的試驗(yàn)規(guī)范和要求,韓國機(jī)器人工業(yè)發(fā)展研究所采用激光跟蹤測量系統(tǒng)[5]對(duì)工業(yè)機(jī)器人進(jìn)行基于D-H 模型的運(yùn)動(dòng)學(xué)參數(shù)標(biāo)定;天津大學(xué)采用雙目視覺系統(tǒng)[6]對(duì)工業(yè)機(jī)器人進(jìn)行了位置誤差標(biāo)定。北京工業(yè)大學(xué)在國標(biāo)GB/T 12642-2013 的基礎(chǔ)上,分析工業(yè)機(jī)器人每一項(xiàng)運(yùn)動(dòng)性能的定義和物理意義并開發(fā)了一套性能測試與評(píng)價(jià)軟件[7]。伊朗科技大學(xué)基于美國ANSI/RIA R15.05-2-1992 標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)了一套基于視覺的工業(yè)機(jī)器人控制系統(tǒng),完成了對(duì)工業(yè)機(jī)器人的軌跡性能測試[8]。

        ISO 9283 和GB/T 12642 標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)定需構(gòu)造垂直于指令軌跡的法平面,與實(shí)際軌跡相交計(jì)算軌跡準(zhǔn)確度,并制定了試驗(yàn)方法,但標(biāo)準(zhǔn)中沒有具體規(guī)定法平面構(gòu)造的位置,僅說明選擇時(shí)應(yīng)與測量形狀和速度相關(guān)。ANSI/RIA 中規(guī)定在指令軌跡上等距構(gòu)造法平面,然而對(duì)于非直線軌跡,受機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)速度和運(yùn)動(dòng)偏差、測量系統(tǒng)的采樣頻率和測量誤差的影響,軌跡上各點(diǎn)法線不斷變化,構(gòu)造的法平面可能相交,導(dǎo)致指令軌跡與實(shí)際軌跡點(diǎn)之間產(chǎn)生錯(cuò)誤的映射,造成較大的測量誤差。

        針對(duì)非直線軌跡法平面構(gòu)造時(shí),受機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度和運(yùn)動(dòng)偏差、測量系統(tǒng)的采樣頻率和測量誤差的影響,導(dǎo)致指令軌跡與實(shí)際軌跡點(diǎn)之間出現(xiàn)映射錯(cuò)誤,造成較大的軌跡測量誤差的問題,本文提出了采用連續(xù)動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整算法(Continuous Dynamic Time Warping,CDTW)解決機(jī)器人軌跡映射的問題,通過對(duì)工業(yè)機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度進(jìn)行測量分析,與國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 9283 中的評(píng)價(jià)方法進(jìn)行對(duì)比,并著重分析了機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度以及測量系統(tǒng)采樣頻率對(duì)軌跡映射方法的影響,驗(yàn)證了動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整方法(Dynamic Time Warping,DTW)應(yīng)用于軌跡準(zhǔn)確度分析的有效性和正確性。

        2 機(jī)器人運(yùn)動(dòng)特性的測試評(píng)價(jià)方法及問題分析

        國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 9283 中規(guī)定,工業(yè)機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度由指令軌跡的位置與各實(shí)到軌跡位置集群中心線之間的偏差決定,如圖1 所示。

        沿指令軌跡選擇m個(gè)點(diǎn)并計(jì)算其法平面,n條實(shí)測軌跡與法平面交點(diǎn)坐標(biāo)的平均值與指令軌跡的距離的最大值A(chǔ)TP為位置軌跡準(zhǔn)確度:

        圖1 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的軌跡準(zhǔn)確度Fig.1 Path accuracy of ISO standard

