張旭輝 王媛媛 董建婷 汪洲 王殿中,2

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CCD視頻信號處理器件單粒子效應(yīng)試驗

張旭輝1王媛媛1董建婷1汪洲1王殿中1,2

（1 北京空間機電研究所，北京 100094）（2 先進光學(xué)遙感技術(shù)北京市重點實驗室，北京 100094）

文章利用重離子地面模擬源，采用圖像分析方法，開展了CCD視頻信號處理器件單粒子效應(yīng)系統(tǒng)性試驗與測試研究。首先介紹了器件單粒子效應(yīng)（SEE）試驗方案、試驗測試系統(tǒng)組成；然后通過試驗研究獲得了器件單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）和單粒子鎖定（SEL）特征參數(shù)，評估了視頻信號處理器件單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子鎖定效應(yīng)對系統(tǒng)成像性能的影響。試驗結(jié)果表明：地面試驗測試系統(tǒng)可有效實時判斷、統(tǒng)計該器件單粒子效應(yīng)發(fā)生事件，并能直觀實時觀察到單粒子事件發(fā)生時遙感圖像的變化；視頻信號處理器件隨著重離子LET值增大，其單粒子截面呈增加趨勢，器件對重離子誘發(fā)的單粒子效應(yīng)比較敏感；單粒子鎖定對光學(xué)遙感器成像任務(wù)的危害程度高于單粒子翻轉(zhuǎn)。最后給出了采取單粒子鎖定防護建議。

視頻信號處理器件 單粒子效應(yīng) 試驗 重離子 航天遙感

0 引言

隨著電子技術(shù)和衛(wèi)星光學(xué)遙感技術(shù)的不斷發(fā)展，光學(xué)遙感器電子設(shè)備中使用了集成度高、工藝復(fù)雜的現(xiàn)場可編程門陣列（Field-Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA）、可編程只讀存儲器（Programmable Read-Only Memory，PROM）、CCD視頻信號處理器等大規(guī)模集成電路，但同時空間環(huán)境中以單粒子效應(yīng)為代表的輻射效應(yīng)也對這些器件的可靠性造成了嚴(yán)重威脅[[1-3]，從而使在軌設(shè)備或系統(tǒng)面臨發(fā)生故障甚至任務(wù)失敗的風(fēng)險[4-5]。近年針對FPGA、PROM的單粒子效應(yīng)分析、試驗測試技術(shù)研究逐漸深入，獲取了較為成熟的單粒子效應(yīng)試驗、檢測及評估方法[6-9]，而對CCD視頻信號處理器件的單粒子效應(yīng)試驗研究報道較少。視頻信號處理器件是光學(xué)遙感器光電信號處理系統(tǒng)的關(guān)鍵器件，其器件內(nèi)部一般集成了相關(guān)雙采樣（CDS）、可調(diào)增益放大（PGA）、暗電平鉗位校正、參考電壓、AD轉(zhuǎn)換、輸出緩沖、串口配置、時序邏輯發(fā)生等模塊，其中相關(guān)雙采樣和AD轉(zhuǎn)換模塊是最主要的模塊，也是大多數(shù)CCD視頻處理器件的必備模塊。視頻信號處理器件至少包含CMOS模擬開關(guān)、運算放大器（比較器，增益放大）、CMOS邏輯器件等對單粒子效應(yīng)敏感的電路單元，單粒子效應(yīng)可能會引起CCD視頻信號處理器件的性能參數(shù)（轉(zhuǎn)換精度、誤碼率、功耗等）退化、甚至功能失效，最終使遙感器圖像失真、直至圖像功能喪失[10]。本文針對光學(xué)遙感器光電信號處理系統(tǒng)中使用的CCD視頻信號處理器件，選擇ADI公司生產(chǎn)的AD系列器件作為試驗研究對象，利用重離子地面模擬源，采用圖像分析方法，開展了器件單粒子效應(yīng)系統(tǒng)性試驗與測試研究，評估了視頻信號處理器件的單粒子效應(yīng)敏感性及其單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子鎖定效應(yīng)對系統(tǒng)成像性能的影響。

1 試驗測試系統(tǒng)

