王柱

摘? 要：隨著社會的不斷發(fā)展，科學(xué)技術(shù)的不斷進步，數(shù)字集成電路技術(shù)的水平不斷的上升，相比于以前的技術(shù)發(fā)展是一個領(lǐng)先性的發(fā)展趨勢。筆者憑借自身的實踐經(jīng)驗在文章中闡述數(shù)字集成技術(shù)的基礎(chǔ)原理與內(nèi)容，進而再一步分析在數(shù)字集成電路測試的高標(biāo)準(zhǔn)操作內(nèi)容。對于不同的數(shù)字集成電路測試原理可以使用不同的數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)以及不同的數(shù)字電路語言測試和不同的編程系統(tǒng)等。文章還從實際的角度出發(fā)，分析了當(dāng)今的國內(nèi)的數(shù)字集成電路的技術(shù)發(fā)展形勢和對于未來的發(fā)展方向進行預(yù)測。

關(guān)鍵詞：數(shù)字集成電路;測試;應(yīng)用剖析;預(yù)測

Abstract： With the continuous development of society， the continuous advancement of science and technology， the level of digital integrated circuit technology continues to rise， and it is a leading development trend compared to the previous technology development. Based on my own practical experience， the author explains the basic principles and contents of digital integration technology in this article， and then further analyzes the high-standard operation content in digital integrated circuit testing. For different digital integrated circuit testing principles， different digital integrated circuit test systems and different digital circuit language tests and different programming systems can be used. The article also analyzes the current domestic technology development situation of digital integrated circuits and forecasts the future development direction from a practical perspective.

引言

人類科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，使人類的信息化水平不斷的提升，從計算機的誕生開始，集成電路技術(shù)的發(fā)展腳步就沒有停下來過。由于人類對精密儀器電子的要求不斷提升以及需求不斷地增多，那么集成電路的制作形式也在不斷的從簡單的電子元件發(fā)展到小微化的大規(guī)模原件的鋪設(shè)與制作，從簡單走向了復(fù)雜化。在數(shù)字集成電路技術(shù)的發(fā)展中，數(shù)字集成電路的測試技術(shù)不斷地發(fā)展成熟，所以數(shù)字集成電路測試技術(shù)的產(chǎn)業(yè)鏈日趨完善，進而發(fā)展為數(shù)字集成電路技術(shù)的支柱化產(chǎn)業(yè)。由于技術(shù)的不斷發(fā)展進步，質(zhì)量在不斷上升的同時，相應(yīng)的制作成本在不斷的下降，對生產(chǎn)成本的壓縮控制就可以使用數(shù)字電路集成測試技術(shù)對生產(chǎn)的各個環(huán)節(jié)進行科學(xué)合理的控制。

1 數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)

數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)中有對微型處理器的測試、半導(dǎo)體儲存電路的測試、各種類型的電路測試都是其測試系統(tǒng)的重要且顯著的特征。在測試系統(tǒng)的運行過程中，使用一系列的高效率的測試方式就能夠把測試的電路的相關(guān)功能、以及運行交流參數(shù)等不同方面的測試一起推動進行，在測試的過程中可以依靠測試系統(tǒng)器材的功能和相關(guān)的測試配置、以及相關(guān)的腳本電子電路對測試電路進行合理科學(xué)的配置測試。

對于計算機的系統(tǒng)的測試，主要指的是計算機的子系統(tǒng)進行相應(yīng)的測試。在計算機的組成結(jié)構(gòu)中，子系統(tǒng)就包括了計算機的所有設(shè)備以及相應(yīng)的操作技能，計算機的子系統(tǒng)可自行的完成對于計算機的相關(guān)自動測試項目的測試任務(wù)，還能夠?qū)τ嬎銠C的自身機能進行高效率的測試。計算機的子系統(tǒng)包括了系統(tǒng)的運行控制器、儲存器、圖像編輯發(fā)生器、時間運行控制器、外部設(shè)備和電源、計算機的聯(lián)結(jié)端口等部分都是屬于計算機的子系統(tǒng)組成部分。系統(tǒng)控制器對于系統(tǒng)有著高效率運行控制，這是系統(tǒng)控制器最為顯著的重要特點，在對相關(guān)的電路進行測試的時候，就可以依靠主要測試系統(tǒng)的系統(tǒng)控制器的強高大的處理計算分析能力對測試電路的相關(guān)測試功能進行有效的測試以及數(shù)據(jù)分析。對于提取的信息數(shù)據(jù)的儲存和引腳交流，都需要和主儲存器有效且穩(wěn)定的連接[1]。