        美國標(biāo)準(zhǔn)ANSI/RIA R15.05-2-1992 與ISO 9283 的軌跡準(zhǔn)確度試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)相類似,規(guī)定了法平面的放置位置,如圖2 所示。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定指令軌跡必須是二維的,位于標(biāo)準(zhǔn)測試平面XOY上,此標(biāo)準(zhǔn)測試平面為參考平面,取決于機(jī)器人的工作空間,L為標(biāo)準(zhǔn)測試平面的寬度。法平面與標(biāo)準(zhǔn)測試平面法線對(duì)齊,并在參考軌跡上等距放置。通過法平面與指令軌跡和實(shí)測軌跡的交點(diǎn)來計(jì)算軌跡誤差。然而在非直線軌跡的情況下,法平面仍然會(huì)交叉并使時(shí)間序列顛倒,造成軌跡點(diǎn)之間的錯(cuò)誤映射,并且此法平面的構(gòu)造放置方式無法對(duì)尖銳拐角點(diǎn)進(jìn)行映射。

        圖2 美國標(biāo)準(zhǔn)的軌跡準(zhǔn)確度Fig.2 Path accuracy of ANSI

        歐洲機(jī)器人工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)改進(jìn)項(xiàng)目(IRIS)規(guī)定在實(shí)測軌跡的每個(gè)采樣點(diǎn)處構(gòu)造與軌跡切線垂直的法平面。但該方法在軌跡較為復(fù)雜的情況下仍然存在局限性,受機(jī)器人運(yùn)動(dòng)偏差和測量誤差影響,實(shí)測軌跡的切線具有不確定性,法平面可能相交,導(dǎo)致時(shí)間順序顛倒,造成錯(cuò)誤的映射,如圖3 所示。圖3(a)為直線軌跡,由于運(yùn)動(dòng)偏差或測量誤差的影響,采樣點(diǎn)處的法平面可能相交,導(dǎo)致映射的錯(cuò)誤,造成微小的軌跡測量誤差。圖3(b)為拐角軌跡,為保證運(yùn)動(dòng)的連續(xù)平穩(wěn),機(jī)器人在拐角處的運(yùn)動(dòng)軌跡為近似軌跡,實(shí)測軌跡的形狀與指令軌跡在拐角處存在一定的偏差,導(dǎo)致明顯的映射錯(cuò)誤,造成較大的軌跡測量誤差。圖3(c)為一個(gè)實(shí)際的例子,可以看到,拐角處實(shí)測軌跡為接近過渡方式,在拐角處實(shí)測軌跡采樣點(diǎn)的法平面與指令軌跡相交于明顯錯(cuò)誤的位置甚至不相交,造成極大的軌跡測量誤差,在拐角軌跡與直線軌跡的相交處容易發(fā)生圖3(a)所示的映射錯(cuò)誤。

        圖3 切線法平面存在的映射問題Fig.3 Problem of tangent normal plane

        工業(yè)機(jī)器人在空間中的運(yùn)動(dòng)軌跡可以看作時(shí)間的函數(shù),其軌跡數(shù)據(jù)可以看作一條時(shí)間序列。DTW 算法是一種衡量兩個(gè)時(shí)間序列相似度的方法,用滿足一定條件的時(shí)間規(guī)整函數(shù)描述兩者之間的時(shí)間對(duì)應(yīng)關(guān)系,實(shí)現(xiàn)兩序列間的最優(yōu)匹配。因此,針對(duì)指令軌跡與實(shí)際軌跡采樣點(diǎn)之間的映射關(guān)系問題,采用DTW 算法進(jìn)行研究分析。

        3 動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整

        DTW 算法是一種具有非線性時(shí)間歸一化效果的模式匹配算法[10],在工業(yè)機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)軌跡分析中,本文利用這種算法進(jìn)行工業(yè)機(jī)器人實(shí)際軌跡與指令軌跡之間的映射,避免出現(xiàn)映射后時(shí)間順序顛倒的問題。

        3.1 DTW 算法

        DTW 算法是一種把時(shí)間規(guī)整和距離測度計(jì)算結(jié)合起來的非線性規(guī)整技術(shù)[11],通過不斷地計(jì)算兩矢量間的距離來搜索兩者之間最優(yōu)匹配路徑,保證它們之間存在最大的相似度。該算法原理如下:

