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        艦載導(dǎo)彈測(cè)發(fā)控設(shè)備剩余壽命預(yù)測(cè)概率方法

        2020-12-19 06:16:26蘇曉丹
        艦船科學(xué)技術(shù) 2020年11期
        關(guān)鍵詞:確定性消耗壽命

        蘇曉丹

        (海軍裝備部駐北京地區(qū)軍事代表室,北京 100854)

        0 引 言

        測(cè)試與發(fā)射控制系統(tǒng)是艦艇上導(dǎo)彈武器系統(tǒng)的重要組成部分,其功能是對(duì)導(dǎo)彈控制系統(tǒng)性能及全彈配合性信號(hào)的協(xié)調(diào)性實(shí)施測(cè)試、發(fā)射條件檢查和準(zhǔn)備、對(duì)檢查合格的導(dǎo)彈按命令進(jìn)行發(fā)射。發(fā)射控制是對(duì)導(dǎo)彈實(shí)施控制系統(tǒng)接通、狀態(tài)初始化控制以及綜合各種發(fā)射準(zhǔn)備條件,并對(duì)檢查合格、準(zhǔn)備好的導(dǎo)彈實(shí)施發(fā)射點(diǎn)火控制。測(cè)試與發(fā)射控制系統(tǒng)的性能影響和制約導(dǎo)彈武器的使用性能,其可靠性和自動(dòng)化程度直接決定和影響導(dǎo)彈武器的生存能力和快速反應(yīng)能力[1–2]。

        導(dǎo)彈測(cè)發(fā)控設(shè)備的使用經(jīng)驗(yàn)表明,在某些情況下設(shè)備實(shí)際使用的持續(xù)時(shí)間會(huì)超出技術(shù)文件中給出的指標(biāo)。因此,預(yù)測(cè)測(cè)發(fā)控設(shè)備的剩余壽命,進(jìn)而采取有針對(duì)性的預(yù)防性維修措施,延長(zhǎng)測(cè)發(fā)控設(shè)備的使用期限,具有重要意義[3]。

        艦船裝備及分系統(tǒng)的使用壽命指其從開始服役到結(jié)構(gòu)達(dá)到破壞極限狀態(tài)(退役或報(bào)廢)的時(shí)間。在役艦船裝備及分系統(tǒng)的剩余使用壽命則是指在不加維修及正常維護(hù)、正常使用條件下結(jié)構(gòu)可繼續(xù)使用的年限。

        設(shè)備剩余壽命預(yù)測(cè)方法總體上可以分為3 類:基于機(jī)理模型的方法、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的方法和兩者融合的方法?;跈C(jī)理模型的方法是在深入分析設(shè)備失效分析機(jī)理基礎(chǔ)上,建立機(jī)理模型并據(jù)此預(yù)測(cè)剩余壽命。數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的方法則是利用監(jiān)測(cè)到的設(shè)備性能退化數(shù)據(jù),進(jìn)行剩余壽命預(yù)測(cè)[4]。

        國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)武器裝備剩余壽命問題開展了研究,如司小勝等[5]研究了不確定退化測(cè)量數(shù)據(jù)下的設(shè)備剩余壽命估計(jì)問題,鄭建飛等[6]研究了考慮不確定測(cè)量和個(gè)體差異的非線性隨機(jī)退化系統(tǒng)剩余壽命估計(jì),李建民[7]研究了基于灰色理論的艦船裝備剩余壽命預(yù)測(cè)模型。

        根據(jù)目前的研究結(jié)果,已經(jīng)可以對(duì)剩余壽命進(jìn)行驗(yàn)前分析,但是還有一些問題需要繼續(xù)研究,如當(dāng)達(dá)到某個(gè)事前給定的設(shè)備狀態(tài)的概率值時(shí),測(cè)試設(shè)備是否完全用盡了技術(shù)壽命;繼續(xù)投入資金以延長(zhǎng)測(cè)發(fā)控設(shè)備的使用壽命是否合適;當(dāng)追加的經(jīng)費(fèi)有限制時(shí),剩余壽命是怎樣的?為此就需要研究測(cè)發(fā)控設(shè)備剩余壽命概率預(yù)測(cè)問題[8]。

