(中航光電科技股份有限公司,河南洛陽,471000)
電連接器作為基礎(chǔ)元器件,主要用于實(shí)現(xiàn)電信號的傳輸、控制及電子與電氣設(shè)備間的電連接,已廣泛應(yīng)用于航空、航天、電子、通訊等領(lǐng)域[1],其可靠性的高低對系統(tǒng)的安全運(yùn)行起著舉足輕重的作用[2]。電連接器的可靠性預(yù)計工作,不僅可以定量的評估其可靠性水平,而且可以有效指導(dǎo)產(chǎn)品的設(shè)計從而提高其可靠性[3,4]。GJB/Z 299C《電子設(shè)備可靠性預(yù)計手冊》中對電連接器的失效率預(yù)計模型為[5]:
λp=λbπEπQπPπKπC
(1)
其中,λp為工作失效率,λb為基本失效率(僅考慮電應(yīng)力和溫度作用)。近年來,工程領(lǐng)域?qū)σ勒丈鲜瞿P烷_展的元器件失效率預(yù)計工作的缺陷已有了廣泛的共識[6,7]。對應(yīng)美軍標(biāo)MIL-HDBK-217F早已停用,GJB/Z 299C目前也正在進(jìn)行換版修訂。
傳統(tǒng)模型除了缺少相關(guān)數(shù)據(jù)支撐以外,其缺陷還主要表現(xiàn)在:模型中并未充分考慮電連接器的設(shè)計、生產(chǎn)和使用過程對其失效率的影響,使得預(yù)計結(jié)果無法體現(xiàn)產(chǎn)品實(shí)際可靠性水平,也無法表現(xiàn)出不同研制、使用方案的差異或優(yōu)劣。電連接器的工作失效率應(yīng)當(dāng)是由其基本失效率、設(shè)計因素、生產(chǎn)因素和使用因素的綜合作用的結(jié)果,即:
λ=f(λb,Dn,Pm,Uk)
(2)
其中,λb——產(chǎn)品基本失效率;Dn——Design,設(shè)計因素;Pm——Produce,生產(chǎn)過程因素;Uk——Use,使用過程因素。
設(shè)計因素Dn是指,在電連接器設(shè)計過程中,由技技術(shù)條件本身及設(shè)計水平的高低所引起可能會導(dǎo)致產(chǎn)品失效的因素。(2)式中將影響失效率的設(shè)計因素量化為Dn(Dn>1)。如何分析影響產(chǎn)品失效率的各種設(shè)計因素,并將其量化為一個綜合性指標(biāo)Dn,是本文研究的問題。
根據(jù)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)及以往的失效數(shù)據(jù)構(gòu)建電連接器設(shè)計因素集合。設(shè)計因素共21項(xiàng)如表1所示。主要包含通用因素、主要部件因素和其他零部件因素。
通用因素:標(biāo)識問題、標(biāo)準(zhǔn)問題、更改問題、新技術(shù)新產(chǎn)品應(yīng)用問題;
主要部件因素:接觸件規(guī)格尺寸、插孔結(jié)構(gòu)、接觸件端接方式、接觸件材料、接觸件密封性結(jié)構(gòu)、絕緣體材料,絕緣體結(jié)構(gòu)、絕緣體尺寸、殼體連接方式、殼體材料、殼體灌膠、殼體鍵位、殼體螺紋;
其他零部件因素:其他零部件結(jié)構(gòu)、其他零部件材料、其他零部件尺寸、附件問題。
表1 設(shè)計因素集合
不同設(shè)計因素對產(chǎn)品失效率的影響是不同的。針對某一類型電連接器,需要對全部設(shè)計因素進(jìn)行重要度分析和排序。從提高質(zhì)量的方面來說,關(guān)注重要度高的設(shè)計因素可以改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計從而提高產(chǎn)品質(zhì)量;從對產(chǎn)品失效率預(yù)計方面來說,設(shè)計因素指標(biāo)中體現(xiàn)對產(chǎn)品失效影響重要度高的設(shè)計因素,不會造成信息流失,同時也能夠簡化計算。
層次分析法(Analytic hierarchy process,簡稱AHP法)是處理綜合評價問題的有效模型[8,9,10],它可以將人主觀判斷的定性分析進(jìn)行定量化,同時幫助決策者保持思維過程的一致性,其具體步驟為:
1.明確問題。弄清楚需要確定的問題的范圍、所包含的因素和各因素之間的關(guān)系等。
2.建立層次結(jié)構(gòu)。將因素進(jìn)行分組,按最高層、若干中間層以及最低層的形式排列起來。