1.1 試驗方案

試驗器件采用ADI公司生產(chǎn)的視頻信號處理器件（型號AD9942，14 bit數(shù)字量化，雙通道），工作電壓3.3V，最大相關(guān)雙采樣頻率為40MHz，質(zhì)量等級為工業(yè)級。試驗器件試驗前做專業(yè)開帽處理[7]，以保證重離子能夠射入器件靈敏區(qū)內(nèi)。

針對CCD視頻信號處理器件，建立單粒子效應(yīng)試驗測試系統(tǒng)[11-12]。試驗測試系統(tǒng)包括重離子輻射源設(shè)備、CCD模擬信號源電路、信號處理電路、數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路、電源轉(zhuǎn)換及監(jiān)測電路、數(shù)據(jù)采集記錄設(shè)備、遠程監(jiān)控系統(tǒng)及測溫系統(tǒng)等。試驗器件位于信號處理電路中。

電路性能指標(biāo)：電源為±5V，3.3V；信號頻率為12MHz；數(shù)據(jù)合成頻率為72MHz。

信號處理電路置于真空靶室內(nèi)，在真空條件下，試驗器件接受重離子輻照。輔助電路就近放置在真空靶室外的輻照試驗室內(nèi)，用鋁盒進行屏蔽，防止電磁干擾。

試驗測試系統(tǒng)布局如圖1所示。

試驗過程中，通過單粒子效應(yīng)檢測軟件，統(tǒng)計單粒子效應(yīng)事件，并通過觀測器件電源端電流、系統(tǒng)圖像數(shù)據(jù)及圖像變化，對單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）、單粒子鎖定（SEL）進行識別判定，最終獲取器件單粒子翻轉(zhuǎn)和單粒子鎖定特征參數(shù)。

（1）試驗電路設(shè)計

CCD模擬信號源電路模擬4 096元CCD探測器輸出的視頻信號，同時提供采集CCD視頻信號所需的時鐘、行同步、幀同步等數(shù)字信號。CCD模擬信號的輸出幅值和頻率可以根據(jù)需要進行設(shè)置調(diào)整。

信號處理電路中包含視頻信號處理器件（AD9942）、濾波放大器、FPGA、電源芯片等器件，實現(xiàn)信號模數(shù)轉(zhuǎn)換、電源轉(zhuǎn)換濾波、數(shù)據(jù)緩沖、數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)格式轉(zhuǎn)換等功能。其中，4只雙通道視頻信號處理器件對應(yīng)于4 096元線陣探測器CCD（8×512）的8通道視頻輸出，實現(xiàn)視頻信號的采集處理。

電源轉(zhuǎn)換及監(jiān)測電路為各電路提供所需的各種電源并對器件工作電流進行監(jiān)測，同時實現(xiàn)RS422接口信號轉(zhuǎn)換。電流超過正常范圍切斷輸入電流，直至單粒子事件消除后恢復(fù)供電。

數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路將視頻處理器件輸出的CCD圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)成數(shù)據(jù)采集記錄設(shè)備所需的數(shù)據(jù)格式，通過Cameralink圖像傳輸接口輸出。

（2）數(shù)據(jù)采集記錄設(shè)備

采用加拿大公司的CLFC Full圖像卡實現(xiàn)高速大數(shù)據(jù)量圖像數(shù)據(jù)采集記錄，其數(shù)據(jù)采集記錄設(shè)備及其軟件具有數(shù)據(jù)實時記錄顯示、數(shù)據(jù)回放及處理、圖像處理等功能，滿足試驗中數(shù)據(jù)采集和記錄等需求。采集存儲系統(tǒng)結(jié)構(gòu)見圖2。

圖1 在線試驗測試系統(tǒng)連接示意

（3）遠程監(jiān)控

通過RS422串口通訊接口信號轉(zhuǎn)換接口，實現(xiàn)對信號處理電路的遠程控制，通過網(wǎng)線傳輸實現(xiàn)對測試數(shù)據(jù)的遠程監(jiān)測。

（4）測溫系統(tǒng)

采用熱電偶及溫度數(shù)據(jù)采集設(shè)備實現(xiàn)電路中FPGA、視頻處理器件等關(guān)鍵器件殼溫的實時測量，其測試數(shù)據(jù)用于分析試驗過程中溫度敏感器件工作溫度的穩(wěn)定性。

（5）輻射源

試驗選用HI-13串列靜電加速器[13]，選用4種不同線性能量傳輸（Linear Energy Transfer，LET）值的重離子進行試驗，試驗離子參數(shù)見表1。

