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        動(dòng)態(tài)應(yīng)變采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及誤差測試

        2019-03-06 09:10:20李建青馬爭爭戴亞文陳子鵬
        自動(dòng)化與儀表 2019年2期
        關(guān)鍵詞:測量系統(tǒng)

        陳 誠,李建青,馬爭爭,戴亞文,陳子鵬

        (1.武漢理工大學(xué) 理學(xué)院,武漢430070;2.中南財(cái)經(jīng)政法大學(xué) 信息工程學(xué)院,武漢430073)

        應(yīng)變測量技術(shù)是現(xiàn)代工程項(xiàng)目研究和實(shí)施過程中一項(xiàng)必不可少的重要技術(shù),具有很高的應(yīng)用價(jià)值和研究意義[1]。 傳統(tǒng)的應(yīng)變測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)主要包含應(yīng)變信號(hào)采集與轉(zhuǎn)換、信號(hào)放大、硬件濾波、A/D轉(zhuǎn)換、數(shù)字濾波等5 大模塊[2]。 此類傳統(tǒng)的應(yīng)變測量系統(tǒng),通常在室溫條件下該應(yīng)變測量系統(tǒng)的系統(tǒng)測量性能穩(wěn)定且誤差較低[3]。 在實(shí)際工程應(yīng)用中時(shí),由于溫度場變化復(fù)雜,系統(tǒng)電路中電阻的溫漂特性就會(huì)對(duì)應(yīng)變測量系統(tǒng)的精確度產(chǎn)生較大的影響[4]。 在應(yīng)變測量電路設(shè)計(jì)中,電路中電阻溫漂問題一直未能得到很好的解決。 對(duì)此,針對(duì)應(yīng)變測量電路中的溫漂問題,設(shè)計(jì)了一款基于程控式放大器AD8231,24位數(shù)模轉(zhuǎn)換器AD1256,RAM 處理器的高精度應(yīng)變測量系統(tǒng)方案, 通過電路優(yōu)化實(shí)現(xiàn)了溫漂補(bǔ)償,從而提高測量精度的目的。

        1 應(yīng)變測量系統(tǒng)的信號(hào)輸出及激勵(lì)源設(shè)計(jì)

        整個(gè)應(yīng)變測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)如圖1 所示。 當(dāng)機(jī)械構(gòu)件受力產(chǎn)生形變時(shí)[5],應(yīng)變片會(huì)產(chǎn)生阻值變化由應(yīng)變采集轉(zhuǎn)換模塊完成應(yīng)變信號(hào)到電信號(hào)的轉(zhuǎn)換,然后經(jīng)過放大電路進(jìn)行放大處理,再由硬件濾波電路對(duì)放大輸出信號(hào)進(jìn)行硬件濾波處理,通過A/D 轉(zhuǎn)換模塊將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字量[6],最終由STM32F103VCT6 控制器對(duì)采集數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字濾波處理,并反饋給上位機(jī)完成信息交互[7]。

        圖1 應(yīng)變測量系統(tǒng)設(shè)計(jì)框圖Fig.1 Strain measurement system design block diagram

        1.1 1/4 惠更斯橋路信號(hào)輸出

        測量試驗(yàn)中, 使用1/4 惠更斯橋路模擬應(yīng)變測量過程中的信號(hào)輸出采集端, 輸出10-6V 量級(jí)的微應(yīng)變信號(hào)。 在1/4 惠更斯橋路中使用型號(hào)為BX120-3AA 的高精度電阻式應(yīng)變片, 應(yīng)變柵尺寸為6.6 mm×3.6 mm,標(biāo)準(zhǔn)阻值為120 Ω[8]。 考慮到惠更斯橋路中電阻阻值的溫漂問題, 在1/4 橋路部分添加了雙調(diào)零補(bǔ)償電路來減小因電阻溫漂特性所帶來的測量誤差,并以此保證在應(yīng)變采集轉(zhuǎn)換過程中信號(hào)的穩(wěn)定性,如圖2 所示。

        圖2 1/4 惠更斯橋路的雙調(diào)零補(bǔ)償電路Fig.2 1/4 Huygens Bridge Road’s dual-zero compensation circuit

