吳振成,王 飛,李來(lái)平,陳 杰
(上海航天精密機(jī)械研究所,上海 201600)
工業(yè)上為了使零部件具有更高的性能,如耐高溫、抗氧化、防腐蝕、抗疲勞、防輻射等,通常采用表面涂層技術(shù)在基體材料表面涂覆一層功能性涂層。當(dāng)前具有特殊防護(hù)性作用的涂層已廣泛應(yīng)用于航空、航天、機(jī)械、汽車(chē)、電子、信息技術(shù)等眾多領(lǐng)域。表面涂層對(duì)整個(gè)結(jié)構(gòu)的性能具有十分重要的影響,涂層的局部缺陷與損傷往往會(huì)使零部件和整體設(shè)備失效及損壞。因此,對(duì)涂層質(zhì)量的檢測(cè)和分析評(píng)價(jià)具有十分重要的意義。目前,用于涂層非破壞性檢測(cè)與分析的主要技術(shù)有渦流法、X射線法、超聲法、紅外熱成像法、滲透法等,這些無(wú)損檢測(cè)方法各有優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)[1-2]。
筆者主要介紹了利用渦流陣列檢測(cè)技術(shù)和水浸超聲掃描對(duì)某種表面覆銅薄鋼板材料進(jìn)行檢測(cè)的原理,分析評(píng)價(jià)了表層銅薄膜的涂覆質(zhì)量。介紹了渦流陣列技術(shù)和水浸超聲C掃描檢測(cè)的原理,然后通過(guò)合理設(shè)置檢測(cè)參數(shù),對(duì)試樣開(kāi)展檢測(cè),并將檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比分析,結(jié)果表明,渦流陣列檢測(cè)技術(shù)可望用于金屬表面涂覆層質(zhì)量的成像檢測(cè)和性能評(píng)估。
基于常規(guī)渦流檢測(cè)技術(shù),渦流陣列檢測(cè)(ECAT)是電磁檢測(cè)技術(shù)發(fā)展的一個(gè)重要方向,通過(guò)合理的傳感器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)使檢測(cè)探頭陣列化,并利用數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)完成信號(hào)的激勵(lì)、運(yùn)放、采集、調(diào)理、顯示等功能,從而實(shí)現(xiàn)快速、高效、數(shù)字化檢測(cè)。與常規(guī)單探頭渦流檢測(cè)相比,渦流陣列探頭由多個(gè)線圈組成,有效檢測(cè)覆蓋區(qū)域大,通過(guò)單次掃查就能達(dá)到傳統(tǒng)單線圈探頭渦流檢測(cè)的多次掃查[3-4],常規(guī)渦流單探頭與渦流陣列探頭掃查原理示意如圖1所示。
圖1 常規(guī)渦流單探頭與渦流陣列探頭掃查原理示意
渦流檢測(cè)技術(shù)基于電磁感應(yīng)原理,適用于導(dǎo)電材料的無(wú)損檢測(cè),檢測(cè)過(guò)程中通過(guò)儀器測(cè)量檢測(cè)線圈中阻抗或電壓的變化,對(duì)被檢對(duì)象進(jìn)行特性表征,主要用于材料的缺陷檢測(cè)、涂層厚度測(cè)量、電導(dǎo)率測(cè)量等。
水浸超聲檢測(cè)技術(shù)利用水作為耦合劑,將工件和探頭全部或部分置于水中,超聲波通過(guò)水進(jìn)入工件進(jìn)行非接觸式檢測(cè)。水浸超聲自動(dòng)檢測(cè)成像技術(shù)是實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量檢測(cè)、厚度測(cè)量、涂層質(zhì)量檢測(cè)等最為有效的手段之一。水浸超聲自動(dòng)檢測(cè)原理示意如圖2所示[5-6]。
圖2 水浸超聲自動(dòng)檢測(cè)原理示意