圖2 采集存儲系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

表1 重離子參數(shù)

Tab.1 Parameters of heavy ion

1.2 測試方法

通過單粒子效應(yīng)測試軟件[12,14]獲取單粒子事件信息，通過測試和分析器件電源輸入端工作電流的變化進一步區(qū)分SEU或SEL單粒子事件類別[15]。

測試軟件包括下位機和上位機兩部分，下位機部分通過信號處理電路中FPGA預(yù)置的像元灰度（Digital Number，DN）均值和正常變化范圍實現(xiàn)對8個CCD通道發(fā)生單粒子事件的實時判斷，并增加了對每個通道的統(tǒng)計位，用以記錄各通道事件次數(shù)的累加統(tǒng)計值，隨數(shù)據(jù)一起通過串口傳輸至監(jiān)控計算機（上位機）；上位機部分實現(xiàn)視頻圖像的快視并將數(shù)據(jù)實時傳輸?shù)酱疟P陣列進行記錄，為便于數(shù)據(jù)回讀及分析，在通用視頻數(shù)據(jù)采集軟件Stream 5.0版本的基礎(chǔ)上進行二次開發(fā)，使軟件可以獨立于下位機輸入均值和正常變化范圍，統(tǒng)計試驗過程中圖像數(shù)據(jù)的所有溢出，并將溢出像元的灰度值及其所在行列號，記錄成txt文件備查。只要出現(xiàn)數(shù)據(jù)值溢出，即可通過界面消息顯示，獲取單粒子事件信息。

CCD圖像數(shù)據(jù)通過信號處理和數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后進入數(shù)采設(shè)備（IO公司的CLFC采集卡），并最終由網(wǎng)線傳送到監(jiān)控計算機，監(jiān)控計算機監(jiān)控界面可同時顯示單粒子翻轉(zhuǎn)信息、圖像數(shù)據(jù)，并可切換顯示相對應(yīng)的快視圖像，每行數(shù)據(jù)為4 104列，其中0~7列為器件單粒子翻轉(zhuǎn)通道統(tǒng)計位，8~4103列為CCD器件（8×512）4 096個像元圖像數(shù)據(jù)量化DN值顯示位。圖像數(shù)據(jù)區(qū)可顯示灰度圖像，也可切換為顯示圖像的原始數(shù)據(jù)。

考慮器件的實際工作狀態(tài)和環(huán)境噪聲，軟件對器件高9位的數(shù)據(jù)信息是否溢出進行判別（其余位因噪聲因素等視為等概率事件），通過監(jiān)控計算機界面獲取單粒子事件信息。

此外，通過回讀事件發(fā)生時刻的圖像數(shù)據(jù)并與已知數(shù)據(jù)比較，對單粒子事件結(jié)果進行再確認，以防止虛警情況發(fā)生。

電源端工作電流通過電源監(jiān)測電路獲取，試驗前，通過穩(wěn)壓直流電源預(yù)先設(shè)置過電流保護值，實現(xiàn)系統(tǒng)過流保護功能。

當(dāng)發(fā)現(xiàn)器件電源電流超過正常范圍時，記錄發(fā)生過流現(xiàn)象的時間和次數(shù)。根據(jù)過流現(xiàn)象發(fā)生的時間調(diào)取當(dāng)時的圖像數(shù)據(jù)，確定單粒子鎖定的發(fā)生及對成像功能的影響。

正常情況下，器件電源輸入端工作電流：365mA（4只器件總電流），預(yù)設(shè)過流保護值1.25A；器件高9位的像元DN值（模擬輸入600mV）：5 503±127（均值5 503，變化范圍5 376~5 630）。

2 試驗結(jié)果及分析

2.1 單粒子事件現(xiàn)象分析

試驗過程中觀測到器件發(fā)生單粒子效應(yīng)的故障模式主要表現(xiàn)為器件電源端電流增大、圖像輸出異常，圖像輸出異常表現(xiàn)為圖像灰度變化及無輸出。

單粒子翻轉(zhuǎn)發(fā)生時，可觀測到單個、多個像元圖像數(shù)據(jù)DN值的變化的情形，器件電源端工作電流處于正常波動范圍362~365mA。

