顧斌

摘? 要：現(xiàn)如今，隨著科技的進(jìn)步，智能變電站的發(fā)展也在逐年加快。但是智能變電站在發(fā)展的同時(shí)，并沒(méi)有過(guò)多重視二次設(shè)備存在的缺陷問(wèn)題，從而導(dǎo)致二次設(shè)備的缺陷無(wú)法徹底修復(fù)。文章通過(guò)對(duì)智能變電站二次設(shè)備進(jìn)行研究，結(jié)合個(gè)人經(jīng)驗(yàn)找出二次設(shè)備缺陷試驗(yàn)的驗(yàn)證方法，希望為關(guān)注智能變電站二次設(shè)備消缺工作的人群帶來(lái)幫助。

關(guān)鍵詞：智能變電站;二次設(shè)備;試驗(yàn)驗(yàn)證;缺陷處理

中圖分類號(hào)：TM76? ? ? ? ?文獻(xiàn)標(biāo)志碼：A? ? ? ? ?文章編號(hào)：2095-2945（2020）29-0139-02

Abstract： Nowadays， with the progress of science and technology， the development of intelligent substation is also accelerating year by year. However， with the development of intelligent substation， little attention is paid to the defects of secondary equipment， so that the defects of secondary equipment cannot be completely repaired. Through the research on the secondary equipment of intelligent substation and based on the author's personal experience， this paper finds out the verification method of secondary equipment defect test， in the hope of bringing help to the people who focus on the elimination of secondary equipment in intelligent substation.

Keywords： intelligent substation; secondary equipment; test verification; defect treatment

引言

隨著電網(wǎng)公司對(duì)于智能變電站的二次設(shè)備的要求逐漸提高，二次設(shè)備在使用過(guò)程中存在的缺陷問(wèn)題也被放大。以往智能變電站在進(jìn)行消缺工作時(shí)僅僅為了滿足正常運(yùn)行，所以處理方式上相對(duì)比較簡(jiǎn)單。所以在消缺工作結(jié)束后二次設(shè)備往往會(huì)出現(xiàn)缺陷復(fù)發(fā)的情況。因此，有必要對(duì)智能變電站二次設(shè)備的缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證方法展開(kāi)分析。

1 缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證體系

智能變電站的二次設(shè)備缺陷在處理過(guò)程中通常存在以下幾方面問(wèn)題：

第一，對(duì)于缺陷的定位不明確。大量電子元件與光纖的應(yīng)用使傳統(tǒng)二次回路被簡(jiǎn)化，電子元件也大量集中在二次設(shè)備的插件當(dāng)中，這也導(dǎo)致智能變電站的二次回路數(shù)量進(jìn)一步減少，二次設(shè)備外部接線也因此受到了影響。簡(jiǎn)化二次回路對(duì)于智能變電站而言既有優(yōu)勢(shì)又帶有缺陷。其優(yōu)勢(shì)能有效縮短智能變電站的施工工期，減小智能變電站的實(shí)際占地面積等，其缺陷為集成電子元件以及光纖化的二次回路在二次設(shè)備出現(xiàn)缺陷時(shí)，并不能準(zhǔn)確進(jìn)行定位，在定位時(shí)通常只能定位裝置、插件級(jí)別，至于芯片、原理級(jí)別則無(wú)法準(zhǔn)確進(jìn)行定位，這樣就給二次設(shè)備的缺陷處理提升了難度。

第二，缺陷分析問(wèn)題。二次設(shè)備的集成化會(huì)導(dǎo)致部分回路以及電子元件不可見(jiàn)，因?yàn)檫\(yùn)行環(huán)境的復(fù)雜以及輔助手段的缺乏，導(dǎo)致很難精確地分析出二次設(shè)備的缺陷產(chǎn)生原因。對(duì)于二次設(shè)備而言，其缺陷的問(wèn)題分析既需要現(xiàn)場(chǎng)理論、經(jīng)驗(yàn)分析的支持，同時(shí)也要在實(shí)驗(yàn)室中對(duì)設(shè)備出現(xiàn)缺陷的具體原因以及整改措施進(jìn)行更為深入的分析論證。

