徐立杰

天津通廣集團振通電子有限公司 天津 300000

1 電子產(chǎn)品硬件測試的意義

電子產(chǎn)品硬件測試的目的在于發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品的潛在問題，以提高電子產(chǎn)品質(zhì)量，完善電子產(chǎn)品功能，提高用戶滿意度。就電子產(chǎn)品硬件測試的意義來看，不僅要找到故障點，還要明確故障原因及位置，令設(shè)計者明確電子產(chǎn)品設(shè)計中存在的不足，進而優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計，改進電子產(chǎn)品功能，爭取達(dá)到完美的電子產(chǎn)品。

2 電子產(chǎn)品硬件測試技術(shù)的類型及方式

（1）信號質(zhì)量測試。信號質(zhì)量測試即利用測試單板上的相關(guān)信號，依附于信號類型的差異，通過不同的指標(biāo)去衡量信號的質(zhì)量，同時對信號質(zhì)量予以分析，進而找到系統(tǒng)設(shè)計所存在的弊病。研發(fā)工作者依附于已有的信號質(zhì)量及CAS Latency調(diào)試，在單板調(diào)試過程中完成對單板信號質(zhì)量的整體測試，在此基礎(chǔ)上予以詳盡的記錄。

（2）CASLatency測試。對板內(nèi)信號CAS Latency予以調(diào)試，檢測信號實際CAS Latency關(guān)系是否達(dá)到相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，有無滿足器件需求;研究設(shè)計余量，分析單板工作的穩(wěn)定性。開發(fā)工作者依附于既有的信號質(zhì)量及CAS Latency調(diào)試，在單板調(diào)試過程中完成對單板CL值(包括邏輯外部CL值)的整體測試。

（3）靜電防護測試。一旦電子產(chǎn)品防護不到位，靜電極易進入及其內(nèi)部，導(dǎo)致電子產(chǎn)品硬件受損，影響硬件線路電位穩(wěn)定性，甚至影響電子產(chǎn)品內(nèi)部程序的正常運行。因此在電子產(chǎn)品硬件測試的過程中，要切實做好靜電防護檢測工作，令I(lǐng)SR分別顯示不同的字符串，以便科學(xué)判斷靜電路徑，對電子產(chǎn)品內(nèi)部機構(gòu)進行妥善修改，拓寬保護回路，從而提高電子產(chǎn)品設(shè)計的科學(xué)性。

（4）極端環(huán)境測試。通常來說電子產(chǎn)品的設(shè)計與研發(fā)都是在正常的環(huán)境下進行的，但最終產(chǎn)品的使用可能會在嚴(yán)峻的環(huán)境中使用，幸運的是這些問題都與軟件無關(guān)，通常包括氣候類中的低溫儲存，低溫工作，熱測試，高溫極限實驗，高溫儲存，高溫工作，溫度循環(huán)等自然環(huán)境測試，又包括像包裝隨機震動，包裝跌落，地震實驗，包裝碰撞實驗。工作沖擊試驗等機械震動類環(huán)境或者惡劣環(huán)境造成零件破壞或者特性發(fā)生改變。

（5）功能測試。對電子產(chǎn)品硬件功能測試是依附于硬件設(shè)計報告中的功能指標(biāo)予以測試，檢測設(shè)計有無達(dá)到要求。電子產(chǎn)品硬件功能測試即為系統(tǒng)功能實現(xiàn)的先決條件。如被測目標(biāo)和其規(guī)格指標(biāo)，宏觀/細(xì)節(jié)設(shè)計文檔間存在不同，都要予以細(xì)致的描述。電子產(chǎn)品硬件功能測試內(nèi)容主要包括下述幾點：①電源；②中央處理器；③Logic；④復(fù)位；⑤倒換；⑥monitor；⑦Clock。

