段紅亮,韓一幟,張雪峰,張欣光,秦現(xiàn)生
(1. 北京航天長征飛行器研究所,北京,100076;2. 西北工業(yè)大學(xué)機(jī)電學(xué)院,西安,710072)
2002年美國退出《反彈道導(dǎo)彈條約》后,世界軍事強(qiáng)國都在加速發(fā)展反導(dǎo)防御系統(tǒng)。近年來,區(qū)域沖突及戰(zhàn)爭(zhēng)不斷加劇,美國軍事霸權(quán)主義貿(mào)易保護(hù)主義逐漸抬頭,2019年美國又退出《中程導(dǎo)彈條約》,限制美俄兩國發(fā)展中程彈道導(dǎo)彈的最后障礙也被破除??梢灶A(yù)見,未來幾年內(nèi)美俄兩國必將大力發(fā)展中程彈道導(dǎo)彈,相應(yīng)地也會(huì)促進(jìn)反導(dǎo)防御系統(tǒng)能力進(jìn)一步提升。跟蹤制導(dǎo)雷達(dá)是反導(dǎo)防御系統(tǒng)中“眼睛”,因此如何“致盲”敵方反導(dǎo)系統(tǒng),是關(guān)系到己方導(dǎo)彈武器突防和生存概率的一個(gè)重要問題。其中有源電子干擾是對(duì)抗敵方雷達(dá)的一個(gè)重要手段。
雷達(dá)干擾通常分為兩大類:遮蓋干擾和欺騙干擾,前者主要是通過增大噪聲的功率,淹沒真實(shí)目標(biāo)或降低目標(biāo)的檢測(cè)峰均比,使雷達(dá)的探測(cè)能力減弱;后者主要是針對(duì)目標(biāo)回波中攜帶的角度、距離、速度等信息實(shí)施欺騙,或者構(gòu)造假目標(biāo)欺騙,以破壞雷達(dá)自動(dòng)跟蹤系統(tǒng)對(duì)目標(biāo)的識(shí)別和跟蹤[1]。
電子干擾裝置既可采用遮蓋干擾又可采用欺騙干擾,通過接收雷達(dá)發(fā)射信號(hào),產(chǎn)生相應(yīng)的干擾并發(fā)射出去,壓縮敵方跟蹤制導(dǎo)雷達(dá)的探測(cè)距離或消耗敵方雷達(dá)的有效處理資源,以此來達(dá)到掩護(hù)己方導(dǎo)彈突防的目的。電子干擾裝置有兩個(gè)重要指標(biāo),即靈敏度和有效輻射功率,前者對(duì)應(yīng)到干擾裝置開始干擾敵方雷達(dá)的最遠(yuǎn)距離,后者關(guān)系到干擾裝置壓制/欺騙敵方雷達(dá)的最小距離。這2個(gè)技術(shù)指標(biāo)一般是在專業(yè)微波暗室中測(cè)試[2],在實(shí)際調(diào)試生產(chǎn)測(cè)試時(shí),大多數(shù)總裝生產(chǎn)單位并不具備微波暗室條件,所有產(chǎn)品都在微波暗室中測(cè)試的經(jīng)濟(jì)成本和時(shí)間成本太高,不具備實(shí)際操作意義。
本文提出了一種基于精確鏈路標(biāo)定的實(shí)用測(cè)試方法,可以在地面測(cè)試設(shè)備缺少相關(guān)詳細(xì)技術(shù)參數(shù)的情況下,實(shí)現(xiàn)電子干擾裝置關(guān)鍵參數(shù)的快速精確測(cè)試,通過試驗(yàn)驗(yàn)證,本方法與專業(yè)微波暗室測(cè)試結(jié)果有較好的一致性。
假設(shè)干擾裝置位于雷達(dá)傳播方向上距離為JR處,根據(jù)雷達(dá)方程,可以知道在干擾裝置接收天線口面上,雷達(dá)發(fā)射電磁波的功率密度為
式中PT為雷達(dá)峰值功率;GT為雷達(dá)天線增益;LR′'為雷達(dá)發(fā)射饋線損耗和大氣傳播損耗。若假定干擾裝置接收天線增益(雷達(dá)與干擾裝置連線方向上)為GJR,干擾裝置天線與雷達(dá)發(fā)射波之間的極化失配損耗為Lp′',波長為λ,干擾裝置處接收到的雷達(dá)信號(hào)功率為