第三，缺陷整改問(wèn)題。智能變電站二次設(shè)備因?yàn)槿毕荻ㄎ灰约胺治鰡?wèn)題的存在，導(dǎo)致其缺陷在整改過(guò)程中的難度大大增加。這些問(wèn)題的存在也導(dǎo)致很多時(shí)候在整改缺陷時(shí)只能通過(guò)更換電子元件的方式來(lái)完成，既增加了缺陷處理成本，同時(shí)又?jǐn)U大了缺陷的整改范圍。尤其是對(duì)整機(jī)設(shè)備的更換，在提升整改成本的同時(shí)，也讓替換下來(lái)的設(shè)備元件沒(méi)有被完全開(kāi)發(fā)利用，給設(shè)備資源帶來(lái)了浪費(fèi)。此外，由于在更換設(shè)備及元件時(shí)，因?yàn)闆](méi)有查明二次設(shè)備的具體缺陷原因，也使得在整改結(jié)束后依然有可能出現(xiàn)相同的缺陷。

以上存在的三種缺陷問(wèn)題的核心就是難以對(duì)二次設(shè)備的缺陷問(wèn)題展開(kāi)全面的缺陷分析，所以通過(guò)建立二次設(shè)備的缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證體系，能夠有效提升二次設(shè)備的缺陷分析能力。在試驗(yàn)驗(yàn)證體系中的各部分如下：

第一，基本理論，二次設(shè)備試驗(yàn)驗(yàn)證體系的基本理論包含多方面知識(shí)，仿真技術(shù)、保護(hù)原理等一系列基本理念與設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)形成了最基本的理論基礎(chǔ)。在其中，仿真技術(shù)可以在電力系統(tǒng)事故以及二次設(shè)備缺陷問(wèn)題產(chǎn)生后對(duì)其運(yùn)行環(huán)境進(jìn)行驗(yàn)證，由于電力系統(tǒng)的故障往往是不可復(fù)制的，所以在通過(guò)仿真技術(shù)進(jìn)行事后分析時(shí)能夠有效提升結(jié)論的準(zhǔn)確性。而且，為了采取多種裝置對(duì)二次設(shè)備進(jìn)行協(xié)同分析，還需要將能夠影響到缺陷分析的問(wèn)題，比如定制配合以及缺陷定位排查等，通過(guò)軟件進(jìn)行仿真建模，通過(guò)建模來(lái)完成對(duì)結(jié)果的驗(yàn)證。保護(hù)原理能夠?qū)⒍卧O(shè)備需要擁有的功能描述出來(lái)，因?yàn)樵谠O(shè)備出現(xiàn)缺陷問(wèn)題時(shí)，缺陷的表現(xiàn)形式有可能與保護(hù)原理的描述出現(xiàn)一定偏差，但是通過(guò)保護(hù)原理能夠迅速將缺陷問(wèn)題的產(chǎn)生原因縮減在一定的范圍區(qū)間內(nèi)。

第二，試驗(yàn)驗(yàn)證技術(shù)，智能變電站的二次設(shè)備缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證共有兩個(gè)主要階段：分別是缺陷出現(xiàn)原因的分析階段以及驗(yàn)證缺陷整改方式階段。其中原因分析階段會(huì)通過(guò)繼電保護(hù)、專業(yè)經(jīng)驗(yàn)以及仿真分析根據(jù)SOE或是故障錄波記錄來(lái)判斷缺陷產(chǎn)生原因，并對(duì)判斷出的缺陷原因進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證。在判斷缺陷成因時(shí)的主要推斷方法有順序推理、逆序推理及整組試驗(yàn)法。其中順序推理是通過(guò)二次設(shè)備缺陷的外在表現(xiàn)形式出發(fā)，并根據(jù)正向邏輯找出設(shè)備缺陷出現(xiàn)的源頭。而逆序推理則是在缺陷表現(xiàn)形式無(wú)法判斷時(shí)從缺陷產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)進(jìn)行反推，逐級(jí)查找缺陷原因，并對(duì)缺陷成因進(jìn)行專項(xiàng)驗(yàn)證。專項(xiàng)試驗(yàn)是根據(jù)設(shè)備缺陷原因?qū)υO(shè)備的某一功能進(jìn)行試驗(yàn)。比如，若設(shè)備不滿足電磁的兼容要求則需要進(jìn)行電磁兼容試驗(yàn)，而保護(hù)動(dòng)作過(guò)長(zhǎng)則需要進(jìn)行保護(hù)動(dòng)作時(shí)間試驗(yàn)。整體試驗(yàn)是通過(guò)模擬二次設(shè)備運(yùn)行時(shí)的工作狀態(tài)，并對(duì)保護(hù)裝置的動(dòng)作進(jìn)行實(shí)踐、邏輯進(jìn)行檢查的試驗(yàn)方法，整體試驗(yàn)法通常會(huì)用在還原設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)，是一種輔助缺陷分析的方法。