（6）電磁兼容性測試。所以得的電子產(chǎn)品中的系統(tǒng)或多或少都有些噪聲，輕微的噪聲不會對電子產(chǎn)品本身造成什么不利的影響，只有當(dāng)噪聲影響到系統(tǒng)的正常運行是電子產(chǎn)品才會出現(xiàn)問題，基本上噪聲問題是不可能完全被屏蔽掉的，但是可以經(jīng)過適當(dāng)?shù)母倪M，像接地，與濾波等。就可以將噪聲對電子產(chǎn)品系統(tǒng)的影響盡可能的降到最低。一個良好的電路設(shè)計，預(yù)防要好于發(fā)生問題后再修改。所以在產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計環(huán)節(jié)就做好噪聲的防治工作，是做成高質(zhì)量低噪聲產(chǎn)品的重要工作。

（7）性能測試。意思就是容限測試，是指系統(tǒng)正常工作的輸入允許變化的范圍。容限測試的目的是通過電子產(chǎn)品的硬件測試詳細(xì)知道設(shè)備在什么樣的范圍下可以正常工作。什么條件下會出現(xiàn)故障，優(yōu)缺點是什么，根據(jù)產(chǎn)品設(shè)計規(guī)格書的要求，通過硬件測試的元件的實力降額范圍，并找到它的里極限值，進而可以保證產(chǎn)品的可靠性設(shè)計。

3 電子產(chǎn)品硬件測試的級別

電子產(chǎn)品硬件測試依附于系統(tǒng)的繁瑣性通常分為下述幾個級別：（1）單元測試。針對獨立功能單元予以測試；（2）集成測試。對具有集成性的下屬系統(tǒng)予以測試；（3）系統(tǒng)測試。對完整的系統(tǒng)予以全面的測試。電子產(chǎn)品的硬件測試切勿只局限于一個層次，我們要忽視層次間的界限。層與層之間的配合很容易存在潛在的隱患，舉例說明，單板軟件和硬件邏輯配合、高層軟件和單板軟件的配合都很可能存在問題，因此我們可依附于下屬子系統(tǒng)予以劃分。

4 電子產(chǎn)品的硬件測試中的問題解決

（1）問題種類確認(rèn)。應(yīng)用硬件測試技術(shù)對電子產(chǎn)品進行質(zhì)量檢測時，需做好硬件測試問題種類的確認(rèn)工作。一般情況下，測試問題主要分為兩種類別，一是在硬件測試過程中可重復(fù)出現(xiàn)的問題，二是在硬件測試過程中不可重復(fù)出現(xiàn)的問題。電子產(chǎn)品硬件測試過程中，可重復(fù)出現(xiàn)的問題有的表現(xiàn)為不定時出現(xiàn)，有的則表現(xiàn)為每次故障測試過程中都會出現(xiàn)。電子產(chǎn)品硬件測試過程中，僅僅出現(xiàn)過一次就再也不曾出現(xiàn)的問題，就是所謂的不可重復(fù)出現(xiàn)的問題。只有明確可重復(fù)出現(xiàn)問題與不可重復(fù)出現(xiàn)問題，才能夠做好電子產(chǎn)品硬件測試問題種類的確認(rèn)工作，為電子產(chǎn)品硬件測試問題的跟蹤與解決提供有利條件。

（2）測試問題跟蹤和解決辦法。在電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測過程中，通過硬件測試發(fā)現(xiàn)測試問題后，負(fù)責(zé)硬件測試的工程師將測試問題反饋至相關(guān)部門，相關(guān)部門經(jīng)理審批后，轉(zhuǎn)發(fā)給電子產(chǎn)品設(shè)計師，由電子產(chǎn)品設(shè)計師就問題進行處理，優(yōu)化電子產(chǎn)品功能，之后再將處理完成的問題返還至相關(guān)部門，相關(guān)部門經(jīng)審批后再返還給測試部門經(jīng)理，測試部門經(jīng)濟將處理后的測試問題返還給硬件測試工程師，工程師再次開展硬件測試，至此完成電子產(chǎn)品整個硬件測試問題跟蹤和解決辦法，從而確保電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測的有效性。

總之，電子產(chǎn)品的硬件測試技術(shù)在產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)中起著的地方重要的作用，做好電子產(chǎn)品的硬件測試，從而做好電子產(chǎn)品的質(zhì)量檢測工作有利于一個公司的可持續(xù)性發(fā)展，所以企業(yè)要重視這一相關(guān)技術(shù)的發(fā)展，并逐漸完善。