胡忠華,宋 亮,曹佳松
(深南電路股份有限公司,深圳 518117)
PCB電鍍品質(zhì)直接影響電子器件的裝配效果,高精密產(chǎn)品尤為關(guān)注此項參數(shù)[1]。目前產(chǎn)線人員從電流密度等方面考慮,得出藥水經(jīng)驗計算公式,但由于電鍍實際工況較為復(fù)雜,人工對電鍍參數(shù)進(jìn)行控制存在許多變動因素,穩(wěn)定性較差。
圖1 電鍍銅原理
從圖1中可知,電鍍液主要由硫酸銅、硫酸、氯離子和添加劑組成。其中硫酸銅、硫酸和氯離子的電化學(xué)性質(zhì)較為穩(wěn)定,而添加劑在使用的過程中由于電化學(xué)作用會產(chǎn)生對電鍍穩(wěn)定性產(chǎn)生較大影響的雜質(zhì)TOC(總有機(jī)碳),根據(jù)正交試驗可知,添加劑的穩(wěn)定性是影響電鍍品質(zhì)的最主要因素之一[2]。
孔銅質(zhì)量是PCB電鍍品質(zhì)的主要衡量標(biāo)準(zhǔn),而TP(深鍍能力)又是衡量孔銅質(zhì)量的重要指標(biāo),從而對TP數(shù)據(jù)的處理分析可以快速得出電鍍品質(zhì)的好壞[3]。
本文通過長期的跟蹤記錄,結(jié)合電鍍工藝監(jiān)控記錄中的海量數(shù)據(jù),對高厚徑比PCB板的深鍍能力進(jìn)行大數(shù)據(jù)分析,總結(jié)出深鍍能力在TOC值持續(xù)上升影響下的變化規(guī)律,從而依據(jù)大數(shù)據(jù)分析并建立電流密度補償模型計算出電流密度補償系數(shù);進(jìn)行試驗仿真,監(jiān)控使用動態(tài)配方下的電鍍合格率,驗證本方法的準(zhǔn)確性和有效性。試驗結(jié)果表明,基于大數(shù)據(jù)分析的方法能夠有效地對電鍍配方參數(shù)進(jìn)行預(yù)測,提高PCB板件的電鍍穩(wěn)定性和合格率。
目前南通工廠使用的電鍍藥水TOC(總有機(jī)碳)值升高較快,監(jiān)控電鍍藥水TOC值并分析電鍍后板件的可靠性能。以VCP2#線為實驗對象,測試項目為:
1)每半個月測試藥水TOC值,同時記錄時間節(jié)點電量值;
2)固定用厚徑比為8:1的萬孔板測試其深鍍能力。
VCP2#線藥水TOC值與深鍍能力關(guān)系如下:
表1 VCP2#線TOC值與深鍍能力關(guān)系表
續(xù)(表1)
VCP2#線深鍍能力隨TOC值升高的變化曲線如圖2所示。
圖2 VCP2#線深鍍能力隨電量變化曲線
從圖2可以看出隨著TOC值升高,藥水的深鍍能力隨之下降。
大數(shù)據(jù)技術(shù),就是通過對海量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析,挖掘其中隱藏的規(guī)律,而電鍍監(jiān)控記錄的海量數(shù)據(jù)為利用大數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)電流密度預(yù)測提供了可能[4]。
目前,南通工廠的的電鍍配方邏輯如圖3所示。
圖3 未進(jìn)行動態(tài)補償時的電鍍配方邏輯圖
如果以圖中邏輯進(jìn)行電鍍配方的設(shè)置,只能得到一個理想狀態(tài)下的配方值。隨著產(chǎn)線的持續(xù)作業(yè),TOC值不斷上升,若不進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整就會使PCB板(尤其是高厚徑比PCB板)的電鍍品質(zhì)變得極不穩(wěn)定[5]。
收集過程物理室所有的電鍍工藝監(jiān)控數(shù)據(jù),對監(jiān)控數(shù)據(jù)中各變量進(jìn)行重要性分析,結(jié)果表明,影響電鍍品質(zhì)的主要因素包括藥水使用時間、線體差別、厚徑比等參數(shù)。以VCP2#線為實驗對象,收集這條線中藥水一個生命周期內(nèi)的厚徑比與深鍍能力數(shù)據(jù),主要對高厚徑比的PCB板進(jìn)行研究與分析。
將VCP2#線的電鍍監(jiān)控數(shù)據(jù)篩選出來后,主要影響電鍍深鍍能力的就為時間變化與板子的厚徑比,繼續(xù)篩選出電鍍藥水一個生命周期(3月1日至7月底)的時間跨度中,高厚徑比PCB板的電鍍監(jiān)控數(shù)據(jù)。以設(shè)備每周保養(yǎng)時間為時間節(jié)點,統(tǒng)計出其每周的深鍍能力平均值和板件合格率,生成深鍍能力在藥水一個生命周期內(nèi)總變化的折線圖,并擬合出回歸曲線。
表2 3月~7月深鍍能力及板件合格率統(tǒng)計表
深鍍能力隨時間變化折線圖及其回歸曲線:
圖4 深鍍能力隨時間變化曲線
由折線圖可見,隨著使用時間的增長,高厚徑板的深鍍能力隨之下降,最終在70%左右波動,極不穩(wěn)定,板件的合格率較差。
通常情況下,以大數(shù)據(jù)為驅(qū)動的電鍍配方參數(shù)預(yù)測可以采用線性或非線性回歸的建模算法,探究TOC值與電流密度之間隱藏的回歸函數(shù)關(guān)系。但由于電鍍液TOC值測量過程較為繁瑣,考慮到時效性,使用基于時間序列的建模算法[6]。根據(jù)已建立的電流密度在電鍍藥水生命周期中某一時間節(jié)點相對于深鍍能力的函數(shù)關(guān)系模型,對未來對應(yīng)時間節(jié)點的電流密度值進(jìn)行預(yù)測。
根據(jù)法拉第電解定律、電化當(dāng)量和電流效率公式聯(lián)立可得:
將其中各參數(shù)依據(jù)現(xiàn)場實際生產(chǎn)情況進(jìn)行推導(dǎo),可得藥水經(jīng)驗公式:
其中:h理論銅厚:為客戶要求的鍍銅厚度;v線速:為電鍍板在垂直連續(xù)缸體內(nèi)的行進(jìn)速度;ρ電流:理論得電鍍電流密度值;TP:深鍍能力值;
綜上,電流密度ρ電流與深鍍能力TP之間的將維持一個確定的函數(shù)關(guān)系,其乘積為定值:
設(shè)電鍍藥水生命周期中初始時間的基準(zhǔn)電鍍深鍍能力為TP0,使用的電鍍配方基準(zhǔn)電流密度值為ρ0,那么,在經(jīng)過某一段時間后,由于TOC值的上升,電鍍深鍍能力變?yōu)門Pn,電流密度值變?yōu)棣裯,故:
可推倒出電流密度補償系數(shù)k:
設(shè)定一個初始電流密度值作為對照值,統(tǒng)計出該補償系數(shù)在每一個時間節(jié)點的變化比例,即可求得后續(xù)對應(yīng)時間節(jié)點上的電流密度值:
通過上一節(jié)內(nèi)容的3月~7月底的深鍍能力大數(shù)據(jù)統(tǒng)計值,將第1周的深鍍能力數(shù)據(jù)作為初始對照值,統(tǒng)計出該補償系數(shù)對應(yīng)時間節(jié)點的變化表:
表3 電流密度補償系數(shù)K跟隨時間節(jié)點變化表
表4 配方動態(tài)補償下板件合格率提升表
生成電流密度補償系數(shù)k跟隨時間節(jié)點的變化折線圖如圖5所示。
圖5 電流密度補償系數(shù)k隨時間節(jié)點變化圖
顯然,從圖中可以看出,隨著時間的增長,電流密度補償系數(shù)k最終穩(wěn)定在1.15左右。
然而由于電流極化曲線的存在,在使用補償系數(shù)對電流密度進(jìn)行補償時,需注意電流密度是否達(dá)到其限值32.5A·dm-2,否則只能降線速以保證電鍍的質(zhì)量[7]。
綜上,總結(jié)出高孔徑比PCB板經(jīng)過動態(tài)配方補償?shù)碾婂冞壿?,流程圖如下:
圖6 使用動態(tài)配方補償?shù)母呖讖奖入婂兣浞竭壿嬃鞒虉D
可見,將動態(tài)配方補償加入到原有的電鍍邏輯中時,可以對原有的電鍍邏輯進(jìn)行很好的完善,對電鍍穩(wěn)定性和合格率的提高提供了強有力的保障。
電鍍2#線8月15號更換新的電鍍藥水,使用本文的VCP配方動態(tài)補償算法加入到電鍍配方的新參數(shù)計算中。搜集2#線從10月27~11月15中高孔徑比PCB板的電鍍監(jiān)控數(shù)據(jù),并在該時間段對某些大孔徑比板件使用動態(tài)補償,從而對比在使用電流密度動態(tài)補償時板件合格率是否有所提升,以探究本模型的準(zhǔn)確性。
由表4可見,在增加電鍍配方動態(tài)補償時,深鍍能力相對于之前有著明顯的提高,板件合格率也有著明顯的增長,雖然測試數(shù)據(jù)量較小,但也足以說明本文基于大數(shù)據(jù)的VCP配方動態(tài)補償是準(zhǔn)確和有效的。
后續(xù)可以繼續(xù)對不同線體的電流密度補償系數(shù)k進(jìn)行計算和總結(jié),并進(jìn)行大量的試驗仿真進(jìn)行驗證,最終配置到VCP配方項中進(jìn)行使用。
本文針對于電鍍板件合格率隨著電鍍藥水可靠性下降而降低的情況,基于大數(shù)據(jù)分析的方法,采集過程物理室海量的電鍍監(jiān)控數(shù)據(jù),使用基于時間序列的建模算法,對電流密度值進(jìn)行預(yù)測,改進(jìn)現(xiàn)有的電鍍配方參數(shù)求取邏輯。經(jīng)現(xiàn)場驗證可知,本文的VCP配方動態(tài)補償方法可以顯著的提高VCP板件的電鍍穩(wěn)定性和合格率,為公司節(jié)約生產(chǎn)成本,提高生產(chǎn)效益。