在對(duì)整改措施進(jìn)行驗(yàn)證時(shí)，需要針對(duì)驗(yàn)證通過(guò)的設(shè)備缺陷原因制定出合理的整改措施，并且需要對(duì)整改后的二次設(shè)備制定試驗(yàn)方案，在此階段一般是對(duì)方案中的整改措施進(jìn)行驗(yàn)證，缺陷整改措施能否解決二次設(shè)備的缺陷問(wèn)題，滿足設(shè)備安全運(yùn)行的標(biāo)準(zhǔn)。在整改措施驗(yàn)證階段，通常會(huì)對(duì)缺陷原因展開(kāi)二次試驗(yàn)，驗(yàn)證整改完成后的裝置是否依然存在之前的缺陷問(wèn)題，若缺陷已經(jīng)徹底解決，則需要對(duì)二次設(shè)備的其他原有功能進(jìn)行試驗(yàn)，驗(yàn)證整改過(guò)程中是否影響到了二次設(shè)備的其他原有功能。

第三，試驗(yàn)驗(yàn)證環(huán)境，在判斷出設(shè)備缺陷原因并制定出合理的整改對(duì)策后，就要在合適的環(huán)境中對(duì)缺陷原因以及整改對(duì)策進(jìn)行試驗(yàn)。缺陷試驗(yàn)的驗(yàn)證環(huán)境是由接入層以及硬件、軟件支撐層三個(gè)不同層級(jí)所組成。其中軟件支撐層是由PSCAD、IEC61850調(diào)試工具等軟件組成，軟件支撐層在缺陷試驗(yàn)中的主要作用就是進(jìn)行理論分析以及輔助測(cè)試。而硬件支撐層是由繼保測(cè)試儀、仿真計(jì)算等測(cè)試設(shè)備組合而成，硬件支撐層的主要作用是給軟件支撐層提供良好的硬件平臺(tái)，與此同時(shí)，需要根據(jù)硬件支撐層的自身功能為測(cè)試缺陷的二次設(shè)備提供測(cè)試平臺(tái)。接入層是由端子排、航插等一系列接口設(shè)備組成，接入層的主要作用就是為測(cè)試設(shè)備以及硬件支撐層提供連接，在二次設(shè)備的缺陷試驗(yàn)中，若符合一定條件，則無(wú)需建立接入層，測(cè)試設(shè)備可以直接通過(guò)光纖以及電纜等連接線來(lái)解決與硬件支撐層之間的連接問(wèn)題。

接入層以及硬件、軟件支撐層，三者相互之間構(gòu)成了二次設(shè)備的缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證環(huán)境，對(duì)于驗(yàn)證環(huán)境而言，通過(guò)有效整合驗(yàn)證資源，能夠完成對(duì)二次設(shè)備的自動(dòng)、標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試。而且試驗(yàn)驗(yàn)證環(huán)境還會(huì)為與原運(yùn)行狀態(tài)相同的設(shè)備搭建試驗(yàn)平臺(tái)，并通過(guò)理論知識(shí)與試驗(yàn)測(cè)試環(huán)境，利用二次設(shè)備缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證技術(shù)，從設(shè)備的功能性以及設(shè)備性能等多個(gè)方面完成對(duì)二次設(shè)備缺陷的全面驗(yàn)證。

