劉麗,梁樂繽,時悅,王小治,封克,王圣森
(揚州大學環(huán)境科學與工程學院,江蘇 揚州 225127)
鉻(Cr)被廣泛應用于冶金、顏料以及制革等行業(yè),其常見價態(tài)為三價[Cr(Ⅲ)]和六價[Cr(Ⅵ)][1]。由于Cr(Ⅵ)活性高且具有強氧化性,對環(huán)境和人類健康造成了極大的危害,因此對Cr(Ⅵ)的還原固定研究具有重要意義[2]。
零價鐵(ZVI)作為一種還原劑,具有很強的電子貢獻能力以及高反應活性,已被廣泛用于各種環(huán)境污染物的去除,但ZVI的高表面能及磁特性導致其容易發(fā)生團聚沉降[3],降低了ZVI 反應能力;此外ZVI 還易與水發(fā)生鈍化反應形成鈍化層[4],使其在反應過程中的活性逐漸降低,電子傳遞能力減弱,限制了ZVI 的應用范圍。與ZVI 相比,硫化亞鐵(FeS)具有更好的疏水性、較大的比表面積和較強的電子傳遞能力,對污染物的去除效果相對持久[5],但自身沒有磁性,不利于回收。因此,將ZVI 與FeS 復合可提高ZVI 的分散性和電子傳遞能力。FeS較好的疏水性可以降低ZVI與水反應造成的鈍化損失,使硫化零價鐵(S-ZVI)復合材料能與水中的Cr(Ⅵ)充分接觸;FeS 的還原性可協(xié)同提高ZVI的電子傳遞能力,進而提高復合材料對Cr(Ⅵ)的去除性能[6],同時也具備較好的磁響應性[5]。
S-ZVI 常用的合成方法是在濕法合成ZVI 的過程中加入硫源(硫代硫酸鈉、硫化鈉、連二亞硫酸鈉等),硫化物腐蝕ZVI表層并在表面形成一層FeSx殼。根據(jù)合成過程中硫源的添加順序可分為前置合成法和后置合成法。前置合成法是指將硫源和硼氫化物混合在一起還原溶液中的鐵源(二價或三價鐵離子)形成ZVI 和FeSx混合物;后置合成法是指用硼氫化鈉把鐵源還原為ZVI 后加入硫源最終合成FeSx包裹的ZVI。目前S-ZVI的制備大多采用常規(guī)液相前置還原法,硫源多采用硫化鈉或連二亞硫酸鈉。但硫化鈉有較強的吸濕性使合成的材料不易儲存,連二亞硫酸鈉在合成過程中會過多地消耗ZVI,導致改性后的材料反應性降低[7],因此,選擇一種穩(wěn)定有效的硫源能極大提高S-ZVI的應用價值。與兩者相比,硫代硫酸鈉更穩(wěn)定且廉價易得,而后置合成法制備的材料形貌更加均勻[8]。目前對硫代硫酸鈉后置合成S-ZVI,并從電化學等角度探究硫化改性對ZVI 還原Cr(Ⅵ)性能的增強機理研究卻鮮有報道。
因此,本研究以硫代硫酸鈉為硫源,通過后置合成法制備S-ZVI,比較了其與ZVI的形貌及化學組成,以及在水溶液中去除Cr(Ⅵ)的性能差異,同時研究了pH、腐植酸(HA)和溫度等條件對兩者去除Cr(Ⅵ)性能的影響,并從電化學等角度探究了兩者在去除能力方面存在差異的機理,進一步闡明S-ZVI對Cr(Ⅵ)的去除機制,為S-ZVI的合成應用提供了理論支撐與思路創(chuàng)新。
硫代硫酸鈉(Na2S2O3)、六水合三氯化鐵(FeCl3·6H2O)、硼氫化鈉(NaBH4)、重鉻酸鉀(K2Cr2O7)、鹽酸(HCl)、氫 氧 化 鈉(NaOH)、硫 酸(H2SO4)、磷 酸(H3PO4)、丙酮(C3H6O)、1,5-二苯基碳酰二肼、鄰菲羅 啉(C12H8N2)、鹽 酸 羥 胺(ClH4NO)、乙 酸 鈉(CH3COONa)、硫酸鐵銨[NH4Fe(SO4)2·12H2O]、腐植酸(HA)、無水乙醇、氯化鉀(KCl)、鐵氰化鉀[K3Fe(CN)6]、Nafion 試劑均為分析純;溶液配制及材料制備過程中均采用去離子水。