        定義兩個(gè)離散序列:則,兩個(gè)離散序列中各點(diǎn)xi和yj之間的距離:

        定義兩者的相似性度量函數(shù)D(i,j),即兩條序列之間的累積距離:

        定義規(guī)整路徑ω,將序列Y上的數(shù)據(jù)點(diǎn)非線性地映射到序列X上,使得兩者的累積距離最?。?/p>

        其中:wT=D(i,j),ωT是規(guī)整路徑ω上的第T個(gè)元素,表示xi與yj建立的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

        回溯法[12]是一種選優(yōu)搜索方法,按選優(yōu)策略向前搜索,以達(dá)到目標(biāo),本文選用回溯法得到規(guī)整路徑ω。規(guī)定規(guī)整路徑ω的回溯優(yōu)選策略為:

        (1)邊界性:規(guī)整路徑ω要從點(diǎn)(xm,yn)開始,到點(diǎn)(x1,y1)結(jié)束;

        (2)單調(diào)連續(xù)性:規(guī)整路徑ω從點(diǎn)(xm,yn)開始,只能去往(xm,yn-1)或(xm-1,yn)或(xm-1,yn-1)。

        通過上述約束條件可以找到一條累積距離最小的規(guī)整路徑,此時(shí)序列X和Y之間即可實(shí)現(xiàn)最優(yōu)匹配。采用動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整算法對(duì)兩條二維軌跡進(jìn)行映射分析,結(jié)果如圖4 所示。圖4(a)的坐標(biāo)軸分別表示兩條軌跡的采樣點(diǎn),網(wǎng)格表示兩條軌跡全部采樣點(diǎn)之間的所有可能映射,每個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)的數(shù)值代表兩點(diǎn)間的相似度量值,通過回溯法的優(yōu)選策略得到最優(yōu)規(guī)整路徑,根據(jù)序列間的規(guī)整路徑得到圖4(b)中兩條軌跡的映射關(guān)系。

        圖4 動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整算法的軌跡映射示例Fig.4 Path mapping example of DTW

        3.2 CDTW 算法

        將DTW 算法應(yīng)用于機(jī)器人運(yùn)動(dòng)分析的一個(gè)主要缺點(diǎn)是映射的離散化[13]。機(jī)器人在運(yùn)動(dòng)時(shí)的軌跡是連續(xù)的,但軌跡測量數(shù)據(jù)是離散的,離散的數(shù)據(jù)導(dǎo)致在應(yīng)用DTW 算法進(jìn)行軌跡映射時(shí)只能映射到已有的數(shù)據(jù)點(diǎn),這種匹配導(dǎo)致兩條軌跡間的相似性度量值增大,點(diǎn)與點(diǎn)之間的匹配度降低,可能出現(xiàn)數(shù)據(jù)點(diǎn)之間多對(duì)一的情況。當(dāng)采樣頻率較小時(shí),這種現(xiàn)象更加明顯。

        CDTW 算法的目標(biāo)是找到最佳的連續(xù)規(guī)整路徑,即規(guī)整路徑不再被約束為通過圖中的節(jié)點(diǎn),可以映射到兩個(gè)連續(xù)數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的插值點(diǎn)[14]。不同映射方法獲得的規(guī)整路徑對(duì)比如圖5所示。

        圖5 DTW 與CDTW 映射對(duì)比Fig.5 Mapping comparison between DTW and CDTW

        與DTW 算法的回溯優(yōu)選策略不同,CDTW算法的連續(xù)性不再局限于網(wǎng)格上的節(jié)點(diǎn),路徑匹配規(guī)則如圖6 所示。圖6(a)為采用DTW 算法,規(guī)定規(guī)整路徑ω只能去往3 個(gè)邊界點(diǎn),圖6(b)為采用CDTW 算法,規(guī)整路徑ω可以到達(dá)網(wǎng)格的左方和下方中行列之間的插值點(diǎn)。

