王 林,丁坤英,林小娉,,李 澤,鄭潤國,楊連威

(1.東北大學 材料科學與工程學院,沈陽 110819;2.中國民航大學 理學院,天津 300300;3.東北大學秦皇島分校 資源與材料學院,秦皇島 066004)

隨著航空工業(yè)的發(fā)展,航空發(fā)動機推重比的不斷提高以及各項性能的優(yōu)化[1],伴隨而來的是渦輪燃氣溫度的大幅度提高,使得渦輪葉片的工作環(huán)境越來越惡劣。在此環(huán)境下,僅僅依靠冷卻和改進渦輪葉片制造工藝等常規(guī)方法,已難以保證航空發(fā)動機安全可靠地完成工作[2-3]。渦輪葉片表面涂一定厚度的熱障涂層(Thermal Barrier Coatings,TBCs),可以降低基體溫度 100～300 ℃,使得發(fā)動機效率與壽命得以提高[4-5]。但涂層材料各層熱膨脹系數(shù)不同,且在陶瓷層(Top Coat,TC)相變以及熱生長氧化物(Thermally Grown Oxide,TGO)增厚擠壓等綜合作用下使得TC與粘結(jié)層(Bond Coat,BC)內(nèi)部產(chǎn)生應(yīng)力。當所累積的應(yīng)力達到材料抗拉極限時,TBCs內(nèi)部就會產(chǎn)生微裂紋[6-8]。而當裂紋生長擴展至涂層表面時,會造成涂層脫落,這將極大地降低發(fā)動機系統(tǒng)的使用壽命,或?qū)е掳l(fā)動機系統(tǒng)損壞[9]。因此,對TBCs進行有效的無損檢測,實時監(jiān)測內(nèi)部裂紋的產(chǎn)生,根據(jù) TBCs的失效程度對其進行及時修補并預測服役壽命對TBCs的安全使用有著重要意義。

目前對 TBCs內(nèi)部缺陷的無損檢測多采用微觀檢測方法,如X射線衍射、拉曼光譜測應(yīng)力法等[10]。但常用的X射線衍射儀的功率多在300～1200 W范圍,入射檢測 X 射線束的入射深度不超過 10 μm,而對雙層TBCs內(nèi)應(yīng)力變化影響較大的TGO一般形成于距表層100～200 μm的TC與BC界面處,因此X射線衍射很難準確地檢測出涂層內(nèi)應(yīng)力。拉曼光譜法除受檢測深度限制外,其拉曼散射強度易受光學系統(tǒng)參數(shù)等因素的影響,且成分復雜的多層結(jié)構(gòu)涂層的振動峰易重疊,所檢測的結(jié)果有失準確性[11]。近幾年宏觀無損檢測技術(shù)在TBCs內(nèi)部缺陷檢測上方興未艾,如滲透法、熱紅外法、渦流法、微波檢測等方法[12]。滲透檢測是在工件表面施加滲透劑,利用工件毛細作用滲透到表面狹窄的開口缺陷內(nèi)。該方法不能用于表面疏松材質(zhì)的檢測,對于存在著大量盲孔的 TBCs來說,其適用性較差。熱紅外法是通過采集被檢測物表面溫度變化信息轉(zhuǎn)換成熱圖像的技術(shù)。由于熱紅外檢測要求試片尺寸大于10 cm×10 cm以上,且檢測精度低,因此很少應(yīng)用于TBCs內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢測。渦流檢測利用導電材料的電磁感應(yīng)現(xiàn)象,通過測量感應(yīng)量的變化進行無損檢測。它能夠檢測導電材料的表面和近表面缺陷,對于電阻率非常高的ZrO2陶瓷層檢測適用性不強[13-14]。微波檢測因存在近距盲區(qū),不適用于測量尺寸小于 1 mm 的缺陷,而 TBCs的孔隙為微米級,所以采用該技術(shù)檢測TBCs陶瓷層內(nèi)部缺陷的可靠性差。