ZVI材料制備:取25 mL 0.1 mol·L-1的FeCl3·6H2O溶液于250 mL錐形瓶中,持續(xù)通氬氣20 min后,取30 mL 0.3 mol·L-1NaBH4在超聲條件下逐滴加入到錐形瓶中,在滴加結束后繼續(xù)超聲30 min,由此得到含ZVI顆粒的懸濁液。
S-ZVI 材料制備:以上述相同的步驟制得ZVI 溶液,取 2.5 mL 0.1 mol·L-1的 Na2S2O3溶液逐滴加入到制得的ZVI 懸濁液中,超聲30 min,整個反應過程持續(xù)通入氬氣,由此得到含S-ZVI顆粒的懸濁液。
用去離子水以及無水乙醇(體積比2∶1)對兩種液體中所形成的黑色固體顆粒進行多次洗滌后,置于真空干燥箱中,在60 ℃下干燥12 h,研磨即可分別制備ZVI和 S-ZVI。
采用掃描電子顯微鏡(S-4800II)(SEM)和場發(fā)射透射電鏡(Tecnai G2 F30)(HRTEM)觀察材料形貌和表面元素分布;X 射線粉末衍射儀(D8-ADVANCE)(XRD)分析ZVI 和S-ZVI 的晶體結構;比表面積及孔徑分析儀(ASAP 2460)對兩種材料的比表面積、孔徑和孔容進行測定;振動樣品磁強計(VSM-EV7)測定材料的磁化強度;光電子能譜儀(ESCALAB-250)(XPS)分析材料表面元素價態(tài);納米粒度電位測試儀(Zetasizer Nano ZS90)測定材料的Zeta電位。
1.4.1 吸附實驗
配制100 mg·L-1Cr(Ⅵ)溶液,用1 mol·L-1NaOH或 HCl 調(diào)節(jié) pH 至(3.00±0.02)。稱取 0.01 g ZVI、S-ZVI 材料分別置于25 mL 離心管中,并加入10 mL 100 mg·L-1的Cr(Ⅵ)溶液。在室溫條件下進行氣浴振蕩24 h 后,用0.45 μm 濾膜進行過濾,測定濾液中的C(rⅥ)濃度。
Cr(Ⅵ)去除量Qe由公式(1)計算:
式中:Qe為最大吸附量,mg·g-1;C0為初始濃度,mg·L-1;Ce為平衡濃度,mg·L-1;V為溶液體積,mL;m為材料質量,g。
1.4.2 解吸實驗
利用磁吸法收集反應后的材料,用去離子水沖洗后加入 10 mL 1.5 mol·L-1的 HCl[9],室溫氣浴振蕩 12 h,對被吸附的Cr(Ⅵ)進行解吸,解吸液過0.45 μm 濾膜后收集待測。
1.4.3 pH值、HA和溫度對去除Cr(Ⅵ)性能的影響
分別調(diào)節(jié)反應初始 pH 值為 2、3、4、5、6、7、9,Cr(Ⅵ)初始濃度為10、25、50、75、125、175 mg·L-1,反應溶液 HA 濃度為 0 和 50 mg·L-1,反應溫度分別為20、30、40、50 ℃;研究 pH 值、HA 和溫度對 ZVI 和 SZVI 去除及還原Cr(Ⅵ)性能的影響。以上實驗反應時間為24 h。計算Qe。
1.4.4 吸附動力學實驗
配制 100 mg·L-1Cr(Ⅵ)溶液,用 1 mol·L-1NaOH或HCl調(diào)節(jié)pH至(3.00±0.02)。稱取0.01 g ZVI、S-ZVI材料分別置于25 mL離心管中,并加入10 mL 100 mg·L-1的Cr(Ⅵ)溶液。將混合液置于室溫氣浴振蕩,在5、10、15、30、60、120、240、480、720、1 440 min 取樣,過0.45 μm濾膜測定濾液中Cr(Ⅵ)的濃度。