單粒子鎖定發(fā)生時，可觀測到圖像數(shù)據(jù)DN值整行輸出交替變化及DN值輸出為0的情形，器件電源端工作電流明顯變化，最小480mA，最大1 000mA。

試驗過程中器件均發(fā)生了單粒子翻轉(zhuǎn)和單粒子鎖定事件。

圖3為器件發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)時典型的軟件識別數(shù)據(jù)、圖像（多幀）、圖像數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的部分圖像界面（單幀）。從監(jiān)控界面可以看到器件在試驗過程中發(fā)生了1次單粒子翻轉(zhuǎn)（圖3（a）），其對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)量化值溢出正常范圍，DN值為5 211，在圖中數(shù)字2 558列，對應(yīng)CCD的第2 051個像元（圖3（b））。

圖4為器件發(fā)生單粒子鎖定時典型的軟件識別數(shù)據(jù)、圖像（多幀）、圖像數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的部分圖像界面（單幀）。從監(jiān)控界面可以看到器件（對應(yīng)圖中第3列數(shù)據(jù)）發(fā)生了1次單粒子鎖定（圖4（a）），其對應(yīng)的圖像數(shù)據(jù)量化值溢出正常范圍，DN數(shù)值為0，在圖中數(shù)字1 544~2 056列，對應(yīng)CCD的第1 537~2 048個像元（圖4（b）），發(fā)生1次單粒子鎖定對應(yīng)的快視圖像與試驗前相比發(fā)生了明顯變化，無單幀圖像輸出，顯示黑條（圖4（c））。鎖定時監(jiān)測到器件電源端工作電流647mA。

圖3 典型單粒子翻轉(zhuǎn)事件監(jiān)控界面

從系統(tǒng)圖像故障模式可以看出，單粒子翻轉(zhuǎn)引起單個像元的圖像數(shù)據(jù)發(fā)生變化時，其對系統(tǒng)圖像的影響甚微，而單粒子鎖定一旦發(fā)生，多個像元圖像數(shù)據(jù)連續(xù)變化，對圖像的影響則顯而易見，其影響程度更甚。

2.2 試驗數(shù)據(jù)分析

對試驗過程關(guān)鍵器件（FPGA、AD9942）溫度數(shù)據(jù)及環(huán)境溫度數(shù)據(jù)進行處理，獲取試驗過程溫度變化曲線，如圖5所示。數(shù)據(jù)處理結(jié)果顯示，試驗過程關(guān)鍵器件溫度相對穩(wěn)定，不會對器件性能和試驗結(jié)果產(chǎn)生影響。

對試驗過程中多種離子相應(yīng)注量下的單粒子事件數(shù)（鎖定與翻轉(zhuǎn)）進行統(tǒng)計，可計算出單粒子事件截面

()=()/() （1）

式中為不同LET離子的種類數(shù)；()為第種LET離子的單粒子事件截面；()為第種LET離子測得的單粒子事件數(shù)；()為第種LET離子的總注量。

圖5 關(guān)鍵器件溫度數(shù)據(jù)變化曲線

單粒子事件截面見表2。

表2 器件單粒子事件截面

Tab.2 SEE cross section of the component

根據(jù)重離子參數(shù)及單粒子事件截面數(shù)據(jù)，獲取器件單粒子截面與入射離子LET的關(guān)系，見圖6。

從圖6中可以看出，隨著入射離子LET值的增加，其單粒子截面呈增加趨勢，器件對重離子誘發(fā)的單粒子效應(yīng)比較敏感，單粒子翻轉(zhuǎn)LET閾值小于4.43MeV·cm2·mg–1，單粒子鎖定LET閾值在4.43～9.43 MeV·cm2·mg–1之間。

3 結(jié)束語

研究結(jié)果表明，試驗測試系統(tǒng)可有效實時判斷、統(tǒng)計單粒子效應(yīng)發(fā)生事件，并能直觀實時觀察到單粒子事件發(fā)生時用信號灰度值表達的遙感圖像的變化；隨著入射離子LET值的增加，其單粒子截面呈增加趨勢，器件對重離子誘發(fā)的單粒子效應(yīng)比較敏感，器件單粒子鎖定對光學(xué)遙感器成像任務(wù)的危害程度高于單粒子翻轉(zhuǎn)；對于LET閾值不能滿足任務(wù)要求的器件，采取防護措施是必要的[12]。

