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        電子延時(shí)開(kāi)關(guān)復(fù)合溫度及電應(yīng)力加速模型研究

        2021-06-18 03:37:32楊盼奎王大奎
        設(shè)備管理與維修 2021年7期
        關(guān)鍵詞:布爾觸點(diǎn)延時(shí)

        楊盼奎,王大奎,江 斌,劉 廣

        (1.中車(chē)青島四方機(jī)車(chē)車(chē)輛股份有限公司,山東青島 266000;2.西南交通大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,四川成都 610031)

        0 引言

        電子延時(shí)開(kāi)關(guān)廣泛使用于電氣自動(dòng)控制電路,起到延時(shí)控制電路通斷的作用,其可靠性水平和壽命對(duì)自動(dòng)控制系統(tǒng)的可靠運(yùn)行極其重要。隨著電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的開(kāi)合次數(shù)不斷增加,觸點(diǎn)表面出現(xiàn)電磨損、機(jī)械損傷,導(dǎo)致接觸電阻變大,同時(shí)出現(xiàn)延時(shí)不準(zhǔn)等問(wèn)題,性能及可靠性降低,壽命減少[1]。

        目前,國(guó)內(nèi)外學(xué)者研究繼電器等開(kāi)關(guān)元件時(shí),將研究重點(diǎn)放在接觸電阻、吸合時(shí)間和超程時(shí)間等參數(shù)上。葉雪榮等針對(duì)繼電器吸合時(shí)間的退化機(jī)理進(jìn)行了研究[2],李華等利用基于超程時(shí)間建立回歸模型的方法,實(shí)現(xiàn)繼電器的壽命預(yù)測(cè)[3]。翟國(guó)富等基于超程時(shí)間和吸合時(shí)間兩個(gè)變量,建立了數(shù)學(xué)模型并通過(guò)分離趨勢(shì)項(xiàng)的方法,對(duì)繼電器壽命預(yù)測(cè)方法進(jìn)行研究[4]。林義剛等針對(duì)繼電器加速貯存試驗(yàn)設(shè)計(jì)并研制了測(cè)試系統(tǒng),對(duì)貯存退化過(guò)程中敏感參數(shù)進(jìn)行監(jiān)測(cè)[5]。

        電子延時(shí)開(kāi)關(guān)不同于其他電子開(kāi)關(guān),在于有延時(shí)功能。因此單純以超程時(shí)間和吸合時(shí)間來(lái)建立模型預(yù)測(cè)壽命是不夠完善的,還必須考慮其延時(shí)控制[6]。

        本文基于某型電子延時(shí)開(kāi)關(guān)進(jìn)行加速試驗(yàn),獲得接觸電阻及延遲時(shí)間性能參數(shù)。根據(jù)失效數(shù)據(jù)分布,計(jì)算威布爾分布特征壽命,建立溫度及電應(yīng)力復(fù)合加速模型,實(shí)現(xiàn)電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的壽命預(yù)測(cè)。并與常規(guī)應(yīng)用工況下的壽命進(jìn)行對(duì)比,驗(yàn)證模型的預(yù)測(cè)準(zhǔn)確度。

        1 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)介紹

        1.1 工作原理

        電子延時(shí)開(kāi)關(guān)主要由電磁系統(tǒng)、延時(shí)機(jī)構(gòu)和觸點(diǎn)等3 部分組成[6]。設(shè)有常閉觸點(diǎn)及常開(kāi)觸點(diǎn),具有精度高、壽命長(zhǎng)、簡(jiǎn)單可靠等優(yōu)點(diǎn)。電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的工作原理為:當(dāng)控制器接收到啟動(dòng)信號(hào)后開(kāi)始計(jì)時(shí),計(jì)時(shí)結(jié)束后控制工作觸頭開(kāi)或合動(dòng)作,對(duì)電路起延時(shí)開(kāi)關(guān)控制的作用[7]。

        1.2 失效機(jī)理

        隨著使用時(shí)間延長(zhǎng),觸點(diǎn)在不斷斷開(kāi)和閉合過(guò)程中,由于電弧等的侵蝕作用,觸點(diǎn)表面產(chǎn)生損傷,厚度不斷減小,導(dǎo)致觸點(diǎn)間的間隙增加,接觸壓力變小,進(jìn)而導(dǎo)致接觸電阻變大,以及超程時(shí)間變小,壽命縮短。同時(shí),電子延時(shí)開(kāi)關(guān)電容長(zhǎng)期頻繁充放電過(guò)程中,受到熱—電—機(jī)械應(yīng)力的循環(huán)作用,介質(zhì)損耗提高,加速了絕緣老化[6-8]。電容老化直接導(dǎo)致本身電容值減小,充放電時(shí)間減小,最終影響電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的延遲時(shí)間,帶來(lái)延遲誤差。

