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        壓力管道對接焊縫典型缺陷的相控陣CIVA仿真與檢測

        2019-03-22 05:38:20,,,,,,,,
        無損檢測 2019年3期
        關(guān)鍵詞:夾渣掃查相控陣

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        (1.寧波市勞動安全技術(shù)服務(wù)公司,寧波 315048;2.寧波市特種設(shè)備檢驗研究院,寧波 315048)

        壓力管道在現(xiàn)場安裝組焊時,由于管道原材料、焊工焊接水平和責任心等原因,會產(chǎn)生各類焊接缺陷。通常包括外觀缺陷和內(nèi)部缺陷。目前在壓力管道定期檢驗的過程中,外觀缺陷通過目視檢查可以很快發(fā)現(xiàn),內(nèi)部缺陷主要是通過常規(guī)超聲檢測和射線檢測來確定[1],其中較為常見的內(nèi)部缺陷主要包括:未焊透、未熔合、夾渣、裂紋、氣孔[2]。常規(guī)超聲的缺陷檢出率通常和缺陷的性質(zhì)、位置角度,以及檢測人員的技術(shù)與責任心有關(guān),同時具有不可記錄性,對于檢測數(shù)據(jù)的復(fù)現(xiàn)存在較大困難;射線檢測過程繁瑣,工作量較大,需要特殊的輻射防護場地及輻射檢測系統(tǒng)[3]。

        筆者采用CIVA軟件仿真了5類典型缺陷的相控陣檢測,并與模擬試管的數(shù)據(jù)進行了比對,總結(jié)了相控陣檢測5類典型缺陷的波形特征,為現(xiàn)場檢測并快速判定缺陷性質(zhì)提供借鑒。

        1 相控陣CIVA仿真

        1.1 CIVA仿真設(shè)置

        采用壓力管道對接焊縫進行建模,管道尺寸(外徑×壁厚)分別為φ159 mm×8 mm,φ89 mm×5 mm兩種規(guī)格。坡口類型為單“V”型60°坡口,根部間隙為2 mm,鈍邊高為1 mm,頂部余高為1 mm,底部余高為0.5 mm,管道材料選取為碳鋼,密度為7.8 g·cm-3,縱波聲速為5 900 m·s-1,橫波聲速為3 230 m·s-1。

        線性陣列探頭采用與Doppler FJA131型號相同的參數(shù)進行建模。FJA131探頭參數(shù)為:陣元數(shù)n=16,晶片間距p=0.5 mm,晶片間隙g=0.1 mm,晶片高度W=10 mm,晶片寬度e=0.4 mm,主動窗長度A=n×e+g×(n-1)=7.9 mm,探頭頻率為7.5 MHz,-6 dB帶寬為60%。采用橫波折射角為55°的楔塊,材料為Rexolite(聚苯乙烯交聯(lián)樹脂),密度為1.05 g·cm-3,縱波聲速為2 360 m·s-1,橫波聲速為1 160 m·s-1。壓力管道對接焊縫CIVA仿真模型如圖1所示。

        圖1 壓力管道對接焊縫CIVA仿真模型

        1.2 聲場計算

        以φ159 mm×8 mm壓力管道的相控陣聲場計算為例進行說明,模擬采用扇形掃查,角度范圍為42°~73°,計算步進為0.5°,考慮到一次波檢測無法覆蓋焊縫上表面,因此采用二次波檢測焊縫上表面,探頭距離焊縫邊緣10 mm[4]。對一次波和二次波中心聲束的聲場進行合成,計算出42°~73°范圍內(nèi)所有聲束的聲場,其中一次波檢測聚焦法則選取方向與深度聚焦,聚焦深度為8 mm(試管壁厚處),二次波聚焦深度為0 mm(上表面),聲場計算范圍為10 mm×10 mm(長×寬)矩形區(qū)域,計算精度為0.1 mm,一次波和二次波覆蓋情況與聲場計算結(jié)果如圖2所示。

