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        動(dòng)態(tài)圖像法與鏡下測(cè)量法粒度分布結(jié)果對(duì)比研究

        2019-09-10 01:30:46陳麥雨徐守余張立強(qiáng)王朝許紫菁
        沉積學(xué)報(bào) 2019年3期
        關(guān)鍵詞:測(cè)量法粒度砂巖

        陳麥雨,徐守余,張立強(qiáng),王朝,許紫菁

        中國(guó)石油大學(xué)(華東)地球科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,山東青島 266580

        粒度分析是儲(chǔ)層地質(zhì)學(xué)常規(guī)分析項(xiàng)目之一,對(duì)于判定組分運(yùn)動(dòng)方式、分析水動(dòng)力特征、研究沉積環(huán)境和評(píng)價(jià)沉積儲(chǔ)層等工作具有重要意義[1-3]。準(zhǔn)確精細(xì)的粒度分布結(jié)果是粒度分析的基礎(chǔ)。蔡廷祿等[4]列舉比較了篩析法、沉降法、鏡下測(cè)量法、數(shù)字圖像法和激光法等粒度測(cè)試方法的原理、測(cè)量范圍及代表儀器設(shè)備。由于各方法的有效測(cè)量范圍有限,對(duì)于某些沉積巖(物),需結(jié)合兩種方法才能較為完整準(zhǔn)確地反映粒度分布,其中包括沉降—篩析法[5]、激光—篩析法[6]以及微觀薄片測(cè)量和宏觀巖芯精描結(jié)合法[7]等。由于操作簡(jiǎn)單、速度較快、依托計(jì)算機(jī),激光法具有一定優(yōu)越性而被廣泛應(yīng)用,它與其他方法的對(duì)比及校正研究已得到了較多報(bào)道[2,5-6,8-9]。動(dòng)態(tài)圖像法是近年來(lái)粒度測(cè)試的一種新方法,在操作流程上有激光法快速、方便的優(yōu)點(diǎn),在數(shù)據(jù)處理上有數(shù)字圖像法能夠讀取二維粒形信息的優(yōu)點(diǎn),已廣泛應(yīng)用于測(cè)量藥物[10-12]、谷物[13]、海灘砂[14-18]、風(fēng)成砂[19-20]等的粒度和形狀。動(dòng)態(tài)圖像法與篩析法、激光法的粒度曲線十分接近,粒徑參數(shù)的相關(guān)性很好(R2大多大于0.9),應(yīng)用前景廣闊[15-18]。但是,動(dòng)態(tài)圖像法對(duì)地下儲(chǔ)集巖的研究目前近乎空白,且該方法檢測(cè)幾微米到幾十微米的顆??赡苈杂欣щy[18],這對(duì)真實(shí)的粒度分布結(jié)果有影響。

        以往有些文獻(xiàn)提到鏡下測(cè)量法[4,6-7,21],卻很少見到詳細(xì)文字介紹和實(shí)際資料研究。對(duì)大多研究機(jī)構(gòu)而言,砂巖薄片資料多于巖芯資料,尚未服務(wù)于粒度分析研究。為此,本文以塔里木輪南地區(qū)X100井三疊系水下分流河道為例,選取12塊砂巖樣品進(jìn)行測(cè)試對(duì)比,分析篩析—?jiǎng)討B(tài)圖像法(下文簡(jiǎn)稱動(dòng)態(tài)圖像法)和鏡下測(cè)量法各組分含量、粒度曲線、粒度參數(shù)的異同和相關(guān)性,旨在評(píng)價(jià)這兩種方法在地下沉積巖粒度分析中的適用性,進(jìn)而探討鏡下測(cè)量法粒度結(jié)果的校正方法,為這兩種方法今后能更廣泛地運(yùn)用于粒度分析建立基礎(chǔ)。