超聲檢測(cè)技術(shù)利用檢測(cè)探頭產(chǎn)生超聲波進(jìn)行檢測(cè),由于聲波在涂層及工件中傳播會(huì)產(chǎn)生反射、折射與散射等,這些聲傳播信號(hào)與被檢材料的組織結(jié)構(gòu)密切相關(guān),并攜帶著大量的涂層結(jié)構(gòu)信息,通過(guò)提取聲速、聲衰減系數(shù)、幅值、相位等超聲參量可以實(shí)現(xiàn)涂層特性的表征。
2.1.1 渦流陣列檢測(cè)系統(tǒng)
使用的渦流陣列檢測(cè)系統(tǒng)型號(hào)為Ectane2,由檢測(cè)主機(jī)、渦流陣列探頭、便攜式計(jì)算機(jī)等3大部分組成,渦流陣列檢測(cè)系統(tǒng)外觀如圖3所示。渦流陣列檢測(cè)主機(jī)高度集成,內(nèi)置高頻信號(hào)激勵(lì)模塊、信號(hào)調(diào)理模塊、高速信號(hào)采集模塊等。渦流陣列探頭由渦流陣列線圈傳感器與編碼器組成,探頭為柔性封裝結(jié)構(gòu),可以適用于非平整表面的檢測(cè)。便攜式計(jì)算機(jī)安裝有渦流陣列檢測(cè)分析軟件,與檢測(cè)設(shè)備主機(jī)通過(guò)網(wǎng)線連接,可以實(shí)現(xiàn)渦流檢測(cè)信號(hào)的高效、穩(wěn)定、快速采集和分析,有阻抗圖、二維和三維等多種數(shù)據(jù)處理顯示模式。
2.1.2 水浸超聲掃描檢測(cè)系統(tǒng)
試驗(yàn)所用水浸超聲檢測(cè)系統(tǒng)為自主設(shè)計(jì)研發(fā)的平板超聲波檢測(cè)系統(tǒng),型號(hào)為AFIS-01,主要由超聲波探傷儀主機(jī)、超聲探頭、機(jī)械掃查裝置、檢測(cè)軟件等部分組成,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意如圖4所示[5-6]。該系統(tǒng)基于水浸超聲脈沖反射技術(shù),可用于板材、鍛件的自動(dòng)檢測(cè),在檢測(cè)過(guò)程中,通過(guò)計(jì)算機(jī)技術(shù)實(shí)時(shí)記錄A掃描波形,同時(shí)還能顯示B掃描和C掃描圖像。
待檢測(cè)試樣為上下表面均涂覆有一層銅膜的薄鋼板(編號(hào)為T(mén)GB-1),基體厚度為1 mm,涂層厚度約為50 mm,其中試驗(yàn)的上表面(A面)涂層質(zhì)量較差,含有起泡等缺陷,下表面(B面)涂層均勻分布,無(wú)明顯缺陷,試樣外觀如圖5所示。
圖5 TGB-1試樣外觀
2.2.1 渦流陣列檢測(cè)方法
在渦流陣列檢測(cè)過(guò)程中,對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響較大的工藝參數(shù)主要包括:激勵(lì)頻率、激勵(lì)電壓、增益等,對(duì)于不同的檢測(cè)對(duì)象、不同的檢測(cè)探頭,檢測(cè)工藝參數(shù)也不相同。試驗(yàn)分別采用渦流陣列TFC(T型柔性探頭)和CUS(定制柔性探頭)兩種探頭對(duì)試樣表面進(jìn)行對(duì)比檢測(cè),以驗(yàn)證檢測(cè)結(jié)果是否相同。
渦流陣列檢測(cè)過(guò)程中,需要確保系統(tǒng)正常運(yùn)行,每次掃查之前要在試塊完好區(qū)域進(jìn)行“平衡”。
(1) TGB-1試樣的TFC探頭檢測(cè)結(jié)果
通過(guò)設(shè)備進(jìn)行調(diào)試,頻率為300 kHz,增益為40 dB,激勵(lì)電壓為5 V,對(duì)試樣的A、B面進(jìn)行掃查,掃查方向均為從左側(cè)到右側(cè),檢測(cè)結(jié)果如圖6所示。
圖6 TGB-1試樣的TFC探頭檢測(cè)結(jié)果
通過(guò)TFC探頭檢測(cè)鋼板A面,得到二維與三維圖像,發(fā)現(xiàn)有效檢測(cè)區(qū)域內(nèi)沒(méi)有異常信息,可知試樣A面涂層質(zhì)量均勻完好。對(duì)比分析B面檢測(cè)得到的掃描圖像,可以明顯看到試樣B面的右側(cè)有清晰的異常信號(hào)顯示,與試樣表面的實(shí)際狀況相符。