        圖6 DTW 與CDTW 路徑匹配規(guī)則對(duì)比Fig.6 Comparison of Path matching rule between DTW and CDTW

        因此,兩序列之間的相似性度量函數(shù)表示如式(6)所示:

        其中,δ為介于0~1 之間的一個(gè)參數(shù)。δ非零時(shí),一條軌跡的對(duì)應(yīng)點(diǎn)必定位于另一條軌跡上的插值點(diǎn),可以通過線性插值模型計(jì)算具體位置[15]。對(duì)于兩條待映射的軌跡曲線C1和C2,通過弧長參數(shù)化來描述線性插值模型,曲線上的插值點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)r1和r2,如圖7 所示。

        圖7 曲線參數(shù)化Fig.7 Curve parameterization

        曲線C1和C2的點(diǎn)坐標(biāo)方程式Ck為:

        其中:

        通過確定r1,r2即可獲得插值點(diǎn)的具體位置。當(dāng)CDTW 算法進(jìn)行回溯時(shí),相似性度量矩陣D(i,j)中如果出現(xiàn)多點(diǎn)映射一點(diǎn)的情況,通過線性插值模型在多對(duì)一映射的數(shù)據(jù)點(diǎn)之間進(jìn)行插值,直到數(shù)據(jù)點(diǎn)間實(shí)現(xiàn)一一映射。通過CDTW算法得到的規(guī)整路徑更平滑,能夠更好的反映測量軌跡與指令軌跡點(diǎn)之間的映射關(guān)系。機(jī)器人在執(zhí)行拐角軌跡過程中速度會(huì)發(fā)生變化,因此在數(shù)據(jù)點(diǎn)相較稀疏的區(qū)域進(jìn)行選擇性的插值處理來提高算法的精度。

        4 機(jī)器人運(yùn)動(dòng)軌跡測量

        本文采用Leica 激光跟蹤儀對(duì)KUKA KR6 R700 工業(yè)機(jī)器人進(jìn)行軌跡測量實(shí)驗(yàn),參照ISO 9283 標(biāo)準(zhǔn)中提供的可選用的試驗(yàn)軌跡規(guī)劃機(jī)器人運(yùn)動(dòng)軌跡,試驗(yàn)裝置如圖8 所示。

        圖8 試驗(yàn)裝置圖Fig.8 Test device

        機(jī)器人的實(shí)際軌跡為時(shí)間的函數(shù),因此與其對(duì)應(yīng)的理論軌跡也應(yīng)該是與時(shí)間相關(guān)的一條軌跡數(shù)據(jù)點(diǎn),而非等間隔采樣的數(shù)據(jù)。根據(jù)在示教器上輸入的指令軌跡,機(jī)器人系統(tǒng)生成一條理論軌跡點(diǎn),該理論軌跡是時(shí)間的函數(shù),可以通過上位機(jī)與機(jī)器人通信實(shí)時(shí)獲得理論軌跡數(shù)據(jù)。機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)控制是由機(jī)器人的內(nèi)部控制環(huán)境KRL(KUKA Robot Language)與RSI(Robot Sensor Interface)來實(shí)現(xiàn)的,KRL 是機(jī)器人控制編程接口,主要對(duì)實(shí)現(xiàn)機(jī)器人的非實(shí)時(shí)控制,在KRL 環(huán)境中編寫運(yùn)動(dòng)軌跡程序。RSI 是機(jī)器人通信接口,實(shí)現(xiàn)與外部系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互,通過上位機(jī)編程對(duì)RSI 對(duì)象進(jìn)行配置和調(diào)用便可實(shí)現(xiàn)機(jī)器人運(yùn)動(dòng)數(shù)據(jù)的獲取。本文通過RSI 讀取機(jī)器人理論軌跡,通過外部測量設(shè)備激光跟蹤儀測量機(jī)器人的實(shí)際軌跡。