分別選用準一級動力學模型(公式2)、準二級動力學模型(公式3)對兩種材料吸附Cr(Ⅵ)達到平衡時的數(shù)據(jù)進行擬合:
式中:qt和qe分別為t時刻和平衡時材料的吸附量,mg·g-1;k1為準一級動力學方程的反應速率常數(shù),min-1;k2為準二級動力學方程的反應速率常數(shù),mg·g-1·min-1。
1.4.5 等溫吸附實驗
在25 mL 的離心管中分別加入10 mL 初始濃度為10、25、50、75、125、175 mg·L-1的Cr(Ⅵ)溶液,調(diào)節(jié)初始pH為(3.00±0.02)。然后在每個離心管中分別加入 0.01 g ZVI、S-ZVI 材料,室溫下氣浴振蕩24 h,振蕩結束后用0.45 μm 濾膜過濾,測定濾液中Cr(Ⅵ)的濃度。
分別用Freundlich 模型(公式4)和Langmuir 模型(公式5)對材料去除Cr(Ⅵ)的數(shù)據(jù)進行等溫模型分析:
式中:Ce為平衡時的溶液濃度,mg·L-1;Kf為Freundlich常數(shù),mg1-1/n·L1/n·g-1;KL為 Langmuir 常數(shù),L·mg-1;n為Freundlich模型參數(shù);Qm為最大吸附量,mg·g-1。
如無特別說明,上述吸附試驗均在pH 為(3.00±0.02)的條件下進行,材料投加量均為1 g·L-1,濾液的Cr(Ⅵ)濃度均采用二苯碳酰二肼分光光度法測量,總Cr 濃度采用電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP-AES,Perkin Elmer Optima 7300DV,USA)測定,F(xiàn)e(Ⅱ)濃度采用鄰菲羅啉分光光度法測定。所有實驗均設置3次平行重復。
1.4.6 電化學測試
利用電化學工作站(CHI660E)三電極體系進行電化學分析,體系包括工作電極(直徑3.0 mm 的玻碳電極)、參比電極(Ag/AgCl)和對電極(鉑電極)。其中工作電極制備方法如下:取4 mg 材料分散于1 mL 分散劑[含 50 μL 0.5%(wt)Nafion 試劑和 950 μL 乙醇]超聲30 min,然后移取40 μL 懸浮液滴于玻碳電極上,室溫風干后進行測試。
采用Tafel 腐蝕曲線探究材料電子傳遞速率,其電位范圍為-1.2~0 V,掃描速率為0.01 V·s-1。該測試的電解液為100 mg·L-1Cr(Ⅵ)溶液。
采用電化學阻抗譜(EIS,即Nyquist 曲線)探究材料的導電能力,頻率范圍為0.01~105Hz。該測試的電解液為5 mmol·L-1K3Fe(CN)6和 0.1 mmol·L-1KCl,磷酸緩沖液調(diào)節(jié)電解液pH=7。
采用Excel 2013、Origin 8.5 軟件進行數(shù)據(jù)分析和繪圖;使用JADE 6.0進行XRD結果分析。
2.1.1 ZVI與S-ZVI的XRD特征峰分析
由圖 1 可知,ZVI 與 S-ZVI 在 2θ=44.5°處均出現(xiàn)ZVI的特征峰,但未出現(xiàn)鐵氧化物的特征峰,說明所合成的兩種材料中鐵氧化物含量很少或結晶度較低[10]。ZVI與S-ZVI的XRD衍射峰相比,后者衍射峰變寬,表明硫摻雜形成的復合材料結晶度可能相應降低[11]。
2.1.2 兩種材料的形貌特征
