何 濤,朱 躍,楊天豪,胡佳成,喬鳳斌
(1. 中國計量大學計量測試工程學院,杭州,310018;2. 上海航天設(shè)備制造總廠有限公司,上海,200245)
一直以來對于航空航天領(lǐng)域的探索都是人類文明高度發(fā)展的重要標志,也是一個國家綜合國力的完美體現(xiàn)。近年來,北斗衛(wèi)星導航系統(tǒng)的逐步完善、天宮系列空間實驗室的建設(shè)、嫦娥系列探月工程的發(fā)展等都是中國在航空航天領(lǐng)域取得的驕人成就。然而這些偉大成果并不是一蹴而就的,每一個零件和機構(gòu)都需要經(jīng)受住在地面完成的空間極端環(huán)境(如真空狀態(tài)及超高低溫條件)的可靠性考核(如轉(zhuǎn)矩、位移形變、傳動比、剛度等)[1~6],其中,對于各組件及機構(gòu)在空間條件下的直線運動所進行的模擬測試是非常重要的,稍有偏差將導致對接失利、偏離預定軌道等一系列嚴重后果。
目前,對于空間機構(gòu)直線運動的檢測主要采用高精度光柵線位移傳感器,故而為了保證每一次模擬測試結(jié)果的可靠性,需定期對其進行校準[7]。
目前中國常用的線位移傳感器的校準條件都是在常溫環(huán)境下(20~25 ℃)進行的[8~10],與傳感器實際工作所處高低溫環(huán)境(-70~100 ℃)存在較大差異。為了保證校準結(jié)果的可靠性,本文將以現(xiàn)有常溫條件下線位移傳感器校準方法為基礎(chǔ),設(shè)計一套可以滿足高低溫環(huán)境要求的光柵線位移傳感器校準裝置,且裝置的測量范圍為0~5 mm。
本文所設(shè)計的針對地面機構(gòu)測試的高低溫光柵線位移傳感器校準裝置結(jié)構(gòu)示意如圖1 所示。整套校準裝置的工作原理為:在高低溫箱的外部施加動力,同時驅(qū)動光柵線位移傳感器和校準裝置進行直線運動,采用比較激光干涉儀和光柵線位移傳感器各自測量結(jié)果的方式進行校準。
從圖1 可以看出,高低溫箱內(nèi)部安裝有支撐平臺,其上裝配滾珠絲桿、導軌、滑塊以及被校光柵線位移傳感器,并且被校光柵線位移傳感器的讀數(shù)頭與滑塊固定;滾珠絲桿與高低溫箱外左側(cè)的伺服電機相連,為校準裝置提供動力;滑塊與傳動軸相連,且反射鏡固定在傳動軸上;分光鏡、激光干涉儀均置于微調(diào)整平臺上,且微調(diào)整平臺固定在測量平臺的導軌上,以方便調(diào)節(jié)激光干涉儀的垂直度和平面度。
圖1 校準裝置結(jié)構(gòu)示意Fig.1 Schematic Diagram of Calibration Device Structure
在電機驅(qū)動下,被校光柵線位移傳感器的讀數(shù)頭和反射鏡能同時沿著導軌左右運動,高低溫光柵線位移傳感器校準裝置通過激光干涉儀發(fā)出的激光束,經(jīng)分光鏡、反射鏡、分光鏡后反射回激光干涉儀內(nèi)置的光電探測器,經(jīng)信號處理后,在上位機軟件中得到激光干涉儀的測量結(jié)果,最后將該測量結(jié)果與被校光柵線位移傳感器的測量結(jié)果相比較的方式以實現(xiàn)校準。
根據(jù)現(xiàn)代計量學理論,校準裝置的測量精度應為被校裝置測量精度的1/3~1/10[11],而高低溫光柵線位移傳感器的測量精度為5 μm,因此對應到本文所設(shè)計的高低溫光柵線位移傳感器校準裝置其合理精度應在0.5~1.7 μm,故本文設(shè)定校準裝置精度為1.5 μm,滿足計量學要求。
