仲叢明, 薛永軍
(山西省第三地質(zhì)工程勘察院, 山西 榆次 030620)
巖石和水的電阻率均與溫度有密切的關(guān)系,當(dāng)水的溫度高或巖石孔隙、裂隙中充填有熱水時(shí),電阻率將會(huì)明顯降低,溫度越高,視電阻率越低;礦化度越高,電阻率越低,地下熱水的礦化度往往比普通水要高,這就造成了普通水和地下熱水不同的電阻率差異。在相同溫度時(shí),兩種水的電阻率也有一定差異。在相同巖性的巖體中,由于深部的熱傳導(dǎo)或斷層影響,同樣可產(chǎn)生低阻異常。
地?zé)峥碧街貙ふ业刭|(zhì)構(gòu)造中可能形成的導(dǎo)水裂隙帶,地?zé)豳Y源賦存于熱儲(chǔ)層,上覆蓋層,同時(shí)應(yīng)具有良好的匯水條件,因此資料解譯主要集中在構(gòu)造和垂向分層劃分。層狀賦存的地層電性均勻,橫向上差異不大,一旦出現(xiàn)構(gòu)造破壞了這種地層的連續(xù)性,會(huì)在地電斷面上表現(xiàn)出明顯的電性差異,視電阻率等值線斷面上表現(xiàn)出等值線起伏較大,橫向電阻率不連續(xù)等現(xiàn)象,據(jù)此可推斷構(gòu)造情況??v向上層狀巖層物性特征差異明顯,不同巖性的電阻率不同,可由電阻率等值線圖阻值高低、等值線的起伏、密集程度等分析該區(qū)段電性的垂向變化,進(jìn)而結(jié)合地質(zhì)資料分析其具體巖性,這就是勘測(cè)的解譯原則。
圖1 CSAMT 二維反演電阻率剖面圖及其平面解譯
根據(jù)所得數(shù)據(jù)橫向推斷:1 測(cè)線橫向上電阻率西部測(cè)點(diǎn)0~1 200 點(diǎn)電阻率相對(duì)較為連續(xù),該段深部電阻率出現(xiàn)下凹,低阻向深部延伸,1 250 點(diǎn)橫向電性出現(xiàn)明顯錯(cuò)斷,分析為斷裂構(gòu)造,解譯為F 斷層。由電阻率錯(cuò)斷情況分析,該斷層角度較大,約70°~80°。
縱向推斷,以F 斷層上盤為例:淺部盲區(qū)約100m,該處數(shù)據(jù)呈現(xiàn)上下一致的特征,因此不參與解釋;標(biāo)高1 300~1 200 m 范圍,電阻率高低阻交錯(cuò),局部起伏明顯,大體分界面為高阻向低阻轉(zhuǎn)變區(qū)域,為第四系地層,巖性為黃土、亞粘土、亞砂土等;勘查區(qū)地表黃土覆蓋,三疊系地層上部風(fēng)化破碎帶電阻率起伏,標(biāo)高950~1 200 m 視電阻率符合該推斷,向下電阻率逐漸減小,進(jìn)入二疊系地層;根據(jù)CSAMT 二維反演電阻率剖面分析三疊系底界標(biāo)高約200 m,該處電阻率開始抬升,即二疊系地層標(biāo)高200~950 m,層厚750 m;在標(biāo)高0~200 m 范圍內(nèi),電阻率表現(xiàn)為由低阻向高阻過度段,屬石炭系巖層,該層厚度約200 m;奧陶系電阻率明顯變大,奧灰面埋深1 150~1 250 m,高程約100~200 m;在標(biāo)高-350~-450 m,深度1 700~1 800 m 電阻率持續(xù)增大,該段進(jìn)入寒武系地層。
2 測(cè)線橫向上,視電阻率斷面在850 點(diǎn)同樣出現(xiàn)電性錯(cuò)斷現(xiàn)象,與K1測(cè)線1 250 測(cè)點(diǎn)出現(xiàn)的斷裂異常情況基本一致,電阻率淺部低阻向深部延伸,局部高阻突出,深部呈現(xiàn)低阻異常,推斷該處存在斷裂構(gòu)造,解譯為F 斷層。