在外部設(shè)備中，由于受到不同的環(huán)境的限制以及相關(guān)的條件的變化，對于測試的主要工具還是離不開計算機，主要的外部設(shè)備一定要有圖像編輯處理器、打印設(shè)備、以及相關(guān)測試內(nèi)容的拷貝設(shè)備等。圖像編輯控制器可以對測試圖像進行生成以及智能化的進行圖像的規(guī)律的合理的排列與規(guī)劃，時間控制器在一定的測試環(huán)境內(nèi)與圖像控制器進行協(xié)同工作，以此來實現(xiàn)對集合方式和運行方式的選擇使用。供電電源設(shè)備可以為測試過程提供所需的電量，還能夠在測試的環(huán)境中做出不同的電路電子測試編程反應(yīng)。對于測試的電路編程編寫，可以進行精細(xì)化的、合理化的、科學(xué)化的編寫，從而可以使被測試對象保持原有的完整性，盡量的減少由于測試帶來的設(shè)備損害程度[2]。

在數(shù)字集成電路技術(shù)的發(fā)展過程中，數(shù)字電路的發(fā)展形式不斷進行多樣化的發(fā)展，其發(fā)展的特點出現(xiàn)了多樣化、特殊化、個性化的發(fā)展，對于數(shù)字集成電路的發(fā)展以及相關(guān)產(chǎn)品的客戶群對于此類產(chǎn)品的需求越來越高，對于質(zhì)量水準(zhǔn)不斷的升高產(chǎn)品要求，客戶群體大都是希望產(chǎn)品的性能、質(zhì)量能夠與產(chǎn)品的價錢相對等。那么，對于數(shù)字集成電路的測試系統(tǒng)的設(shè)備配置就要對質(zhì)量進行嚴(yán)格的把關(guān)，要不斷的提升產(chǎn)品的智能化程度和精密化程度，有足夠的數(shù)據(jù)交換儲存能力，以及保證產(chǎn)品質(zhì)量的情況下要壓縮產(chǎn)品的成本空間，從而打開相應(yīng)的市場提升自我產(chǎn)品的競爭力。

2 數(shù)字集成電路測試的基礎(chǔ)性質(zhì)

在相關(guān)的設(shè)備的制造生產(chǎn)各個過程中，通過測試就能夠知曉機器設(shè)備的性能、制造工藝、以及產(chǎn)品質(zhì)量，這些要素可以將設(shè)備劃分為不同的層次等級設(shè)備和不同類型用途的設(shè)備。對于設(shè)備的測試中，有幾種較為常見測試方式，那就是設(shè)備的功能使用測試、各類直流的參數(shù)是否合理的測試。

2.1 電路的功能測試

對于數(shù)字化集成電路的測試中，功能測試的主要目的是測試電路功能是否達(dá)到電路設(shè)備的產(chǎn)品要求效果。在設(shè)備電路的輸入端輸入測試使用的測試圖像，然后就要尋找到測試圖像對設(shè)備電路刺激而產(chǎn)生的相應(yīng)的反應(yīng)信號，嚴(yán)格的執(zhí)行電路測試過程中制定的標(biāo)準(zhǔn)化頻率走勢在被測試設(shè)備中輸入測試圖像。然后對產(chǎn)品的輸出信號與預(yù)期的產(chǎn)品效果進行對比，分析其輸出的信號是否與預(yù)期的產(chǎn)品信號有差異，以此作為設(shè)備電路性能測試的參考依據(jù)。以上過程在設(shè)備電路的功能測試中，起著重要的關(guān)鍵性作用。對設(shè)備電路的性能正常與否大都是以功能測試中的圖像測試作為性能判斷的初步步驟，優(yōu)質(zhì)的圖像測試資源，可以快速的找到電路產(chǎn)品中存在的性能故障，從而讓相關(guān)維護人員迅速做出判斷，以此縮短測試的周期以及所耗費的成本。在數(shù)字化集成電路的測試中，矢量測試可以作為數(shù)字集成電路質(zhì)量的測試功能，由于矢量測試的精準(zhǔn)度可以反應(yīng)出測試設(shè)備電路的質(zhì)量問題，所以其矢量測試的優(yōu)勢就凸顯出來了。通過組合電路的矢量測試和時間序電路的矢量測試兩種方式的結(jié)果呈現(xiàn)，就可以使集成電路的時間序測試大大的提升測試效率。在組合電路的測試方法中有著代數(shù)法、窮舉法、隨機抽取法、蘊圖像法等測試方法;在測試設(shè)備中，建立科學(xué)有效的測試電路測試模型，相關(guān)矢量生成儲存交流器，二者的協(xié)同工作是以測試碼進行交接，這種測試方式生成的測試數(shù)據(jù)就能夠使時間序電路測試體現(xiàn)應(yīng)有的科學(xué)性與合理性。

