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        帶可變遺忘因子遞推最小二乘法的超級(jí)電容模組等效模型參數(shù)辨識(shí)方法

        2021-03-16 08:36:24謝文超趙延明方紫微劉樹立
        電工技術(shù)學(xué)報(bào) 2021年5期
        關(guān)鍵詞:實(shí)驗(yàn)模型

        謝文超 趙延明,2 方紫微 劉樹立

        (1. 湖南科技大學(xué)信息與電氣工程學(xué)院 湘潭 411201 2. 風(fēng)電機(jī)組運(yùn)行數(shù)據(jù)挖掘與利用技術(shù)湖南省工程研究中心(湖南科技大學(xué)) 湘潭 411201)

        0 引言

        風(fēng)力發(fā)電是可再生能源技術(shù)中最具有發(fā)展前景的技術(shù)之一,在現(xiàn)代電網(wǎng)中,風(fēng)力發(fā)電的普及可以降低電力系統(tǒng)的慣性[1]。而變槳系統(tǒng)是變速恒頻風(fēng)力發(fā)電機(jī)組的重要組成,它不僅關(guān)系到大型MW級(jí)風(fēng)機(jī)的安全運(yùn)行,而且對(duì)風(fēng)能吸收具有較好的控制作用[2]。而變槳系統(tǒng)備用電源是其中的關(guān)鍵零部件。變槳系統(tǒng)的備用電源通常采用鉛酸蓄電池或者鋰電池[3]。隨著超級(jí)電容儲(chǔ)能技術(shù)的迅速成熟和大規(guī)模應(yīng)用,超級(jí)電容器作為獨(dú)立或輔助儲(chǔ)能系統(tǒng)的運(yùn)行安全性越來(lái)越受到人們的關(guān)注[4]。超級(jí)電容比傳統(tǒng)的電解電容器具有更高的能量密度,比目前的儲(chǔ)能元件(如電池)具有更高的功率密度[5],且還具有充放電速度快、工作效率高、循環(huán)壽命長(zhǎng)、報(bào)廢處理綠色環(huán)保、能承受瞬時(shí)大電流充放電等優(yōu)點(diǎn)[6-11],已經(jīng)開(kāi)始逐步取代鉛酸蓄電池等傳統(tǒng)電池成為風(fēng)力發(fā)電機(jī)變槳系統(tǒng)的備用電源[12-13]。備用電源屬于典型間隙性工作,通常變槳系統(tǒng)都是由電網(wǎng)供電,正常工況下,備用電源處于靜置狀態(tài);在遭遇大風(fēng)惡劣天氣或者電網(wǎng)掉電等極端情況時(shí),備用電源給變槳系統(tǒng)供電完成緊急順槳,保證風(fēng)機(jī)安全穩(wěn)定。