2 線250~550 點(diǎn)奧陶系和石炭系接觸面電阻率連續(xù),深部電阻率降低,橫向?qū)Ρ让黠@低于周圍區(qū)域,深度位于奧陶系和寒武系地層內(nèi)。由于巖石和水視電阻率電阻率與溫度有密切的關(guān)系,當(dāng)水的溫度高或巖石孔隙、裂隙中充填有熱水時(shí),它們的電阻率將會(huì)明顯降低;高溫水的礦化度大于低溫水,相應(yīng)電阻率變低,在相同巖性的巖體中,深部的熱傳導(dǎo)可以產(chǎn)生地?zé)岬妥璁惓#栽摰妥璁惓^(qū)域圈定為低阻地?zé)岙惓!?/p>
圖2 10、11、12、13、14 測(cè)線CSAMT 二維反演視電阻率剖面圖
各測(cè)線平面平行展布,受F1斷層影響,9、10、11測(cè)線電阻率明顯高于12、13、14 測(cè)線。12、13 測(cè)線臨近F1斷層且有小角度交叉,受其影響,橫向上電阻率剖面測(cè)點(diǎn)200~350 m 位置出現(xiàn)電阻率錯(cuò)斷,而其西部的14 測(cè)線電阻率則較為平緩,且縱向上異常也有別于其余錯(cuò)斷異常的“淺部高阻,深部低阻”形態(tài),呈現(xiàn)的是淺部低阻封閉,深部高阻的形態(tài),因此推斷F2、F3斷裂發(fā)育至12、13 測(cè)線。
圖3 電測(cè)深D1 點(diǎn)電阻率曲線圖(m)
D1點(diǎn)根據(jù)可控源勘測(cè)結(jié)果分析該測(cè)點(diǎn)位于F2斷層南側(cè)。取可控源8 測(cè)線150 點(diǎn)二維反演數(shù)據(jù)作隨深度變化的曲線圖,結(jié)合測(cè)深曲線綜合分析。測(cè)深從75 m 開始,電阻率曲線整體呈H 型:全新統(tǒng)(Q4)地層厚度應(yīng)為90 m,為曲線高阻向低阻過渡階段;AB/2=90~420 m 時(shí),電阻率曲線變化復(fù)雜,整體呈下降趨勢(shì),對(duì)應(yīng)的可控源曲線首先下降后抬升,420 m位置轉(zhuǎn)折點(diǎn),該段應(yīng)為和更新統(tǒng)(Q1+2+3)反應(yīng),巖性為粉砂、細(xì)砂、砂礫、礫石、細(xì)砂礫石、粘土等巖層;AB/2=420~600 m 段,電測(cè)深曲線抬升后下降,600 m 位置進(jìn)入極值,隨后急劇抬升,對(duì)應(yīng)的可控源曲線平緩下降后轉(zhuǎn)急劇上升,該段為第三系(N2)地層反應(yīng)。巖性為細(xì)砂礫石層、砂礫層夾粗砂巖;AB/2=600 m 時(shí)電測(cè)深曲線和可控源曲線同時(shí)急劇抬升,該段進(jìn)入五臺(tái)群變質(zhì)巖地層。
1)通過可控源音頻大地電磁法對(duì)實(shí)際工程的地層、構(gòu)造情況的探測(cè)分析表明,在選取了正確施工參數(shù)和數(shù)據(jù)處理、解譯的前提下,應(yīng)用可控源音頻大地電磁法研究深部地層、構(gòu)造和地?zé)豳x存情況可行的,可以獲得與實(shí)際較吻合的地層結(jié)構(gòu)。
2)在廣泛收集以往資料基礎(chǔ)上,根據(jù)實(shí)際地層情況,結(jié)合勘測(cè)結(jié)果,應(yīng)用可控源音頻大地電磁法分析地層垂向分布規(guī)律,可依據(jù)一維反演單點(diǎn)曲線進(jìn)行,根據(jù)電性變化進(jìn)行垂向分層,并分析基底起伏情況;根據(jù)二維反演視電阻率斷面可分析測(cè)線跨越位置橫向電性分布情況,進(jìn)而進(jìn)行斷裂構(gòu)造的分析。
3)在充分分析低阻異常的基礎(chǔ)上,解譯時(shí)先排除斷裂帶等低阻異常,在呈區(qū)域式出現(xiàn)的低阻既為有意義的地?zé)岙惓^(qū)。在有意義異常區(qū)輔助電測(cè)深等手段,既可進(jìn)一步驗(yàn)證低阻異常情況,可進(jìn)一步分析其地?zé)豳x存情況。