        1.2 激勵(lì)源的選擇和測試

        應(yīng)變測量中要求激勵(lì)源具有低噪聲、 高穩(wěn)定性、足夠的負(fù)載調(diào)整率、足夠的輸出功率等特點(diǎn)[9]。在此,采用低噪聲(最大噪聲為3.5 μV)、低溫漂(A級(jí),最大10-6/℃;B 級(jí),最大3×10-6/℃)的ADR431 作為激勵(lì)源為整個(gè)系統(tǒng)提供激勵(lì)電壓; 由LT1761ES5_5,LT3461ES6 為ADR431 提 供 穩(wěn) 定 供電電壓,以此減小激勵(lì)源紋波,保證供電電壓穩(wěn)定。對(duì)激勵(lì)電源進(jìn)行室溫和變溫條件下的電壓測試試驗(yàn)。 數(shù)據(jù)處理結(jié)果如圖3 所示。

        圖3 激勵(lì)電源實(shí)測數(shù)據(jù)處理結(jié)果Fig.3 Excitation power supply measured data processing results

        由圖3(a)可見,在室溫條件下的輸出電壓值較穩(wěn)定,其最大電壓為2.497988 V,最小電壓為2.497960 V,輸出電壓波動(dòng)幅值僅為0.000028 V;由圖3(b)可見,當(dāng)溫度從室溫升高至60 ℃時(shí),激勵(lì)源的輸出電壓值同樣十分穩(wěn)定,輸出電壓波動(dòng)幅值僅為0.000131 V。 測試結(jié)果顯示, 該激勵(lì)電壓源精度高、溫漂低,能夠滿足精密應(yīng)變測量的需求。

        2 基于INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及測試

        2.1 系統(tǒng)的放大和濾波模塊的設(shè)計(jì)

        應(yīng)變測量中應(yīng)變信號(hào)一般是微應(yīng)變級(jí)別的信號(hào),使用一般的數(shù)據(jù)采集電路根本無法識(shí)別。 因此需要對(duì)橋路的輸出信號(hào)進(jìn)行放大處理。

        放大處理電路中,選用德州儀器公司的儀表放大器INA333 搭建放大電路。 該芯片具有微功耗、零漂移、軌到軌的特性,其輸入噪聲僅為漂移電壓僅為0.1 μV/℃,0.01%建立時(shí)間僅為15 μs, 并且可通過外接增益電阻來設(shè)置其放大倍數(shù)。 為了保證應(yīng)變測量的精度,在橋路輸出信號(hào)進(jìn)入INA333 之前增加差分濾波電路,對(duì)初始放大信號(hào)進(jìn)行濾波處理;經(jīng)過INA333 放大后的信號(hào)再由TLC濾波器進(jìn)行硬件濾波處理,為后續(xù)的數(shù)字信號(hào)處理提供保障。 放大濾波電路的硬件設(shè)計(jì)如圖4 所示。

        2.2 實(shí)測數(shù)據(jù)及其分析

        在完成INA333 應(yīng)變系統(tǒng)設(shè)計(jì)后,對(duì)NA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)進(jìn)行(室溫28 ℃)測試試驗(yàn)。 將INA333應(yīng)變測量電路放置在DHG-9031A 恒溫箱中以保持室溫條件,設(shè)置應(yīng)變輸入為0,通過串口助手來記錄室溫條件下的采集數(shù)據(jù)。 其數(shù)據(jù)處理結(jié)果及實(shí)測曲線見表1。

        圖4 IN333 放大濾波電路的硬件設(shè)計(jì)Fig.4 Hardware design of the IN333 amplification filter circuit

        表1 INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)的實(shí)測數(shù)據(jù)Tab.1 Measured data of INA333 strain measurement system

        由表可知, 在室溫條件下此應(yīng)變測量系統(tǒng)的3次試驗(yàn)測試結(jié)果具有很好的可重復(fù)性。 同時(shí),室溫條件下測量誤差僅為0.102~0.135 mV, 對(duì)應(yīng)的應(yīng)變誤差為0.5004~0.675 με; 表明基于INA333 的應(yīng)變測量系統(tǒng)在室溫條件下能夠滿足設(shè)計(jì)需求。

        為模擬實(shí)際應(yīng)用中復(fù)雜的溫度環(huán)境,對(duì)此應(yīng)變測量系統(tǒng)進(jìn)行了變溫條件下的應(yīng)變測量試驗(yàn),溫度變化區(qū)間為28~60 ℃。 測試結(jié)果見表1。

        由表可知,在變溫條件下的系統(tǒng)誤差為6.902 mV,對(duì)應(yīng)的應(yīng)變誤差為34.51 με。也就是說,當(dāng)溫度變化較大時(shí), 即使應(yīng)變測量輸入為0, 系統(tǒng)也存在著34.51 με 的“虛假”輸出。

        INA333 外接增益電阻的溫度特性曲線如圖5所示。 由圖可見,增益電阻阻值的變溫變化趨勢與此應(yīng)變測量系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差測試結(jié)果的變化趨勢一致。 由于IN333 放大器具有低溫漂高精度的特性,可認(rèn)為系統(tǒng)溫漂來自外接增益電阻溫漂。