(2) TGB-1試樣的CUS探頭檢測(cè)結(jié)果
選擇頻率為250 kHz,增益為35 dB,激勵(lì)電壓為5 V,對(duì)試樣的A、B面進(jìn)行掃查,掃查方向同樣為從左側(cè)到右側(cè),檢測(cè)結(jié)果如圖7,8所示。
圖7 CUS探頭檢測(cè)B面結(jié)果
圖8 CUS探頭檢測(cè)A面結(jié)果
通過(guò)CUS探頭檢測(cè)鋼板的A、B面,可以發(fā)現(xiàn)檢測(cè)結(jié)果與TFC探頭檢測(cè)結(jié)果基本一致,涂層質(zhì)量較差區(qū)域檢測(cè)信號(hào)明顯,利用渦流陣列檢測(cè)技術(shù)可以直觀有效地對(duì)試樣涂層質(zhì)量進(jìn)行成像分析與評(píng)價(jià)。
2.2.2 水浸超聲檢測(cè)方法
對(duì)試樣進(jìn)行水浸超聲檢測(cè)試驗(yàn),由于試樣厚度很薄,為了提高檢測(cè)分辨力和靈敏度,優(yōu)先考慮選用高頻率的寬頻窄脈沖水浸點(diǎn)聚焦探頭。
根據(jù)水浸超聲檢測(cè)工藝的要求、產(chǎn)品的尺寸以及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),設(shè)置合理的檢測(cè)參數(shù)。通過(guò)調(diào)試,設(shè)定頻率為30 MHz,增益為50 dB,聲速為5 900 m·s-1,脈沖寬度為17 ns,脈沖電壓為200 V,掃查分辨率為0.5 mm,步進(jìn)分辨率為0.5 mm。檢測(cè)過(guò)程中需要對(duì)檢測(cè)靈敏度進(jìn)行復(fù)查,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性與可靠性,檢測(cè)結(jié)果如圖9所示。
圖9 水浸超聲C掃描檢測(cè)結(jié)果
由超聲檢測(cè)結(jié)果可以看出,在C掃描圖像的一側(cè)有缺陷信號(hào)顯示,但信噪比比較低。
可以發(fā)現(xiàn)渦流陣列檢測(cè)方法和水浸超聲檢測(cè)方法均可以實(shí)現(xiàn)試樣的二維成像檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果與實(shí)際產(chǎn)品表面狀況相吻合。然而,通過(guò)對(duì)比分析可看出,渦流陣列檢測(cè)得到的圖像中,涂層不良區(qū)域里紅色信號(hào)十分明顯,幅值高,與綠色的低幅值背景噪聲信號(hào)很容易區(qū)分開(kāi),有較高的信噪比,顯示的位置也與試樣實(shí)際情況相對(duì)應(yīng),且同時(shí)顯示三維圖像,能夠更加準(zhǔn)確有效地對(duì)涂層質(zhì)量不好的區(qū)域進(jìn)行表征。由超聲檢測(cè)結(jié)果發(fā)現(xiàn),背景噪聲信號(hào)雜亂,幅值較高,異常信號(hào)幾乎湮沒(méi)在噪聲信號(hào)之中,信噪比低。
因此,對(duì)于此類(lèi)檢測(cè)對(duì)象,渦流陣列檢測(cè)結(jié)果優(yōu)于水浸超聲掃描檢測(cè)結(jié)果。
(1) 采用渦流陣列檢測(cè)系統(tǒng)和水浸超聲檢測(cè)系統(tǒng),通過(guò)調(diào)試選取合適的檢測(cè)參數(shù),均可以實(shí)現(xiàn)金屬薄板涂層質(zhì)量的成像檢測(cè)。
(2) 對(duì)比兩種方法的檢測(cè)結(jié)果可發(fā)現(xiàn),對(duì)于此類(lèi)檢測(cè)對(duì)象,渦流陣列檢測(cè)圖像信噪比高,檢測(cè)結(jié)果能同時(shí)顯示二維與三維圖像,相比水浸超聲檢測(cè)方法,其可以更加直觀、準(zhǔn)確、有效地表征涂層質(zhì)量。
(3) 渦流陣列成像檢測(cè)得到的結(jié)果與試樣表面涂層質(zhì)量狀態(tài)一致,可以很明顯地區(qū)分出涂層質(zhì)量不良區(qū)域,有助于快速判定涂層缺陷的位置及大小。