        剩余容量[14]是用來(lái)標(biāo)稱當(dāng)前電容容量的狀態(tài)參數(shù)[15],為了精確估算超級(jí)電容模組剩余容量,必須建立一個(gè)能精確反映超級(jí)電容模組充放電特性尤其是靜置自放電特性的等效模型,并辨識(shí)等效模型參數(shù),其辨識(shí)方法的選取直接影響著模型辨識(shí)結(jié)果。準(zhǔn)確反映實(shí)際性能特征的超級(jí)電容模型對(duì)合理利用、優(yōu)化性能和系統(tǒng)仿真同樣具有重要意義[16-17]。Luis Zubieta等[18]提出了一種基于雙層電容器三RC分支電路模型參數(shù)辨識(shí)方法,通過(guò)對(duì)電容器進(jìn)行充電,并在 30min內(nèi)觀察內(nèi)電荷再分配過(guò)程中的終端電壓,分析電路關(guān)系來(lái)確定模型參數(shù)。這種方法簡(jiǎn)單直接,可操作性強(qiáng),但是辨識(shí)精度比較低,適用于精度要求不高的場(chǎng)合。Chin-Teng Goh等[19]在考慮電容的電壓和電荷依賴性的基礎(chǔ)上,提出了一種新的雙變量二次型方法來(lái)近似超級(jí)電容器的電荷電壓特性,從而辨識(shí)出模型的參數(shù),二元二次擬合方法實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)單,但是求解結(jié)果為特定的解,可能產(chǎn)生虛根問(wèn)題從而導(dǎo)致辨識(shí)結(jié)果不準(zhǔn)確。趙洋等提出了一種改進(jìn)的最小二乘法來(lái)辨識(shí)超級(jí)電容的參數(shù)[20],最小二乘法簡(jiǎn)單直觀,對(duì)非線性模型參數(shù)具有很好的統(tǒng)計(jì)效果,但辨識(shí)精度不高[21]。Xu Dan等利用受控電流源來(lái)反映超級(jí)電容器的自放電效應(yīng),采用粒子群算法對(duì)受控電流源不同階段的參數(shù)進(jìn)行辨識(shí)[22],粒子群算法辨識(shí)精度高,但是計(jì)算復(fù)雜。黃凱等提出一種基于信息反饋的粒子群算法用于鋰電池一階RC 等效電路模型參數(shù)辨識(shí),辨識(shí)精度較高,對(duì)超級(jí)電容模型辨識(shí)具有借鑒意義,但是對(duì)于多階模型相對(duì)計(jì)算復(fù)雜[23]。A. E. Mejdoubi[24]提出一種基于自適應(yīng)增益模觀測(cè)器的在線辨識(shí)方法,考慮容量和偏置電壓之間的非線性關(guān)系,進(jìn)行了李雅普諾夫穩(wěn)定性分析,但此方法辨識(shí)結(jié)構(gòu)復(fù)雜,實(shí)現(xiàn)較困難[25]。等效模型參數(shù)的辨識(shí)方法的選取直接影響著模型辨識(shí)結(jié)果,進(jìn)而影響模型精度,選擇什么樣的辨識(shí)方法與不同應(yīng)用背景息息相關(guān)。

        1 超級(jí)電容模組模型

        許多國(guó)內(nèi)外的專家學(xué)者對(duì)超級(jí)電容的建模做了大量的研究。超級(jí)電容的雙電層模型是由德國(guó)的亥姆霍茲首先提出的,并由古伊等[26]提出的雙電層理論發(fā)展而來(lái),雙電層模型能夠很好地表達(dá)超級(jí)電容的物理意義,但是不適合表征超級(jí)電容的電氣特性。單金生等[27]對(duì)幾種基于阻抗特性的超級(jí)電容模型進(jìn)行了分析和總結(jié),基于阻抗特性的超級(jí)電容模型有較好的頻率適應(yīng)性,可以較好地表征超級(jí)電容的阻抗特性,但是參數(shù)需要通過(guò)阻抗譜分析來(lái)確定,需要的實(shí)驗(yàn)設(shè)備較多,實(shí)驗(yàn)較為復(fù)雜。分?jǐn)?shù)階微積分是描述超級(jí)電容器內(nèi)部多孔電極和電解液電學(xué)行為的有力工具[28],A. Allagui等[29]提出了一套分別在正弦激勵(lì)、階躍電流輸入和線性電壓輸入下,用分?jǐn)?shù)階微積分計(jì)算超級(jí)電容參數(shù)的方法,超級(jí)電容分?jǐn)?shù)階模型具有精度高、參數(shù)少、復(fù)雜度低等優(yōu)點(diǎn),但是如果階數(shù)較高會(huì)占用大量的運(yùn)算時(shí)間,在要求實(shí)時(shí)性的場(chǎng)合不太適用。A. Varsha等[30]研究了經(jīng)典等效電路模型,其電路簡(jiǎn)單,辨識(shí)方便,但是在長(zhǎng)時(shí)間充放電和靜置情況下存在較大的誤差,不能很好地表征非線性特性。超級(jí)電容通常由電阻元件和電容元件組成的等效電路模型來(lái)表征其特性,如果要應(yīng)用于頻率敏感的場(chǎng)合,還可以引入電感元件[31]。超級(jí)電容通常串聯(lián)成超級(jí)電容模組使用,而大規(guī)模儲(chǔ)能應(yīng)用中超級(jí)電容模組需要大量串并聯(lián)組合工作[32]。于是本文以單體串聯(lián)成的超級(jí)電容模組為研究對(duì)象,為了合理有效表征超級(jí)電容模組在充放電過(guò)程中、充放電結(jié)束后內(nèi)部電荷再分配以及靜置過(guò)程中自放電現(xiàn)象等動(dòng)態(tài)特性,建立了超級(jí)電容模組三分支電路等效模型,如圖1所示。I為輸入電流;U為超級(jí)電容模組端電壓;Rf為超級(jí)電容模組的等效串聯(lián)內(nèi)阻,包含了單體串聯(lián)時(shí)產(chǎn)生的附加串聯(lián)電阻;固定電容Cf0和隨電壓變化的可變電容Cf1并聯(lián)構(gòu)成可變電容Cf;Rf和Cf組成了充放電支路;Rl為固定電阻,Cl為固定電容,Rl和Cl組成了電荷平衡支路;Rsd為一個(gè)阻值較大的固定電阻,組成了自放電支路。