        1 問題的提出與主要假設(shè)

        研究作為測(cè)發(fā)控設(shè)備組成部分的測(cè)量系統(tǒng),它有一組確定性參數(shù) Uk, 其額定值分別為,k=1,2,···,m,m為參數(shù)的總數(shù)。對(duì)參數(shù)的狀態(tài)進(jìn)行觀測(cè),可以討論系統(tǒng)中過程的發(fā)展。

        假設(shè)在系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)其內(nèi)部發(fā)生緩慢的逐步惡化的過程,結(jié)果是能觀察到確定性參數(shù)相對(duì)其額定值的偏差,從而在固定的時(shí)刻 ti,i=1,2,···,n,確定性參數(shù)的值 Uk(t) 呈 下 降 的 趨 勢(shì), 即 如 果t1Uk(t2)>···>Uk(tm)。

        假定確定性參數(shù)的值 Uk(t)不超出給定的容許值范圍分別為該參數(shù)區(qū)間的下界和上界,這時(shí)測(cè)發(fā)控系統(tǒng)運(yùn)行正常。若參數(shù)值 Uik偏離容許值就意味著參數(shù)故障。一般情況下,參數(shù)故障不會(huì)使測(cè)發(fā)控系統(tǒng)離開工作狀態(tài),而只是降低其運(yùn)行品質(zhì)。系統(tǒng)中突然出現(xiàn)故障的概率相對(duì)較小,但是會(huì)有在修理?恢復(fù)工作過程中可以克服的參數(shù)故障。于是,這樣的測(cè)發(fā)控系統(tǒng)就屬于具有有限個(gè)可以恢復(fù)的可能狀態(tài)的系統(tǒng)。

        把系統(tǒng)在時(shí)刻 t的狀態(tài)記為 Vk(t),k=0,1,2,···,m,狀態(tài) V0(t) 意味著系統(tǒng)中總數(shù)為 m的確定性參數(shù)中沒有一個(gè)發(fā)生故障,符號(hào) V1(t)表明一個(gè)確定性參數(shù)發(fā)生了故障, Vk表示第 k 個(gè)參數(shù)發(fā)生故障,而 Vm表示系統(tǒng)中全部 m 個(gè)參數(shù)發(fā)生故障。并且只允許系統(tǒng)從一個(gè)狀態(tài)過渡到相鄰的一個(gè)狀態(tài),而不可能漏過中間的過渡狀態(tài),即不可能從狀態(tài) V0(t) 繞 過 V1(t)而直接轉(zhuǎn)入到狀態(tài)V2(t)。

        在到時(shí)刻 t之前用于保持系統(tǒng)在 Vk狀態(tài)的總消耗為Ck(t),k=0,1,2,···,m。假設(shè)對(duì)于每一個(gè)狀態(tài),單位時(shí)間內(nèi)的使用消耗 ?Cs相同,而對(duì)于每一個(gè)出故障的參數(shù),用于恢復(fù)的消耗 ?Ch是 一致的,并且在時(shí)刻 t出故障的參數(shù)應(yīng)該從該時(shí)刻起就進(jìn)行恢復(fù)。在確定性參數(shù)從故障狀態(tài)轉(zhuǎn)入到恢復(fù)狀態(tài)的過渡時(shí)間內(nèi)用于系統(tǒng)的消耗不會(huì)增加,因?yàn)橛糜诨謴?fù)狀態(tài)的經(jīng)費(fèi)是在確定性參數(shù)故障時(shí)刻劃分出來的(或者說是消耗的)。