        1 方法介紹及實(shí)驗(yàn)流程

        1.1 不同粒度測(cè)試方法的工作原理

        動(dòng)態(tài)圖像法是利用動(dòng)態(tài)圖像顆粒分析儀(圖1),將處理好的樣品通過(guò)振動(dòng)裝置進(jìn)入測(cè)試腔,由光束裝置、光學(xué)成像裝置得到每個(gè)分散顆粒清晰的投影圖像,如果兩個(gè)及兩個(gè)以上顆粒的投影發(fā)生重疊,數(shù)字處理系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)排除這些“異常”圖像,并將捕捉到的圖像進(jìn)行處理,一般獲取等效投影面積直徑,最后由計(jì)算機(jī)輸出顆粒圖像、粒形信息和粒度分布結(jié)果。目前已被報(bào)道的分析儀主要為德國(guó)萊馳科技公司生產(chǎn)的Camsizer XT和德國(guó)新帕泰克公司生產(chǎn)的QICPIC,前者的測(cè)量范圍更廣。動(dòng)態(tài)圖像法只適用于松散—弱膠結(jié)的沉積巖(物),優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量快速,能檢測(cè)大顆粒和不規(guī)則顆粒,缺點(diǎn)是對(duì)粒徑小于0.04~0.09 mm(3.5~4.6φ)的顆??赡軝z測(cè)困難。

        篩析法是用一套按孔徑大小順序疊置的標(biāo)準(zhǔn)篩來(lái)分離不同粒級(jí)的顆粒,通過(guò)天平稱取每層篩中的顆粒質(zhì)量,以此計(jì)算粒度分布結(jié)果。較細(xì)粒的黏土—粉砂在篩分過(guò)程中容易粘附在儀器上或是飄散散失,所以應(yīng)格外測(cè)量這一粒級(jí)的顆粒。篩析法同樣只適用于松散—弱膠結(jié)的沉積巖(物),優(yōu)點(diǎn)是原理及設(shè)備簡(jiǎn)單,易于操作,缺點(diǎn)是較為耗時(shí)。理論上,有多小目數(shù)的篩,篩析法的量程就有多小。

        鏡下測(cè)量法是用偏光顯微鏡及拍照裝置采集薄片照片,然后對(duì)雜基含量及顆粒粒徑進(jìn)行測(cè)量,進(jìn)而計(jì)算粒度分布結(jié)果[4,6]。鏡下測(cè)量法不僅適用于松散—弱膠結(jié)的沉積巖(物),還適用于強(qiáng)膠結(jié)或強(qiáng)溶蝕的沉積巖(物)[7,22],優(yōu)點(diǎn)是原理及設(shè)備更為簡(jiǎn)單[23],有薄片就能開展工作,缺點(diǎn)是工作繁瑣,速度緩慢,顆粒數(shù)目極為有限。由于顆粒多為不規(guī)則狀,其粒徑包括長(zhǎng)軸徑、短軸徑、等效投影面積直徑、費(fèi)雷特徑等[15,17](圖2),在測(cè)量時(shí)難以統(tǒng)一。

        1.2 樣品采集與實(shí)驗(yàn)流程

        12塊砂巖樣品取自塔里木輪南地區(qū)中南部X100井TⅠ、TⅡ、TⅢ油組,為辮狀河三角洲前緣水下分流河道沉積。據(jù)薄片鑒定描述,砂巖為長(zhǎng)石質(zhì)巖屑砂巖(10/12)和長(zhǎng)石巖屑砂巖(2/12),巖屑含量最大(63.1%),石英次之(19.4%),填隙物含量小于7%,以雜基為主,碳酸鹽膠結(jié)物較少。目的層經(jīng)歷的溶解作用較強(qiáng),膠結(jié)作用和壓實(shí)作用相對(duì)較弱,可以采用篩析法、動(dòng)態(tài)圖像法和鏡下測(cè)量法進(jìn)行粒度測(cè)試。將巖樣編號(hào)為1~12,各分成兩份,按以下流程進(jìn)行測(cè)試分析(圖3)。

        圖2 顆粒的四種粒徑定義示意圖(據(jù)羅章等[17]有修改)Fig.2 Schematic diagram of four particle diameters(modified from Luo et al.[17])

        (1) 第一份巖樣進(jìn)行處理制成薄片,選擇4倍物鏡觀察,調(diào)整曝光使照片能達(dá)到最好的效果,在不同視域下拍照,然后用Photoshop軟件測(cè)量雜基含量[24],用AxioVision軟件測(cè)量長(zhǎng)軸徑。軟巖屑在地下受壓實(shí)而發(fā)生變形,故不檢測(cè)其粒徑。