        圖1 超級(jí)電容模組三分支電路等效模型Fig.1 Three-branch equivalent circuit model of supercapacitor cell module

        2 帶可變遺忘因子的RLS參數(shù)辨識(shí)方法

        遞推最小二乘(Recursive Least Squares, RLS)法是一種常用的辨識(shí)算法,易實(shí)現(xiàn)且有較高的精度,但在辨識(shí)過(guò)程中隨著數(shù)據(jù)量的增大會(huì)出現(xiàn)“數(shù)據(jù)飽和”等問(wèn)題,對(duì)于時(shí)變系統(tǒng)不能很好地進(jìn)行參數(shù)跟蹤[33]。于是在遞推最小二乘法中引入遺忘因子λ,用來(lái)確定數(shù)據(jù)更新的權(quán)重,防止出現(xiàn)“數(shù)據(jù)飽和”的情況[34],其算法的收斂速度、跟蹤速度和修正效果受遺忘因子的影響。

        待辨識(shí)系統(tǒng)的輸入-輸出模型可表示為

        式中,y(k)為系統(tǒng)輸出量的第k次觀測(cè)值;y(k-i)為系統(tǒng)輸出量的第k-i次觀測(cè)值;u(k-i)為系統(tǒng)輸入量的第k-i次輸入值;ε(k)為系統(tǒng)的測(cè)量噪聲;φ(k)為系統(tǒng)輸入輸出量的觀測(cè)向量;θ為待辨識(shí)的參數(shù)向量。

        對(duì)于式(1)所示的待辨識(shí)系統(tǒng)模型,帶遺忘因子的遞推最小二乘法的遞推公式為[35-36]

        式中,W為加權(quán)對(duì)角陣;Φ為觀測(cè)向量,加權(quán)對(duì)角陣W為

        式中,N為觀測(cè)數(shù)據(jù)組數(shù),觀測(cè)矩陣Φ為

        式中,λ為遺忘因子,其表達(dá)式為

        式中,λ1(k)和λ2(k)為構(gòu)成遺忘因子的兩個(gè)權(quán)重,取值范圍分別為 0 <λ1(k) ≤ 1,0 <λ2(k)≤ 1。通過(guò)調(diào)整權(quán)重λ1(k)和λ2(k)的取值,影響自適應(yīng)增益的變化,使誤差的協(xié)方差矩陣P(k+1)最小。在參數(shù)辨識(shí)的過(guò)程中,可以根據(jù)被辨識(shí)系統(tǒng)的情況來(lái)確定λ1(k)和λ2(k)的取值,λ1(k)和λ2(k)的取值情況分為三種:

        (1)λ1(k)和λ2(k)都取 1的情況,即:λ1(k)=1,λ2(k)=1,此時(shí)式(2)為基本遞推最小二乘法。

        (2)λ2(k)取 1,λ1(k)取范圍內(nèi)固定值的情況,即λ2(k)=1,λ1(k)=λ1, 0 <λ1<1,適用于緩變系統(tǒng)的參數(shù)辨識(shí)。

        (3)λ2(k)取 1,λ1(k)取可變值的情況,即:λ2(k)=1,λ1(k) =λ0λ1(k?1)+1?λ0,系數(shù)λ0的取值范圍為0<λ0<1,適用于平穩(wěn)系統(tǒng)的參數(shù)辨識(shí),避免了自適應(yīng)增益的過(guò)快下降,使收斂的速度加快。

        對(duì)于超級(jí)電容模組三分支電路等效模型,如圖1 所示,需要辨識(shí)的參數(shù)有Rf、Cf、Rl、Cl、Rsd。首先,確定系統(tǒng)輸入-輸出方程,并求解傳遞函數(shù),再通過(guò)求解拉氏變換可得到系統(tǒng)拉氏變換系數(shù)表達(dá)式為