掃描電鏡結果(圖2)顯示,ZVI 呈橢圓形或圓球形,且大部分顆粒團聚成鏈狀結構,這主要歸因于ZVI 顆粒固有的磁相互作用以及較高的表面能;硫化改性后的S-ZVI 材料呈片狀結構,與鏈狀結構的零價鐵相比,空間穩(wěn)定性增強[12],這與前人的研究結果一致。
2.1.3 S-ZVI顆粒元素組成分析
采用透射電鏡對S-ZVI 的顆粒元素組成分析結果(圖3)顯示,顆粒含有Fe、S、O 元素,并且硫化改性使S-ZVI顆粒內(nèi)部或表面形成了FeSx,這與XRD零價鐵衍射峰強度減弱的結果一致(圖1)。由此證實,ZVI經(jīng)過硫化改性成功制備S-ZVI。
2.1.4 磁滯曲線分析
ZVI和S-ZVI的磁場強度如圖4所示,ZVI的最大飽和磁化強度為48.94 emu·g-1,大于S-ZVI 的最大飽和磁化強度38.63 emu·g-1,這是因為硫修飾后的ZVI表面形成了一層磁性較弱的FeSx化物,使其磁性降低[13],這與前人研究結果一致。此外,兩種材料的矯頑力和剩磁較小,磁滯回線較窄,這些均符合軟磁材料的特征[14]。因此,利用外部磁場可較易實現(xiàn)兩種材料與溶液分離。
2.1.5 氮氣吸脫附曲線分析
由圖5(a)可知,兩種材料的氮氣吸脫附等溫線均呈Ⅳ型等溫曲線,表明材料中存在介孔[11]。由孔徑分布[圖5(b)]可知,兩種材料以介孔為主。表1顯示,S-ZVI的比表面積(65.95 m2·g-1)明顯高于ZVI的比表面積(34.78 m2·g-1),這是因為硫化改性后,材料表面形成了片狀FeSx化物,減少了顆粒聚集的同時也使表面結構更加粗糙,從而大幅增大了材料的比表面積,有利于對Cr(Ⅵ)的表面吸附[15]。
2.1.6 電化學分析
ZVI 和 S-ZVI 對Cr(Ⅵ)的還原能力與材料自身的電子傳遞能力有關。采用電化學阻抗譜(Nyquist曲線)對兩種材料進行了導電能力分析(圖6a),結果表明,S-ZVI 有更小的曲線半徑,這說明S-ZVI 的導電能力更好[16],更有利于電子轉移。由Tafel 腐蝕曲線(圖6b)可知,S-ZVI的腐蝕電位明顯低于ZVI,表明S-ZVI 在Cr(Ⅵ)還原過程中具有更大的電子傳遞速率[17-18],這與Nyquist 曲線結果相對應,因此理論上SZVI對Cr(Ⅵ)的還原能力明顯強于ZVI。
由圖7 可知,在pH=3 條件下,硫化改性后的SZVI 的 Cr(Ⅵ)去除能力(29.97 mg·g-1)大約為 ZVI 對Cr(Ⅵ)去除能力(11.06 mg·g-1)的3 倍。解吸實驗表明,ZVI 與S-ZVI 均對Cr(Ⅵ)具有較好的還原能力,相對應的Cr(Ⅲ)還原量分別為9.18 mg·g-1和24.87 mg·g-1,占Cr(Ⅵ)總去除量的83.00%和82.98%??梢姡€原作用是ZVI 與S-ZVI 去除Cr(Ⅵ)的主要機制,這可能歸因于S-ZVI 比ZVI 更高的電子傳遞速率[19]。
由ZVI 與S-ZVI 隨時間對Cr(Ⅵ)的去除效果圖(圖8)可知,兩種材料在前120 min 的吸附過程中表現(xiàn)出更大的吸附速率,而后趨于平緩并達到吸附平衡。由表2 中的擬合參數(shù)(R2)可得,準二級動力學模型對反應過程的描述更為貼切,說明材料對Cr(Ⅵ)的吸附屬于化學吸附過程[20]。吸附等溫線(圖9)表明,兩種材料的吸附過程更符合Langmuir 模型,即屬于單層吸附[21],由等溫實驗擬合參數(shù)(表3)可知,兩者最大吸附量分別為12.28 mg·g-1和31.48 mg·g-1,與實際值無明顯差異。
