馬 巖，陳建平，梁湘鵬，閆傳濱

(天津科技大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院，天津 300222)

防污閃復(fù)合涂料(PRTV)是一種新型電氣功能材料，專為電網(wǎng)及各輸、發(fā)、用電用戶徹底消除污閃隱患而設(shè)計(jì)，用于提高輸電線路絕緣子、變電設(shè)備及其他電氣設(shè)備的絕緣性能及使用性能[1-2].PRTV 材料的噴涂厚度要達(dá)到0.3～0.8 mm[3]，且涂層應(yīng)完整、無缺損、無滴流掛絲現(xiàn)象，以確保PRTV 材料的絕緣防污、預(yù)防閃絡(luò)性能.因此，在PRTV 材料噴涂完成后，要先對絕緣子等電氣設(shè)備的涂層質(zhì)量進(jìn)行檢測，再投入使用.在工作一段時(shí)間后，也需對涂層進(jìn)行檢測，發(fā)現(xiàn)有破損情況時(shí)需及時(shí)補(bǔ)涂修復(fù).

目前，國內(nèi)外涂層質(zhì)量檢測方法主要有無損檢測和有損檢測兩類方法.有損檢測主要有探針法、點(diǎn)滴法、液流法、輪廓法等方法，這些檢測方法精度低，檢測周期長，安全性差，且對涂層有較大的破壞性，破壞涂層性能及完整性[4].無損檢測方法主要有射線檢測法、渦流檢測法、磁粉檢測法、超聲檢測法、熱像法等[5–9]，這些方法檢測涂層質(zhì)量時(shí)受檢測環(huán)境影響較大，對厚度較小的涂層及有些涂層材料和基體難以檢測.磁粉檢測法只能用于鐵磁性材料的涂層檢測，渦流檢測法只適用于電導(dǎo)性材料的涂層檢測[10].

以上所述無損檢測方法，主要是針對金屬基體涂層的質(zhì)量檢測.對于絕緣子這樣基體為非金屬基體材料的表面涂層的質(zhì)量檢測，主要運(yùn)用探針檢測法對涂層質(zhì)量進(jìn)行檢測，這樣會破壞涂層完整性，影響絕緣子使用性能和安全性能.對于絕緣子涂層檢測的無損檢測技術(shù)，目前國內(nèi)主要有圖像處理法[11]和敲擊測聲法[4]兩種檢測方法，此兩種方法容易受外部環(huán)境的影響，對檢測環(huán)境的要求嚴(yán)格.

本文提出一種非金屬基體表面涂層質(zhì)量無損檢測方法——壓力測定計(jì)時(shí)法，通過檢測壓力區(qū)間內(nèi)壓力從起始值到達(dá)終止值所用的時(shí)間，判定涂層厚度大小，從而判定涂層質(zhì)量是否合格.在檢測涂層有無缺陷的同時(shí)，還能夠?qū)ν繉雍穸茸鞫糠治?

1 壓力測定計(jì)時(shí)法檢測原理

彼此接觸的兩個(gè)物體，相互擠壓時(shí)會產(chǎn)生抵抗彼此變形的反力，即壓應(yīng)力.當(dāng)二者以一定相對速度持續(xù)擠壓時(shí)，兩者間的壓應(yīng)力隨時(shí)間逐漸增大.當(dāng)高硬度測頭向具有黏彈性特征的低硬度聚合材料涂層持續(xù)垂直進(jìn)給施壓時(shí)，材料的力學(xué)響應(yīng)與時(shí)間有著密切的關(guān)系，二者間的壓力不斷加大.當(dāng)涂層材質(zhì)與基體材質(zhì)(陶瓷或玻璃)存在較大的硬度差時(shí)，該時(shí)間-壓力變化關(guān)系可認(rèn)為是低硬度的聚合材料涂層的受壓形變響應(yīng)規(guī)律.用恒定的進(jìn)給速度對涂層表面進(jìn)行施壓，對于不同的涂層厚度，從設(shè)定的壓力起始值到終止值所用的時(shí)間也不相同.表面涂層越厚，該施壓時(shí)間越長；表面涂層越薄，該施壓時(shí)間越短.可根據(jù)該時(shí)間的差別測定涂層厚度差別.