        4.1 機(jī)器人通信

        RSI 可通過Ethernet 通信或機(jī)器人總線IO與外部系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)交互,具備周期性的信號(hào)處理和評(píng)估能力。RSI 每隔12 ms 進(jìn)行一次數(shù)據(jù)交互,實(shí)時(shí)性較好。上位機(jī)與機(jī)器人控制器進(jìn)行的數(shù)據(jù)交換是以XML 格式進(jìn)行的,通信前的參數(shù)配置如圖9 所示。

        圖9 XML 文件配置Fig.9 XML file configuration

        RSI 上下文是在KRL 程序中被加載的,其對(duì)信號(hào)的處理與KRL 程序并行執(zhí)行,并可按需要激活或取消激活。RSI 在KRL 程序中調(diào)用的流程為:聲明KRL 變量,創(chuàng)建RSI 上下文,將配置的參數(shù)加載到RSI 容器中。激活RSI,上位機(jī)建立與機(jī)器人系統(tǒng)的通信,機(jī)器人執(zhí)行運(yùn)動(dòng)軌跡,上位機(jī)周期性的獲取機(jī)器人的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),軌跡執(zhí)行結(jié)束后關(guān)閉RSI。

        4.2 機(jī)器人與激光跟蹤儀坐標(biāo)系變換矩陣標(biāo)定

        機(jī)器人基坐標(biāo)系和測量坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換可以通過測量機(jī)器人安裝平面及軸1,2 軸線擬合計(jì)算,但機(jī)器人運(yùn)動(dòng)學(xué)參數(shù)誤差會(huì)影響坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換的準(zhǔn)確性,因此本文采用D-H 模型對(duì)機(jī)器人運(yùn)動(dòng)學(xué)參數(shù)進(jìn)行標(biāo)定[16],利用標(biāo)定后的參數(shù)精標(biāo)定坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換矩陣,提高測量精度。

        利用激光跟蹤儀獲得機(jī)器人末端靶標(biāo)位置,采用位置誤差最小模型解算機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)學(xué)參數(shù),以測量的位置與實(shí)際位置之間的差值最小為約束條件來求解參數(shù),坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換關(guān)系如圖10所示。

        圖10 坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換關(guān)系Fig.10 Coordinate system conversion

        激光跟蹤儀與機(jī)器人坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換存在3 個(gè)旋轉(zhuǎn)誤差δx,δy,δz以及3 個(gè)平移誤差dx,dy,dz。兩坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換矩陣誤差可由如式(8)表示:

        將靶球剛性連接在機(jī)器人末端,相對(duì)于末端只發(fā)生了平移變換,誤差關(guān)系式為:

        建立測量得到的靶球坐標(biāo)系Otm與計(jì)算得到的靶球坐標(biāo)系Otc的關(guān)系式:

        至少選取測量11 個(gè)位置坐標(biāo)用于標(biāo)定,并利用最小二乘法進(jìn)行求解。標(biāo)定后機(jī)器人的坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換矩陣誤差及靶球安裝誤差如表1所示。

        表1 坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換矩陣誤差及靶球安裝誤差Tab.1 Coordinate system transformation matrix error and target ball installation error(mm)

        5 機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度試驗(yàn)

        根據(jù)ISO 9283 標(biāo)準(zhǔn)附錄中的可選測試軌跡數(shù)據(jù)集編輯一條軌跡,該軌跡位于標(biāo)準(zhǔn)測試平面內(nèi),包括直線、圓弧和拐角運(yùn)動(dòng)的組合。機(jī)器人首先執(zhí)行一段直線軌跡,起點(diǎn)P1坐標(biāo)為(400,-50,750),P2為(450,-50,750)。其次執(zhí)行一段圓弧類型的圓滑拐角,設(shè)置拐角為5 mm。最后執(zhí)行一段直線軌跡,終點(diǎn)P3為(450,0,750)。上位機(jī)實(shí)時(shí)讀取機(jī)器人系統(tǒng)的理論軌跡,激光跟蹤儀讀取機(jī)器人的實(shí)際運(yùn)行軌跡,通過坐標(biāo)系變換轉(zhuǎn)換到同一坐標(biāo)系下。