表1 ZVI與S-ZVI的比表面積、平均孔尺寸和平均孔容積Table 1 Surface area,average pore size and pore volume of ZVI and S-ZVI
表2 ZVI與S-ZVI去除Cr(Ⅵ)的動力學模型擬合參數(shù)Table 2 Adsorption kinetics parameters of Cr(Ⅵ)by ZVI and S-ZVI
2.3.1 pH對ZVI和S-ZVI吸附能力的影響
表3 ZVI與S-ZVI去除Cr(Ⅵ)的吸附等溫模型擬合參數(shù)Table 3 Adsorption isotherm parameters of Cr(Ⅵ)by ZVI and S-ZVI
溶液的初始pH 是影響ZVI 的腐蝕速率、電子傳遞能力以及Cr(Ⅵ)在水中存在形態(tài)的重要因素之一[10]。隨著pH 的增大,兩種材料對Cr(Ⅵ)的去除率均呈下降趨勢,pH=2 時,ZVI 與S-ZVI 對Cr(Ⅵ)的去除量最高(圖10a),分別為51.41 mg·g-1和135 mg·g-1,可能是因為低pH 下溶液中浸出Fe(Ⅱ)濃度增加(圖10b)。當溶液pH 提高到3 時,浸出Fe(Ⅱ)量迅速趨近于0,而兩種材料對Cr(Ⅵ)的去除量也均呈下降趨勢,這說明溶液中Fe(Ⅱ)的浸出可促進Cr(Ⅵ)的還原(圖10b)。溶液pH=5~9時,ZVI對Cr(Ⅵ)的去除量(3.05~1.97 mg·g-1)大幅降低,這是因為堿性條件下,ZVI 表面發(fā)生鈍化生成氫氧化鐵沉淀,導致反應活性降低[22]。S-ZVI 在pH=5~9 范圍內(nèi)仍保持更好的反應活性,對Cr(Ⅵ)的去除能力為ZVI 的5.21~6.23 倍,說明S-ZVI可在更寬pH范圍內(nèi)實現(xiàn)Cr(Ⅵ)的去除??紤]到浸出的Fe(Ⅱ)會對環(huán)境造成潛在的二次污染[23],故后續(xù)實驗均在pH=3的條件下進行。
通過測定ZVI 與S-ZVI 在溶液不同初始pH 值條件下的Zeta 電位(圖11),進一步探究了初始pH 值對兩種材料去除Cr(Ⅵ)能力的影響。結果表明,ZVI 與S-ZVI 的等電點(pHpzc)分別為 5.5 和 6.9,因此當反應體系的pH=3時,兩種材料以正電荷為主,可通過靜電作用對Cr(Ⅵ)進行吸附[17]。
2.3.2 HA對ZVI和S-ZVI吸附能力的影響
HA 是土壤和水環(huán)境中常見的有機質,可能會吸附在材料表面從而對Cr(Ⅵ)的去除產(chǎn)生影響[24]。HA(50 mg·L-1)的存在對兩種材料去除Cr(Ⅵ)及還原Cr(Ⅲ)的能力均有明顯的抑制作用(圖12a),這是因為HA 自身的電負性使其可以被ZVI 和S-ZVI 吸附,從而通過與Cr(Ⅵ)競爭材料表面的吸附位點或通過與之間的靜電斥力影響材料對Cr(Ⅵ)的吸附[12],并阻礙部分電子轉移[5]。
2.3.3 溫度對ZVI和S-ZVI吸附能力的影響
不同溫度下Cr(Ⅵ)的吸附實驗表明(圖12b),兩種材料對Cr(Ⅵ)的去除量隨溫度的升高而明顯增大。反應溫度從20 ℃增加至50 ℃時,S-ZVI 對Cr(Ⅵ)的去除量顯著提高了38.7%,ZVI 也有類似趨勢(圖12b)。由此可見,ZVI 與S-ZVI 對Cr(Ⅵ)的去除是一個吸熱反應,升高溫度可以提高材料對污染物的去除能力[12],這與前人的研究結果一致。