        1.3 特征參數(shù)

        與電子延時(shí)開(kāi)關(guān)壽命相關(guān)的特征參數(shù)有接觸電阻、吸合時(shí)間及延遲時(shí)間等。可以通過(guò)測(cè)量上述特征參數(shù),研究電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的老化過(guò)程。

        接觸電阻是指一對(duì)觸點(diǎn)閉合時(shí)所呈現(xiàn)出的電阻值。接觸電阻是觸點(diǎn)接觸器件較重要的一項(xiàng)參數(shù),其大小直接影響器件的壽命。測(cè)量接觸電阻可采用伏安法也可以直接使用接觸電阻測(cè)試儀。接觸電阻隨著開(kāi)合次數(shù)的增加,呈現(xiàn)出復(fù)雜的變化特性,但在失效前期,接觸電阻有著明顯的增大趨勢(shì)。在完全失效后,接觸電阻遠(yuǎn)大于初始值。

        吸合時(shí)間是指器件線圈加電到動(dòng)觸點(diǎn)首次碰撞靜觸點(diǎn)所需的時(shí)間[9]。隨著電子延時(shí)開(kāi)關(guān)使用次數(shù)增加以及溫度應(yīng)力和電應(yīng)力的影響,其線圈、機(jī)械結(jié)構(gòu)等均會(huì)發(fā)生不同程度的老化。并且隨著觸頭的累積,電蝕量增加引起觸頭行程增大,使得吸合時(shí)間逐漸增大。

        延遲時(shí)間是指電子延時(shí)開(kāi)關(guān)驅(qū)動(dòng)端得電到后端觸點(diǎn)動(dòng)作所需時(shí)間。隨著電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的使用次數(shù)增加以及溫度應(yīng)力和電應(yīng)力的影響,對(duì)于電子式電子延時(shí)開(kāi)關(guān),其延時(shí)電路中的電容等部件產(chǎn)生老化,進(jìn)而降低延時(shí)時(shí)間的精度,甚至使延時(shí)時(shí)間產(chǎn)生較大偏差。

        綜合分析3 個(gè)特征參數(shù),延遲時(shí)間是表征電子延時(shí)開(kāi)關(guān)延時(shí)性能的重要特征參數(shù)。結(jié)合接觸電阻參數(shù),可以綜合反應(yīng)電子延時(shí)開(kāi)關(guān)觸頭和延時(shí)電路的老化程度。因此本文選取接觸電阻及延遲時(shí)間的準(zhǔn)確率,作為電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的特征參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,并以此進(jìn)行電子延時(shí)開(kāi)關(guān)復(fù)合加速應(yīng)力模型的研究,以及壽命預(yù)測(cè)。

        2 復(fù)合應(yīng)力加速模型

        電子延時(shí)開(kāi)關(guān)在實(shí)際使用過(guò)程中,可能受到復(fù)雜環(huán)境應(yīng)力影響,包括振動(dòng)、溫度、濕度和氣壓等,另外也受到不同電應(yīng)力的影響。綜合考慮這些影響因素,最主要的影響應(yīng)力為溫度應(yīng)力和電應(yīng)力。因此,將溫度應(yīng)力和電應(yīng)力作為主要的加速應(yīng)力,進(jìn)行模擬加速壽命試驗(yàn)。

        參照以往研究成果,溫度加速模型服從阿倫尼斯模型,電應(yīng)力加速模型服從逆冪率模型。

        阿倫尼斯模型是阿倫尼斯基于溫度為加速應(yīng)力提出的模型[10]。

        其中,L 是產(chǎn)品的壽命特征,如中位壽命、平均壽命等;A 是大于0 的常數(shù);E 是與材料有關(guān)的激活能,單位eV;K 是玻爾茲曼常數(shù),8.617×10-5eV/K;T 是絕對(duì)溫度,單位K。E/K 又稱(chēng)為激活溫度,單位K。對(duì)模型兩邊同時(shí)取對(duì)數(shù),可得:

        其中,a=lnA,b=E/K,a 和b 都是待定參數(shù)。因此從阿倫尼斯模型中可知,壽命特征的對(duì)數(shù)與溫度的倒數(shù)呈線性關(guān)系。

        當(dāng)電應(yīng)力作為加速應(yīng)力時(shí),產(chǎn)品的壽命特征符合逆冪率模型[10-11]:

        其中,Z 是大于0 的常數(shù);m 是與材料激活能有關(guān)的正常數(shù);I 是電應(yīng)力,常取電流。

        逆冪率模型表示產(chǎn)品的某壽命特征是電應(yīng)力I 的負(fù)次冪函數(shù)。將模型兩邊取對(duì)數(shù)可得:

        其中,z=lnZ,d=-m,z 和d 均是待定常數(shù),I 大于0。

        將兩種應(yīng)力模型綜合起來(lái),可得到溫度及電應(yīng)力復(fù)合加速模型:

        對(duì)該模型兩邊同時(shí)取對(duì)數(shù)可得:

        其中,a=ln(AZ),b=E/K,z=-m,a,b,z 均為待定常數(shù)。

        3 加速試驗(yàn)及模型參數(shù)計(jì)算

        3.1 加速試驗(yàn)實(shí)施

        根據(jù)某型號(hào)電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的額定參數(shù)(表1),以及實(shí)際使用的電氣及環(huán)境參數(shù),設(shè)計(jì)不同工況的加速試驗(yàn)條件。

        表1 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)額定參數(shù)

        溫度作為加速應(yīng)力時(shí),T0,T1,T2,T3,T4按照其倒數(shù)呈等間隔的原則進(jìn)行選取[11]:

        其中,k=0,1,2,3,4。T0為常溫條件(25 ℃),T4為極限工作最高溫度(80 ℃)。

        工作電流作為加速應(yīng)力時(shí),I0(0.03 A)為實(shí)際使用電流,I4(0.5 A)為極限工作電流。I1,I2,I3按照其對(duì)數(shù)呈等間隔的原則進(jìn)行選取[11]:

        其中,k=1,2,3,4。I0為實(shí)際負(fù)載,I4為極限負(fù)載,根據(jù)式(8)計(jì)算出I1,I2,I3。將對(duì)應(yīng)的Tk和Ik組合形成4 個(gè)梯度的復(fù)合應(yīng)力加速條件。加速試驗(yàn)條件見(jiàn)表2。

        表2 加速試驗(yàn)條件

        3.2 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)特征壽命計(jì)算

        根據(jù)電子延時(shí)開(kāi)關(guān)樣本數(shù)據(jù),完成延時(shí)開(kāi)關(guān)的威布爾分布計(jì)算和特征壽命計(jì)算。隨著應(yīng)力增大,電子延時(shí)開(kāi)關(guān)壽命會(huì)逐漸縮短,因此針對(duì)條件1 和條件2,測(cè)試間隔為1000 次,針對(duì)條件3 和條件4,測(cè)試間隔為500 次,針對(duì)條件5,測(cè)試間隔為100 次。通過(guò)接觸電阻值(大于1 Ω)與延時(shí)準(zhǔn)確率(超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)值±10%)兩個(gè)參數(shù)進(jìn)行失效判定。以樣品1 為例進(jìn)行計(jì)算,試驗(yàn)共用5 個(gè)樣品,即測(cè)試總量n=5,當(dāng)有3 個(gè)樣品失效后停止試驗(yàn),樣品失效時(shí)對(duì)應(yīng)工作次數(shù)見(jiàn)表3。

        表3 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)失效數(shù)據(jù)

        根據(jù)威布爾分布的定義,其累積分布函數(shù)為:

        其中,c 是部件工作次數(shù),β 是威布爾分布形狀參數(shù),η 為威布爾分布尺度參數(shù)。

        對(duì)式(9)進(jìn)行變換,可得:

        對(duì)式(10)取倒數(shù),可得:

        對(duì)式(11)兩邊取自然對(duì)數(shù),可得:

        對(duì)式(12)兩邊取自然對(duì)數(shù),可得:

        將lnc 看作自變量,y 看作因變量,β 即是擬合直線的斜率,直線與Y 軸截距q 為-β×lnη,則。F(c)由失效數(shù)據(jù)的中位秩確定。

        其中,i 為累積失效數(shù)量,n 為測(cè)試總數(shù)量。

        將樣品1 失效數(shù)據(jù)帶入式(14)后得到中位秩F(c)值,見(jiàn)表4。

        表4 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)失效中位秩

        將測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行變換以后,按照x=lnc 為橫坐標(biāo),y 為縱坐標(biāo),在威布爾坐標(biāo)圖中進(jìn)行描點(diǎn),擬合點(diǎn)數(shù)據(jù)見(jiàn)表5。