        5.1 直線軌跡映射方法對(duì)比

        為了比較ISO 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定方法、DTW 算法以及CDTW 算法的映射結(jié)果,設(shè)置激光跟蹤儀采樣頻率為50 Hz,首先選取了直線軌跡處的30對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn)。采用ISO 標(biāo)準(zhǔn)方法和DTW 算法進(jìn)行映射,軌跡映射對(duì)比分析如圖11 所示,計(jì)算直線軌跡映射后的軌跡準(zhǔn)確度結(jié)果如圖12所示。

        圖11 直線軌跡映射結(jié)果Fig.11 Comparison of linear path mapping result

        圖12 直線軌跡準(zhǔn)確度計(jì)算結(jié)果Fig.12 Calculation results of linear path accuracy

        圖11 中的直線軌跡,機(jī)器人的運(yùn)行速度相對(duì)穩(wěn)定,采樣點(diǎn)比較均勻,ISO 方法獲得的軌跡準(zhǔn)確度為0.312 mm,DTW 算法獲得的軌跡準(zhǔn)確度為0.306 mm。軌跡準(zhǔn)確定測量精度為0.01 mm,兩種算法計(jì)算結(jié)果相差0.006 mm,相對(duì)誤差1.9%,計(jì)算結(jié)果相一致,說明采用映射算法對(duì)軌跡準(zhǔn)確度的計(jì)算結(jié)果是正確的。

        5.2 拐角軌跡映射方法對(duì)比

        選取拐角處的50 對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn),采用3 種方法分別對(duì)兩種軌跡的數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行映射。對(duì)于ISO 標(biāo)準(zhǔn)中的法平面放置問題,采用文獻(xiàn)8 的方法優(yōu)化。軌跡映射對(duì)比如圖13 所示。

        圖13 拐角軌跡映射結(jié)果比較Fig.13 Comparison of corner path mapping result

        圖13 中可以看到,在機(jī)器人執(zhí)行拐角軌跡時(shí),受機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度以及機(jī)器人運(yùn)動(dòng)偏差的影響,導(dǎo)致實(shí)際軌跡的形狀與指令軌跡存在一定的差別,圖13(a)中的ISO 軌跡映射方法在點(diǎn)21 至點(diǎn)30 處的10 個(gè)點(diǎn)存在時(shí)間序列的失真,占軌跡總點(diǎn)數(shù)的20%,導(dǎo)致映射的錯(cuò)誤,嚴(yán)重影響軌跡準(zhǔn)確度評(píng)價(jià)的正確性。圖13(b)中的DTW 算法則不會(huì)產(chǎn)生這種問題,能夠正確地進(jìn)行軌跡點(diǎn)之間的映射。但由于采樣頻率的限制,在理論軌跡點(diǎn)14,17,21,31,35,37 處存在非一一映射的現(xiàn)象,占總點(diǎn)數(shù)的12%,導(dǎo)致軌跡準(zhǔn)確度的不準(zhǔn)確。圖13(c)中采用CDTW 算法不僅不會(huì)產(chǎn)生映射錯(cuò)誤問題,由于內(nèi)插點(diǎn)的存在,實(shí)際軌跡點(diǎn)能夠映射到理論軌跡的非參考點(diǎn)上,不會(huì)出現(xiàn)一點(diǎn)映射多點(diǎn)的情況。計(jì)算拐角軌跡映射后的軌跡準(zhǔn)確度結(jié)果如圖14 所示。

