李富國，寧 凱，徐安俊

（長春大學 機械與車輛工程學院，長春130022）

進入21 世紀，集成電路技術(shù)飛速發(fā)展，推動了FPGA 的發(fā)展。FPGA 集成度高，編程靈活，適用于較大規(guī)模的電路設(shè)計中，其設(shè)計開發(fā)周期短，制造成本低，質(zhì)量穩(wěn)定，被廣泛運用在產(chǎn)品生產(chǎn)中[1-4]。 隨著以FPGA 為核心的產(chǎn)品不斷上線， 產(chǎn)品的質(zhì)量問題又成為人們關(guān)注的焦點， 而所設(shè)計的基于FPGA 的硬件測試電路正是在這一背景下應(yīng)運而生。 該測試電路可用于實現(xiàn)對各類產(chǎn)品設(shè)計過程中可能會出現(xiàn)的問題進行及時調(diào)試、檢測，從而大大提高生產(chǎn)效率，同時還能滿足對不同使用環(huán)境的需要，在當下具有廣闊的應(yīng)用前景。

1 硬件測試電路原理

整個硬件測試過程在上位機（PC）控制下完成，并由FPGA 實現(xiàn)邏輯控制測試。 硬件測試電路主要包括觸發(fā)器、數(shù)碼管、計數(shù)器和寄存器等元器件。 其中，觸發(fā)器按照觸發(fā)方式的不同進行區(qū)分，分為脈沖觸發(fā)、電平觸發(fā)、以及邊沿觸發(fā)，且其可以按照控制方式或者邏輯功能的不同來進行分類[5-6]；數(shù)碼管廣泛應(yīng)用于日常的生產(chǎn)和生活中，其分類主要依據(jù)其段數(shù)；計數(shù)器可以用來分頻、定時、對時鐘脈沖計數(shù)、數(shù)字運算等，是一種在時序邏輯電路中應(yīng)用十分廣泛的元器件[7]；寄存器是集成電路中非常重要的一種存儲單元，可用來暫存指令、數(shù)據(jù)和地址[8]。

2 硬件測試電路總體方案設(shè)計

經(jīng)過對比分析過往硬件電路測試平臺的優(yōu)缺，結(jié)合自身設(shè)計要求并依據(jù)設(shè)計目標，制定了總體設(shè)計方案。 硬件測試電路總體設(shè)計流程如圖1 所示。

圖1 硬件測試電路總體設(shè)計流程Fig.1 Hardware test circuit general design flow chart

3 硬件測試電路設(shè)計

硬件測試電路設(shè)計以FPGA 為核心， 其硬件部分主要由4 個模塊組成：鎖相環(huán)模塊、計數(shù)器模塊、防抖電路設(shè)計、譯碼器模塊。

3.1 鎖相環(huán)模塊設(shè)計

鎖相環(huán)即鎖定相位的環(huán)路，F(xiàn)PGA 中自帶高性能的嵌入式模擬鎖相環(huán)，其最突出的優(yōu)點就是能夠輸出多個同步倍頻或分頻的片內(nèi)時鐘[9-10]。該片內(nèi)時鐘可大大降低時鐘延時對輸入輸出信號的影響，避免對其它時鐘信號產(chǎn)生干擾；還可以通過改善時鐘建立時間和保持時間， 以保證系統(tǒng)穩(wěn)定工作。 Cyclone/Ⅱ/Ⅲ系列和Statix/Ⅱ/Ⅲ/Ⅳ系列器件中的鎖相環(huán)能直接輸入所需要輸出的頻率，并提供任意相移和輸出信號占空比。 鎖相環(huán)模塊如圖2 所示。

3.2 計數(shù)器模塊設(shè)計

圖2 鎖相環(huán)模塊Fig.2 Phase-locked loop module

計數(shù)器模塊包括2 個計數(shù)器模塊，其工作原理一致。 在此以CNT16 模塊為例，介紹計數(shù)器模塊的工作原理。 當輸入信號CLK 有效時， 計數(shù)器模塊CNT16 進行加法計數(shù)。輸入信號CLK 定義為標準邏輯位STD_LOGIC，輸出信號DOUT 的數(shù)據(jù)類型明確定義為32 位標準邏輯位矢量STD_LOGIC_VECTOR（31 DOWNTO 0）。 計數(shù)器內(nèi)部先定義1 個信號SIGNAL Q1。Q1 為內(nèi)部的信號，流動不受方向限制，Q1 不斷累加。 當滿足要求時，將Q1 的值向端口DOUT 輸出。 計數(shù)器模塊如圖3 所示。

圖3 計數(shù)器模塊Fig.3 Counter module

3.3 防抖電路設(shè)計

防抖電路由4 個D 觸發(fā)器和1 個4 輸入與門構(gòu)成。4 個D 觸發(fā)器的時鐘輸入端都連在一起，工作時與時鐘同步工作，輸入信號以移位串行方式向前傳遞。 按鍵K1 的信號經(jīng)過非門后成為輸入信號，ck是防抖電路自身的工作時鐘。 該電路“濾波”功能的關(guān)鍵在于：當信號被串入電路后，能在輸出端輸出脈沖信號的條件是，必須在4 個D 觸發(fā)器的輸出端Q 都同時為1，從而4 輸入與門才能輸出高電平。 正因為干擾抖動信號都是一群寬度狹窄的隨機信號，在串入時，不可能使與門的輸出都為1，因此只有正常信號才有足夠的寬度通過此電路，從而起到“濾波”的功能。 防抖電路如圖4 所示。