基于以上原理，提出一種高硬度非金屬基體表面涂層質(zhì)量的檢測方法——壓力測定計(jì)時(shí)法.可根據(jù)不同硬度的涂層材料設(shè)定相應(yīng)壓力區(qū)間，設(shè)計(jì)制造適應(yīng)被測表面形貌的施壓裝置，采用恒定的進(jìn)給速度，對被測涂層表面某一待檢位置垂直施壓，壓力傳感器檢測壓力值的變化.編制專用檢測軟件記錄施壓過程中壓力從起始值到達(dá)終止值所用的時(shí)間，根據(jù)所用時(shí)長來判定涂層厚度大小.對于同一被測表面，可選取多個(gè)位置進(jìn)行多次檢測，以此檢驗(yàn)整個(gè)被測表面涂層均勻度質(zhì)量指標(biāo)是否合格.涂層厚度與時(shí)間的關(guān)系可表達(dá)為

式中：H 為涂層厚度，mm；T 為施壓過程中從起始壓力到終止壓力所用的時(shí)間，ms；W 為轉(zhuǎn)換系數(shù)，mm/ms.

2 絕緣子PRTV復(fù)合涂層質(zhì)量檢測裝置

被測件輸電線路絕緣子實(shí)際結(jié)構(gòu)如圖 1 所示.由圖1 可以看出，被檢測絕緣子外表面較光滑，內(nèi)表面為圓環(huán)狀，內(nèi)外表面形狀差異較大，且絕緣子內(nèi)表面不平整，檢測難度較大.若要檢測整個(gè)絕緣子表面涂層質(zhì)量，需設(shè)計(jì)不同檢測裝置對內(nèi)外表面分別進(jìn)行檢測.因此，設(shè)計(jì)以下兩種檢測裝置對絕緣子內(nèi)外表面涂層質(zhì)量進(jìn)行檢測.

2.1 絕緣子外表面涂層檢測裝置

絕緣子外表面涂層質(zhì)量檢測裝置如圖2 所示.

圖2 絕緣子外表面涂層質(zhì)量檢測裝置Fig. 2 Insulator outer surface coating quality detecting device

該裝置中，絲杠螺母電機(jī)驅(qū)動由底座和陶瓷測量端子組成的下壓裝置實(shí)現(xiàn)對被測表面施加壓力的功能.圓環(huán)安裝在陶瓷測量端子的下端，且與電機(jī)軸和陶瓷測量端子同軸，防止陶瓷測量端子晃動，減小檢測時(shí)誤差對測量精度的影響.整套裝置材料選用絕緣材料，以增強(qiáng)工程現(xiàn)場帶電檢測過程中的安全性，防止漏電、觸電事故的發(fā)生.

測量時(shí)，裝置下端貼近被測表面，絲杠電機(jī)驅(qū)動底座向下移動，下壓被測表面，實(shí)現(xiàn)對絕緣子外表面的檢測.

2.2 絕緣子內(nèi)表面涂層檢測裝置

實(shí)際輸電線路中絕緣子排列緊密，兩絕緣子之間空間有限，且絕緣子內(nèi)表面為溝槽結(jié)構(gòu)，因此設(shè)計(jì)專用檢測裝置對絕緣子內(nèi)表面的涂層質(zhì)量進(jìn)行檢測.絕緣子內(nèi)表面涂層質(zhì)量檢測裝置如圖3 所示.與外表面涂層質(zhì)量檢測裝置相比，內(nèi)表面涂層質(zhì)量檢測裝置的直線運(yùn)動輸出端與輸入端成90°，即絲杠螺母電機(jī)絲桿的輸出方向與陶瓷測量端子的運(yùn)動方向垂直，從而保證陶瓷測量端子能夠接觸到絕緣子內(nèi)表面的凹槽部分，完成對絕緣子內(nèi)表面涂層質(zhì)量的檢測.