水浸超聲檢測是使用較廣泛的一種無損檢測技術(shù)[15]。該方法是在探頭與工件之間填充一定厚度的水層,超聲波先經(jīng)過水層,再入射到試件中的一種非接觸式超聲檢測方法,具有如下優(yōu)點：能消除直接接觸檢測中難以控制的因素,使超聲波的發(fā)射與接收比較穩(wěn)定;對試件表面光潔度要求不高,探頭也不易磨損,耦合穩(wěn)定,檢測結(jié)果重復性好;易于實現(xiàn)自動檢測,提高檢測速度。該方法主要用于金屬材料內(nèi)部缺陷的無損檢測,用于 TBCs內(nèi)部缺陷檢測方面的研究側(cè)重于TBCs的厚度、密度、彈性模量等參數(shù)的測量,以及對涂層表面的缺陷進行表征。目前對TBCs內(nèi)部微裂紋的宏觀演變規(guī)律以及失效判定方面的研究未見報道。本研究利用此檢測技術(shù)探討了不同熱震次數(shù)下試片的內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)演變特點和宏觀演變規(guī)律,并結(jié)合掃描電鏡的觀察結(jié)果,研究水浸超聲法在檢查TBCs內(nèi)部缺陷的適用性與準確性,為判定 TBCs失效前進行及時修補提供理論依據(jù),對延長TBCs的使用壽命具有重要意義。

1 實驗方法

1.1 試片制備

試驗以φ25 mm×6 mm的鎳基高溫合金GH4169為基體,采用 Praxair3710型大氣等離子噴涂(APS)系統(tǒng)在基體上噴涂100 μm BC和200 μm TC雙層結(jié)構(gòu)的 TBCs涂層試片。粘接層材料為 Co-23Cr-13Al-0.5Y,粉末型號 PraxairCo-110(PWA1348-2),粒徑為5～45 μm。TC材料為8wt%Y2O3-ZrO2(8YSZ),粉末型號 PraxairAl-1075(PWA1375),粒徑為 45～106 μm。為保證噴涂工藝的穩(wěn)定性和可重復性,噴涂過程采用 2400M 型六軸機械手臂進行自動化噴涂,噴涂參數(shù)如表1所示。

1.2 熱震實驗及試片截面組織觀察

采用SX-612123型箱式電爐進行熱震實驗,將TBCs試片放入1050 ℃高溫電阻爐中保溫5 min,取出試片,放入去離子水中水冷至室溫。用冷風機吹干試片,觀察試片陶瓷表面是否有脫落和裂紋。熱震循環(huán)10、20、30、40、50、60、70、80、90、100、125、150、200、250和300次,每種熱震實驗都采用 8個樣品(試片),選取其中具有普遍性規(guī)律的樣品作為下一步實驗的研究對象?？紤]到在熱震條件下試片邊緣處和中心處易由于基體變形而脫落,選取距中心點 1/2半徑處且外觀無破損為線切割面,并對該面進行打磨和拋光。采用ZEISS SUPRA 55場發(fā)射掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)觀察TBCs試片橫截面組織形貌,并結(jié)合Genesis 7000 X射線能量分散譜儀(Energy Dispersive Spectrometer,EDS)進行微區(qū)成分測定。

1.3 水浸超聲法對涂層內(nèi)部缺陷的檢測

利用瑞泰克公司 PASCAN-64型水浸超聲設(shè)備檢測 TBCs內(nèi)部缺陷,提取各檢測點的超聲特征信號并將其按幅值和掃描位置映射成像得到一個橫向圖元,其顏色變化即表示試件中該點處的內(nèi)部狀態(tài)。掃描完畢后即可獲得由各檢測點圖元組合而成的掃描圖。超聲反射法掃描成像原理與透射法類似,本實驗同時采用了透射和反射兩種檢測方法。

圖1 不同熱震次數(shù)熱障涂層試片中TGO的SEM照片F(xiàn)ig.1 TGO morphologies of thermal barrier coatings after different thermal shocks (SEM)