        圖2 一次波和二次波覆蓋情況與聲場計算結(jié)果

        根據(jù)合成聲場的計算結(jié)果可知,一次波覆蓋區(qū)域的聲場強度可以滿足檢測要求,具有較高能量。二次波聲場覆蓋可以彌補一次波檢測盲區(qū),但是聲場能量弱于一次波的。所設(shè)置的檢測覆蓋滿足檢測要求。

        1.3 未熔合檢測仿真

        考慮到缺陷的設(shè)置應(yīng)和超聲檢測試管缺陷相同,采用矩形面狀缺陷(Rectangular)模擬坡口未熔合和根部未熔合,位置設(shè)置在坡口和根部,采用扇形掃查進行檢測,未熔合尺寸(長×寬)為5 mm×2 mm,缺陷設(shè)置結(jié)果見圖3,檢測結(jié)果見圖4。

        圖3 坡口、根部未熔合缺陷設(shè)置示意

        圖4 坡口、根部未熔合檢測結(jié)果

        從坡口未熔合檢測結(jié)果可以看出,相控陣扇掃對未熔合缺陷信號具有較高靈敏度,一般采用一次波能覆蓋近根部坡口未熔合。對于坡口未熔合,一個未熔合缺陷信號回波較高,另一個缺陷回波信號較弱,這與缺陷方向有關(guān),若缺陷與聲束方向垂直則回波強,若缺陷與聲束方向夾角較小則回波弱。因此,若要檢測未熔合缺陷,條件允許的情況下最好進行雙側(cè)掃查,以防漏檢。

        1.4 未焊透檢測仿真

        未焊透缺陷模型采用3個矩形面狀缺陷(Rectangular)進行設(shè)置,模擬坡口雙邊未焊透,未焊透高度為坡口鈍邊的一半,取0.5 mm,長度為5 mm,未焊透缺陷設(shè)置示意如圖5所示。

        圖5 未焊透缺陷設(shè)置示意

        圖6 未焊透一次波檢測結(jié)果

        計算過程選取直接(Direct)計算模式,未焊透一次波檢測結(jié)果如圖6所示。從未焊透模擬結(jié)果可以看出,相控陣技術(shù)對于未焊透缺陷具有較高的檢出率,該未焊透兩端均有明顯回波,且靠近探頭側(cè)回波信號高,由于聲波傳播的特點,對于管道最好采用雙側(cè)掃查,以防坡口兩側(cè)深度不同的未焊透的漏檢。

        1.5 夾渣檢測仿真

        采用圓柱形夾渣來模擬條形夾渣,夾渣材料由氧化鋁代替,密度為3.97 g·cm-3,位置處于熔合線處,埋藏深度為3 mm,采用條形夾渣專用模型(Cylindrical inclusion)進行設(shè)置,長度為10 mm,半徑為0.5 mm,夾渣缺陷位置設(shè)置示意如圖7所示。夾渣缺陷一次波檢測結(jié)果如圖8所示。

        圖7 夾渣缺陷位置設(shè)置示意

        圖8 夾渣缺陷一次波檢測結(jié)果

        圖9 夾渣缺陷二次波檢測結(jié)果

        夾渣缺陷二次波檢測結(jié)果如圖9所示,從模擬結(jié)果可以看出,相控陣檢測技術(shù)對于條形夾渣具有較高的檢出率,由于采用了一次波5 mm深度聚焦檢測,信號回波顯示位置與實際情況較為吻合,但由于夾渣設(shè)置模型為圓柱體,參考超聲圓柱體反射,存在一定的缺陷放大特點。

        1.6 裂紋檢測仿真

        裂紋采用多面缺陷模型進行設(shè)置,裂紋的位置設(shè)置示意如圖10所示,裂紋長度為10 mm,埋藏深度為3.5 mm。

        圖10 一次波和二次波檢測裂紋缺陷覆蓋情況及缺陷具體形貌示意

        裂紋缺陷一次波和二次波檢測結(jié)果如圖11,12所示,從結(jié)果可以看出,裂紋缺陷的回波信號強度較強,且S掃波形稍顯雜亂,存在缺陷放大的特點,這與裂紋的走向和大小有關(guān)。