        圖5 1 kΩ 增益電阻的實(shí)測溫度特性曲線Fig.5 Measured temperature characteristic curve of 1 kΩ gain resistor

        3 基于AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)及測試

        3.1 系統(tǒng)的放大和濾波模塊的設(shè)計(jì)

        針對(duì)外接增益電阻溫漂過大導(dǎo)致應(yīng)變測量系統(tǒng)溫漂過大的問題,在此從結(jié)構(gòu)設(shè)優(yōu)化計(jì)方面提出一套基于程控式AD8231 放大器的應(yīng)變測量系統(tǒng)。

        AD8231 放大器微功耗、零漂移、軌到軌儀表放大器(輸入噪聲僅為,漂移電壓僅為0.05 μV/℃)。 同時(shí),AD8231 不需要外接增益電阻來設(shè)置增益倍數(shù), 可通過對(duì)CS,A0,A1,A2 引腳的適當(dāng)配置來設(shè)置增益倍數(shù),有效規(guī)避外接增益電阻帶來的溫漂過大的問題。此外,還可利用AD8231 內(nèi)置的運(yùn)算放大器搭建應(yīng)變?yōu)V波電路,通過簡化應(yīng)變測量電路設(shè)計(jì)以降低系統(tǒng)的溫漂。 AD8231 內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖6 所示,放大濾波電路硬件設(shè)計(jì)如圖7 所示。

        圖6 AD8231 放大器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)Fig.6 Internal structure of the AD8231 amplifier

        圖7 改進(jìn)后的放大濾波電路的原理Fig.7 Principle of improved amplifier filter circuit

        3.2 實(shí)測數(shù)據(jù)及其分析

        首先, 對(duì)AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)進(jìn)行室溫測試和變溫測試試驗(yàn), 試驗(yàn)步驟與INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)的測試步驟持一致。

        室溫28 ℃條件下基于AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)的測試數(shù)據(jù)和實(shí)測曲線見表2。由表2 可知,在室溫條件下的3 次測量結(jié)果具有很好的重復(fù)性,且系統(tǒng)測量誤差僅為0.014~0.038 mV, 對(duì)應(yīng)的應(yīng)變誤差為0.07~0.19 με。 與INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)相比,在室溫條件下AD8231 系統(tǒng)測量誤差減小了71.85%~86.2%。

        同時(shí), 對(duì)AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)進(jìn)行了變溫條件下的應(yīng)變測量試驗(yàn),溫度變化區(qū)間為28~60 ℃。測試結(jié)果見表2。

        由表1 可知,INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)在變溫條件下的系統(tǒng)誤差為6.902 mV, 對(duì)應(yīng)的應(yīng)變誤差為34.51 με。 也就是當(dāng)溫度變化較大的時(shí)候,即使應(yīng)變測量輸入為0 時(shí),系統(tǒng)也存在著34.51 με 的“虛假”輸出。

        表2 AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差試驗(yàn)數(shù)據(jù)Tab.2 System error experimental data of AD8231 strain measurement system

        由表2 可知,AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)在變溫條件下的系統(tǒng)誤差為0.233~0.310 mV, 對(duì)應(yīng)的應(yīng)變誤差為1.165~1.52 με。 此結(jié)果表明AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)在變溫區(qū)間的測試精度得到大幅度提升,與INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)相比,其溫漂改善了95.59%~96.62%。

        4 結(jié)語

        設(shè)計(jì)了INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng), 并對(duì)該系統(tǒng)進(jìn)行了試驗(yàn)測試和分析研究, 找到了主要溫漂來源——外接增益電阻;針對(duì)溫漂過大的問題提出了程控式AD8231 應(yīng)變測量方案。 通過這2 系統(tǒng)的試驗(yàn)測試結(jié)果的對(duì)比, 表明AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)不僅能夠很好地解決放大電路中外接增益電阻溫漂產(chǎn)生的應(yīng)變測量誤差問題,同時(shí)優(yōu)化了應(yīng)變測量電路的設(shè)計(jì)。 試驗(yàn)結(jié)果表明,AD8231 應(yīng)變測量系統(tǒng)的測量精度在變溫條件下,可以達(dá)到1.52 με,與INA333 應(yīng)變測量系統(tǒng)相比, 其溫漂改善了95.59%~96.62%,對(duì)解決實(shí)際工程中精密應(yīng)變測量的溫漂問題具有重要的指導(dǎo)意義。

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