        圖3 實(shí)驗(yàn)流程圖Fig.3 Experimental flow chart

        (2) 第二份巖樣先進(jìn)行預(yù)處理[25],再分別用篩析法及動(dòng)態(tài)圖像法進(jìn)行測(cè)試,后者儀器型號(hào)為丹東市百特儀器有限公司BT-2900分析儀,測(cè)量范圍為0.063~10 mm。先將巖樣研磨至中礫大小,加入濃度為5%的鹽酸浸泡12 h去除碳酸鹽,然后每隔4 h換純凈水浸泡以去除酸離子并使沉積物松散,共換3次純凈水,最后抽去純凈水,將樣品烘干后研磨打散至砂級(jí)大小。研磨過(guò)程中注意用力適當(dāng),不要人為破壞顆粒形態(tài)。

        (3) 取280目(0.053 mm)、230目(0.063 mm)標(biāo)準(zhǔn)篩[26]進(jìn)行篩析實(shí)驗(yàn),記錄稱重。

        (4) 在計(jì)算機(jī)上設(shè)置檢測(cè)顆粒數(shù)量上限為60萬(wàn),以φ/4為級(jí)差[26-27]設(shè)置粒級(jí)間隔進(jìn)行動(dòng)態(tài)圖像測(cè)試,檢測(cè)顆粒的等效投影面積直徑。

        (5) 對(duì)鏡下測(cè)量法、動(dòng)態(tài)圖像法所得結(jié)果進(jìn)行校正(公式1~4),最后整理數(shù)據(jù)。由于各粒級(jí)顆粒面積分?jǐn)?shù)和體積分?jǐn)?shù)差異不大,本文統(tǒng)一計(jì)算顆粒面積分?jǐn)?shù)。

        φs=0.3815+0.9027φb

        (1)

        Xs=Xb×(1-Xz)

        (2)

        K=(Mt-Mx)/Mt

        (3)

        Xs=Xb×(1-K)

        (4)

        其中,φb、φs分別為鏡下測(cè)量法校正前、后的顆粒粒徑(φ值),Xb、Xs分別為校正前、后某一粒級(jí)顆粒面積分?jǐn)?shù)(%),Xz為雜基含量(%),K為篩析校正系數(shù)(%),Mt為篩析前的試樣總重(g),Mx為篩析后的顆粒重量(g)。

        2 測(cè)試結(jié)果對(duì)比分析

        2.1 各組分含量對(duì)比

        沉積物粒度采用Udden-Wentworth方案[1]及McManus的φ值[4]分級(jí),砂巖樣品定名以薄片資料為準(zhǔn),采用三級(jí)命名法[25]。為了較好地對(duì)比動(dòng)態(tài)圖像法及鏡下測(cè)量法所得結(jié)果的差異,分別對(duì)6個(gè)粒級(jí)組分的含量進(jìn)行比較(圖4)。

        圖4 兩種測(cè)試方法所得沉積物各組分含量對(duì)比圖Fig.4 Content comparison of each grain gradation obtained by the thin-section measuring method and the combining dynamic image analysis with sieving method

        (1) 黏土—細(xì)粉砂(<0.05 mm):11個(gè)樣品動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果大于鏡下測(cè)量法,差值為0~5.7%,平均為1.9%,差值較大的樣品為粉—細(xì)砂巖,差值不明顯的主要為中砂巖。

        (2) 粗粉砂(0.05~0.1 mm):9個(gè)樣品(主要為中砂巖類)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果大于鏡下測(cè)量法,差值為1.2%~5%,平均為2.4%。這9個(gè)樣品鏡下測(cè)量法所測(cè)結(jié)果極小,為0.2%~1.6%,平均為0.4%。另外3個(gè)樣品(皆為粉—細(xì)砂巖)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果小于鏡下測(cè)量法,差值為2.4%~18.5%,平均為10.8%。

        (3) 細(xì)砂(0.1~0.25 mm):5個(gè)樣品(皆為中砂巖類)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果大于鏡下測(cè)量法,差值為4.6%~22.3%,平均為11.6%,差值較大的樣品為細(xì)—中砂巖。另外7個(gè)樣品(為粉—細(xì)砂巖和中—細(xì)砂巖)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果小于鏡下測(cè)量法,差值為9.7%~21.2%,平均為14.8%,差值較大的樣品為粉—細(xì)砂巖。

        (4) 中砂(0.25~0.5 mm):6個(gè)樣品(皆為細(xì)砂巖類)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果大于鏡下測(cè)量法,差值為0.3%~22.6%,平均為10.3%,差值較大的樣品為粉—細(xì)砂巖。另外6個(gè)樣品(主要為細(xì)—中砂巖)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果小于鏡下測(cè)量法,差值為2.9%~38.3%,平均為21.5%,差值較大的樣品為粗—中砂巖和中—粗砂巖。