        然后,對(duì)連續(xù)傳遞函數(shù)進(jìn)行離散化并得到差分方程,此時(shí)可以得到遞推最小二乘法的待求解系數(shù)為

        將帶可變遺忘因子的 RLS得到的系統(tǒng)待辨識(shí)參數(shù)估計(jì)值向量代入式(8),求解出β0、β1、α0、α1、α2,再代入式(7),即可求得超級(jí)電容模組電路等效模型參數(shù)Rf、Cf、Rl、Cl和Rsd。

        3 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)搭建與數(shù)據(jù)獲取

        本文選取的研究對(duì)象是由8個(gè)超級(jí)電容單體串聯(lián)的超級(jí)電容模組。單體選擇的是由Maxwell公司生產(chǎn)的BCAP0350 E270 T11 350F,主要參數(shù)見(jiàn)表1。將 8個(gè)單體串聯(lián)構(gòu)成超級(jí)電容模組,額定電壓為21.6V,額定電容為43.75F。

        表1 超級(jí)電容單體主要參數(shù)Tab.1 Main parameters of supercapacitor cell

        為了測(cè)取參數(shù)辨識(shí)所需要的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),本文搭建了超級(jí)電容模組充放電實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái),如圖2所示。電池測(cè)試儀型號(hào)為 EBC-A10H,其主要產(chǎn)品功能信息見(jiàn)表 2。以恒定電流(I=1A)對(duì)超級(jí)電容模組進(jìn)行充放電實(shí)驗(yàn),充放電完畢后靜置一段時(shí)間到模組端電壓穩(wěn)定。整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程運(yùn)用實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái)對(duì)其進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,并記錄數(shù)據(jù)。采集的數(shù)據(jù)包括采樣總時(shí)間、充電電流、放電電流、模組兩端電壓等,實(shí)驗(yàn)環(huán)境溫度為23℃,采樣周期為2s。

        圖2 超級(jí)電容模組充放電實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái)Fig.2 Experimental of charge-discharge test platform of supercapacitor cell module

        表2 電池測(cè)試儀功能信息Tab.2 Functional parameters of battery tester

        4 參數(shù)辨識(shí)與仿真分析

        圖3 超級(jí)電容模組參數(shù)辨識(shí)與仿真分析流程Fig.3 Parameter identification and simulation analysis flow chart of supercapacitor cell module

        超級(jí)電容模組等效電路參數(shù)辨識(shí)與仿真分析流程如圖3所示。在實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)獲取階段,通過(guò)搭建的實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái),進(jìn)行多次充放電實(shí)驗(yàn),獲取相關(guān)數(shù)據(jù);在模型參數(shù)辨識(shí)階段,采用電路分析法、分段優(yōu)化法和帶可變遺忘因子遞推最小二乘法對(duì)超級(jí)電容模組等效電路進(jìn)行參數(shù)辨識(shí),分段優(yōu)化法和帶可變遺忘因子遞推最小二乘法的辨識(shí)初值是電路分析法的參數(shù)辨識(shí)結(jié)果,辨識(shí)數(shù)據(jù)是實(shí)驗(yàn)靜置階段的數(shù)據(jù);在仿真結(jié)果分析階段,將三種方法的辨識(shí)結(jié)果輸入到超級(jí)電容模組多方法Simulink仿真模型中進(jìn)行仿真,并計(jì)算出充電階段、靜置階段、放電階段的綜合誤差以及全過(guò)程的綜合誤差,然后進(jìn)行分析與驗(yàn)證。

        4.1 參數(shù)辨識(shí)

        4.1.1 電路分析法

        本文所建立的超級(jí)電容模組三分支電路等效模型能有效表征超級(jí)電容模組在充放電過(guò)程、充放電結(jié)束后內(nèi)部電荷再分配以及靜置過(guò)程中自放電現(xiàn)象等動(dòng)態(tài)特性,并且三條支路的電阻與電容大小各不相同,具有明顯不同的時(shí)間常數(shù),采用電路分析法[35]來(lái)辨識(shí)模型參數(shù),通過(guò)分析端電壓隨時(shí)間的變化,獨(dú)立分析各個(gè)支路的暫態(tài)過(guò)程。