圖2 熱震次數(shù)對TGO厚度的影響Fig.2 Effect of thermal shock number on TGO thickness

2 結(jié)果與討論

2.1 熱障涂層截面組織演變及分析

2.1.1 TGO形貌與厚度

圖1和圖2分別為不同熱震次數(shù) TBCs試片TGO形貌及TGO厚度變化曲線。如圖1(a)中箭頭所示,原始涂層試片經(jīng)50次熱震,在BC/TC界面形成了厚度約為1.8 μm的連續(xù)致密(黑色)TGO層。利用EDS對TGO進行微區(qū)成分測定,黑色TGO層中O、Al、Cr和Co含量分別為38.62at%、45.97at%、3.94at%和 11.47at%,即形成了以α-Al2O3為主要氧化物,并含有一定比例的Cr、Co的氧化物。這是由于熱震初期,BC中所含有的Al、Cr、Co不斷從BC中擴散至BC/TC界面,而氧借助陶瓷層孔隙等缺陷通過TC擴散至BC/TC界面。在金屬活動順序表中,通常原子序數(shù)越靠前的金屬還原性越強(Al＞Cr＞Co),即氧優(yōu)先與Al發(fā)生選擇性氧化反應(yīng),在該界面處形成以α-Al2O3為主要氧化物的TGO層(黑色)。隨熱震次數(shù)增加,由于Al不斷被消耗,在BC界面處形成貧Al帶,過剩的Co、Cr與氧繼續(xù)發(fā)生氧化反應(yīng)形成顏色較淺的灰色TGO氧化層。灰色TGO層中O、Al、Cr和Co含量分別為39.87at%、30.63at%、8.56at%和20.94at%。與黑色TGO層相比,其Al含量降低了 15.34at%,Cr和 Co含量分別提高了4.62at%和9.47 at%。如圖1(b)所示,100次熱震后其灰色TGO局部快速向TC中生長,導致TGO層凹凸不平。而以α-Al2O3為主要氧化物的黑色TGO層則生長緩慢。如圖1(c)所示,經(jīng) 200次熱震,黑色TGO層厚度幾乎不變,而縱向快速生長的灰色TGO開始沿BC/TC邊界橫向生長,灰色TOG層的平均厚度約為5.2 μm。當熱震次數(shù)增至300次,如圖1(d)所示,灰色TGO厚度進一步增厚、但厚度較為均勻,其厚度約為6.2 μm。熱震次數(shù)從200次增加到300次,灰色TGO層僅增加1 μm,增速較慢,這與已形成的連續(xù)氧化物組成的薄膜阻礙了氧氣與粘結(jié)層的接觸以及 Co、Cr不斷被消耗等有關(guān)[16]。當以致密的α-Al2O3氧化物為主時,TGO層起到隔斷氧與 BC延緩氧化反應(yīng)的良好保護作用;而當以Cr、Co氧化物為主時,較為稀疏的尖晶石結(jié)構(gòu)易形成孔隙,即灰色 TGO層為稀疏層,故當灰色 TGO層增加到一定厚度時,不但失去對BC/TC界面延緩氧化的保護作用,還會成為TBCs失效的根本原因[17]。

2.1.2 陶瓷層孔隙變化及微裂紋的形成

圖3為不同熱震次數(shù)TBCs試片TC的SEM照片。由圖3(a)可知,原始TBCs試片的TC中較均勻地分布著大小不一的孔隙,其中最大孔隙橫向和縱向尺寸分別約為35和20 μm,利用灰度法測定其孔隙率約為8%。50次熱震后(圖3(b))其孔隙大小的整體變化并不明顯,最大孔隙橫向和縱向尺寸分別約為50和30 μm,孔隙率增至11%。100次熱震后(圖3(c)),孔隙在整體上增大較為明顯,且一些大孔隙與其周圍小孔隙融合在一起,不均勻性增大,但無明顯橫向裂紋產(chǎn)生,其孔隙率約為 16%。200次熱震后(圖3(d)),孔隙不斷增大,且大孔隙間形成連貫的橫向裂紋甚至貫通,最大孔洞的橫向尺寸＞100 μm,縱向尺寸＞40 μm,孔隙率也增加到 44%。當熱震達到300次,孔隙與橫向裂紋(圖3(e))進一步擴大,局部形成貫穿TC的縱向裂紋(圖3(f),孔隙率50%)。

2.2 水浸超聲法宏觀檢測

根據(jù)上述實驗結(jié)果和圖2中TGO的增厚規(guī)律，選取熱震0、50、200次以及涂層內(nèi)部出現(xiàn)較大缺陷的300次熱震試片進行水浸超聲檢測。圖4為200次及300次熱震試片的外觀形貌。由圖4可以看出,熱震200次的試片外觀完好,無明顯缺陷;熱震300次的試片表面中心位置有較為明顯的脫落現(xiàn)象,邊緣位置有大塊“月牙形”陶瓷脫落,且試片表面存在橫向連貫裂紋。