        (5) 粗砂(0.5~1 mm):10個(gè)樣品動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果大于鏡下測(cè)量法,差值為0.9%~23.2%,平均為10.3%,差值較大的樣品為粗—中砂巖。另外2個(gè)樣品(皆為細(xì)—中砂巖)動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果小于鏡下測(cè)量法,差值為1.5~7.2%。

        (6) 巨砂(1~2 mm):由于薄片中顆粒數(shù)量有限,12個(gè)樣品鏡下測(cè)量法所測(cè)結(jié)果皆為0,動(dòng)態(tài)圖像法為0~4%,平均為0.8%,巨砂含量的多少與巖性有關(guān)。

        通過(guò)以上統(tǒng)計(jì)可知,約75%樣品的黏土—粉砂含量和約83%樣品的粗砂—巨砂含量動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果高于鏡下測(cè)量法,但二者所測(cè)黏土—粉砂、巨砂含量差異較小,絕大數(shù)不超過(guò)6%。樣品粒級(jí)越粗,兩種方法所測(cè)黏土—粉砂含量差異越不明顯。對(duì)粉—細(xì)砂巖(5、9號(hào)樣品)、細(xì)砂巖(1號(hào)樣品)而言,動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)中砂含量偏大,粗粉砂、細(xì)砂含量偏??;對(duì)中—細(xì)砂巖(10、11、12號(hào)樣品)而言,動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)中砂、粗砂偏大,細(xì)砂含量偏??;對(duì)細(xì)—中砂巖(4、6、7、8號(hào)樣品)、粗—中砂巖(2號(hào)樣品)、中—粗砂巖(3號(hào)樣品)而言,動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)細(xì)砂、粗砂含量偏大,中砂含量偏小。總之,動(dòng)態(tài)圖像法檢測(cè)粗組分含量偏大,相應(yīng)的細(xì)組分含量會(huì)偏小。若用X表示粒級(jí),對(duì)于X砂巖而言,動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)X+1級(jí)組分含量偏大,X級(jí)組分含量偏小,若X砂巖的粒度較粗,則動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)X-1級(jí)組分含量由偏小向偏大轉(zhuǎn)變,這正是兩種方法產(chǎn)生差異的原因。

        2.2 粒度參數(shù)對(duì)比

        粒度參數(shù)是反映粒度特征的重要數(shù)據(jù)。用Grapher軟件在累積曲線上讀值,按Folk-Ward圖解法公式[4]計(jì)算粒徑中值Md、平均粒徑Mz、分選系數(shù)σ1、偏度SK1和峰度KG,此外再求取D10、D90,Di表示累積曲線上顆粒累積含量為i%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑,以φ值為單位。圖5中的y=x線可以反映兩種方法計(jì)算的粒度參數(shù)的差異,如果數(shù)據(jù)點(diǎn)靠近y=x線,說(shuō)明二者差異較小,如果數(shù)據(jù)點(diǎn)落在y=x線下方區(qū)域,說(shuō)明與鏡下測(cè)量法相比,動(dòng)態(tài)圖像法計(jì)算的粒徑偏小,分選偏差,頻率曲線的峰偏向粗粒度一側(cè),峰偏尖銳。由圖5a~c可見,動(dòng)態(tài)圖像法的D10、Md、Mz偏粗,D90偏細(xì),說(shuō)明動(dòng)態(tài)圖像法檢測(cè)粗組分含量偏大,細(xì)組分含量偏小,與圖4所得結(jié)論一致。動(dòng)態(tài)圖像法的分選偏差、偏度偏正、峰度偏尖銳約一個(gè)等級(jí)(圖5d),舉例而言,對(duì)同一塊樣品,如果鏡下測(cè)量法解釋為分選較好、峰近對(duì)稱、中等峰度,動(dòng)態(tài)圖像法會(huì)解釋為分選中等、峰正偏態(tài)、中等峰度或峰尖銳。