實際工程應(yīng)用中，需從應(yīng)用角度結(jié)合單粒子效應(yīng)對系統(tǒng)性能的危害程度及系統(tǒng)所擔(dān)負的任務(wù)，突出重點，解決電路的空間環(huán)境適應(yīng)性問題。除選用單粒子免疫的加固器件外，應(yīng)主要在軟、硬件方面進行電路加固設(shè)計或系統(tǒng)冗余實施防護[10]。

根據(jù)視頻處理器件單粒子試驗結(jié)果，應(yīng)對危害極大的單粒子鎖定進行重點防護[15]，有效的防護措施主要有兩方面，一方面通過合理設(shè)計減少出現(xiàn)SEL的概率，另一方面是SEL發(fā)生后，有效抑制SEL現(xiàn)象，并防止其造成的危害擴大化。

值得說明的是，不管是主動減少SEL的設(shè)計措施還是采用被動的SEL擬制措施，都應(yīng)和電路、系統(tǒng)進行融合嵌入式設(shè)計，以達到既能實現(xiàn)系統(tǒng)任務(wù)功能又能避免或解除單粒子鎖定的雙重目的。

[1] 都亨, 葉宗海.低軌道航天器空間環(huán)境手冊[M].北京: 國防工業(yè)出版社, 1996. DU Heng,YE Zonghai.Space Environment Manual for Low Orbit Spacecraft[M].Beijing: National Defense Industry Press, 1996.(in Chinese)

[2] 丁義剛.空間輻射環(huán)境單粒子效應(yīng)研究[J].航天器環(huán)境工程, 2007, 24(5): 283-290.DING Yigang.Single Event Effects in Space Radiation Environment[J].Spacecraft Environment Engineering, 2007, 24(5): 283-290.(in Chinese)

[3] 王同權(quán), 沈永平, 王尚武.空間輻射環(huán)境中的輻射效應(yīng)[J].國防科技大學(xué)學(xué)報,1999, 21(4): 36-39. WANG Tongquan,SHEN Yongping,WANG Shangwu.Radiation Effects in the Space Radiation Environment[J].Journal of National University of Defense Technology,1999, 21(4): 36-39.(in Chinese)

[4] 薛玉雄, 楊生勝, 把得東.空間輻射環(huán)境誘發(fā)航天器故障或異常分析[J].真空與低溫, 2012, 18(2): 63-70. XUE Yuxiong, YANG Shengsheng, BA Dedong.Analyze of Spacecraft System Failures and Anomalies Attributed to the Natural Space Radiation Environment[J].Vacuum & Cryogenics,2012, 18(2): 63-70.(in Chinese)

[5] 朱光武, 李保權(quán).空間環(huán)境對航天器的影響及其對策研究[J].上海航天, 2002, 19(4): 1-7. ZHU Guangwu,LI Baoquan.Space Environment Effect and Countermeasure Research on Spacecraft[J].Aerospace Shanghai,2002, 19(4): 1-7.(in Chinese)

[6] 王忠明, 姚志斌, 郭紅霞.SRAM型FPGA的靜態(tài)與動態(tài)單粒子效應(yīng)試驗[J].原子能科學(xué)技術(shù), 2011, 45(12): 1506-1510. WANG Zhongming,YAO Zhibin,GUO Hongxia.Static and Dynamic Tests of Single-event Effect in SRAM-based FPGA[J].Atomic Energy Science and Technology,2011, 45(12): 1506-1510.(in Chinese)

[7] 孟猛, 唐民, 于慶奎, 等.CCD外圍商用器件單粒子效應(yīng)試驗研究[J].核電子學(xué)與探測技術(shù), 2011,31(4): 428-435. MENG Meng, TANG Min, YU Qingkui, et al.The Study of Single Event Effects on CCD Related Commercial Integrated Circuits[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2011,31(4): 428-435.(in Chinese)

[8] 宋凝芳, 朱明達, 潘雄.SRAM型FPGA單粒子效應(yīng)試驗研究[J].宇航學(xué)報, 2012, 33(6): 836-842.SONG Ningfang, ZHU Mingda, PAN Xiong.Experimental Study of Single Event Effects in SRAM-based FPGA[J].Journal of Astronautics,2012, 33(6): 836-842.(in Chinese)