        表5 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)失效數(shù)據(jù)

        將表5 中數(shù)據(jù)通過(guò)最小二乘法擬合,擬合后圖像如圖1 所示。

        圖1 試驗(yàn)條件1 威布爾分布擬合曲線

        根據(jù)坐標(biāo)中數(shù)據(jù)的擬合結(jié)果,得出形狀參數(shù)和尺寸參數(shù)。由圖1 可知,擬合直線斜率β=3.429 4,直線與縱坐標(biāo)軸截距q=-42.694 6,擬合后直線為:y=3.429 4x-42.694 6。延時(shí)開(kāi)關(guān)的特征壽命η=2.551 3×105。由此得到第一個(gè)電子延時(shí)開(kāi)關(guān)樣品的威布爾形狀參數(shù)β 和特征壽命η。

        同理,得到其余4 組電子延時(shí)開(kāi)關(guān)樣品的威布爾分布擬合曲線,如圖2 所示。

        圖2 試驗(yàn)條件2~5 威布爾分布擬合曲線

        由威布爾分布擬合曲線,可得形狀參數(shù)β 和特征壽命η,見(jiàn)表6。

        表6 電子延時(shí)開(kāi)關(guān)威布爾分布特征參數(shù)

        3.3 加速模型參數(shù)計(jì)算

        式(7)中,由b=E/K,根據(jù)產(chǎn)品廠商提供的原始參數(shù),得到激活能E=0.55 eV,加速系數(shù)m=1.1。經(jīng)計(jì)算可得,b=6382.73 K。將5 組加速試驗(yàn)條件下所得特征壽命數(shù)據(jù),帶入式(7)中,可分別解得系數(shù)a 值為:

        將5 個(gè)計(jì)算結(jié)果取平均值,可得:

        綜合解析后,電子延時(shí)開(kāi)關(guān)溫度及電復(fù)合應(yīng)力加速模型為:

        將式兩邊同時(shí)取自然常數(shù)為底數(shù)的指數(shù)運(yùn)算,可得:

        其中,L 是產(chǎn)品的特征壽命(工作次數(shù));T 是工作環(huán)境溫度,單位K;I 是工作電流,單位A。

        4 加速模型壽命預(yù)測(cè)檢驗(yàn)

        根據(jù)計(jì)算出的復(fù)合應(yīng)力加速模型,推算常溫實(shí)際負(fù)載情況下的部件特征壽命。推算的結(jié)果與試驗(yàn)的結(jié)果進(jìn)行比較,驗(yàn)證加速模型。將常規(guī)試驗(yàn)的條件參數(shù)T=298.15 K(25 ℃),I=0.03 A,代入復(fù)合應(yīng)力加速模型中,可得預(yù)測(cè)結(jié)果為:L1=243 034 次。根據(jù)加速試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析可知,常規(guī)試驗(yàn)的特征壽命為L(zhǎng)0=255 130次。預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率為:。

        5 結(jié)語(yǔ)

        本文通過(guò)研究電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的失效特性,綜合考慮其受到的溫度應(yīng)力和電應(yīng)力影響,設(shè)計(jì)了不同的加速試驗(yàn)條件。采用定數(shù)結(jié)尾法結(jié)束試驗(yàn),獲取失效樣本數(shù)據(jù),對(duì)失效數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,建立威布爾分布模型。計(jì)算不同加速條件下的特征壽命,然后綜合解析出溫度及電應(yīng)力復(fù)合加速模型。使用加速模型對(duì)實(shí)際應(yīng)用條件下的壽命特征進(jìn)行預(yù)測(cè)分析,通過(guò)數(shù)據(jù)比對(duì),復(fù)合應(yīng)力加速模型對(duì)延時(shí)開(kāi)關(guān)的壽命預(yù)測(cè)準(zhǔn)確率為95.26%,該加速應(yīng)力模型可以對(duì)電子延時(shí)開(kāi)關(guān)的壽命研究提供參數(shù)指導(dǎo)。

        中車(chē)科研項(xiàng)目,基金項(xiàng)目2018CDA005-3。

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