3.構(gòu)造判斷矩陣。針對上一層次中的某元素而言,評定該層次中各有關(guān)元素相對重要性的狀況。
4.層次單排序。確定本層次與之有聯(lián)系的元素重要性的權(quán)重值。
5.層次總排序。利用層次單排序的結(jié)果計算針對上一層次的本層次所有元素的重要性權(quán)重值。
6.一致性檢驗(yàn)。為了評價層次排序的計算結(jié)果的一致性,需要進(jìn)行一致性檢驗(yàn)。
采用該方法對某型號電連接器設(shè)計因素集合(表1)進(jìn)行分析。
2.2.1 建立電連接器層次結(jié)構(gòu)模型
某型號電連接器,現(xiàn)需要獲得該產(chǎn)品的關(guān)鍵設(shè)計因素以便進(jìn)行設(shè)計改進(jìn)。運(yùn)用AHP法對影響產(chǎn)品失效率的所有設(shè)計因素進(jìn)行重要度分析和排序,構(gòu)建設(shè)計因素集合的層次結(jié)構(gòu)模型,如圖1所示:
圖1 某型號電連接器設(shè)計因素層次結(jié)構(gòu)模型
2.2.2 建立判斷矩陣
確定產(chǎn)品的設(shè)計因素層次結(jié)構(gòu)模型上下兩層的隸屬關(guān)系,按照AHP法的一般步驟,構(gòu)造同一層次因素的兩兩判斷矩陣。設(shè)兩兩判斷矩陣為aij,aij>0,aij=1/aji(i,j=1,2,…,n),n為矩陣階數(shù)。以影響電連接器失效率的設(shè)計因素A為目標(biāo)層,根據(jù)通用因素,主要部件因素和其他零部件因素在產(chǎn)品設(shè)計過程中相對比重來確定各因素的重要性,構(gòu)造該級別的判斷矩陣。一般用1~9的標(biāo)度對重要性結(jié)果進(jìn)行量化,如表2所示:
表2 重要度判斷標(biāo)度含義
由多位專家根據(jù)經(jīng)驗(yàn)對能夠影響該產(chǎn)品設(shè)計可靠性的不同類別設(shè)計因素之間和同一類別設(shè)計因素之間的重要度做出標(biāo)度判斷,綜合后形成矩陣,見表3~6。
表3 判斷矩陣A-B
表4 判斷矩陣B1-C
表5 判斷矩陣B2-C
表6 判斷矩陣B3-C
由于產(chǎn)品復(fù)雜性和人們認(rèn)知中存在的主觀偏差以及數(shù)字標(biāo)度的限制,需要對專家們給出的判斷矩陣進(jìn)行一致性檢驗(yàn),以確定評分沒有邏輯上的混亂。一致性檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)為:
(3)
其中,λmax為判斷矩陣最大特征值,IR為平均隨即一致性指標(biāo),數(shù)值可在表7中查詢:
表7 平均隨機(jī)一致性指標(biāo)IR數(shù)值
各矩陣一致性檢驗(yàn)結(jié)果計算如下,各矩陣CR值均小于0.1,具有滿意的一致性。
CRA-B=0.012<0.1
CRB1-C=0.030<0.1
CRB2-C=0.020<0.1
CRB3-C=0.089<0.1
2.2.3 計算各層次因素的權(quán)重系數(shù)并進(jìn)行綜合評分
由2.2.2中的得到電連接器設(shè)計因素各判斷矩陣,對各因素的重要度指標(biāo)值進(jìn)行幾何平均:
(4)
(i,j=1,2,…,n,n為矩陣階數(shù),aij為矩陣第i行,第j列的元素)
將其規(guī)范化,得到的向量W=(w1,w2,…,wn)T,是該層指標(biāo)對上一層指標(biāo)的權(quán)重向量。
得到因素B對因素A的權(quán)重WB-A和因素C對因素B的權(quán)重WC-B后,因素C對頂層因素A的權(quán)重也可以通過下式得到:
WC-A=WC-B·WB-A
(5)
所得結(jié)果如表8所示:
表8 權(quán)重值表
WC={0.0960 0.0143 0.0443 0.0120
0.1869 0.0899 0.0899 0.0215
0.0183 0.0899 0.0865 0.0336
0.0633 0.0141 0.0192 0.0124
0.0141 0.0604 0.0082 0.0213
0.0041}T
對該型號電連接器設(shè)計因素對其失效率影響權(quán)重值WC進(jìn)行從大到小排序:
WC5>WC1>WC6=WC7=WC10>WC11>WC13>WC18>WC3>WC12>WC8>WC20>WC15>WC9>WC2>WC14=WC17>WC16>WC4>WC19>WC21
從權(quán)重值排序可看出,各設(shè)計因素對產(chǎn)品失效率影響權(quán)重值排列前6位的分別是:接觸件規(guī)格尺寸C5、標(biāo)識問題C1、插孔結(jié)構(gòu)C6、接觸件端接方式C7、接觸件密封性結(jié)構(gòu)C10、絕緣體結(jié)構(gòu)C11,說明這幾個因素對該產(chǎn)品失效有較大影響。
以某型號電連接器的產(chǎn)品歷史故障庫為基礎(chǔ),初步得到設(shè)計因素Dn值,稱為對比法。具體步驟為:
1.收集關(guān)于該電連接器有效失效案例共214件,按之前確定21種設(shè)計因素,進(jìn)行分類統(tǒng)計:
表9 某產(chǎn)品設(shè)計因素影響統(tǒng)計表(共214例)
2.將重要度值最小的設(shè)計因素指標(biāo)Qmin為附件問題C21,將其設(shè)計因素值記為1,即Dn0=1;
3.在表9中找到由Qmin造成的產(chǎn)品失效的個數(shù),記為k0,k0=2;
4.統(tǒng)計樣本中所有設(shè)計因素導(dǎo)致產(chǎn)品失效的個數(shù){kCj}:
kC1=12;kC2=6;kC3=9;kC4=4;kC5=20;kC6=13;kC7=12;kC8=6;kC9=5;kC10=12;kC11=13;kC12=8;kC13=11;kC14=4;kC15=6;kC16=3;kC17=4;kC18=35;kC19=10;kC20=19
5.設(shè)計因素值記做{DnCj},按照對比關(guān)系,各設(shè)計因素值的確定通過公式(6)得到:
(6)
DnC1=6;DnC2=3;DnC3=4.5;DnC4=2;DnC5=10;DnC6=6.5;DnC7=6;DnC8=3;DnC9=2.5;DnC10=6;DnC11=6.5;DnC12=4;DnC13=5.5;DnC14=2;DnC15=3;DnC16=1.5;DnC17=2;DnC18=17.5;DnC19=5;DnC20=9.5
6.采用加權(quán)計算來估算設(shè)計因素指標(biāo)Dn值:
(7)
結(jié)合前一節(jié)內(nèi)容,權(quán)重值前6位的設(shè)計因素為:接觸件規(guī)格尺寸C5、插孔結(jié)構(gòu)C1、絕緣體材料C6、接觸件端接方式C7、絕緣體結(jié)構(gòu)C10、殼體連接方式C11。選擇這六個設(shè)計因素參與計算不會造成設(shè)計影響因素主要信息的流失,同時簡化計算。根據(jù)比例關(guān)系相應(yīng)得到:
DnC5=10.0000;DnC1=6.0000;DnC6=6.5000;
DnC7=6.0000;DnC10=6.0000;DnC11=6.5000;
則有:
Dn=(DnC5DnC1DnC6DnC7DnC10DnC11)
(WC5WC1WC1WC6WC7WC10WC11)T
=10.0000×0.1868+6.0000×0.0960+6.5000×0.0899+6.0000×0.0899+6.0000×0.0899+6.5000×0.0865
=4.6694
保留兩位小數(shù),得到此型號電連接器的設(shè)計因素指標(biāo)Dn為4.67。
本文對電連接器失效率模型中的設(shè)計因素Dn進(jìn)行了描述,并以某型號電連接器為例,應(yīng)用層次分析法和對比法,討論了Dn的分析和估算方法,為電連接器失效率預(yù)計的優(yōu)化提供了新的思路。需要說明的是:
1. 本研究中確定的電連接器設(shè)計因素及其重要度排序,是建立在某典型產(chǎn)品的相關(guān)歷史數(shù)據(jù)和統(tǒng)計方法基礎(chǔ)上的,符合產(chǎn)品實(shí)際。但隨著產(chǎn)品種類、功能、結(jié)構(gòu)的日益豐富,電連接器關(guān)鍵設(shè)計因素及重要度排序也可能不斷變化;
2. 本研究中得到的電連接器設(shè)計因素定量指標(biāo)Dn,可用于公式(2)中以支撐電連接器可靠性預(yù)計模型的優(yōu)化。在Dn建模過程中獲得設(shè)計因素重要度排序從而反饋產(chǎn)品的設(shè)計,使得Dn也具有較高的工程實(shí)用價值。