由于本實驗所用 TBCs試片具有雙層結(jié)構(gòu)(TC和BC),且熱震過程中TC/BC界面有TGO生成。因此,為準確地檢測出各層組織結(jié)構(gòu)在熱震過程中的演變規(guī)律,需要從不同方向獲得超聲信號反饋信息。本實驗采用如圖5中a所示的從垂直TC方向入射超聲波至BC反射獲得超聲信號和圖5中b所示的從垂直基體方向入射超聲波至 BC/TC界面(即TGO層)反射獲得超聲信號的反射法,以及圖5中c所示的從垂直 TC方向入射超聲波穿透涂層試片后獲得超聲信號方法的透射法相結(jié)合的方法對 TBCs試片進行水浸超聲檢測。影像中超聲回波幅值(AMP)大小用分貝(dB)或接收信號幅值百分比(%)來衡量。根據(jù)試片材料的物理參數(shù)及厚度規(guī)定,內(nèi)部組織均勻,對超聲波信號無阻礙或阻礙很小時所獲得的反饋信號幅值A(chǔ)MP的分貝為0或為100%。以透射波為例,超聲波若遇到材質(zhì)均勻無缺陷的樣品,則衰減較小,幅值較大;若樣品內(nèi)部出現(xiàn)缺陷,則透射波衰減較為嚴重,幅值較小。對于多孔材料,內(nèi)部孔隙或表面破損導致的材料實際厚度減小,則透射波衰減較小,幅值較大。

圖3 不同熱震次數(shù)熱障涂層試片中陶瓷層的孔隙及微裂紋的SEM照片F(xiàn)ig.3 Pore and microcrack morphology (SEM) of TC after different thermal shocks

圖4 不同熱震次數(shù)熱障涂層試片外觀形貌照片F(xiàn)ig.4 Appearance and morphology of thermal barrier coatings affer different thermal shocks

圖5 水浸超聲檢測方法示意圖Fig.5 Schematic diagram of water immersion ultrasound detection method

圖6 不同熱震試片反射回波信號影像圖(垂直TC方向入射)Fig.6 Reflected echo signal image of thermal shock specimens (incident in the vertical TC direction)

圖6為圖5中a所示的反射法獲得的超聲回波信號影像,該影像主要反映TC與TGO組織結(jié)構(gòu)演變。由于超聲波在試片邊緣處會產(chǎn)生衍射導致影像失真,因此邊緣處為模糊深藍色區(qū)域。由圖6(a)所示的原始涂層試片的回波信號影像可知,不同分貝的回波信號影像呈粒狀均勻分布,其中dB為0,即APM 幅值無衰減的粒狀影像約占 15%;dB為(-6.02±3),即 APM 幅值衰減 50%的粒狀影像約占75%。這表明,當原始涂層試片TC中較均勻分布著橫向尺寸小于35 μm、孔隙率低于8%的孔隙時,其大部分孔隙作為缺陷吸收超聲波而使反射波衰減50%,但因個別孔隙偏大使實際厚度有所減小有助于超聲波的傳播,導致局部反射波無衰減甚至強度更大。由于其孔隙分布較均勻,故影像中不同分貝的信號分布也較均勻。50次熱震后的回波信號影像如圖6(b)所示,與原始試片相比,dB為0的粒狀影像面積有所增加(約占 20%),影像中不同分貝的信號分布依舊較均勻。從上述實驗結(jié)果可知,50次熱震后在BC/TC界面所生成的TGO層為連續(xù)致密、以α-Al2O3為主的熱生長氧化物(厚度約為1.8 μm),該 TGO層的生成增加了涂層的厚度,由此將導致反射波衰減程度有所增大;而 TC中孔隙尺寸略有增大,孔隙率由原始試片的8%增加到11%,這將使涂層實際厚度有所減小導致回波幅值增大。兩者共同作用中孔隙的變化占主導地位,其縱向尺寸最大可達50 μm,而TGO的平均厚度＜2 μm,故影像中dB為0的信號略有增多。隨著熱震次數(shù)繼續(xù)增加,TC孔隙尺寸及孔隙率增大趨勢明顯,且大孔隙之間貫穿、周圍伴有裂紋形成;而以Co、Cr為主要氧化物的疏松結(jié)構(gòu)灰色 TGO層快速生長使 TGO增厚、分層。經(jīng)200次熱震的回波信號影像如圖6(c)所示,與50次熱震試片相比試片整體影像尺寸收縮,dB＜－20的信號影像面積明顯增多,dB為(0.8±0.8)(APM＞100%)的回波信號則連成片狀不均勻分布(約占45%),APM幅度整體衰減增大。這是由于,一方面因其灰色TGO層厚度增至5.2 μm,導致反射波衰減程度較大使整體回波信號幅值 APM 減小,影像中藍色區(qū)域由邊緣處向內(nèi)收縮;另一方面大孔隙間形成連貫的橫向裂紋(最大孔隙的橫向尺寸為100 μm)、孔隙率增至44%,使涂層實際厚度大幅減小,導致幅值較強的反射波信號在影像中連接成片狀分布,如圖6(c)中箭頭 A所示,致使 200次熱震涂層試片的回波信號影像分布極不均勻。經(jīng)300次熱震,TC大孔隙之間進一步貫穿、沿BC/TC界面橫向生長與垂直BC/TC界面縱向生長的裂紋形成、擴展(如圖3(e)),孔隙率高達50%以上,實際厚度的大幅減小使回波影像中 dB為(0.8±0.8)的片狀區(qū)域進一步擴大;而灰色TGO厚度雖然進一步增至6.2 μm,但其增厚緩慢,且更為均勻,APM 整體衰減幅度沒有明顯增大,如圖6(d)所示。