為了探究反應機理,對反應前后S-ZVI材料進行了XPS 圖譜分析,結果見圖13。由材料反應前后的XPS 元素組成對比分析(圖13a)可知,反應后Cr 被吸附在材料表面。Fe 2p 分峰擬合(圖13b)表明,在709.5 eV 處出現(xiàn)的衍射峰對應為Fe(Ⅱ)的特征峰[25],其含量約占材料表面Fe 元素總量的25.8%;在708.12 eV 處出現(xiàn)的衍射峰對應為ZVI的特征峰[25],約占材料表面Fe 元素總量的1%。S 2p 分峰擬合(圖13c)表明,在161.3 eV處出現(xiàn)的衍射峰對應為S(-Ⅱ)的特征峰[26],約占材料表面S 元素總量的37.3%,表明硫主要以FeS 的形式覆蓋在材料表面。根據(jù)反應前后Fe 2p的分峰譜圖(圖13b)發(fā)現(xiàn),反應過后,ZVI的特征峰消失,F(xiàn)e(Ⅱ)由25.8%減少為20.2%,F(xiàn)e(Ⅲ)-S 則由22.7%增加為33.2%,F(xiàn)eOOH 的含量由50.5%增加為56.6%。這些結果表明FeSx中的Fe(Ⅱ)與ZVI可作為還原劑還原Cr(Ⅵ),其自身被部分氧化成鐵氧化物。根據(jù)反應前后S 2p 的分峰譜圖(圖13c),S(-Ⅱ)以及Sn(-Ⅱ)均由反應前的37.3%和26.5%減少為21%,而S8與Na2SO4的含量則分別由反應前的15.2%和21%增加為34.5%和23%,這可歸因于S(-Ⅱ)和Sn(-Ⅱ)在還原Cr(Ⅵ)的過程中自身被氧化為單質硫和對應的硫酸鹽。
為進一步探究S-ZVI對Cr(Ⅵ)的還原機理,對反應后材料的Cr 2p 軌道分峰并進行了擬合(圖13d)。其中S-ZVI與Cr(Ⅲ)和Cr(Ⅵ)結合能分別為576.22、586.96 eV[17]和 589.17、579.98 eV[27],575.96 eV 對應著Cr2S3的特征峰[8],進一步驗證S(-Ⅱ)參與了Cr(Ⅵ)的去除過程。由價態(tài)分析結果可得,S-ZVI表面Cr(Ⅲ)的總含量為95.4%,即表面大部分的Cr(Ⅵ)已被還原為Cr(Ⅲ),這與解吸實驗數(shù)據(jù)(圖7)所表現(xiàn)的趨勢相一致。S-ZVI 有更好的Cr(Ⅵ)還原能力可能是由于FeS 本身有一定的疏水性,可以減少改性后材料與水中的溶解氧接觸而造成的鈍化損失,促進其與水中的目標污染物Cr(Ⅵ)反應,提高了電子利用率,這與電化學分析結果相一致(圖6)。此外,F(xiàn)eS中的Fe(Ⅱ)和S(-Ⅱ)可分別與Cr(Ⅵ)形成FeCr2S4[25]和Cr2S3沉淀,使S-ZVI吸附Cr(Ⅵ)能力顯著高于ZVI。
(1)利用硫代硫酸鈉為硫源對ZVI 進行改性,改性后的S-ZVI材料表面具有明顯的片狀結構,比表面積增加為原來的兩倍,顯著提高了對Cr(Ⅵ)的表面吸附能力,且改性后材料的磁場強度未明顯降低。
(2)S-ZVI對Cr(Ⅵ)的去除機理包括表面的S(-Ⅱ)和Fe(Ⅱ)還原、靜電作用吸附以及形成FeCr2S4和Cr2S3等共沉淀。Tafel腐蝕曲線和Nyquist曲線表明硫化改性顯著提高了材料的電子傳遞能力,提高了ZVI的反應活性和對Cr(Ⅵ)的去除。
(3)ZVI 和 S-ZVI 對 Cr(Ⅵ)的去除更符合Langmuir 模型,去除過程更符合準二級動力學模型,即材料對Cr(Ⅵ)的吸附主要為化學吸附。
(4)低 pH 值有利于 ZVI 和 S-ZVI 對Cr(Ⅵ)的去除,但S-ZVI在堿性條件下仍對Cr(Ⅵ)有較好的去除能力;升高溫度有利于S-ZVI 對Cr(Ⅵ)的去除;水中HA的存在對Cr(Ⅵ)的去除有抑制作用。