        圖14 拐角軌跡準(zhǔn)確度計(jì)算結(jié)果Fig.14 Calculation results of corner path accuracy

        ISO 的方法測量得到的軌跡誤差值大,與圖13(a)對(duì)比分析可知,點(diǎn)21 至點(diǎn)30 的測量誤差是由于ISO 方法的映射錯(cuò)誤導(dǎo)致的。DTW 算法明顯減小了映射后的軌跡準(zhǔn)確度,與圖13(b)對(duì)比分析可知,曲線的4 個(gè)峰值點(diǎn)是由于采樣頻率的限制導(dǎo)致數(shù)據(jù)點(diǎn)之間發(fā)生多對(duì)一的映射導(dǎo)致的。CDTW 算法通過內(nèi)插點(diǎn)解決了此問題,誤差曲線更光滑,提高了軌跡準(zhǔn)確度。采用ISO 方法計(jì)算得到的軌跡準(zhǔn)確度為1.343 mm,標(biāo)準(zhǔn)差為0.389 mm;采用DTW 算法計(jì)算得到的軌跡準(zhǔn)確度為0.585 mm,標(biāo)準(zhǔn)差為0.194 mm;采用CDTW 算法計(jì)算得到的軌跡準(zhǔn)確度為0.357 mm,標(biāo)準(zhǔn)差為0.054 mm。CDTW 算法映射后的軌跡準(zhǔn)確度提高73%,標(biāo)準(zhǔn)差減小86%,誤差整體波動(dòng)幅度明顯變小。

        5.3 機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度對(duì)映射的影響

        ISO 9283 中規(guī)定,機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度的測試應(yīng)與軌跡速度相關(guān),因此選擇機(jī)器人運(yùn)行速度50%和100%,分析不同速度下DTW 和CDTW算法對(duì)測量精度的影響。選擇激光跟蹤儀采樣頻率保持50 Hz,獲得兩組軌跡數(shù)據(jù),取得拐角處的57 對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn)和30 對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn),代入DTW 算法和CDTW 算法,分析機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度對(duì)映射方法的影響。不同速度下DTW 算法和CDTW 算法的映射結(jié)果如圖15 所示。

        圖15 不同速度下的DTW 算法和CDTW 算法的映射結(jié)果Fig.15 Mapping results of DTW and CDTW algorithm at different speeds

        由圖15 可知,由于機(jī)器人運(yùn)動(dòng)偏差的影響,機(jī)器人執(zhí)行拐角運(yùn)動(dòng)時(shí)存在過沖和超調(diào),速度越快機(jī)器人運(yùn)動(dòng)偏差越大,同時(shí),相同采樣頻率下,運(yùn)動(dòng)速度越快采樣點(diǎn)個(gè)數(shù)越少。對(duì)比50% 和100%速度下DTW 算法映射的結(jié)果,可以看到數(shù)據(jù)點(diǎn)映射時(shí)都會(huì)出現(xiàn)多對(duì)一的情況,但隨著速度的降低,數(shù)據(jù)點(diǎn)的增加,數(shù)據(jù)點(diǎn)多對(duì)一的映射情況減少。對(duì)于50%和100%速度下的CDTW算法,由于CDTW 能夠進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)之間的插值,因此不會(huì)受到數(shù)據(jù)點(diǎn)密度的影響。映射后的軌跡準(zhǔn)確度對(duì)比分析如表2 所示。

        表2 不同速度下的兩種算法的軌跡誤差對(duì)比Tab.2 Comparison of path error between DTW and CDTW algorithm at different speeds(mm)

        由表2 可知,當(dāng)速度相同時(shí),CDTW 算法相比于DTW 算法軌跡準(zhǔn)確度提高了40%。當(dāng)速度降低時(shí),CDTW 算法標(biāo)準(zhǔn)差減小54%,DTW算法標(biāo)準(zhǔn)差減小34%,CDTW 算法能夠更好地降低誤差整體波動(dòng)幅度。