由此可知,當回波信號的幅值 dB＜0,即 APM衰減程度較小,其影像多呈顆粒狀均勻分布,表明TC中孔隙整體尺寸較小,涂層組織結(jié)構(gòu)較均勻,涂層服役狀態(tài)良好;當影像中幅值dB＞0的區(qū)域連成片狀分布,表明 TC中孔隙增大、擴展,局部連通形成較大裂紋甚至貫穿整個涂層,也說明涂層即將失效或已經(jīng)失效。從如圖6(d)中箭頭B所示的涂層外部脫落部分顯示出明顯的“月牙形”回波影像也證明了這一點。

圖7為圖5中b所示的反射法獲得的超聲回波信號影像。由于鎳基合金具有良好的抗熱疲勞性能,它在熱震過程中所受影響較小,故該影像主要反映涂層試片 BC和 TGO層組織結(jié)構(gòu)演變。從圖7(a)所示的原始涂層試片的回波信號影像可知,其影像中近90%面積的dB為0,局部夾雜著dB為(-6±2.5)的綠色影像(約占5%)。即APM幅值幾乎無衰減,且影像中回波信號成片狀均勻分布。為了完整反映BC組織結(jié)構(gòu),超聲波穿過BC,其回波信號部分反映了近BC/TC界面處的TC組織。因此該結(jié)果表明BC與近BC/TC界面處TC組織均勻,且缺陷極小。50次熱震影像如圖7(b)所示,與原始涂層試片影像(圖7(a))相比,dB為0的片狀影像面積迅速減小(約占25%),dB為(-6±2.5)的面積增大(約占75%),表明厚度約為1.8 μm的連續(xù)致密TGO(以α-Al2O3為主)層對回波信號有一定的阻礙作用,APM 衰減約50%。但影像中回波信號強弱分布依舊相對均勻。200次熱震的影響如圖7(c)所示,其影像中dB＜-14的面積大幅增加,約占總面積的30%,而dB為0的面積不足 40%。一方面由于灰色 TGO層增厚至5.2 μm、且各處厚度不均勻,使反射波衰減程度較大;疏松多孔的尖晶石結(jié)構(gòu)存在大量缺陷對超聲波吸收較強導致反射波衰減嚴重。300次熱震的影像如圖7(d) 所示,其影像中dB＜-14的面積進一步增加,APM衰減約80%,約占總面積的35%,而60%的面積被dB＞0占據(jù),中間夾雜著dB為－6的面積不足5%。盡管灰色TGO層整體厚度較200次熱震進一步增大(至 6.2 μm),這也將導致反射波傳播受阻程度進一步增大,回波幅值整體進一步減小。但由于反射波要穿過近BC/TC界面處的TC一定深度后反射,因此在一定程度上反映了部分厚度 TC的組織結(jié)構(gòu)。此條件下近BC/TC界面處已形成橫向貫穿的大孔隙(如圖3(f)),在TC中有大量的垂直裂紋形成并擴展至試片表面,而且表面涂層部分脫落,薄厚分布極其不均勻。真實厚度的減小對反射波衰減也更小,故部分區(qū)域其幅值反而增大。體現(xiàn)在影像中為深藍色區(qū)域向內(nèi)收縮,黃色區(qū)域集中分布;涂層邊緣脫落部位的“月牙形” (圖7(d)中箭頭 B所示)因其直接裸露BC導致回波幅值增強,dB＞0,在影像中易識別。該結(jié)果更能體現(xiàn)出占主導地位的TGO層組織結(jié)構(gòu)演變。