式中Lp=LR′ ·Lp′,即包括干擾裝置與雷達(dá)天線極化失配損耗、雷達(dá)發(fā)射饋線損耗、大氣傳播損耗、干擾裝置接收損耗。若干擾裝置的接收(轉(zhuǎn)發(fā))靈敏度為Smin,僅當(dāng)干擾裝置接收的雷達(dá)發(fā)射信號(hào)功率超過其接收靈敏度時(shí),干擾裝置才會(huì)對(duì)雷達(dá)電磁波響應(yīng),否則干擾裝置將保持靜默。這意味著,干擾裝置對(duì)雷達(dá)存在著一個(gè)能夠干擾敵方雷達(dá)的最遠(yuǎn)距離,為RJmax,僅當(dāng) JR小于RJmax時(shí),干擾裝置才能敏感到雷達(dá)的存在并開始正常工作。干擾裝置處接收到最小雷達(dá)信號(hào)功率為
由此可見,干擾裝置的接收靈敏度是關(guān)系到干擾裝置最大作用距離,是一項(xiàng)非常重要的指標(biāo),每個(gè)干擾裝置在應(yīng)該有實(shí)測(cè)值。
若干擾裝置要掩護(hù)的目標(biāo)RCS為σ,PJ為干擾裝置發(fā)射峰值功率,GJ為干擾發(fā)射天線綜合增益(含天線罩損耗),PJJG為干擾裝置有效輻射功率。假設(shè)干擾裝置與掩護(hù)目標(biāo)到雷達(dá)距離相等,對(duì)于常規(guī)雷達(dá)來說,雷達(dá)干擾方程如下[3]:
式中KJ為干擾壓制比;RJmin為最小干擾距離;Gn為雷達(dá)累積增益;BJ為干擾信號(hào)帶寬;Br為雷達(dá)信號(hào)帶寬。
飛行過程中,干擾裝置、掩護(hù)目標(biāo)與雷達(dá)距離逐漸變小,當(dāng)距離小于RJmin時(shí),干擾裝置不能再有效壓制住雷達(dá)信號(hào),即干擾失效,也稱之為“燒穿距離”[4]。所以一個(gè)干擾裝置有效干擾的距離應(yīng)為
干擾裝置的有效輻射功率是關(guān)系到干擾裝置最小作用距離,也是一項(xiàng)非常重要的指標(biāo),每個(gè)干擾裝置在應(yīng)該有實(shí)測(cè)值。
上述兩個(gè)指標(biāo)測(cè)試主要涉及信號(hào)的空間輻射,常規(guī)環(huán)境中因?yàn)橛休^強(qiáng)的電磁干擾,這兩個(gè)指標(biāo)不能精確測(cè),所以在實(shí)際生產(chǎn)中干擾裝置的這兩個(gè)指標(biāo)采信下級(jí)干擾機(jī)注入式的測(cè)試數(shù)據(jù),再疊加天線方向圖數(shù)據(jù),計(jì)算得到靈敏度和有效輻射功率數(shù)據(jù),未考慮因天線阻抗匹配等因素引起的誤差,計(jì)算數(shù)據(jù)與實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)存在一定的誤差,在個(gè)別型號(hào)的某些頻點(diǎn),誤差有時(shí)甚至達(dá)到10 dB以上。
測(cè)試系統(tǒng)包含干擾裝置、供電設(shè)備、微波屏蔽箱、功率計(jì)、信號(hào)源、高頻電纜(以下簡(jiǎn)稱“電纜”)和高頻天線(以下簡(jiǎn)稱“天線”)。其中功率計(jì)和信號(hào)源應(yīng)在標(biāo)校的有效期內(nèi),微波屏蔽箱的尺寸滿足遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試條件,即:
式中L為微波屏蔽箱的長度;D為高頻天線的物理口徑;λmin干擾裝置工作頻段的最小波長。
靈敏度參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)連接關(guān)系如圖1所示。
圖1 靈敏度測(cè)試系統(tǒng)連接示意Fig.1 Connection Diagram of Sensitivity Test System
有效輻射功率參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)連接關(guān)系如圖2所示。