        把測(cè)發(fā)控系統(tǒng)中的每一個(gè)測(cè)量子系統(tǒng)從一個(gè)狀態(tài)轉(zhuǎn)入另一個(gè)狀態(tài)當(dāng)作隨機(jī)事件來研究。假設(shè),在所有的確定性參數(shù)中,第 k 個(gè)確定性參數(shù) Uk的故障強(qiáng)度是λk、恢復(fù)強(qiáng)度是 μk,對(duì)于所有的確定性參數(shù)其故障強(qiáng)度都是相同的,恢復(fù)強(qiáng)度也相同。所以總的故障強(qiáng)度、總的恢復(fù)強(qiáng)度分別為為了計(jì)算方便,假設(shè)確定性參數(shù)的故障流是最簡(jiǎn)單的,而故障流與恢復(fù)流的密度函數(shù)用參數(shù)為 λ,μ的指數(shù)規(guī)律描述。在所引入的假設(shè)下,需要確定在使用物資與經(jīng)費(fèi)消耗有限制時(shí)測(cè)發(fā)控系統(tǒng)的剩余壽命。

        1.1 問題的求解

        確定用于保持測(cè)發(fā)控系統(tǒng)在狀態(tài)Vk(t),k=0,1,2,···,m時(shí)的物資消耗,把這種消耗表示成約定的單位。研究狀態(tài) V0(t) , 當(dāng)?shù)?t +?t時(shí)刻之前系統(tǒng)內(nèi)不會(huì)有故障,該狀態(tài)可以作為2 個(gè)不相容事件 A0,B1的和來研究。事件 A0是 指系統(tǒng)在時(shí)刻t 處于 V0(t)狀態(tài),并且在?t 時(shí)間內(nèi)一個(gè)參數(shù)也不出故障,這一隨機(jī)事件用表達(dá)式P(A0)=e?λ?t≈1?λ?t 表示。可以用關(guān)系式C(A0)=[C0(t)+?Cs?t](1?λ?t) 表 示以概率 P(A0) 維持事件 A0所用的消耗。事件 B1是 指這樣的事件,系統(tǒng)在時(shí)刻 t處于V1(t) 狀 態(tài),并且在 ?t時(shí)間內(nèi)一個(gè)參數(shù)恢復(fù)了,可以用關(guān)系式 C(B1)=C1(t)μ?t 來表示以概率 P(B1)保持事件B1所 用的消耗。在區(qū)間 t +?t內(nèi)用于保持這一事件的物質(zhì)消耗用隨機(jī)函數(shù)C0(t)表示,它滿足下面的方程:

        把式(1)改寫為:

        把式(2)的兩端除以 ?t 并取 ? t →0時(shí)的極限,就得到微分方程:

        對(duì)于系統(tǒng)狀態(tài) Vk(t),k=1,2,···,m?1,組成類似的方程。狀態(tài) Vk(t) 意 味著,到時(shí)刻 t +?t之前,系統(tǒng)內(nèi)出故障的確定性參數(shù)的數(shù)量等于k ,可以把 Vk(t)當(dāng)作3 個(gè)不相容事件 Ak,Bk+1,Ck?1的 和來研究,事件 Ak表示在時(shí)刻 t 系統(tǒng)處于 Vk(t) 狀 態(tài),而在 ?t 時(shí)間內(nèi)沒有一個(gè)參數(shù)出故障并恢復(fù)。該隨機(jī)事件的概率用表達(dá)式P(Ak)=e?λ?te?μ?t≈1?(λ+μ)?t 確定。以概率 P(Ak)保持事件Ak所 用 的消 耗 可 以 用關(guān) 系 式C(Ak)=[Ck(t)+?Cs?t]來表示。

        事件 Bk+1是 指這樣的事件,系統(tǒng)在時(shí)刻t處 于Vk+1(t)狀態(tài),并且在 ?t時(shí)間內(nèi)1 個(gè)參數(shù)恢復(fù)了。在這種情況下,概率是 P(Bk+1)=1?e?μ?t≈μ?t 。以概率 P(Bk+1)保持事件 Bk+1的消耗可以用關(guān)系式C(Bk+1)=Ck+1(t)μ?t來表示。

