張志輝
(91404部隊 秦皇島 066001)
在對探測類設備的測量精度進行試驗驗收時,由于陪試目標的速度越來越快,獲得的數(shù)據(jù)樣本量越來越小,特別是光學探測設備,由于作用距離較近,一次進入獲得樣本極少[1~6]。因此我們需要在少量試驗樣本條件下,研究對測量精度試驗數(shù)據(jù)的科學統(tǒng)計方法。
對測量精度的統(tǒng)計方法常用有兩種,一種為采用樣本2階中心距對方差σ2進行估計[7~9]:
該方法是利用已獲試驗樣本數(shù)據(jù)的方差估計總體樣本方差,方法直觀,易于理解,較為常用。但該估計量的期望為
即用2階中心距S2對方差σ2估計不滿足無偏估計要求。
為使估計量的期望為σ2,從2階中心距S2演變出另一種對方差σ2估計量[7,10~11]為
假設探測設備的精度指標要求為1,探測設備按照精度1進行設計。假設探測設備驗收試驗測量值為X,X滿足標準正太分布:
可知[7,12]:
使用2階中心距S2對方差σ2進行估計時,研制方風險為α1,使用方風險為β1,則:
圖1 用2階中心距S2估計方差σ2時研制方和使用方風險
從圖1可以看出,當試驗點數(shù)較小時,研制方風險很小,使用方風險較大。即對一個測量設備驗收試驗時,采用1000以下樣本數(shù)對的測量精度進行評價,對使用方不利,對研制方有利。圖中由于縱軸間隔不等,造成風險曲線有拐點。
使用無偏估計S*2對方差σ2進行估計時,研制方風險為α2,使用方風險為β2,則:
圖2 用無偏S*2估計方差σ2的研制方使用方風險
同樣可以從圖2看出,當試驗點數(shù)較小時,研制方風險很小,使用方風險較大。即對一個測量設備驗收試驗時,采用100以下樣本數(shù)對的測量精度進行評價,對使用方不利,對研制方有利。
對比圖1和圖2可以看出,相同試驗點數(shù)情況下,無偏估計方差σ2的研制方和使用方風險差距更小,即試驗點數(shù)小于1000時,用S*2對方差σ2估計更優(yōu),試驗點數(shù)大于1000時,兩種統(tǒng)計方法相當。因此,用S*2對方差σ2估計更優(yōu)。
既然用S*2對方差σ2估計更優(yōu),我們不禁要問,該統(tǒng)計方法是否為最優(yōu)?最否有更優(yōu)的統(tǒng)計方法?
我們同樣從風險角度出發(fā),最優(yōu)統(tǒng)計方法應當是研制方和使用方風險均為0.5時。
參照S2到S*2演變的過程,最優(yōu)統(tǒng)計方法應當為如式(3):
則:
可得:
圖3 δ隨試驗點數(shù)n變化情況
為了簡化計算,可取δ=5/3,得:
圖4 用估計方差σ2的研制方使用方風險
從圖4可以看出,除試驗點數(shù)n=2時外,其余試驗點數(shù)時研制方和使用方風險接近0.5,滿足雙方風險相當原則。研制方風險約大于使用方,且差距較小,滿足探測設備的精度指標驗收試驗要求。因此用對方差σ2進行估計優(yōu)于S*2,當試驗點數(shù)n大于2時,均可使用;當試驗點數(shù)n=2時,可選用對方差σ2進行估計。
采用Matlab軟件工具,通過仿真試驗的方式,驗證三類統(tǒng)計方法優(yōu)劣。每次試驗取試驗點數(shù)n=10,試驗10000次。每次試驗分別采用三類統(tǒng)計方法對方差σ2進行估計。其中每次試驗的各點測量結果用Matlab軟件工具randn函數(shù)生成均值為0,方差為1的正太偽隨機數(shù)。統(tǒng)計結果如表10。
表1 三類統(tǒng)計方法試驗結果比較
從試驗風險角度出發(fā),分析了現(xiàn)有2階中心距S2和無偏估計S*2兩種常用的統(tǒng)計方法,推導計算了兩種統(tǒng)計方法的研制方和使用方風險,比較了兩者之間的優(yōu)缺點,確定了兩者的適用范圍。同時根據(jù)試驗雙方的風險相當原則,參照S2到S*2演變的過程,在無偏估計S*2基礎上,改進統(tǒng)計方法,適用于少量樣本時對方差σ2估計。