黨志敏，劉宜文，尹麗麗，蘇艷麗，黃新華

（新疆油田公司勘探開(kāi)發(fā)研究院地球物理研究所，新疆烏魯木齊830013）

石南地區(qū)位于準(zhǔn)噶爾盆地腹部沙漠西北邊緣，地下地質(zhì)成藏條件優(yōu)越，已發(fā)現(xiàn)多個(gè)油氣藏，是尋找高效油藏的現(xiàn)實(shí)領(lǐng)域。 然而近年來(lái)，隨著精細(xì)勘探的深入，由地表介質(zhì)、表層厚度與速度等空間劇烈變化所引起的靜校正問(wèn)題表現(xiàn)突出，直接影響資料處理和綜合研究人員對(duì)地震成果的判斷。 為此，本次研究所提出的基于井控標(biāo)定的靜校正質(zhì)控思路就是為了更進(jìn)一步加強(qiáng)靜校正精度量化質(zhì)控，為最終靜校正量精度提供定量評(píng)價(jià)依據(jù)。 此技術(shù)在盆地石南地區(qū)的應(yīng)用取得了一定效果和認(rèn)識(shí)，在盆地其它區(qū)域也具有一定的借鑒和推廣意義。

1 基于井控標(biāo)定的靜校正質(zhì)控技術(shù)思路

實(shí)際上，目前各種靜校正方法的應(yīng)用都首先要滿(mǎn)足方法本身預(yù)先設(shè)定的假設(shè)條件［1-2］，而在實(shí)際資料的應(yīng)用中很難完全滿(mǎn)足，導(dǎo)致最終的靜校正成果精度難以滿(mǎn)足高精度地震勘探需求。 為解決此類(lèi)問(wèn)題，一般情況下需要將多種靜校正方法所得的靜校正量進(jìn)行拼接，突出每種靜校正方法的優(yōu)勢(shì)，以求最大限度的提高整體靜校正量精度。 然而在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，分層、折射、層析等靜校正方法本身之間存在一定的系統(tǒng)誤差，強(qiáng)行的空間拼接可能會(huì)引入中、長(zhǎng)波長(zhǎng)靜校正問(wèn)題［3-8］。 其靜校正問(wèn)題主要體現(xiàn)在兩個(gè)方面：一是不同的靜校正方法所得的靜校正效果在疊加剖面顯示其構(gòu)造形態(tài)差異較大（圖1），中、長(zhǎng)波長(zhǎng)靜校正量精度無(wú)法判斷；二是在相鄰的探井之間，相同標(biāo)識(shí)層的深度域分層高低關(guān)系與時(shí)間域高低關(guān)系存在明顯差異， 與地質(zhì)研究認(rèn)識(shí)不符，懷疑靜校正精度。 這兩個(gè)方面也直接體現(xiàn)出現(xiàn)階段石南地區(qū)精細(xì)勘探對(duì)靜校正成果提出了更高的精度要求，以往的靜校正質(zhì)控與精度評(píng)價(jià)難以滿(mǎn)足需要。 因此，基于井控標(biāo)定的靜校正質(zhì)控思路就是利用微測(cè)井成果、 探井分層數(shù)據(jù)進(jìn)行約束反演、質(zhì)控標(biāo)定與校正，保證靜校正中、長(zhǎng)波長(zhǎng)量空間變化準(zhǔn)確可靠。 該項(xiàng)技術(shù)的應(yīng)用可分為微測(cè)井成果約束反演與標(biāo)定、 探井分層標(biāo)定分析以及聯(lián)合誤差校正等環(huán)節(jié)。

圖1 應(yīng)用不同方法靜校正量的疊加效果對(duì)比

1.1 微測(cè)井約束建模與標(biāo)定

實(shí)際生產(chǎn)中比較常用的靜校正方法有折射和層析兩種， 兩種方法雖然都是利用初至?xí)r間信息，但其應(yīng)用的初至范圍和反演、計(jì)算側(cè)重點(diǎn)有較大差別。 折射法是利用淺層折射波初至信息計(jì)算折射界面到接收或激發(fā)點(diǎn)之間的垂向延遲時(shí)，并通過(guò)給定的初始速度得到折射層之上的厚度-速度等效層狀模型；而層析法是利用給定偏移距范圍內(nèi)的所有初至?xí)r間信息反演表層模型，所得模型是一個(gè)等效漸變模型。 由于方法本身的區(qū)別，導(dǎo)致微測(cè)井成果在過(guò)程中的約束也有所差別。