圖2 有效輻射功率測(cè)試系統(tǒng)連接示意Fig.2 Connection Diagram of ERP Test System
為保證測(cè)試有效性,高頻電纜1和高頻電纜2應(yīng)為同型號(hào)、同接口的等長電纜,天線1和天線2應(yīng)為覆蓋干擾裝置工作頻段的同種類天線,天線的極化方式應(yīng)與干擾裝置極化方式相同;微波屏蔽箱的屏蔽頻段應(yīng)覆蓋干擾裝置工作頻段,且屏蔽箱尺寸上保證天線1口面與干擾裝置天線口面距離大于L。天線1的軸線與干擾裝置的軸線在空間上對(duì)齊,天線2的軸線指向干擾裝置天線端。
由圖2可見,屏蔽箱側(cè)壁上需要開3個(gè)孔。天線和干擾裝置安裝完成后,為保證測(cè)試準(zhǔn)確性和安全性,屏蔽箱上的開孔處若仍然存在縫隙,則需要用金屬絲網(wǎng)和金屬膠帶處理,既可避免外界電磁干擾造成測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確,也可避免內(nèi)部微波外漏造成人員傷害。
干擾裝置的靈敏度和有效輻射功率這兩個(gè)參數(shù)指標(biāo),是指在干擾裝置天線口面處的空間電磁信號(hào)強(qiáng)度,由于在干擾裝置天線口面處測(cè)試不具備實(shí)際操作意義,所以工程上一般采用空間輻射式測(cè)量。但是空間輻射式測(cè)量時(shí),又會(huì)引入空間信號(hào)衰減、高頻天線增益(有時(shí)可能小于1)、電纜衰減、接口損耗等因素。以上這些衰減每個(gè)設(shè)備都會(huì)有所差異,且大部分衰減都沒有直接數(shù)據(jù)支撐。例如微波屏蔽箱在生產(chǎn)過程中由于工藝一致性問題,對(duì)外界微波屏蔽效果和空間衰減有較大離散性,出廠標(biāo)定時(shí)也僅僅只有個(gè)別頻點(diǎn)的屏蔽參數(shù)數(shù)據(jù),都缺失鏈路的空間衰減數(shù)據(jù)。另外高頻天線廠家一般也只提供此型號(hào)個(gè)別頻點(diǎn)方向圖的標(biāo)稱值,不提供某一個(gè)天線的具體實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),考慮到大帶寬下高頻天線存在頻率選擇衰落特性,這些數(shù)據(jù)不能滿足對(duì)干擾裝置多頻點(diǎn)精確測(cè)試的需求。
綜上所述,在對(duì)干擾裝置測(cè)試之前,首先必須對(duì)特定的測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行鏈路衰減標(biāo)定。標(biāo)定完成后,依次進(jìn)行靈敏度參數(shù)測(cè)試和有效輻射功率參數(shù)測(cè)試項(xiàng)目。
鏈路標(biāo)定是為了獲取微波屏蔽箱的空間傳播衰減、天線增益和線纜損耗等關(guān)鍵數(shù)據(jù),鏈路標(biāo)定連接關(guān)系如圖3所示。
圖3 鏈路標(biāo)定系統(tǒng)連接示意Fig.3 Connection Diagram of Link Calibration System
信號(hào)源在左側(cè)發(fā)射一個(gè)已知功率PT-fi和已知頻率fi窄帶信號(hào),右側(cè)功率計(jì)上顯示收到輻射信號(hào)的功率值Sr-fi,則兩者關(guān)系如下:
提出專業(yè)指導(dǎo)意見,促進(jìn)臨床實(shí)踐開展。從患者角度而言,護(hù)理安全管理團(tuán)隊(duì)定期考核患者對(duì)護(hù)理安全相關(guān)知識(shí)的認(rèn)知,將進(jìn)一步加強(qiáng)和監(jiān)督護(hù)士對(duì)患者護(hù)理安全相關(guān)知識(shí)的教育,旨在提高患者自身護(hù)理安全的認(rèn)知水平,讓患者親自參與不良事件的防范,更為直接有效地降低不良事件的發(fā)生率。團(tuán)隊(duì)工作方式高效靈活,不僅提高了護(hù)士及患者護(hù)理安全的認(rèn)知水平,而且有利于護(hù)理安全相關(guān)措施的有效落實(shí),進(jìn)而改善了臨床護(hù)理安全管理,提高了護(hù)理質(zhì)量,培養(yǎng)了護(hù)理團(tuán)隊(duì)嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓ぷ鲬B(tài)度和凝聚力[6]。