        5.4 測量系統(tǒng)采樣頻率對(duì)映射的影響

        為了分析測量系統(tǒng)的采樣頻率對(duì)映射的影響,設(shè)置激光跟蹤儀采樣頻率分別為25 Hz,50 Hz 和80 Hz,獲得兩組軌跡數(shù)據(jù),分別取得拐角處的20 對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn)、40 對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn)和68 對(duì)數(shù)據(jù)點(diǎn),代入ISO 算法、DTW 算法和CDTW 算法,分析采樣頻率對(duì)3 種映射方法的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果如表3所示。

        采用ISO 算法進(jìn)行軌跡間的映射,隨著采樣頻率的增大,采樣點(diǎn)之間的距離間隔變小,軌跡切線變得陡峭,出現(xiàn)映射錯(cuò)誤的軌跡點(diǎn)增多。由表3 可知,當(dāng)采樣頻率從25 Hz 增加到80 Hz 時(shí),軌跡準(zhǔn)確度從1.160 mm 降低到1.532 mm,標(biāo)準(zhǔn)差從0.304 mm 增大到0.535 mm。采樣頻率的提高導(dǎo)致ISO 算法映射后的軌跡準(zhǔn)確度降低,誤差整體波動(dòng)幅度增大。

        表3 不同頻率下3 種算法的軌跡誤差對(duì)比Tab.3 Comparison of path error of three algorithms at different frequencies(mm)

        DTW 算法是點(diǎn)對(duì)點(diǎn)之間的映射,隨著采樣頻率的提高,軌跡點(diǎn)密度增大,軌跡點(diǎn)之間能夠更好地實(shí)現(xiàn)一對(duì)一的匹配。通過表3 則可以看出采用DTW 映射方法與ISO 映射方法正好相反,當(dāng)采樣頻率從25 Hz 增加到80 Hz 時(shí),軌跡準(zhǔn)確度從0.678 mm 提高至0.508 mm,標(biāo)準(zhǔn)差從0.242 mm 減小至0.159 mm。采樣頻率的提高導(dǎo)致DTW 算法映射后的軌跡準(zhǔn)確度提高,誤差整體波動(dòng)幅度減小。

        對(duì)于表3 中的CDTW 算法映射軌跡誤差,當(dāng)采樣頻率從25 Hz 增加到80 Hz 時(shí),軌跡準(zhǔn)確度的極值為0.015 mm,標(biāo)準(zhǔn)差的極值為0.003 mm。由于CDTW 算法采用插值計(jì)算,采樣頻率不會(huì)對(duì)其軌跡準(zhǔn)確度造成明顯的影響。

        6 結(jié) 論

        本文提出了一種基于連續(xù)動(dòng)態(tài)時(shí)間規(guī)整方法的工業(yè)機(jī)器人軌跡準(zhǔn)確度分析方法,通過對(duì)兩軌跡序列的相似度最優(yōu)匹配進(jìn)行映射,對(duì)采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)建立插值模型來提高軌跡點(diǎn)之間的映射準(zhǔn)確度,解決了不同速度和復(fù)雜軌跡測量中由于映射錯(cuò)誤導(dǎo)致的軌跡準(zhǔn)確度評(píng)價(jià)不準(zhǔn)確的問題。

        采用激光跟蹤儀測量機(jī)器人的運(yùn)動(dòng)軌跡,針對(duì)直線軌跡與拐角軌跡將該方法與ISO 標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行對(duì)比分析,并分析了機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度和測量系統(tǒng)的采樣頻率對(duì)算法的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:ISO 標(biāo)準(zhǔn)方法和DTW 算法能夠很好地應(yīng)用在直線軌跡準(zhǔn)確度評(píng)價(jià)中,對(duì)于拐角軌跡ISO 方法出現(xiàn)明顯的映射錯(cuò)誤,DTW 算法解決了映射錯(cuò)誤,但受機(jī)器人運(yùn)動(dòng)速度和測量系統(tǒng)采樣頻率的影響存在多點(diǎn)映射的問題,CDTW 算法有效解決了此問題,提高了軌跡準(zhǔn)確度。

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