        由于σ1、SK1和KG較難獲得相關(guān)性明顯的回歸方程,本文只對(duì)粒徑參數(shù)進(jìn)行回歸分析。D10、D90、Md、Mz的相關(guān)系數(shù)R2達(dá)到0.6~0.7以上(圖5a~c),相關(guān)性較好但不理想,究其原因,實(shí)驗(yàn)樣本小、操作誤差是一方面,兩種方法所測(cè)同一組分含量存在差異應(yīng)是主要原因。累積曲線越偏向左側(cè)說(shuō)明顆粒越粗,由圖6可見,動(dòng)態(tài)圖像法累積曲線大粒徑部分相對(duì)左偏,小粒徑部分相對(duì)右偏,偏離程度的大小與巖性有關(guān)。因此,動(dòng)態(tài)圖像法的Di(i<70)一般偏小,Dj(j>80)偏大,由Folk-Ward公式可得,動(dòng)態(tài)圖像法的Md、Mz偏小,σ1、SK1偏大,KG一般會(huì)偏大。

        2.3 誤差分析

        與鏡下測(cè)量法相比,動(dòng)態(tài)圖像法測(cè)定粗組分含量偏高,細(xì)組分含量偏低,筆者認(rèn)為原因主要有以下四條。

        (1) 測(cè)試方法的量程 BT-2900分析儀的測(cè)量范圍為0.063~10 mm(-3.3~4.0φ),結(jié)合篩析法,測(cè)量范圍可延伸到0.05 mm以下(>4.3φ),更接近實(shí)際情況。本文鏡下測(cè)量法的測(cè)量范圍為0.03~0.93 mm(0.1~4.9φ)。因此,有一部分較粗的顆粒不能被鏡下測(cè)量法檢測(cè)到,如果這一部分占較大比例,則會(huì)造成二者間的差異,如巨砂含量的差異使動(dòng)態(tài)圖像法測(cè)定粗組分含量偏高(圖4f)。

        圖5 兩種測(cè)試方法所得粒度參數(shù)對(duì)比及4個(gè)粒徑參數(shù)的相關(guān)性Fig.5 Comparison of D10, D90, D50(median grain-size), average grain-size, sorting, skewness, and kurtosis obtained by two grain-size test methods and correlation of four grain diameters

        圖6 兩種測(cè)試方法所得累積曲線對(duì)比圖Fig.6 Comparison of grain-size cumulative curves obtained by two grain-size test methods

        (2) 檢測(cè)顆粒的數(shù)目 BT-2900分析儀的測(cè)量數(shù)目多達(dá)60萬(wàn),鏡下測(cè)量法檢測(cè)顆粒的數(shù)目受視域和巖性影響, 4倍物鏡下,在粒度較細(xì)的砂巖中可檢測(cè)約120~230個(gè)顆粒,而在粒度較粗的砂巖中僅檢測(cè)約60~120個(gè)顆粒。如果巖石分選較好,選取顆粒的人為性較大,如會(huì)忽略檢測(cè)細(xì)砂巖中的粗砂,而若分選較差(不等粒砂巖),各粒級(jí)顆粒都會(huì)被檢測(cè)。鏡下測(cè)量法反映沉積巖(物)粒徑總體特征較為局限,檢測(cè)顆粒的數(shù)目的懸殊應(yīng)是兩種測(cè)試方法存在差異的主要原因之一。

        (4) 巖性 兩種方法所測(cè)粗粉砂、中砂等含量的差異與巖性有關(guān),以中砂含量差異最大(圖4b,d)。對(duì)兩種方法所得各組分含量進(jìn)行回歸分析發(fā)現(xiàn),黏土—細(xì)粉砂、粗粉砂、細(xì)砂、中砂、粗砂—巨砂含量的相關(guān)系數(shù)R2分別為0.01、0.68、0.69、0.25和0.80(圖7a),認(rèn)為黏土—粉砂組分和中砂組分是兩種方法產(chǎn)生差異的分界線。

        3 鏡下測(cè)量法粒度分析結(jié)果校正

        量程、檢測(cè)顆粒的數(shù)目、原理和顆粒形狀都難以作為實(shí)現(xiàn)校正的考慮因素,而“改變”各組分含量具有一定的可操作性。兩種方法各組分含量的不同影響頻率曲線及累積曲線的形態(tài),進(jìn)而影響粒徑參數(shù)及二者之間的相關(guān)性。鑒于動(dòng)態(tài)圖像法可以替代經(jīng)典的篩析法[17],其粒度分布結(jié)果更為大眾接受,而鏡下測(cè)量法的使用程度不高,本文從各組分含量出發(fā),實(shí)現(xiàn)鏡下測(cè)量法粒度分布結(jié)果校正。