3.4 譯碼模塊設(shè)計

譯碼模塊設(shè)有七段數(shù)碼管，并采用動態(tài)顯示方式。 其中，輸出信號LED7S 的7 位分別接數(shù)碼管的7 個段，高位在左，低位在右。 ，模塊的輸入信號為4位，輸出信號為7 位，最終決定著數(shù)碼管上顯示的結(jié)果。

圖4 防抖電路Fig.4 Stabilization circuit

例如，當LED7S 輸出為“1001111”時，數(shù)碼管的7 個段為g，f，e，d，c，b，a 分別接于1，0，0，1，1，1，1；接有高電平的段發(fā)亮，于是數(shù)碼管顯示“3”。 與此同時，從CNT16 輸出的32 位數(shù)據(jù)中任取8 位，這8 位信號作為輸入信號用來測試數(shù)碼管A 和B。 由于數(shù)碼管B 在外部電路已經(jīng)設(shè)置了16 進制7 段譯碼器，所以當信號輸入時可直接顯示計數(shù)值。 譯碼模塊如圖5 所示。

圖5 譯碼模塊Fig.5 Decoding module

4 硬件測試電路主要模塊仿真

利用ALTERA 綜合布線工具Quartus Ⅱ，對各主要功能模塊以及整體電路進行編譯、仿真測試，并使用EP3C5E144C8 芯片對硬件測試電路進行調(diào)試。

鎖相環(huán)模塊仿真首先對鎖相環(huán)模塊進行仿真。 模塊參數(shù)設(shè)置如下：時序仿真開始時間為0 ps，結(jié)束時間為1.0 ms，輸入激勵inclk0 周期為10.0 ns。單擊“start simulation”按鈕，即可得到輸出波形。 仿真起始延遲時間為559.301 ns， 程序運行過程中無錯誤警告，仿真成功。 其仿真結(jié)果如圖6 所示。

圖6 鎖相環(huán)模塊仿真Fig.6 PLL module simulation

計數(shù)器模塊仿真對計數(shù)器模塊進行仿真，模塊參數(shù)設(shè)置如下：時序仿真開始時間為0 ps，結(jié)束時間為1.0 μs，輸入激勵CLK 周期為10.0 ns。單擊“start simulation”按鈕，即可得到輸出DOUT 的波形圖（用十六進制表示）。 仿真起始延遲時間為13.526 ns，程序運行過程中無錯誤警告，仿真成功。 其仿真結(jié)果如圖7 所示。

圖7 計數(shù)器模塊仿真Fig.7 Counter module simulation

譯碼器模塊仿真對譯碼器模塊進行仿真，模塊參數(shù)設(shè)置如下：時序仿真開始時間為0 ps，結(jié)束時間為50.0 μs，輸入激勵A(yù) 周期為10.0 ns。單擊“start simulation”按鈕，即可得到輸出LED7S 的波形圖（用十六進制表示）。 仿真起始延遲時間為109.363 ns，程序運行過程中無錯誤警告，仿真成功。 其仿真結(jié)果如圖8 所示。

圖8 譯碼器模塊仿真Fig.8 Decoding module simulation

整體電路仿真整體電路仿真模塊參數(shù)設(shè)置如下：時序仿真開始時間為0 ps，結(jié)束時間為1.0 ms，輸入激勵CLK 周期為50.0 ns，按鍵K8 隨機選擇一段時間并置為1。 單擊“start simulation”按鈕，即可得到輸出CKK，L，LA，LED，PP 以及spk 的波形圖。仿真起始延遲時間為10.175 μs，程序運行過程中無錯誤警告，仿真成功。 其仿真結(jié)果如圖9 所示。

圖9 整體電路仿真Fig.9 Overall circuit simulation

5 硬件電路測試

仿真測試后，還需要進行硬件測試以進一步驗證系統(tǒng)性能。 引腳鎖定并下載程序后方可進行硬件電路測試。 硬件電路測試有2 個輸入信號， 一個是內(nèi)部時鐘信號，另一個是通過外部手動按壓K1 按鍵產(chǎn)生的信號。 其中內(nèi)部時鐘信號頻率為20 MHz，通過鎖相環(huán)來減少時鐘延時、時鐘變形和片外干擾，改善時鐘的建立時間和保持時間。 隨著內(nèi)部時鐘不斷輸入信號，計數(shù)器持續(xù)計數(shù)，當計數(shù)器滿足要求時，開發(fā)板最上面一排的LED 小燈便會依次亮起。 并且，2 個并排的數(shù)碼管會顯示數(shù)字， 左邊的數(shù)碼管顯示數(shù)據(jù)高4位，右邊的數(shù)碼管顯示數(shù)據(jù)低4 位，同時蜂鳴器也會響起。 接著，從右到左依次按動按鍵讓最下方的數(shù)碼管顯示數(shù)字。 由于非門的作用，當不按動按鍵時小數(shù)點是亮著的；反之，小數(shù)點不亮。 PCB 板測試如圖10 所示。

圖10 PCB 板測試Fig.10 Test pattern of PCB board

6 結(jié)語

通過硬件測試電路原理、總體方案設(shè)計、硬件模塊化設(shè)計、仿真測試以及PCB 板實測，完成了基于FPGA 的硬件測試電路的設(shè)計， 實現(xiàn)了設(shè)計的預(yù)期功能，仿真中的實現(xiàn)時間達到了ns 級別。此外，所設(shè)計操作界面簡單，操作易學易用，具有良好的抗干擾性能，能夠適應(yīng)不同的生產(chǎn)環(huán)境，為順利完成生產(chǎn)任務(wù)提供及時的檢測、調(diào)試功能，在市場推廣中備受青睞。