在折射法的應(yīng)用中，微測(cè)井成果約束所體現(xiàn)的是折射層之上的等效速度求取。 其具體的操作是在微測(cè)井時(shí)深曲線(xiàn)上尋找與折射層相對(duì)應(yīng)的速度層，并計(jì)算該層上覆介質(zhì)的等效速度，并在各微測(cè)井點(diǎn)之間進(jìn)行空間內(nèi)插，得到所有炮、檢點(diǎn)的等效速度，用此速度作為折射初始速度進(jìn)行表層模型求取，以此來(lái)達(dá)到微測(cè)井約束的目的。 而層析法的應(yīng)用中， 是利用成果建立全工區(qū)表層速度-厚度模型，并以此模型更新由初至?xí)r間-偏移距曲線(xiàn)所建立的初始模型， 在給定的約束權(quán)重場(chǎng)下進(jìn)行約束層析反演，此過(guò)程反演所得的表層模型在淺層更加符合實(shí)際地表地質(zhì)變化規(guī)律，所得模型空間變化規(guī)律更加可靠。 因此，微測(cè)井成果約束建模的目的是獲得一個(gè)與微測(cè)井成果空間變化相近的表層模型，以此模型計(jì)算所得的靜校正中、 長(zhǎng)波長(zhǎng)量會(huì)更加準(zhǔn)確，也間接的校正了各種靜校正方法之間的系統(tǒng)誤差，使其能更好的完成后續(xù)的多種靜校正量拼接和標(biāo)定工作。

微測(cè)井約束建模是一個(gè)相對(duì)的過(guò)程，它能控制整個(gè)模型空間變化趨勢(shì)，但是在單點(diǎn)上由于空間插值、平滑、方法系統(tǒng)誤差等因素的影響，微測(cè)井成果在約束計(jì)算、 反演過(guò)程中會(huì)存在一定程度的改變。因此，利用原始微測(cè)井成果對(duì)相鄰的檢波點(diǎn)靜校正量進(jìn)行量化標(biāo)定就成了質(zhì)控靜校正精度的一個(gè)重要手段。 微測(cè)井靜校正量標(biāo)定誤差平面分布顯示（圖2），微測(cè)井標(biāo)定誤差較大，從4.3 ms 到19.3 ms不等，SN-A 與SN-B 兩口探井間的相對(duì)標(biāo)定誤差也能達(dá)到近5 ms，足以影響低幅構(gòu)造或巖性目標(biāo)形態(tài)。

圖2 微測(cè)井靜校正量標(biāo)定誤差平面分布（單位：ms）

1.2 探井分層標(biāo)定分析

探井間高低關(guān)系分析與標(biāo)定首先要滿(mǎn)足其標(biāo)定層上覆介質(zhì)平均速度橫向穩(wěn)定的前提，只有在此基礎(chǔ)上時(shí)間域高低關(guān)系與深度域才是吻合的。 綜合地質(zhì)研究人員通過(guò)變速成圖分析認(rèn)為石南地區(qū)SN-A 井SN-B 井間，在J2x4標(biāo)識(shí)層的轉(zhuǎn)深速度橫向變化穩(wěn)定， 在深度域鉆井分層SN-A 比SN-B 井高32.1 m（表1）。 通過(guò)利用SN-B 井VSP 資料所得該層上覆介質(zhì)的平均速度計(jì)算，此深度差轉(zhuǎn)換到時(shí)間域的t0時(shí)間差應(yīng)為22.5 ms， 而t0剖面的時(shí)間差只有7 ms（圖3 左）；因此在認(rèn)為速度橫向穩(wěn)定的基礎(chǔ)上影響時(shí)間域井間高低關(guān)系的因素就只有靜校正。由此可見(jiàn)，在SN-A 與SN-B 井間存在一定的中、長(zhǎng)波長(zhǎng)校正問(wèn)題，影響了構(gòu)造形態(tài)，通過(guò)量化標(biāo)定分析，其靜校正誤差在7.8 ms。 其統(tǒng)計(jì)表如表2。

表1 J2x4 鉆井分層與t0 統(tǒng)計(jì)