        圖7 鏡下測(cè)量法各組分含量校正前后相關(guān)性對(duì)比,擬合回歸線被省略Fig.7 Content comparison of each grain gradation using the pre-calibrated and post-calibrated thin-section measuring method with the dynamic image analysis method. The fitting linear regression trendlines are omitted

        結(jié)合2.1節(jié)展示的認(rèn)識(shí),在此基礎(chǔ)上建立校正后的鏡下測(cè)量法與動(dòng)態(tài)圖像法各組分含量的回歸方程(圖7b)以及D10、D90、Md、Mz這四個(gè)粒徑參數(shù)的回歸方程(圖8)。以粉—細(xì)砂巖(樣品5)為例,應(yīng)屬于黏土—細(xì)粉砂、中砂的顆粒分別落在了粗粉砂、細(xì)砂中,故首先用公式(2)反解Xb,將4~4.25φ區(qū)間內(nèi)的粗粉砂校正為黏土—細(xì)粉砂,重新計(jì)算Xs。然后將2~2.5φ區(qū)間內(nèi)的細(xì)砂校正為1.5~2φ區(qū)間內(nèi)的中砂,將其他i~i+0.25φ區(qū)間內(nèi)的組分校正到i-0.5~i-0.25φ區(qū)間。初次校正后存在某一i~i+0.25φ區(qū)間內(nèi)組分含量為0,則將i-0.25~iφ區(qū)間內(nèi)的組分按1∶2的比例分別校正到i~i+0.25φ、i-0.25~iφ區(qū)間中。對(duì)于更粗的砂巖,并不需要重新計(jì)算Xs和校正黏土—粉砂含量。校正后細(xì)砂、中砂、粗砂含量和Md、Mz以及刪去一個(gè)異常點(diǎn)的D90的相關(guān)系數(shù)R2增大到0.88~0.95(圖7b、圖8),屬于強(qiáng)相關(guān),說(shuō)明校正后的鏡下測(cè)量法所得的這三種組分含量與動(dòng)態(tài)圖像法在相當(dāng)程度上已吻合。雖然黏土—粉砂組分的相關(guān)性仍不強(qiáng),D10、D90仍分別落在y=x線的兩側(cè),說(shuō)明粗、細(xì)兩端含量仍有待改進(jìn),但0.88~0.95的相關(guān)性說(shuō)明該校正方法對(duì)鏡下測(cè)量法而言是有意義的。

        圖8 校正后的鏡下測(cè)量法所得粒徑參數(shù)的相關(guān)性Fig.8 Correlation of four grain diameters using the post-calibrated thin-section measuring method with the dynamic image analysis method

        4 結(jié)論

        (1) 與鏡下測(cè)量法相比,動(dòng)態(tài)圖像法檢測(cè)粗組分含量偏大,相應(yīng)的細(xì)組分含量會(huì)偏小,動(dòng)態(tài)圖像法計(jì)算的粒徑中值和平均粒徑偏粗,分選偏差,偏度偏正,峰度偏尖銳。

        (2) 檢測(cè)顆粒數(shù)目的懸殊和巖石類型是這兩種方法粒度分布結(jié)果存在差異的主要原因,量程、測(cè)量原理和顆粒形狀也會(huì)造成一定的影響。

        (3) 黏土—粉砂組分和中砂組分是這兩種方法產(chǎn)生差異的分界線。巖樣粒級(jí)越粗,兩種方法所測(cè)黏土—粉砂含量差異越不明顯。

        (4) 校正后的鏡下測(cè)量法的細(xì)砂、中砂、粗砂含量以及粒徑參數(shù)與動(dòng)態(tài)圖像法所測(cè)結(jié)果的相關(guān)系數(shù)R2達(dá)到0.88~0.95,達(dá)到了校正基本目的。

        致謝 我院祝國(guó)建、任心月、劉衍琦、嚴(yán)一鳴為樣品預(yù)處理、粒度測(cè)試和粒度分析提供了幫助,華東師范大學(xué)2017屆羅章以郵件方式對(duì)筆者進(jìn)行了答疑,審稿專家及編輯部老師提出了鼓勵(lì)與寶貴的修改意見,在此謹(jǐn)致謝忱。

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