[9] 王斌.重離子輻照微納級SRAM器件單粒子效應(yīng)研究[D].蘭州: 中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院近代物理研究所), 2017. WANG Bin.Investigation of Single Event Effects Induced by Heavy Ions in Micro/Nano SRAM Devices[D].Lanzhou: University of Chinese Academy of Sciences (Institute of Modern Physics), 2017.(in Chinese)

[10] 董建婷, 張旭輝.光學(xué)遙感器光電信號處理系統(tǒng)的空間輻射效應(yīng)研究[J].航天返回與遙感, 2009, 30(4): 57-62. DONG Jianting,ZHANG Xuhui.Space Radiation Effect on Photoelectric Signal Processing System of Optical Remote Sensor[J].Spacecraft Recovery & Remote Sensing,2009, 30(4): 57-62.(in Chinese)

[11] 陳晨, 徐微, 張善從.Flash型FPGA單粒子效應(yīng)測試系統(tǒng)設(shè)計[J].電子測量技術(shù), 2014, 37(9): 70-78. CHEN Chen,XU Wei,ZHANG Shancong.Design of Single Event Effect Testing System on Flash-based FPGA[J].Electronic Measurement Technology,2014, 37(9): 70-78.(in Chinese)

[12] 劉建成,李志常,李淑媛.重離子輻照效應(yīng)檢測系統(tǒng)的研制[J].原子能科學(xué)技術(shù), 2004, 38(增刊): 227-230.LIU Jiancheng,LI Zhichang,LI Shuyuan.The Test System for the Study on Irradiation Effects Induced by Heavy Ions[J].Atomic Energy Science and Technology,2004, 38(z1): 227-230.(in Chinese)

[13] 趙大鵬, 唐民. 采用串列靜電加速器進行單粒子效應(yīng)模擬試驗研究[J]. 宇航學(xué)報, 1995, 16(2): 85-89.ZHAO Dapeng,TANG Min.The Simulation Test Research of Single Event Effect by Tandem Accelerator[J].Journal of Astronautics, 1995, 16(2): 85-89. (in Chinese)

[14] 賀朝會, 李國政, 羅晉生.CMOS SRAM單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的解析分析[J].半導(dǎo)體學(xué)報, 2000, 21(2): 174-177.HE Chaohui,LI Guozheng,LUO Jinsheng.Analysis of Single Event Upset in CMOS SRAMs[J].Chinese Journal of Semicon Ductors,2000, 21(2): 174-177.(in Chinese)

[15] 楊世宇, 曹洲, 薛玉雄.空間單粒子鎖定及防護技術(shù)研究[J].核電子學(xué)與探測技術(shù),2008, 28(5): 945-948.YANG Shiyu,CAO Zhou,XUE Yuxiong.Research on the Single Event Latchup in the Space and It’s Protechtion Technology[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2008, 28(5): 945-948.(in Chinese)

Study on Single Event Effect Test of CCD Video Device

ZHANG Xuhui1WANG Yuanyuan1DONG Jianting1WANG Zhou1WANG Dianzhong1,2

（1 Beijing Institute of Space Mechanics & Electricity, Beijing 100094, China）（2 Beijing Key Laboratory of Advanced Optical Remote Sensing Technology, Beijing 100094, China）

The system test research of single event effects on CCD video signal processor was carried out byheavy-ion source and image analysis method in the paper. The structure of test system and the test schemes were detailedly introduced at first. Then the SEU/SEL characteristic parameters were acquired, and the SEE/SEL effects on the imaging performance of the system were evaluated. The results show that the test system can effectively and timely judge the SEEs, and visually display the corresponding change of the remote sensing image. With the increase of the LET value of heavy iron, the cross section of single event enlarges, and the device becomes more sensitive to SEE induced by heavy-ion. SEL is more harmful to optical remote sensor imaging mission than SEU. Lastly, suggestion is given about adopting systematic enhanced measure for SEL.

video signal processor; single event effects; test; heavy-ion; space remote sensing

V1

A

1009-8518(2018)06-0072-08

10.3969/j.issn.1009-8518.2018.06.009

2018-02-13

張旭輝，女，1966年生，1987年獲北京理工大學(xué)光學(xué)儀器專業(yè)學(xué)士學(xué)位，高級工程師。主要研究方向為光學(xué)遙感器總體設(shè)計和試驗。E-mail：zhangxuhui93@163.com。

（編輯：王麗霞）