2 缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證流程

通過(guò)將二次設(shè)備的缺陷驗(yàn)證體系與二次設(shè)備缺陷試驗(yàn)的實(shí)際驗(yàn)證案例相結(jié)合，可以構(gòu)建出合理的缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證流程：試驗(yàn)開(kāi)始——二次設(shè)備的運(yùn)行情況分析——故障錄波分析——推測(cè)設(shè)備缺陷原因——試驗(yàn)驗(yàn)證缺陷產(chǎn)生的原因——試驗(yàn)結(jié)果是否符合推測(cè)（若結(jié)果不符合推測(cè)，則需要重新進(jìn)行缺陷推測(cè)）——根據(jù)原因提出二次設(shè)備整改對(duì)策——缺陷整改——常規(guī)試驗(yàn)（若未通過(guò)常規(guī)試驗(yàn)則需要重新提出整改措施）——對(duì)整改結(jié)束的設(shè)備針對(duì)缺陷進(jìn)行專項(xiàng)試驗(yàn)（若未通過(guò)專項(xiàng)試驗(yàn)則需要重新提出整改措施）。缺陷驗(yàn)證可以分為兩個(gè)階段，分別是缺陷原因分析階段以及缺陷整改驗(yàn)證階段。

2.1 缺陷原因分析驗(yàn)證

此階段需要對(duì)二次設(shè)備當(dāng)前存在的缺陷的原因進(jìn)行深入分析，將驗(yàn)證時(shí)設(shè)備的運(yùn)行情況與故障錄波等因素相結(jié)合并進(jìn)行綜合分析，以此來(lái)推測(cè)設(shè)備缺陷出現(xiàn)的具體原因，在此基礎(chǔ)上針對(duì)性地進(jìn)行專項(xiàng)試驗(yàn)，通過(guò)試驗(yàn)結(jié)果來(lái)驗(yàn)證缺陷出現(xiàn)的原因是否準(zhǔn)確。如果驗(yàn)證結(jié)果通過(guò)，則驗(yàn)證試驗(yàn)結(jié)束。若驗(yàn)證結(jié)果與推測(cè)不符，則需要重新進(jìn)行驗(yàn)證直到驗(yàn)證結(jié)果準(zhǔn)確。

2.2 整改對(duì)策驗(yàn)證

此階段要對(duì)二次設(shè)備缺陷的整改對(duì)策進(jìn)行驗(yàn)證，在找出缺陷原因之后針對(duì)性提出整改對(duì)策。并對(duì)二次設(shè)備進(jìn)行缺陷整改，整改完成后展開(kāi)常規(guī)試驗(yàn)，若常規(guī)試驗(yàn)未通過(guò)則需要重新提出整改方案。若常規(guī)試驗(yàn)通過(guò)則需要針對(duì)缺陷進(jìn)行專項(xiàng)試驗(yàn)，若專項(xiàng)試驗(yàn)通過(guò)，則二次設(shè)備的缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證結(jié)束，若未通過(guò)，則需重新提出整改對(duì)策。

3 結(jié)束語(yǔ)

總而言之，智能變電站二次設(shè)備的缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證十分重要，通過(guò)試驗(yàn)驗(yàn)證能夠找出二次設(shè)備出現(xiàn)缺陷的具體原因，針對(duì)性解決完成后便能有效提升二次設(shè)備的運(yùn)行穩(wěn)定性以及運(yùn)行安全性。相信隨著科技的發(fā)展，會(huì)有更多人意識(shí)到找出二次設(shè)備缺陷原因的重要性。

參考文獻(xiàn)：

[1]李霞，周文越，朱鑫，等.智能變電站二次設(shè)備缺陷試驗(yàn)驗(yàn)證方法[J].四川電力技術(shù)，2020，43（02）：67-69+94.

[2]甘衛(wèi)星.淺談變電站二次設(shè)備的運(yùn)行維護(hù)與管理[J].科技創(chuàng)新導(dǎo)報(bào)，2020，17（05）：158-159.

[3]陳勇，李勝男，張麗，等.基于改進(jìn)Apriori算法的智能變電站二次設(shè)備缺陷關(guān)聯(lián)性分析[J].電力系統(tǒng)保護(hù)與控制，2019，47（20）：135-141.