式中G1-fi,G2分別為天線1和天線2在頻率fi時(shí)的增益;fiλ對(duì)應(yīng)頻率為fi時(shí)的波長;R為天線1和天線2口面之間距離;分別為電纜1和電纜2在頻率fi時(shí)的線損和插損之和。
由于天線1和天線2為同型號(hào),電纜1和電纜2為同型號(hào)同接口,借鑒文獻(xiàn)[5]和[6]中雙程近似方法,等效為
對(duì)式(7)兩側(cè)取對(duì)數(shù):
為了方便快速計(jì)算,if單位取GHz,R單位取m,和單位取dBm,工程簡(jiǎn)化如下:
根據(jù)式(11),從干擾裝置工作所能覆蓋的頻率起點(diǎn)開始,按照一定的頻率步長,例如0.01 GHz,依次測(cè)量獲取測(cè)試系統(tǒng)在所有頻點(diǎn)上的鏈路綜合增益Cfi,為后續(xù)靈敏度測(cè)試和有效輻射功率測(cè)試奠定基礎(chǔ)。
a)設(shè)置信號(hào)源至一定頻率fi,設(shè)置信號(hào)源功率至該儀器所能達(dá)到的最小功率值,如-30 dBm等;
b)觀察功率計(jì)上此時(shí)所顯示的功率值,記為1S;
c)干擾裝置上電后開機(jī),然后觀察功率計(jì)上此時(shí)所顯示的功率值,記為S2。S2與 1S相差不應(yīng)大于3 dBm,否則證明屏蔽箱的屏蔽效果不良;
d)打開信號(hào)源射頻輸出開關(guān),再觀察功率計(jì)上此時(shí)所顯示的功率值,記為S3。此時(shí)S3與S2相差不應(yīng)大于3 dBm,否則證明信號(hào)源的最小輸出功率已經(jīng)大于干擾裝置靈敏度,需要更換信號(hào)源或增加高頻衰減器;
e)以固定步進(jìn)值逐漸調(diào)大信號(hào)源的輸出功率值,例如步進(jìn)值取0.5 dBm,觀察功率計(jì)上所顯示的不斷變化的功率值,當(dāng)功率計(jì)顯示數(shù)據(jù)突然有一個(gè)階躍,記為S4。一般來講,S4與S3相差應(yīng)大于20 dBm以上。若信號(hào)已經(jīng)調(diào)至最大輸出功率,功率計(jì)顯示數(shù)據(jù)仍未發(fā)生階躍,則說明需要更換信號(hào)源或增加有源放大器;
f)停止調(diào)節(jié)信號(hào)源的輸出功率值,記錄下信號(hào)源在該頻點(diǎn)的輸出功率值PT-f i,單位dBm;
g)按照一定的頻率步長(與鏈路標(biāo)定頻率步長一致),改變信號(hào)源頻率,重復(fù)上述步驟,逐次獲取在所有頻點(diǎn)上的輸出功率值PT-f i。
有效輻射功率測(cè)試的系統(tǒng)連接關(guān)系如圖2所示。測(cè)試步驟如下:
a)設(shè)置信號(hào)源至一定頻率fi,設(shè)置信號(hào)源功率至該儀器所能達(dá)到的適當(dāng)功率值,例如5 dBm,為防止信號(hào)源對(duì)功率計(jì)的干擾,一般不宜將信號(hào)源功率設(shè)置過大;
b)觀察功率計(jì)上此時(shí)所顯示的功率值,記為S1;
c)打開信號(hào)源的射頻輸出開關(guān),再觀察功率計(jì)上此時(shí)所顯示的功率值,記為S2。S2與S1相差不應(yīng)大于3 dBm,否則證明信號(hào)源天線2與功率計(jì)天線1之間隔離度不良;