圖3 絕緣子內(nèi)表面涂層質(zhì)量檢測裝置Fig. 3 Insulator inner surface coating quality detecting device

3 測試數(shù)據(jù)采集與分析

3.1 壓力測定計(jì)時(shí)法檢測流程

絕緣子涂層質(zhì)量檢測流程如圖4 所示.檢測前，設(shè)定壓力起始值和終止值及進(jìn)給速度.檢測時(shí)，采用專用五自由度機(jī)械臂等移動設(shè)備將檢測裝置的外殼的下環(huán)端面與被測表面接觸.要求未接觸部分縫隙不大于0.2 mm，以避免裝置對被測表面的垂直度誤差過大而影響測量精度.可靠接觸后檢測裝置的絲杠螺母電機(jī)正轉(zhuǎn)，驅(qū)動底座及陶瓷測量端子勻速下壓被測表面.檢測數(shù)據(jù)經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡將數(shù)據(jù)收集并傳輸?shù)絇C 端的數(shù)據(jù)處理軟件中.開始檢測后，壓力到達(dá)設(shè)定壓力區(qū)間的起始值時(shí)，數(shù)據(jù)處理軟件開始計(jì)時(shí)并收集數(shù)據(jù)，當(dāng)壓力值到達(dá)設(shè)定壓力區(qū)間終止值時(shí)，數(shù)據(jù)處理軟件停止計(jì)時(shí)，并停止數(shù)據(jù)的收集.該次測量由起始壓力值至終止壓力值的時(shí)間可反映涂層厚度.經(jīng)專用數(shù)據(jù)處理軟件的分析處理，找出壓力區(qū)間內(nèi)，涂層表面施壓時(shí)間與涂層厚度的對應(yīng)關(guān)系.厚度越大，該時(shí)間越長，二者基本呈線性關(guān)系.針對厚度較小和硬度較高的涂層，可設(shè)置和調(diào)整較低的進(jìn)給速度，延長記值時(shí)間，提高測量精度.實(shí)驗(yàn)表明，該裝置可測出涂層0.1 mm 的厚度差別.對同一表面的同一個(gè)點(diǎn)進(jìn)行多次測量，取平均值，可消除測量時(shí)隨機(jī)誤差帶來的影響.可對同一表面選取多點(diǎn)檢測，即檢測該涂層表面的涂層均勻度質(zhì)量情況.根據(jù)涂層質(zhì)量要求，對涂層質(zhì)量進(jìn)行量化分析，制定相應(yīng)的涂層質(zhì)量檢測規(guī)范，判定涂層厚度和均勻度.圖5 為檢測裝置施壓過程示意圖.

圖4 壓力測定計(jì)時(shí)法檢測流程Fig. 4 Detection process of pressure chronometry method

圖5 檢測裝置施壓過程示意圖Fig. 5 Schema of the pressing process of the detecting device

3.2 測試數(shù)據(jù)分析與處理

在軟件界面上顯示的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理結(jié)果如圖6所示，壓力區(qū)間值經(jīng)數(shù)據(jù)采集卡轉(zhuǎn)換，將壓力值信號轉(zhuǎn)換為電壓信號，取值范圍為0～5 V.圖中各數(shù)據(jù)參數(shù)表示如下：X 代表開始顯示波形時(shí)的壓力值，即計(jì)時(shí)起始壓力；Y 代表壓力值到達(dá)Y 值時(shí)波形鎖定，電機(jī)開始反轉(zhuǎn)，即計(jì)時(shí)終止壓力；T 代表延時(shí)T 毫秒后電機(jī)停止；U、M 代表采集的時(shí)間值超過U 或者低于M 顯示為不合格；Q 代表壓力區(qū)間值；W 代表時(shí)間值乘以轉(zhuǎn)換系數(shù)W 可以得到厚度值；Z 代表壓力值低于Z 值電機(jī)停止.