        圖11 裂紋缺陷一次波檢測結(jié)果

        圖12 裂紋缺陷二次波檢測結(jié)果

        1.7 氣孔檢測仿真

        氣孔采用球型缺陷(Spherical)進行設(shè)置,半徑為1 mm,位于焊縫中部,埋藏深度為5 mm,氣孔的位置設(shè)置示意如圖13所示。

        圖13 氣孔缺陷位置設(shè)置示意

        氣孔一次波、二次波檢測結(jié)果如圖14,15所示,從掃查結(jié)果可以看出,相控陣技術(shù)對于氣孔類球型缺陷具有較高的檢出率,一次波、二次波均有不同程度的缺陷放大,可采取設(shè)置聚焦深度為氣孔埋藏深度進行再次檢測,以減小缺陷放大帶來的不利影響。

        圖14 氣孔缺陷一次波檢測結(jié)果

        圖15 氣孔缺陷二次波檢測結(jié)果

        2 模擬試管檢測過程

        2.1 檢測設(shè)置

        采用φ159 mm×8 mm,φ89 mm×5 mm兩種規(guī)格試管進行現(xiàn)場超聲相控陣檢測驗證,這兩種規(guī)格試管均由某無損檢測試塊制造公司加工,包含了壓力管道對接焊縫中的典型5類缺陷,且均由射線檢測和常規(guī)超聲檢測(UT)進行過驗證,具體缺陷尺寸見表1,其中缺陷的各類信息與CIVA仿真中的設(shè)置相同。

        檢測采用以色列ISONIC 2010相控陣儀器、線性陣列相控陣聚焦探頭和鏈式掃查器,φ159 mm×8 mm規(guī)格試管采用一次波和二次波掃查,φ89 mm×5 mm規(guī)格試管采用二次波掃查,現(xiàn)場檢測工藝設(shè)置與CIVA仿真完全相同。

        表1 UT試管缺陷參數(shù)

        2.2 未熔合檢測

        φ159 mm×8 mm規(guī)格試管未熔合缺陷掃查結(jié)果如圖16所示,經(jīng)過測量,未熔合長度為11.0 mm,高度為2.2 mm,深度為1.6 mm,未熔合位置存在偏差是由于編碼器在行走過程中發(fā)生了小范圍偏移。

        圖16 φ159 mm×8 mm規(guī)格試管未熔合缺陷掃查結(jié)果

        2.3 未焊透檢測

        φ159 mm×8 mm規(guī)格試管未焊透缺陷掃查結(jié)果如圖17所示,經(jīng)過測量,未焊透長度為11.0 mm,高度為2.3 mm,深度為5.7 mm。

        2.4 夾渣檢測

        φ89 mm×5 mm規(guī)格試管夾渣缺陷掃查結(jié)果如圖18所示,經(jīng)過測量,夾渣長度為9.3 mm,高度為1.0 mm,深度為0.6 mm。

        2.5 裂紋檢測

        φ89 mm×5 mm規(guī)格試管裂紋缺陷掃查結(jié)果如圖19所示,經(jīng)過測量,裂紋長度為13.1 mm,高度為2.0 mm,深度為1.7mm。

        2.6 氣孔檢測

        φ159 mm×8 mm規(guī)格試管氣孔缺陷掃查結(jié)果如圖20所示,經(jīng)過測量,氣孔當量為φ5.0 mm,深度為3.1 mm。

        3 分析與討論

        3.1 未熔合結(jié)果分析

        仿真與實際扇掃波形具有較高吻合性,因為CIVA仿真設(shè)置的未熔合缺陷和實際未熔合缺陷具有極高的相似度,均為面狀缺陷,CIAV仿真未熔合缺陷具有較高的可靠性?,F(xiàn)場對于相控陣未熔合波形的判斷要點總結(jié)為,反射波幅較高,且端視圖和扇掃圖中位置顯示在焊縫坡口處,通常情況下兩側(cè)掃查的回波波幅有較大區(qū)別,但特殊情況下,對于坡口對側(cè)的未熔合缺陷無明顯回波,CIVA仿真中也證實了這一點。