在對校準裝置各部分進行合理的精度設(shè)計之前,需對校準過程中的誤差來源進行全面分析。
高低溫光柵線位移傳感器校準裝置的位移校準表達式為
式中 LΔ 為待測高低溫光柵線位移傳感器的誤差值,μm;L1為待測高低溫光柵線位移傳感器的測量值,μm;L2為標準儀器激光干涉儀的測量值,μm; Δl 為傳動軸的熱變形補償值,μm。
由式(1)可知,本校準裝置的主要誤差來源有標準儀器示值誤差和熱變形誤差,另外測量過程中軸線偏差帶來的阿貝誤差、環(huán)境誤差(溫度、振動、灰塵等)等也會對測量結(jié)果產(chǎn)生影響。
高低溫光柵線位移傳感器校準裝置通過傳動軸將高低溫箱內(nèi)部的位移傳遞至常溫環(huán)境下,再用單頻激光干涉儀測量,因此標準儀器單頻激光干涉儀的示值誤差 δ1( x)即為該校準裝置的儀器誤差的主要來源。
高低溫光柵線位移傳感器校準裝置是由其自身驅(qū)動電機以滾珠絲桿為傳動件,同時帶動待測高低溫光柵線位移傳感器的傳動軸和讀數(shù)端,光柵線位移傳感器的不動光柵固定在導軌上,因此在校準光柵線位移傳感器時,光柵線位移傳感器的測量中心線不在傳動軸運動軌跡的延長線上,因此校準過程中會產(chǎn)生阿貝誤差。校準過程中由于傳動軸左右移動時,滑塊的擺動而產(chǎn)生阿貝誤差如圖2 所示。
圖2 阿貝誤差示意Fig.2 Abbe Error Diagram
因高低溫光柵線位移傳感器校準裝置的傳動軸有部分在高低溫箱內(nèi),而高低溫箱內(nèi)的溫度與室溫存在較大差異,由此造成內(nèi)部工裝和傳動軸產(chǎn)生形變,使得激光干涉儀的位移測量出現(xiàn)較大誤差,因此必須對其進行熱變形補償。
激光干涉儀位移校準過程中高低溫箱內(nèi)部工裝和傳動軸產(chǎn)生的熱變形誤差如圖3 所示。因高低溫箱內(nèi)部工裝對稱,內(nèi)部工裝在X、Y 軸方向上的熱變形基本被抵消,僅在Z 軸方向上存在熱變形,即高低溫箱內(nèi)部工裝的熱變形僅會導致傳動軸在Z 軸方向上產(chǎn)生位移。而傳動軸采用Invar 合金,其熱膨脹系數(shù)僅為1.5×10-6/℃,且不存在各向異性,因此傳動軸僅在X軸方向上存在軸向熱變形。
圖3 校準裝置熱變形示意Fig.3 Thermal Deformation Diagram of Calibration Device
設(shè)傳動軸的總長為l,其處于高、低溫箱內(nèi)部分的長度為l1,傳動軸處于高低溫箱外部分的長度為l2,校準過程中因高低溫箱內(nèi)部工裝在Z 軸方向上的熱變形導致傳動軸偏移的角度為θ ,在Z 軸方向上偏移距離為l3;傳動軸在X 軸方向上熱變形為 Δl' ,激光干涉儀測得值為 Δl 。在校準裝置的整個溫度環(huán)境、位移測量范圍內(nèi),通過激光干涉儀對校準裝置的熱變形值進行測量,得到熱變形值補償表,進而在進行位移校準時進行熱變形補償。顯然,熱變形補償誤差僅由單頻激光干涉儀的示值誤差 δ3( x)組成。
高低溫光柵線位移傳感器校準裝置的周邊環(huán)境變化會對校準過程造成一定的測量誤差,其中由溫度變化引起的測量誤差為 δ4( x),其計算公式如下:
式中1α 為傳動軸的材料膨脹系數(shù);L 為光柵線位移傳感器的行程;1TΔ 為周邊環(huán)境的溫度變化值。
校準裝置的其他誤差來源主要包括環(huán)境誤差(如濕度、振動等)、人員誤差以及數(shù)據(jù)采集軟硬件帶來的方法誤差等,設(shè)上述誤差量合計為 δ5(x)。
根據(jù)上述對高低溫光柵線位移傳感器校準裝置誤差來源、機械結(jié)構(gòu)的具體分析,對高低溫光柵線位移傳感器校準裝置的精度進行設(shè)計[11]。因測量誤差有5 項,故根據(jù)等作用誤差分配準則以及最大允許誤差為1.5 μm 的要求,得到各誤差分量為
在本文所設(shè)計的高低溫光柵線位移傳感器校準裝置中,校準裝置的標準儀器誤差即單頻激光干涉儀的示值誤差。因此取標準儀器誤差 δ1( x)=0.5 μm。
如圖1 所示,高低溫光柵線位移傳感器校準裝置中的驅(qū)動電機同時帶動待測高低溫光柵線位移傳感器的讀數(shù)頭和傳動軸,光柵線位移傳感器的不動光柵固定在導軌上,因此在校準光柵線位移傳感器時,光柵線位移傳感器的測量中心線不在傳動軸運動軌跡的延長線上,因此校準過程中滑塊的擺動會產(chǎn)生阿貝誤差。
為最大可能地減少阿貝誤差,應使傳動軸與不動光柵的距離盡可能的小??紤]實際機械安裝和加工工藝的因素,在本文中傳動軸與不動光柵之間的距離設(shè)為 A=50 mm,校準過程中滑塊的最大擺角控制在?= 4'',則產(chǎn)生阿貝誤差為
實際校準過程中,滑塊帶著傳動軸運動,滑塊的擺角很難限制,故應適當降低對阿貝誤差的要求。
因高低溫光柵線位移傳感器校準裝置的傳動軸有部分在高低溫箱內(nèi),而高低溫箱內(nèi)的溫度與室溫存在較大差異,造成內(nèi)部工裝和傳動軸產(chǎn)生熱變形,使得激光干涉儀的位移測量有較大誤差,因此必須對其進行熱變形補償。
熱變形補償誤差僅由單頻激光干涉儀的示值誤差組成,故取熱變形補償誤差 δ3( x)=0.5 μm。
校準裝置的現(xiàn)場環(huán)境溫度分布不勻,難以準確測量,只能盡量控制溫度偏差來減小溫度變化引起的測量誤差。根據(jù)現(xiàn)場測量環(huán)境,高低溫箱外部的測量環(huán)境的溫度變化波動幅度為2 ℃,選用的傳動軸的線膨脹系數(shù)α 為1.5×10-6/℃,則由于環(huán)境溫度變化引起的測量誤差計算為
其他誤差主要包括環(huán)境誤差(如濕度、振動等)、人員誤差、以及數(shù)據(jù)采集軟硬件帶來的方法誤差。該項誤差難以準確測量,無法對其進行修正,因此分配給該項的誤差應在允許范圍內(nèi)盡量取大,本文取δ5( x)=0.7 μm。
根據(jù)誤差獨立作用原理,按照方和根公式對上述誤差進行合成,可得校準裝置的最大允許誤差為[12]
可見,校準裝置的最大允許測量誤差小于1.5 μm,滿足校準裝置的精度要求。
本文對應用于地面測試機構(gòu)的高低溫光柵線位移傳感器校準裝置進行了設(shè)計,并從阿貝誤差、環(huán)境溫度誤差、熱變形補償誤差幾方面具體分析了該校準裝置的誤差來源,再進行相應的精度設(shè)計。計算結(jié)果表明,該高低溫光柵線位移傳感器校準裝置的精度為1.4 μm,已滿足本文提出的技術(shù)指標(1.5 μm)。這為后期開發(fā)應用于地面測試機構(gòu)的高低溫光柵線位移傳感器校準技術(shù)提供了理論基礎(chǔ)。