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        基于準(zhǔn)單色照明光源系統(tǒng)的能量監(jiān)測系統(tǒng)設(shè)計

        2021-06-25 13:05:14汪杰君胡亞東崔珊珊張愛文
        儀器儀表用戶 2021年6期
        關(guān)鍵詞:定標(biāo)光源探測器

        汪杰君,陳 志,胡亞東,崔珊珊,張愛文,葉 松,洪 津

        (1. 桂林電子科技大學(xué) 北海校區(qū) 海洋工程學(xué)院,廣西 北海 536000;2. 桂林電子科技大學(xué) 電子工程與自動化學(xué)院,廣西 桂林 541004;3.中國科學(xué)院 安徽光學(xué)精密機械研究所,合肥 230031)

        圖1 量子效率測量原理示意圖Fig.1 Schematic diagram of quantum efficiency measurement principle

        圖2 EMVA1288標(biāo)準(zhǔn)Fig.2 EMVA1288 Standard

        0 引言

        光源的能量監(jiān)測系統(tǒng)廣泛用于光電二極管探測器相對響應(yīng)度測量、各類探測器定標(biāo)以及各類光源系統(tǒng)的參考探測器、傳遞標(biāo)準(zhǔn)探測器、硅陷進探測器(trap)等領(lǐng)域,是光學(xué)遙感、光輻射測量、偏振測量領(lǐng)域不可或缺的重要組成部分,尤其當(dāng)光源或者系統(tǒng)不穩(wěn)定時,能量監(jiān)測系統(tǒng)的使用能夠有效地降低和校正待測探測器測量的誤差和不確定度[1]。文獻[2]采用超連續(xù)激光單色儀定標(biāo)裝置進行了系統(tǒng)級絕對光譜響應(yīng)度定標(biāo)。監(jiān)視探測器用于監(jiān)測待測探測器接收的相對能量變化。本文主要以用于量子效率測量的連續(xù)可調(diào)諧均勻單色照明光源系統(tǒng)為被監(jiān)測光源系統(tǒng),設(shè)計一款針對其光譜輸出范圍為300nm~2200nm、光源能量輸出范圍為100pW~100nw的能量監(jiān)測系統(tǒng)。

        1 量子效率測量原理

        光電探測器是光輻射測量的基礎(chǔ),而量子效率是光電探測器最重要的參數(shù)[3-5]。連續(xù)可調(diào)諧均勻單色照明光源系統(tǒng)主要作用是用來測量光電探測器量子效率,其測量原理如圖1所示。

        照明光源經(jīng)單色儀分光后輸出準(zhǔn)單色光源,光線入射至積分球內(nèi),經(jīng)多次漫反射后其出射光線被探測器接收。積分球內(nèi)壁的監(jiān)視探頭用于監(jiān)測探測器接收的相對能量變化。絕對定標(biāo)探測器與待測探測器共面放置,通過水平移動導(dǎo)軌來回切換光路,測量探測器接收的光譜輻照度。

        量子效率定義為在某一特定波長的光照下,在一定曝光時間內(nèi),單個像素光敏面的吸收與累積的平均電荷數(shù)與輻射的平均光子數(shù)的比值。它表示探測器芯片在曝光時間內(nèi)將到達像素光敏面的光子轉(zhuǎn)換為電子的百分比,在微觀上描述了探測器的光譜特性,與器件的幾何結(jié)構(gòu)、材料等有關(guān),是衡量探測器性能的最主要因素之一[6]。目前,實現(xiàn)光電探測器量子效率測量的方法主要有3種:光電二極管自校準(zhǔn)[7]、相關(guān)光子檢測[8]和基于低溫輻射計的量子效率測量[9]。歐洲機器視覺協(xié)會提出了專門用于相機測試的EMVA1288標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)給出了用于相機測試的數(shù)學(xué)模型,圖2分別是EMVA1288給出的相機的物理模型和單個像素的數(shù)學(xué)模型。

        從圖2(a)得到:在某曝光時間下,光子撞擊像素表面后,經(jīng)過一系列的步驟,最終轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。量子效率定義為在一定的曝光量下,像元產(chǎn)生的電荷數(shù)與入射到像元表面的光子數(shù)之比,公式如下:

        像元產(chǎn)生的電子經(jīng)過電壓轉(zhuǎn)換、放大器放大之后,最終轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,并以灰度值表示。一般假設(shè)整個過程是線性的,并以增益K表示線性變化率,因此得到公式如下:

        式(2)中,DN(λ)—平均灰度值;DN(λ).dark—暗場平均灰度值;K—系統(tǒng)總增益;J—待測探測器感光照度;A—待測探測器像元面積;Texp—曝光時間;h—普朗克常量;c—光速。由公式(2)可知:待測探測器的量子效率的測量,必須測試其平均灰度值DN(λ)與暗場值DN(λ).dark以及感光面照度J,從而計算出待測探測器的量子效率。

        2 能量監(jiān)測系統(tǒng)的設(shè)計原理

        圖3 能量監(jiān)測系統(tǒng)的設(shè)計原理Fig.3 Design principle of energy monitoring system

        能量監(jiān)測系統(tǒng)的設(shè)計原理如圖3所示。具體方法是在積分球側(cè)壁放置監(jiān)視探頭,用于監(jiān)測待測探測器接收的相對光譜能量,實現(xiàn)量子效率的測量。光源系統(tǒng)的光譜范圍為300nm~2200nm,監(jiān)視探頭需要做3個:探頭一UVS-010硅探測器探頭,監(jiān)測范圍為:300nm~1050nm;探頭二G12180 InGaAs紅外探測器,監(jiān)測范圍為:950nm~1800nm;探頭三 G12183 InGaAs紅外探測器,監(jiān)測范圍為:1600nm~2400nm。

        照明光源入射到單色儀,通過單色儀內(nèi)部的分光光柵實現(xiàn)單色光的連續(xù)輸出準(zhǔn)單色光源,光線入射至積分球內(nèi),在出口處產(chǎn)生均勻面光源照射,其出射光線被監(jiān)測探頭和待測探測器接收。當(dāng)入射光以波長λ入射到積分球產(chǎn)生均勻面光源照射時,監(jiān)視探測器此時輸出的電壓信號值為V(λ),則光源的相對能量值Q(λ)如公式(3)所示。同時,待測量探測器輸出平均灰度值為DN(λ)。

        式(3)中,R(λ)為能量監(jiān)測系統(tǒng)監(jiān)視探測器的相對響應(yīng)度。通過移動水平導(dǎo)軌測的光譜輻照度計的輸出值為J(λ),則:

        式(4)中,Q(λ)—監(jiān)視探測器輸出電壓信號值;V(λ)—對應(yīng)能量值;Q(λ).dark—監(jiān)視探測器暗背景電壓信號值;V(λ).dark—對應(yīng)能量值。α為比例系數(shù),與待測量探測器到積分球光源出口的距離、角度等相關(guān)。文章第2節(jié)對待測量探測器量子效率模型進行了分析,并且給出了待測量探測器的量子效率計算公式,聯(lián)立公式(2)和公式(4)得到待測量探測器量子效率計算公式為:

        圖4 溫控算法控制流程圖Fig.4 Control flow chart of temperature control algorithm

        3 溫控算法的設(shè)計與實現(xiàn)

        用于紅外波段光電探測器監(jiān)視探頭紅外InGaAs G12183探測器,因其自身性能影響,其暗電流受溫度的影響較大,而且探測波段大于1.7μm的紅外InGaAs光電探測器暗電流是可見波段探測器暗電流的百倍以上。所以目前用于紅外測量的InGaAs光電探測器多為制冷型光電探測器,其自帶熱敏電阻和熱電制冷器TEC(Thermoelectric Cooler)。因此,需要設(shè)計其對應(yīng)的溫度控制系統(tǒng),以抑制其暗電流,提高其測量精度[10]。

        開關(guān)控制算法是溫控控制算法的一種常用算法,是最優(yōu)時間控制的一種。如果要實現(xiàn)對探測器精確控溫的功能,則還需要開關(guān)算法進行進一步的優(yōu)化。故為了提高系統(tǒng)的快速響應(yīng)能力,將控制算法改為三段式開關(guān)控制[11]如式(6)所示,其算法流程圖如圖4所示。

        式(6)中,v1為t時刻控制器的輸出;vm為系統(tǒng)最大輸出;ε(k)為溫度給定值與測量值之差;ε1、ε2分別為設(shè)定的閾值。該方案采用將采集到的溫度信號由模擬開關(guān)經(jīng)AD送到溫控FPGA程序,經(jīng)過溫控FPGA芯片處理后產(chǎn)生PWM信號驅(qū)動外部電路,通過控制PWM占空比,實現(xiàn)控

        圖5 3種監(jiān)測探頭采集到的電壓值隨波長變化曲線圖Fig.5 Variation curve of voltage values with wavelength collected by three monitoring probes

        制三極管基極電流從而控制制冷電流,驅(qū)動TEC制冷達到控溫目的。

        4 能量監(jiān)測系統(tǒng)的響應(yīng)度定標(biāo)