        圖17 φ159 mm×8 mm規(guī)格試管未焊透缺陷掃查結(jié)果

        圖20 φ159 mm×8 mm規(guī)格試管氣孔缺陷掃查結(jié)果

        3.2 未焊透結(jié)果分析

        現(xiàn)場試管未焊透檢測結(jié)果顯示,該未焊透具有單邊未焊透的性質(zhì),只有一個端點存在反射波;CIVA仿真結(jié)果顯示,未焊透為根部較大的體積性缺陷,無論實際還是仿真,相控陣技術(shù)對于未焊透具有較高的檢出率?,F(xiàn)場對于相控陣未焊透波形判斷要點總結(jié)為,反射波幅較高,但低于未熔合的,且端視圖和扇掃圖中位置顯示在焊縫根部靠近坡口處,兩側(cè)掃查通常都存在明顯的回波,且波幅無明顯差別。

        3.3 夾渣結(jié)果分析

        現(xiàn)場試管檢測結(jié)果表明,坡口處存在一處夾渣,反射波強度明顯弱于未熔合的波形,且扇掃圖形信噪比較高,雜波較少,這幾點與CIVA結(jié)果相吻合,但也存在一定的差異,原因在于CIVA夾渣模型是光滑圓柱體模型,材料是氧化鋁代替,實際條形夾渣并非理想圓柱體,且成分較為復(fù)雜,因此仿真相似度低于未熔合和未焊透的。同時從A掃圖形可看出,夾渣反射波幅明顯低于未焊透和未熔合的。

        3.4 裂紋結(jié)果分析

        通過比較結(jié)果可知:裂紋的反射波均顯雜亂,仿真回波信號強度大于實際檢測的,但是兩者對于裂紋均有較高檢出率,歸結(jié)原因是:裂紋的模型與實際情況的相似度較低,在5類缺陷中是相似度最低的缺陷,因此仿真結(jié)果和實際存在一定差別。從A掃圖形可看出,裂紋反射波幅低于夾渣的,裂紋波形通常顯示較為雜亂,信噪比較低,這與裂紋的形貌和位置有關(guān)。

        3.5 氣孔結(jié)果分析

        兩者均能檢出氣孔,但實際檢測結(jié)果顯示,氣孔一般反射信號較弱,根據(jù)聲學理論,由于其反射體積小,是5類缺陷中反射信號最弱的,相控陣檢測波幅并不高,最容易漏檢,應(yīng)結(jié)合一次波和二次波掃查。CIVA結(jié)果顯示,氣孔具有較高回波,因為在模型設(shè)置過程中,采用球形缺陷模型,實際氣孔是近似球形,且所含介質(zhì)并不唯一,反射回波信號強度不同。氣孔反射波形通常較弱,且長度和高度一般較小。

        4 結(jié)語

        (1) CIVA仿真技術(shù)可以在一定程度上指導相控陣檢測工藝的制定,但由于缺陷的設(shè)置不能與實際缺陷特征完全吻合,所以缺陷響應(yīng)計算和實際檢測存在一定的偏差,通過與現(xiàn)場檢測結(jié)果比對,發(fā)現(xiàn)CIVA仿真與現(xiàn)場檢測結(jié)果的吻合度由大到小依次為:未熔合、未焊透、夾渣、氣孔、裂紋。

        (2) 壓力管道對接焊縫中典型的5類缺陷在相控陣S掃和C掃中均有典型特征,反射信號強度由大到小依次為:未熔合、未焊透、夾渣、裂紋、氣孔。

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