對被測表面涂層幾乎無涂層處、薄涂層處、厚涂層處分別進(jìn)行多次檢測，并對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)一步處理分析，所得到的幾乎無涂層處、薄涂層處、厚涂層處壓力從起始值到達(dá)終止值所用的時(shí)間分別為200～367 ms、822～1 155 ms、1 358～1 528 ms.表1 所示為幾乎無涂層處、薄涂層處、厚涂層處檢測結(jié)果.

圖6 數(shù)據(jù)處理軟件界面Fig. 6 Software interface of data processing

表1 涂層厚度檢測數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)Tab. 1 Statistics of coating thickness detection

運(yùn)用壓力測定計(jì)時(shí)法對被測表面幾乎無涂層處、薄涂層處及厚涂層處進(jìn)行檢測實(shí)驗(yàn).采用有損針刺法測得涂層厚度作為實(shí)際厚度，選擇涂層實(shí)際厚度為0.1 mm 的位置作為幾乎無涂層處的測量點(diǎn)，選擇實(shí)際厚度為0.3 mm 和0.8 mm 的位置分別為薄涂層處和厚涂層處的測量點(diǎn).由表1 數(shù)據(jù)可以看出，不同厚度的涂層之間所對應(yīng)的壓力起始值和終止值之間的施壓時(shí)間有明顯差別，可根據(jù)時(shí)間差異有效分辨出涂層厚度差異情況.

根據(jù)表1 的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，運(yùn)用壓力測定計(jì)時(shí)法測得的涂層厚度的實(shí)驗(yàn)值見表2.

表2 涂層厚度值對比分析Tab. 2 Comparative analysis of coating thickness values

從表2 可以看出，通過實(shí)驗(yàn)測得的涂層厚度值與通過有損針刺法測得的涂層實(shí)際厚度值相近.因此，該方法可以用于絕緣子涂層質(zhì)量的無損檢測，并可以對涂層厚度相差0.1 mm 的涂層進(jìn)行定量分析.

通過實(shí)驗(yàn)測出不同厚度涂層的對應(yīng)施壓時(shí)間見表3，將該對應(yīng)關(guān)系作為測定涂層厚度的依據(jù).根據(jù)國家電網(wǎng)部門的相關(guān)要求，絕緣子表面PRTV 涂層的合格厚度為0.3～0.8 mm，因此，該方法適用于無損檢測PRTV 涂層質(zhì)量的電力行業(yè)要求.

表3 涂層質(zhì)量判定標(biāo)準(zhǔn)Tab. 3 Standards for determining coating quality

4 結(jié) 語

在絕緣子涂層質(zhì)量檢測中，針對不同厚度的涂層材料在同一壓力區(qū)間內(nèi)從壓力起始值到達(dá)終止值所用時(shí)間與涂層厚度的分析，確定了一種用于絕緣子表面涂層質(zhì)量的無損檢測方法——壓力測定計(jì)時(shí)法，實(shí)現(xiàn)對絕緣子等高硬度非金屬基體涂布較低硬度涂層的涂層厚度的無損檢測.同時(shí)，研發(fā)針對不同表面形態(tài)被測表面的檢測裝置，實(shí)現(xiàn)被檢測設(shè)備內(nèi)外表面的涂層質(zhì)量檢測.根據(jù)同一壓力區(qū)間內(nèi)涂層受壓時(shí)間差異確定涂層厚度，可測出涂層0.1 mm 的厚度差別.壓力測定計(jì)時(shí)法可以應(yīng)用于所有基體材料為高硬度非金屬材料，涂層材料為低硬度非金屬材料的涂層質(zhì)量檢測.