        通過(guò)超級(jí)電容模組充放電實(shí)驗(yàn)測(cè)試平臺(tái)對(duì)超級(jí)電容模組進(jìn)行充放電實(shí)驗(yàn),并記錄不同時(shí)刻的暫態(tài)過(guò)程數(shù)據(jù)(充放電電流I=1A,電壓增量ΔU=50mV),選取符合等效電路模型暫態(tài)過(guò)程的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),見(jiàn)表3,代入到電路分析法相應(yīng)的計(jì)算公式中[38],依次得到的超級(jí)電容模組等效電路的參數(shù)辨識(shí)結(jié)果見(jiàn)表 4。

        表3 電路分析法辨識(shí)使用的部分實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)Tab.3 The circuit analysis method identifies some experimental data used

        表4 電路分析法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果Tab.4 The parameter identification results of circuit analysis method

        4.1.2 分段優(yōu)化法

        基于三分支等效電路的分段優(yōu)化法是一種具有較精準(zhǔn)初值和較高辨識(shí)精度的超級(jí)電容等效模型參數(shù)辨識(shí)方法[30]。由于超級(jí)電容模組等效電路中各參數(shù)(電阻值、電容值)具有物理意義,且要求各個(gè)參數(shù)都大于零,選取θ?(0)=0、P(0)=δE作為遞推最小二乘法辨識(shí)初值時(shí),辨識(shí)結(jié)果中出現(xiàn)了負(fù)值,因此,這種初值的選取是不符合實(shí)際的。

        由于電路分析法具有在充電階段能夠較為準(zhǔn)確地表征超級(jí)電容模組的動(dòng)態(tài)特性的優(yōu)點(diǎn),遞推最小二乘法具有在超級(jí)電容模組充電完畢以后的靜置階段更為精準(zhǔn)的表征其自放電特性的優(yōu)點(diǎn),可以有效地表征靜置階段的特性。因此,分段優(yōu)化法運(yùn)用電路分析法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果(見(jiàn)表 4)作為遞推最小二乘法的初值、靜置階段的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)作為遞推辨識(shí)數(shù)據(jù),進(jìn)行了參數(shù)辨識(shí),運(yùn)算得到其辨識(shí)結(jié)果見(jiàn)表5。

        表5 分段優(yōu)化法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果Tab.5 The parameter identification results of segmentation optimization method

        4.1.3 帶可變遺忘因子RLS法

        由于風(fēng)機(jī)變槳控制系統(tǒng)備用電源屬于間隙性工作,靜置時(shí)間較長(zhǎng),因此采集的數(shù)據(jù)量較大。隨著數(shù)據(jù)量的增加,式(2)中的K(k+1)和P(k+1)變得越來(lái)越小,修正項(xiàng)對(duì)θ?(k+1)的修正能力變得越來(lái)越弱,新加入的系統(tǒng)輸入/輸出數(shù)據(jù)對(duì)參數(shù)向量的估計(jì)值的更新作用不大,會(huì)出現(xiàn)“數(shù)據(jù)飽和”的現(xiàn)象[34,37]。帶可變遺忘因子的 RLS參數(shù)辨識(shí)方法引入遺忘因子,避免了自適應(yīng)增益過(guò)快下降,有效克服了這種現(xiàn)象的出現(xiàn)。并以電路分析法的辨識(shí)結(jié)果作為辨識(shí)初值,以靜置階段的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)作為遞推辨識(shí)數(shù)據(jù),來(lái)確保精準(zhǔn)地反映超級(jí)電容模組在充電階段的動(dòng)態(tài)特性、在靜置階段的自放電特性。

        結(jié)合電路分析法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果(見(jiàn)表 4)以及實(shí)驗(yàn)靜置階段的數(shù)據(jù),通過(guò)多次調(diào)試,得到P(0)=0.000 13,λ0= 0 .997,λ1= 0 .99,然后進(jìn)行了參數(shù)辨識(shí),運(yùn)算得到其結(jié)果,見(jiàn)表6。