        如圖5所示為設(shè)計的能量監(jiān)測系統(tǒng)中3種監(jiān)測探頭采集到的電壓值隨波長變化曲線圖??梢钥闯稣麄€能量監(jiān)測系統(tǒng)已經(jīng)具備其所有設(shè)計功能,監(jiān)測系統(tǒng)波段覆蓋范圍為300nm~2400nm,其電壓信號在0V~4V變化范圍內(nèi)。

        由公式(3)可知:如果要得到監(jiān)視探測器的能量值,必須知道監(jiān)視探測器的相對響應(yīng)度 。因此,必須對能量監(jiān)測系統(tǒng)中的監(jiān)視探測器進行相對響應(yīng)度定標(biāo),從而得到能量監(jiān)測系統(tǒng)監(jiān)視探測器的相對響應(yīng)度。

        4.1 響應(yīng)度定標(biāo)原理

        利用單色儀控制軟件調(diào)整濾光片輪和入射狹縫,分別對設(shè)計的能量監(jiān)測系統(tǒng)中的3個監(jiān)視探頭進行掃描,掃描波長的間隔為10nm。監(jiān)視探測器相對響應(yīng)度定標(biāo)測試示意圖如圖6所示。

        4.2 300nm~1800nm波段定標(biāo)

        已知標(biāo)準(zhǔn)探測器在波長λ照明下輸出功率值Φ(λ,j);標(biāo)準(zhǔn)探測器在暗場輸出功率值Φdark(j);監(jiān)測系統(tǒng)的監(jiān)視探頭在波長λ照明下輸出電壓值V(λ,i);監(jiān)測系統(tǒng)的監(jiān)視探頭在暗場輸出電壓值Vdark(i);m,n為采樣數(shù)。得到監(jiān)測系統(tǒng)監(jiān)視探測器的相對響應(yīng)度R(λ)計算如公式(7)所示:

        圖6 相對響應(yīng)度定標(biāo)測試原理Fig.6 Relative responsivity calibration test principle

        圖7 探頭一和探頭二的相對響應(yīng)度曲線Fig.7 Relative responsivity curve of probe 1 and probe 2

        由公式(7)得到能量監(jiān)測系統(tǒng)探頭一和探頭二的監(jiān)視探測器的相對響應(yīng)度值曲線,分別如圖7(a)、圖7(b)所示。

        4.3 1600nm~2400nm波段定標(biāo)

        由于沒有1800nm~2400nm波段的標(biāo)準(zhǔn)探測器來對能量監(jiān)測系統(tǒng)的探頭三的監(jiān)視探測器進行定標(biāo),所以需要借助ASD(光譜分析儀)來完成在這一波段的定標(biāo),得到其輻亮度曲線如圖8所示。

        圖8 輻亮度曲線Fig.8 Radiance curve

        圖9 相對響應(yīng)度值曲線圖Fig.9 Relative responsivity value curve

        已知能量監(jiān)測系統(tǒng)的監(jiān)視探頭在波長λ照明下輸出電壓值V(λ,i);能量監(jiān)測系統(tǒng)的監(jiān)視探頭在暗場輸出電壓值Vdark(i);m,n為采樣數(shù);L(λ)為輻亮度。得到能量監(jiān)測系統(tǒng)監(jiān)視探測器的相對響應(yīng)度R(λ)計算如公式(8)所示:

        由公式(8)計算得到其相對響應(yīng)度值曲線如圖9所示。通過對相對響應(yīng)度值曲線進行二次多項式擬合,并進行插值處理,得到最終響應(yīng)度曲線如圖10所示。

        圖10 二次多項式擬合值進行插值后曲線Fig.10 Curve of quadratic polynomial fitting value after interpolation

        5 結(jié)束語

        本文首先對連續(xù)可調(diào)諧均勻單色照明光源系統(tǒng)的量子效率測量原理進行了分析,得出了量子效率測量的方法?;谝陨戏椒ㄔO(shè)計出了能量監(jiān)測系統(tǒng),包括用于紅外波段探測器InGaAs的溫度控制系統(tǒng)的程序設(shè)計。除此之外,還對各監(jiān)視系統(tǒng)的3個監(jiān)視探頭進行了相對響應(yīng)度定標(biāo)保證數(shù)據(jù)的可靠性及精度。設(shè)計的光源系統(tǒng)的能量監(jiān)測系統(tǒng),其光譜監(jiān)測范圍為300nm~2200nm,其光源能量監(jiān)測范圍為100pW~100nw,實現(xiàn)了用于光源能量監(jiān)測和量子效率的測量目的。

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