d)干擾裝置上電后開機(jī),然后觀察功率計(jì)上此時(shí)所顯示的功率值,記為Sr-fi,單位dBm。此時(shí)Sr-fi與S2相差應(yīng)大于20 dBm;
e)按照一定的頻率步長(與鏈路標(biāo)定頻率步長一致),改變信號(hào)源頻率,重復(fù)上述步驟,逐次獲取在所有頻點(diǎn)上的功率計(jì)接收功率值Sr-fi。
根據(jù)接收靈敏度的雷達(dá)方式(3),等效至干擾裝置天線口面的接收靈敏度公式如下:
為了方便快速計(jì)算,if單位取GHz,R單位取m,和Ssense-fi單位取dBm,將式(12)簡(jiǎn)化如下:
根據(jù)式(13),可以計(jì)算得到干擾裝置軸向在每個(gè)頻點(diǎn)上等效天線口面的靈敏度數(shù)據(jù)Ssense-fi,單位為dBm。
根據(jù)干擾方程,干擾裝置的有效輻射功率PERP-fi為
同理,為了方便計(jì)算,if單位取GHz,R單位取m,PERP-fi和Sr-fi單位取dBm,將式(14)簡(jiǎn)化如下:
根據(jù)式(15),可以計(jì)算得到干擾裝置在每個(gè)頻點(diǎn)上的軸向有效輻射功率數(shù)據(jù)PERP-fi,單位dBm。
為驗(yàn)證本文所述實(shí)用方法的正確性,選取某型號(hào)的一種干擾裝置。根據(jù)該干擾裝置的設(shè)計(jì)參數(shù),裝置工作頻段為X~X+1 GHz,等效天線口面接收靈敏度分布在Y~Y-10 dBm區(qū)間,有效輻射功率不小于ZdBm。
首先在微波暗室測(cè)出該裝置的靈敏度和有效輻射功率數(shù)據(jù),然后再用本文測(cè)試方法測(cè)出同一個(gè)干擾裝置的靈敏度和有效輻射功率數(shù)據(jù)。微波暗室測(cè)試與本文測(cè)試方法的主要區(qū)別在于:一是微波暗室中外界電磁干擾非常小,而微波屏蔽箱的電磁屏蔽效果較微波暗室差,一般在10 dB以上;二是微波暗室中使用標(biāo)準(zhǔn)天線和標(biāo)準(zhǔn)饋線,其天線增益和饋線損耗都已通過計(jì)量校準(zhǔn)。在微波暗室中測(cè)試步驟直接為靈敏度測(cè)試和有效輻射功率測(cè)試,測(cè)試方法與本文2.4節(jié)和2.5節(jié)基本相同。對(duì)比結(jié)果如圖4和圖5所示。
圖4 靈敏度測(cè)試對(duì)比Fig.4 Comparison of Sensitivity Test
圖5 有效輻射功率測(cè)試對(duì)比Fig.5 Comparison of Effective Radiation Power Test
試驗(yàn)結(jié)果表明本文方法測(cè)試值與暗室測(cè)試值具有較好的一致性,本文方法靈敏度測(cè)試值最大誤差位于頻點(diǎn)X+0.55 GHz處,最大誤差值為1.44 dBm;有效輻射功率測(cè)試最大誤差位于頻點(diǎn)X+0.50 GHz處,最大誤差值為1.52 dBm,兩者誤差均小于2 dBm,證明了本文方法的有效性和準(zhǔn)確性,同時(shí)也證明了本文方法能夠適用于電子干擾裝置的總裝生產(chǎn)環(huán)節(jié)。
本文提出了一種基于精確鏈路標(biāo)定的實(shí)用測(cè)試方法,可以在地面測(cè)試設(shè)備缺少相關(guān)詳細(xì)技術(shù)參數(shù)的情況下,開展電子干擾裝置的總裝測(cè)試,快速實(shí)現(xiàn)電子干擾裝置關(guān)鍵參數(shù)的精確測(cè)試。首先簡(jiǎn)要分析了雷達(dá)干擾的數(shù)學(xué)模型,進(jìn)而詳細(xì)闡述測(cè)試系統(tǒng)搭建和測(cè)試流程以及對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的處理方法,最后對(duì)本方法的有效性進(jìn)行驗(yàn)證,達(dá)到了暗室測(cè)量效果。