        4.2 仿真建模

        為了能夠驗(yàn)證辨識(shí)結(jié)果的有效性,本文根據(jù)提出的超級(jí)電容模組三分支電路等效模型,在Matlab/Simulink環(huán)境下搭建超級(jí)電容模組多方法參數(shù)辨識(shí)仿真模型,如圖4所示。將實(shí)驗(yàn)平臺(tái)所測(cè)得的實(shí)驗(yàn)電壓隨時(shí)間的變化數(shù)據(jù)和實(shí)驗(yàn)電流隨時(shí)間變化的數(shù)據(jù)輸入到電壓數(shù)據(jù)框和電流數(shù)據(jù)框中,并將表4、表 6所示的參數(shù)辨識(shí)結(jié)果分別輸入到電路分析法仿真子模塊、分段優(yōu)化法仿真子模塊、帶可變遺忘因子的RLS法仿真子模塊中,即可得到三種方法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果的仿真曲線,并在示波器中進(jìn)行顯示。

        表6 帶可變遺忘因子的RLS法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果Tab.6 The parameter identification results of variable forgetting factor RLS

        圖4 超級(jí)電容模組多方法參數(shù)辨識(shí)仿真模型Fig.4 Multi-method parameter identification Simulink simulation model of supercapacitor cell module

        4.3 仿真結(jié)果分析

        通過(guò)將電路分析法、分段優(yōu)化法、帶可變遺忘因子的 RLS法的辨識(shí)結(jié)果以及實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)輸入到超級(jí)電容模組多方法參數(shù)辨識(shí)仿真模型(圖 4)中進(jìn)行仿真,得到了超級(jí)電容模組多方法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果仿真曲線,如圖5所示。對(duì)比模型仿真結(jié)果的輸出電壓和實(shí)驗(yàn)獲得的電壓,分析其誤差并驗(yàn)證所辨識(shí)參數(shù)的準(zhǔn)確性。相對(duì)誤差計(jì)算如式(9)所示,綜合誤差如式(10)所示。

        式中,re為各方法仿真結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的相對(duì)誤差;Us為仿真輸出的電壓;UEx為實(shí)驗(yàn)測(cè)得的電壓;s為采樣次數(shù)且s=1,2,3,…S;rc為各方法仿真結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果的綜合誤差。

        4.3.1 仿真曲線與實(shí)驗(yàn)曲線趨勢(shì)分析

        圖5 超級(jí)電容模組多方法參數(shù)辨識(shí)結(jié)果仿真曲線Fig.5 Simulation curve of multi-method parameter identification of supercapacitor cell module

        由圖5可以看出,在充電階段,電路分析法、分段優(yōu)化法和帶可變遺忘因子的 RLS法的仿真曲線均與實(shí)驗(yàn)曲線較為貼合,當(dāng)t<410s時(shí),電路分析法曲線在實(shí)驗(yàn)曲線下方;410s<t<938s時(shí),電路分析法曲線在實(shí)驗(yàn)曲線上方且逐漸偏離。分段優(yōu)化法曲線整個(gè)充電階段都在實(shí)驗(yàn)曲線上方。當(dāng)t<748s時(shí),帶可變遺忘因子的RLS法仿真曲線介于分段優(yōu)化法曲線和實(shí)驗(yàn)曲線之間;748s<t<938s時(shí),位于實(shí)驗(yàn)曲線下方。

        在靜置階段,電路分析法仿真曲線在實(shí)驗(yàn)曲線上方且相差較遠(yuǎn);分段優(yōu)化法仿真曲線和帶可變遺忘因子的RLS法仿真曲線都與實(shí)驗(yàn)曲線較為貼合,當(dāng) 938s<t<4 960s時(shí),分段優(yōu)化法仿真曲線在實(shí)驗(yàn)曲線上方;4 960s<t<9 000s時(shí),分段優(yōu)化法仿真曲線在實(shí)驗(yàn)曲線下方。當(dāng) 938s<t<5 128s時(shí),帶可變遺忘因子的 RLS法仿真曲線在實(shí)驗(yàn)曲線下方;當(dāng) 5 128s<t<9 000s時(shí),帶可變遺忘因子的RLS法仿真曲線介于實(shí)驗(yàn)曲線與分段優(yōu)化法仿真曲線之間。

        放電全階段,9 000s<t<9 880s時(shí),電路分析法仿真曲線在實(shí)驗(yàn)曲線上方且逐漸偏離;分段優(yōu)化法仿真曲線介于實(shí)驗(yàn)曲線與帶可變遺忘因子的RLS法仿真曲線之間;帶可變遺忘因子的RLS法仿真曲線在實(shí)驗(yàn)曲線上方且較為貼合。9 880s<t<10 400s時(shí),曲線高低依次為電路分析法仿真曲線、實(shí)驗(yàn)曲線、帶可變遺忘因子的RLS法仿真曲線和分段優(yōu)化法仿真曲線。