圖7 熱震試片反射回波信號影像圖(垂直基體方向)Fig.7 Reflected echo signal images of thermal shock specimens (incident in the vertical TC direction)

圖8 熱震試片透射回波信號影像圖(垂直TC方向)Fig.8 Transmittance echo signal images of thermal shock specimens (incident perpendicular to the TC direction)

圖8為圖5中c透射法獲得的超聲回波信號影像。圖8(a)所示的原始涂層試片的透射影像和反射影像相似,影像中近 95%面積的 dB 為(-0.9±0.9),即透射波AMP衰減約10%,且分布均勻。從圖8(b)所示的50次熱震的影像可知,BC/TC界面所形成的連續(xù)致密TGO層對超聲波傳播的阻礙作用占主導,而因BC孔隙尺寸及孔隙率有所增大導致實際涂層厚度減小使回波信號幅值增大的作用反而降為次要,故影像以近 80%面積被 dB為(-6±2.5)所占據(jù)(AMP衰減50%),但整體分布依舊較均勻。200次熱震后,一方面較厚的 TGO層使超聲波衰減程度增大,導致影像中幅值較小的區(qū)域擴大;另一方面孔隙增大與貫通以及孔隙率的增大,反而減少了透射波的衰減;兩者疊加作用,反映在影像圖8(c)中則為近70%面積被 dB 為(-6±2.5)占據(jù),30%面積被 dB 為(-0.9±0.9)占據(jù),黃色、綠色區(qū)域成片狀不均勻分布。300次熱震后,由于TGO層整體厚度進一步增大以及TC中橫向貫穿的孔隙與大量垂直BC/TC縱向裂紋的連通,導致回波信號幅值大小分明。其中,dB為(-0.9±0.9)的黃色、紅色區(qū)域連城環(huán)狀分布,其面積約占60%;環(huán)間分布著幅值較小的面積占40%,dB 為(-8±4)的藍、綠區(qū)域,如圖8(d)所示。此外圖8(d)中箭頭A所示的中心黃色圓點和箭頭B所示的“月牙形”黃色區(qū)域,其 dB＞0,即脫落的涂層部位因裸露 BC甚至基體導致透射波幅值 APM 超過100%。

3 結(jié)論

1) 利用水浸超聲反射法從垂直陶瓷層方向入射超聲波至粘接層反射所獲得的回波信號影像反映了熱震過程中陶瓷層與 TGO組織結(jié)構(gòu)演變,而從垂直基底方向入射至粘接層/陶瓷層界面處反射所獲得的回波信號影像反映的是粘結(jié)層、TGO層與部分陶瓷層組織結(jié)構(gòu)演變。

2) 利用水浸超聲透射法從垂直陶瓷層方向入射超聲波透射試片所獲得的回波信號影像綜合反映熱震過程中整個涂層的組織結(jié)構(gòu)演變。同樣可根據(jù)影像中強度分布情況判定涂層的失效程度。

3) 當陶瓷層內(nèi)部的孔隙率＜11%、孔隙橫向尺寸＜50 μm,以及 TGO 厚度＜1.8 μm 時,回波信號影像呈粒狀均勻分布,涂層處于良好狀態(tài)。

4) 當陶瓷層內(nèi)部的孔隙率＞44%、孔隙橫向尺寸＞100 μm,以及TGO厚度＞6.2 μm時,回波信號影像分布極不均勻,預示著涂層即將失效或已失效。

5) 水浸超聲反射法和透射法都能比較直觀地通過回波信號幅值所形成的影像較準確地反映熱障涂層內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的變化,是一種對熱障涂層內(nèi)部缺陷進行無損檢測較為科學的方法。