張艷華 葛 鷹
(廣東生益科技股份有限公司,國家電子電路基材工程技術(shù)研究中心,廣東 東莞 523808)
銅箔是覆銅板(C C L)及印制電路板(PCB)制造種的重要材料,在當(dāng)今電子信息產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展中,隨著印制電路板的集成程度增加,電子線路趨向于高精細(xì)和高密度化,信號(hào)傳輸頻率越來越高[1],低輪廓銅箔和超低輪廓銅箔越來越被大量使用,同時(shí)銅箔粗糙度成為了一個(gè)不可或缺的測量參數(shù),是影響PCB信號(hào)完整性的關(guān)鍵因素,也給銅箔粗糙度的檢測技術(shù)帶來了新的挑戰(zhàn)。表面粗糙度測量法主要有三類:接觸式測量法、非接觸式測量法以及納米表面粗糙度分析法[2],而激光共聚焦法是非接觸式三維測量法。
激光共聚焦顯微鏡的原理是激光束從光源針孔射出,經(jīng)過分光鏡,再由掃描透鏡聚焦于樣品表面,對樣品內(nèi)焦平面上每一點(diǎn)進(jìn)行掃描,然后反射的激光束經(jīng)分光鏡折射和探測透鏡聚焦后,透過探測針孔由光電倍增管探測收集。只有來自樣品焦平面上的光才能在探測針孔平面聚焦成像,通過計(jì)算掃面的圖像得出表面的粗糙度值。激光共聚焦顯微鏡具有靈敏度高、分辨率高、準(zhǔn)確性高、不損傷樣品等優(yōu)點(diǎn),使它在銅箔面粗糙度測試技術(shù)上具有更大的優(yōu)勢,缺點(diǎn)是易受振動(dòng)的影響。
本文主要是用激光共聚焦顯微鏡對銅箔表面粗糙度的測量進(jìn)行研究。
樣品:銅箔;標(biāo)準(zhǔn)片Ra0.12、Ra0.80、Ra1.59。
設(shè)備信息:奧林巴斯OLS5000;
物鏡:5x、10x、20x、50x、100x,帶有自動(dòng)載物臺(tái),帶有數(shù)據(jù)分析軟件和標(biāo)準(zhǔn)片。
奧林巴斯OLS5000采集模式有三種:AUTO、手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)和手動(dòng)精細(xì)。Auto模式是儀器根據(jù)樣品自動(dòng)調(diào)節(jié)采集高度和亮度,缺點(diǎn)是有時(shí)候亮度會(huì)過大,圖像曝光,影響圖像分析。手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)和手動(dòng)精細(xì)是根據(jù)樣品手動(dòng)調(diào)節(jié)采集的高度和亮度,二者的區(qū)別是采集的間距不同,手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)的間距是0.24 μm,手動(dòng)精細(xì)的間距是0.12 μm,手動(dòng)精細(xì)的采集時(shí)間較長。分別用這三種模式測試銅箔樣品,其他參數(shù)保持一致,結(jié)果(見表1)。
從表1可以看出,三種采集模式得出的Sa、Sz、Sq值相對于手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)模式的偏差均小于6%,三種采集模式的結(jié)果相近,綜合考慮選取手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)模式采集圖像。
用50 x物鏡單區(qū)域掃描,掃描面積是259 μm ×259 μm,拼接面積是1000 μm×259 μm,手動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)模式采集樣品,得到的結(jié)果(見表2)。
從表2可以看出,兩種不同采集區(qū)域的結(jié)果,Sa和Sq比較接近,但是Sz差異比較大,因?yàn)镾z是最大波峰和最大谷深之和,拼接區(qū)域采集面積比較大,更能代表樣品信息,所以選拼接區(qū)域采集。
一個(gè)銅箔樣品重復(fù)測試10次,結(jié)果(見表3)。從表3中可以看出,樣品重復(fù)測量10次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差均小于5%,重復(fù)性符合要求。
測量標(biāo)準(zhǔn)片Ra0.12、Ra0.80、Ra1.59,測得結(jié)果(見表4)。從表4中可以看出,3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片的測量結(jié)果和標(biāo)準(zhǔn)片的值之間的相對偏差小于5%,測量結(jié)果準(zhǔn)確。
表1 銅箔樣品三種采集模式的結(jié)果
表2 銅箔樣品兩種不同采集區(qū)域的結(jié)果
表3 銅箔樣品重復(fù)測量的結(jié)果
表4 3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片的測量結(jié)果
綜上所述,相對于探針式方法,激光共聚焦顯微鏡是一種非接觸式的方法,能夠在不損傷樣品的前提下,對樣品實(shí)施非破壞性觀察和測量,消除了色差,獲得的三維圖像更加清晰,具有靈敏度高、分辨率高、準(zhǔn)確性高等優(yōu)點(diǎn),在銅箔面粗糙度測試技術(shù)上具有更大的優(yōu)勢。