        4.3.2 誤差分析

        在充電階段,即 0<t<938s時(shí),電路分析法的綜合誤差為2.52%,分段優(yōu)化法的綜合誤差為0.66%,帶可變遺忘因子的 RLS法綜合誤差為 0.4%,比電路分析法的綜合誤差降低了 2.12%,比分段優(yōu)化法的綜合誤差降低了0.26%。

        在充電后的靜置階段,即938s<t<9 000s時(shí),電路分析法的綜合誤差為 7.11%,分段優(yōu)化法的綜合誤差為0.28%,帶可變遺忘因子的RLS法綜合誤差為0.19%,比電路分析法的綜合誤差降低了6.92%,比分段優(yōu)化法的綜合誤差降低了0.09%。

        在放電全階段,即 9 000s<t<10 400s電路分析法的綜合誤差為37.01%,分段優(yōu)化法的綜合誤差為 18.88%,帶可變遺忘因子的 RLS法綜合誤差為7.72%,比電路分析法的綜合誤差降低了 29.29%,比分段優(yōu)化法的綜合誤差降低了11.16%。

        計(jì)算整個(gè)過(guò)程的綜合誤差,電路分析法的綜合誤差為 10.72%,分段優(yōu)化法的綜合誤差為 2.82%,帶可變遺忘因子的RLS法為1.22%,比電路分析法降低了9.5%,比分段優(yōu)化法降低了1.6%。多方法仿真結(jié)果的誤差對(duì)比見(jiàn)表7。

        表7 多方法仿真結(jié)果誤差Tab.7 The error of multi-method simulation results(%)

        從表7可以看出,電路分析法辨識(shí)結(jié)果仿真誤差在充電階段較小,辨識(shí)精度較高,但是在后續(xù)的靜置階段和放電全階段誤差較大,特別是在放電全階段辨識(shí)精度嚴(yán)重不足,整體誤差較大。分段優(yōu)化法辨識(shí)結(jié)果仿真誤差在充電階段、充電后靜置階段都在1%以內(nèi),與電路分析法相比誤差明顯降低,具有較高的辨識(shí)精度,在放電全階段誤差也有所下降,但誤差依舊較大,辨識(shí)精度不足,整體誤差較小。帶可變遺忘因子的 RLS法辨識(shí)結(jié)果仿真誤差在充電階段、充電后靜置階段均在0.5%以內(nèi),與分段優(yōu)化法相比誤差進(jìn)一步降低,特別在放電全階段誤差降低了11.16%,具有較高的辨識(shí)精度,且整體誤差進(jìn)一步減少。

        綜上分析,帶可變遺忘因子的RLS法不僅在充電階段能夠保證辨識(shí)的精度,而且在靜置階段比分段優(yōu)化法和電路分析法具有更精確的辨識(shí)效果,特別是在放電全階段,帶遺忘因子的RLS法收斂速度更快,較大地降低了誤差,能夠較為有效地辨識(shí)超級(jí)電容模組等效模型的參數(shù)。

        5 結(jié)論

        1)針對(duì)大型風(fēng)機(jī)變槳系統(tǒng)備用電源工況特性,建立超級(jí)電容模組三分支等效電路模型,提出了一種帶可變遺忘因子 RLS的超級(jí)電容模組等效電路模型參數(shù)辨識(shí)方法,以電路分析法的辨識(shí)結(jié)果作為方法的辨識(shí)初值,以靜置階段的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)作為遞推辨識(shí)數(shù)據(jù)進(jìn)行參數(shù)辨識(shí)。

        2)建立了超級(jí)電容模組多方法參數(shù)辨識(shí)的Simulink仿真模型,并進(jìn)行仿真與誤差分析,結(jié)果表明:帶可變遺忘因子的RLS法比電路分析法和分段優(yōu)化法擁有更高的辨識(shí)精度。

        3)帶可變遺忘因子 RLS法繼承了電路分析法在充電階段和分段優(yōu)化法在靜置階段具有高辨識(shí)精度的優(yōu)點(diǎn),并引入可變遺忘因子有效解決因“數(shù)據(jù)飽和”現(xiàn)象所產(chǎn)生增益下降過(guò)快的缺點(diǎn),為估算超級(jí)電容模組SOC提供精確的等效模型。

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