2.2 直流參數(shù)測試

漏電測試法與電平轉(zhuǎn)化測試是直流參數(shù)測試的兩種主要的測試方式，筆者為相關(guān)讀者剖析這兩種測試方式的相關(guān)原理。

第一點，漏電測試法。漏電測試法有著應(yīng)用的巨大優(yōu)勢，可以對電路設(shè)備存在的漏電缺陷問題進行精細(xì)化分析。眾所周知，數(shù)字集成電路在實際的應(yīng)用的過程中，由于其物理特性的表現(xiàn)，會出現(xiàn)運行中的設(shè)備期間器材老化和損耗。數(shù)字集成電路設(shè)備因為對電的需求的大且頻繁，那么在設(shè)計絕緣層體的時候，就會相應(yīng)的減少其絕緣體的厚度，屬于物理性的特點，在電路設(shè)備的使用過程中就會出現(xiàn)老化、磨損、絕緣體破裂等情況，那么在集成電路的設(shè)備的使用過程中就會出現(xiàn)設(shè)備的漏電現(xiàn)象。這時候漏電測試法就能夠凸顯出其巨大的優(yōu)勢，對設(shè)備漏電的部位進行精準(zhǔn)檢測以及監(jiān)測，然后對該部位進行修補，在修補的過程中就可以認(rèn)識到電路設(shè)備的正常輸出和輸入功率。

第二點，電平轉(zhuǎn)化測試法。電平轉(zhuǎn)化測試法相比于漏電測試法而言，有著極強的電路設(shè)備測試針對性。電平轉(zhuǎn)化測試法主要是對設(shè)備中的將要失去使用效用的電路部分的臨界值電壓進行相應(yīng)的測試。這兩種電路設(shè)備測試方法只是直流參數(shù)測試中的較為典型常見的兩種測試方式。其他的直流參數(shù)測試方法還有接觸設(shè)備測試法等。

2.3 交流參數(shù)測試法

交流參數(shù)測試法與直流參數(shù)測試法有著一定的區(qū)別，前者進行電路設(shè)備測試之后，后者再進行測試的測試方法。數(shù)字集成電路的系統(tǒng)技術(shù)性體現(xiàn)就是通過交流參數(shù)測試而體現(xiàn)出來的，交流參數(shù)測試對于數(shù)字集成電路的工作狀態(tài)正常與否是一個重要的參數(shù)指標(biāo)。交流參數(shù)測試不一定對測試電路設(shè)備的每一個項目都進行測試，主要是運用專業(yè)的，標(biāo)準(zhǔn)的儀器設(shè)備，以及科學(xué)合理的檢測時間點和檢測順序關(guān)系，然后進行電路設(shè)備的檢修測試，以保障數(shù)字集成電路設(shè)備的正常運行。

3 結(jié)束語

數(shù)字化集成電路的生產(chǎn)制造以及運用的過程中，生產(chǎn)的時候嚴(yán)格遵循科學(xué)合理的標(biāo)準(zhǔn)化操作規(guī)程，對數(shù)字集成電路設(shè)備的質(zhì)量檢測要嚴(yán)格把關(guān)。在集成設(shè)備電路設(shè)備使用的過程中，一定要嚴(yán)格的進行相關(guān)的科學(xué)操作規(guī)程，不得違規(guī)使用數(shù)字集成電路設(shè)備，從而避免因為設(shè)備的違規(guī)操作而造成的不必要的損失。但是，就當(dāng)下的階段社會經(jīng)濟發(fā)展速度來看，科學(xué)技術(shù)的水平在經(jīng)濟的支持之下不斷的發(fā)展。數(shù)字集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展，也在不斷的推動著國家的工業(yè)水平的進步。本文是筆者通過實踐的調(diào)查和相關(guān)專業(yè)文獻的查閱之后，而作成的文章，文中闡述了數(shù)字集成電路得到測試技術(shù)的發(fā)展，各種典型測試方式的介紹，對相關(guān)的數(shù)字集成電路基礎(chǔ)原理和性質(zhì)進行簡單的介紹。數(shù)字集成電路的發(fā)展方式，一定要與過去的發(fā)展方式相區(qū)分開來，要在以往的發(fā)展模式中汲取積極有益發(fā)展內(nèi)容，作為創(chuàng)新發(fā)展數(shù)字集成電路技術(shù)以及相關(guān)的測試技術(shù)的發(fā)展基礎(chǔ)。在發(fā)展的過程中，要抓住國內(nèi)外的最新研發(fā)成果，同時也要攻堅克難，不斷的探索數(shù)字集成電路技術(shù)以及測試技術(shù)的新途徑。

參考文獻：

[1]韓春輝，蔡金燕，孟亞峰.基于VXIbus的數(shù)字集成電路在線測試系統(tǒng)的設(shè)計[J].微計算機信息，2006，22（1）：175-177.

[2]尹超平，張秉仁，趙吉祥.基于VIIS-EM平臺的虛擬數(shù)字集成電路測試儀的設(shè)計[J].電子技術(shù)應(yīng)用，2013（05）：97-100.