表2 校正前后誤差表

圖3 靜校正聯(lián)合校正前（左）后（右）時(shí)間域連井剖面標(biāo)定

1.3 聯(lián)合誤差校正

通過(guò)微測(cè)井與探井分層的標(biāo)定，其靜校正在與相鄰標(biāo)定點(diǎn)間的誤差是客觀(guān)存在的，是否能通過(guò)平面數(shù)學(xué)運(yùn)算將誤差校正在業(yè)界也存在一定的爭(zhēng)議。但通過(guò)研究認(rèn)為，利用微測(cè)井分層或初至波反演的靜校正技術(shù)解決反射成像靜校正問(wèn)題時(shí)具有一定的局限性，因?yàn)樵趶?fù)雜地表區(qū)不一定完全滿(mǎn)足地表一致性等基礎(chǔ)假設(shè)，且初至波射線(xiàn)路徑與反射波場(chǎng)在一定程度上存在的實(shí)際誤差， 與靜校正方法無(wú)關(guān)，因此這兩個(gè)原因是反射疊加成像存在中、長(zhǎng)波長(zhǎng)靜校正殘留的主要因素。 當(dāng)確定反射波成像在時(shí)間域存在構(gòu)造幅度問(wèn)題時(shí)，考慮轉(zhuǎn)深速度影響的同時(shí)，可通過(guò)微測(cè)井與探井分層時(shí)間域誤差進(jìn)行聯(lián)合校正，將誤差進(jìn)行空間插值，并利用小半徑平滑將誤差高、低頻分離，取誤差空間低頻對(duì)整體靜校正量進(jìn)行再次校正，可一定程度上提高空間中、長(zhǎng)波長(zhǎng)靜校正精度。

2 應(yīng)用效果分析

在實(shí)際生產(chǎn)應(yīng)用中， 通過(guò)整體靜校正精度分析， 選擇一口相對(duì)準(zhǔn)確的探井作為校正基準(zhǔn)點(diǎn)，在平面上分析并計(jì)算各探井間標(biāo)識(shí)層標(biāo)定相對(duì)誤差，并結(jié)合微測(cè)井標(biāo)定誤差進(jìn)行空間插值與平滑，計(jì)算每一個(gè)炮、檢點(diǎn)的二次校正低頻量。 通過(guò)此方法的應(yīng)用，在SN62J3D 工區(qū)中的SN-A 與SN-B 探井附近微測(cè)井標(biāo)定誤差大幅降低（-2.9～3.2 ms）（圖4），且在連井剖面上，標(biāo)識(shí)層J2x4的t0時(shí)間差為21 ms，與兩口井深度差轉(zhuǎn)換到時(shí)間域的22.5 ms 時(shí)間差相差1.5 ms，整體靜校正精度也明顯提高。 通過(guò)聯(lián)合校正前后靜校正應(yīng)用效果的對(duì)比，除兩口探井在J2x4的高低關(guān)系更加吻合外，井間的構(gòu)造形態(tài)更加合理，符合綜合研究人員的地質(zhì)認(rèn)識(shí)，靜校正成果更加可靠（圖3）。

圖4 聯(lián)合校正后微測(cè)井靜校正量標(biāo)定誤差平面分布（單位：ms）

3 結(jié)論與認(rèn)識(shí)

（1）基于井控標(biāo)定與校正的靜校正技術(shù)能較大程度提高靜校正整體精度，并且能提供靜校正量化的分析與評(píng)價(jià)依據(jù)，為低幅構(gòu)造和巖性圈閉區(qū)域的綜合地質(zhì)研究奠定資料基礎(chǔ)。

（2）井標(biāo)定分析時(shí)，應(yīng)對(duì)標(biāo)定點(diǎn)進(jìn)行一定條件的篩選，因?yàn)闃?biāo)定點(diǎn)與相鄰點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)、高差大時(shí)容易誤導(dǎo)標(biāo)定結(jié)果，影響分析判斷和校正。

（3）分層標(biāo)定與誤差校正時(shí)需要結(jié)合地質(zhì)認(rèn)識(shí)，充分考慮轉(zhuǎn)深速度對(duì)深度域成果的影響，只有排除速度因素后才能將t0幅度與高低關(guān)系的影響歸于靜校正量。 必要時(shí)需要對(duì)聯(lián)井剖面進(jìn)行各項(xiàng)異性深度偏移，聯(lián)合判斷速度對(duì)深度域成果的影響。