        事件 Ck?1是指這樣的事件,系統(tǒng)在時(shí)刻t處于Vk?1(t) 狀 態(tài),并且在 ?t時(shí)間內(nèi)還有一個(gè)參數(shù)發(fā)生了故障,該事件的概率是 P(Ck+1)=1?e?μ?t≈μ?t 。以概率P(Ck?1) 保 持 事 件Ck?1的 消 耗 可 以 用 關(guān) 系 式C(Ck?1)=Ck?1(t)λ?t 來表示。這時(shí)狀態(tài) Vk(t)可以作為3 個(gè)不相容事件 Ak,Bk+1,Ck?1的 和來研究。在區(qū)間 t +?t內(nèi),為了保持這一事件的物質(zhì)消耗是隨機(jī)函數(shù) Ck(t),它滿足下面的方程:

        把式(3)進(jìn)行與式(1)類似的變換,就得到

        組成對(duì)于狀態(tài) Vm(t) 的方程,到時(shí)刻 t +?t之前,系統(tǒng)內(nèi)所有 m個(gè)確定性參數(shù)都出了故障,這一狀態(tài)可以作為2 個(gè)不相容事件 Am,Cm?1的和來研究。第1 個(gè)事件Am(系統(tǒng)在時(shí)刻t 處于 Vm(t) 狀態(tài),并且在 ?t時(shí)間內(nèi)沒有一個(gè)參數(shù)出故障)。這一隨機(jī)事件的概率是P(Am)=e?μ?t≈1?μ?t ,以概率 P(Am) 保 持事件 Am所用的消耗可 以 用 關(guān) 系 式 C(Am)=[Cm(t)+?Cs?t](1?μ?t)來 表示。第2 個(gè)事件 Cm?1是 指系統(tǒng)在時(shí)刻 t 處于 Vm?1(t)狀態(tài),并且在 ?t時(shí)間內(nèi)又有一個(gè)參數(shù)出故障。這一隨機(jī)事件的概率是P (Cm?1)=1?e?λ?t≈λ?t, 以概率P(Cm?1)保持事件 Cm?1所用的消耗可以用關(guān)系式C(Cm?1)=Cm?1(t)λ?t來表示。

        當(dāng)把狀態(tài) Vm(t) 作為2 個(gè)不相容事件 Am,Cm?1的和進(jìn)行研究時(shí),在區(qū)間 t +?t內(nèi)保持這一事件所需物質(zhì)消耗用隨機(jī)函數(shù)Cm(t)描述,它滿足下面的方程:

        把式(4)進(jìn)行與式(1)類似的變換,得出下面的微分方程:

        這樣以來,就可以用關(guān)于未知的物質(zhì)消耗隨機(jī)函數(shù)Ck(t),k=0,1,2,···,m的微分方程組描述把測(cè)發(fā)控設(shè)備保持在狀態(tài) Vk(t),k=0,1,2,···,m所需要的物質(zhì)消耗,表示成約定單位的形式:

        為了求解方程組(5),把它寫成算子形式

        式中: A(s) 為 維數(shù)為 ( m+1)×(m+1)的方程組系數(shù)的三對(duì)角線矩陣; s 為函數(shù)Ck(t),k=0,1,2,···,m的映像半平面上的復(fù)變量。

        把該矩陣的元素寫成下面的形式:

        矢 量 X(s) 的 分 量 xk(s) 是 相 應(yīng) 的 函 數(shù)Ck(t),k=0,1,2,···,m 的 映 像;矢 量 B(c)(s) 的 分量 是:

        使用有任意有限數(shù)量回歸的回歸分析估計(jì)多維模型矩陣系數(shù)的方法,構(gòu)建未知矢量 X(s) 的估值 X?(s)。為此把方程組(6)表示成下面的形式:

        式 中: Ak為 矩 陣 的 分 塊 分 量A=∥|A1|·|A2|···|Ak|···|Am+1|∥ ; Xk為 矢 量 的 分 塊 分 量X=∥|X1|·|X2|···|Xk|···|Xm+1|∥T。

        寫出表達(dá)式(7)中對(duì)于分量 Ak,Xk的表達(dá)式:

        式中 Oα表 示維數(shù)是 α的零矢量。

        使用上面引入的標(biāo)記,可以由下面的遞推關(guān)系式求出方程組(6)的未知矢量 X(s) 的估值 X?(s):

        對(duì)表達(dá)式(8)進(jìn)行拉普拉斯反變換,就得到把測(cè)發(fā)控設(shè)備保持在 Vk(t)狀態(tài)所要的物質(zhì)消耗隨機(jī)函數(shù)的原函數(shù) Ck(t)。 平均物質(zhì)消耗C ˉ(t)數(shù)值上等于隨機(jī)函數(shù)Ck(t)的所有可能值的數(shù)學(xué)期望:

        式中: Pk(t)為 事件 Vk(t)來臨的概率。

        為了求出概率 Pk(t),可以使用拉氏變換轉(zhuǎn)換到像函數(shù),然后再用所描述的方法求解從式(7)中得到的方程,把其中矢量 Xk的分塊分量換成相應(yīng)的概率函數(shù): Xk=Pk?1,k=1,2,···,m ,而右端換成矢量 B(c),其元素是為了從像函數(shù)Pk(s)=Fk(s)/Gk(s)變換回原函數(shù),可以使用關(guān)系式:

        式中: si(i=1,2,···,n) 為 分母Gk(s)的根。

        這樣以來,使用式(8)~式(10)就能夠計(jì)算把測(cè)發(fā)控設(shè)備保持在其可能狀態(tài)中的一種狀態(tài)時(shí)所需要的平均物資消耗。如果在這種情況下假設(shè),到時(shí)刻t=t?之前平均物質(zhì)消耗近似等于補(bǔ)充劃分出來用于使用的物資消耗 C0(t) ,那么時(shí)間 t?就可以作為所使用的測(cè)發(fā)控設(shè)備的剩余壽命,并且由關(guān)系式t?=從形式上求出所研究的關(guān)于預(yù)測(cè)剩余壽命問題的解。式中,為所選擇的 C0到的接近程度, T 為變量t的所有可能正值的集合。

        1.2 算例

        以實(shí)際例子解釋所研究問題的求解方法的使用。設(shè)某型測(cè)發(fā)控設(shè)備用下面的參數(shù)描述λ=0.05,μ=0.14 ,確定性變量數(shù)量 m =1,1 年內(nèi)使用消耗是1 000貨幣單位,而用于恢復(fù)發(fā)生故障參數(shù)的平均消耗是?Ch=10 000貨幣單位。

        對(duì)于所引入的初始數(shù)據(jù),需要在假設(shè)又撥出C0=50 000貨幣單位用于使用的條件下,計(jì)算測(cè)發(fā)控設(shè)備的剩余壽命。在這種情況下式(6)的形式如下:

        使用式(8)求出映像 X?:

        使用概率 Pk(t)的表達(dá)式,并從式(9)中得到用于計(jì)算平均物資消耗的公式:

        在式(11)中使用近似等式e?(λ+μ)t≈1?(λ+μ)t 并求解對(duì)于C0=50 000方 程 6 76.44t2?17 582.92t+50 000=0,可以確定剩余壽命 t?=3.25。這樣以來,根據(jù)求解該問題的結(jié)果確定,又撥出 C0=50 000貨幣單位用于使用的假設(shè)條件下,設(shè)備的剩余壽命可以延長(zhǎng)39 個(gè)月。

        2 結(jié) 語

        本文在假設(shè)測(cè)發(fā)控系統(tǒng)所有確定性參數(shù)的故障強(qiáng)度相同、恢復(fù)強(qiáng)度也相同的條件下,得出了根據(jù)參數(shù)監(jiān)測(cè)結(jié)果預(yù)測(cè)測(cè)發(fā)控設(shè)備剩余壽命的方法。該方法也可用于有冗余元件的測(cè)試設(shè)備,其中的每一個(gè)冗余元件可以當(dāng)作單獨(dú)參數(shù)來考慮。

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