徐立杰

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1 電子產(chǎn)品硬件測(cè)試的意義

電子產(chǎn)品硬件測(cè)試的目的在于發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品的潛在問題，以提高電子產(chǎn)品質(zhì)量，完善電子產(chǎn)品功能，提高用戶滿意度。就電子產(chǎn)品硬件測(cè)試的意義來看，不僅要找到故障點(diǎn)，還要明確故障原因及位置，令設(shè)計(jì)者明確電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)中存在的不足，進(jìn)而優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)電子產(chǎn)品功能，爭取達(dá)到完美的電子產(chǎn)品。

2 電子產(chǎn)品硬件測(cè)試技術(shù)的類型及方式

（1）信號(hào)質(zhì)量測(cè)試。信號(hào)質(zhì)量測(cè)試即利用測(cè)試單板上的相關(guān)信號(hào)，依附于信號(hào)類型的差異，通過不同的指標(biāo)去衡量信號(hào)的質(zhì)量，同時(shí)對(duì)信號(hào)質(zhì)量予以分析，進(jìn)而找到系統(tǒng)設(shè)計(jì)所存在的弊病。研發(fā)工作者依附于已有的信號(hào)質(zhì)量及CAS Latency調(diào)試，在單板調(diào)試過程中完成對(duì)單板信號(hào)質(zhì)量的整體測(cè)試，在此基礎(chǔ)上予以詳盡的記錄。

（2）CASLatency測(cè)試。對(duì)板內(nèi)信號(hào)CAS Latency予以調(diào)試，檢測(cè)信號(hào)實(shí)際CAS Latency關(guān)系是否達(dá)到相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，有無滿足器件需求;研究設(shè)計(jì)余量，分析單板工作的穩(wěn)定性。開發(fā)工作者依附于既有的信號(hào)質(zhì)量及CAS Latency調(diào)試，在單板調(diào)試過程中完成對(duì)單板CL值(包括邏輯外部CL值)的整體測(cè)試。

（3）靜電防護(hù)測(cè)試。一旦電子產(chǎn)品防護(hù)不到位，靜電極易進(jìn)入及其內(nèi)部，導(dǎo)致電子產(chǎn)品硬件受損，影響硬件線路電位穩(wěn)定性，甚至影響電子產(chǎn)品內(nèi)部程序的正常運(yùn)行。因此在電子產(chǎn)品硬件測(cè)試的過程中，要切實(shí)做好靜電防護(hù)檢測(cè)工作，令I(lǐng)SR分別顯示不同的字符串，以便科學(xué)判斷靜電路徑，對(duì)電子產(chǎn)品內(nèi)部機(jī)構(gòu)進(jìn)行妥善修改，拓寬保護(hù)回路，從而提高電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)的科學(xué)性。

（4）極端環(huán)境測(cè)試。通常來說電子產(chǎn)品的設(shè)計(jì)與研發(fā)都是在正常的環(huán)境下進(jìn)行的，但最終產(chǎn)品的使用可能會(huì)在嚴(yán)峻的環(huán)境中使用，幸運(yùn)的是這些問題都與軟件無關(guān)，通常包括氣候類中的低溫儲(chǔ)存，低溫工作，熱測(cè)試，高溫極限實(shí)驗(yàn)，高溫儲(chǔ)存，高溫工作，溫度循環(huán)等自然環(huán)境測(cè)試，又包括像包裝隨機(jī)震動(dòng)，包裝跌落，地震實(shí)驗(yàn)，包裝碰撞實(shí)驗(yàn)。工作沖擊試驗(yàn)等機(jī)械震動(dòng)類環(huán)境或者惡劣環(huán)境造成零件破壞或者特性發(fā)生改變。

（5）功能測(cè)試。對(duì)電子產(chǎn)品硬件功能測(cè)試是依附于硬件設(shè)計(jì)報(bào)告中的功能指標(biāo)予以測(cè)試，檢測(cè)設(shè)計(jì)有無達(dá)到要求。電子產(chǎn)品硬件功能測(cè)試即為系統(tǒng)功能實(shí)現(xiàn)的先決條件。如被測(cè)目標(biāo)和其規(guī)格指標(biāo)，宏觀/細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)文檔間存在不同，都要予以細(xì)致的描述。電子產(chǎn)品硬件功能測(cè)試內(nèi)容主要包括下述幾點(diǎn)：①電源；②中央處理器；③Logic；④復(fù)位；⑤倒換；⑥monitor；⑦Clock。

（6）電磁兼容性測(cè)試。所以得的電子產(chǎn)品中的系統(tǒng)或多或少都有些噪聲，輕微的噪聲不會(huì)對(duì)電子產(chǎn)品本身造成什么不利的影響，只有當(dāng)噪聲影響到系統(tǒng)的正常運(yùn)行是電子產(chǎn)品才會(huì)出現(xiàn)問題，基本上噪聲問題是不可能完全被屏蔽掉的，但是可以經(jīng)過適當(dāng)?shù)母倪M(jìn)，像接地，與濾波等。就可以將噪聲對(duì)電子產(chǎn)品系統(tǒng)的影響盡可能的降到最低。一個(gè)良好的電路設(shè)計(jì)，預(yù)防要好于發(fā)生問題后再修改。所以在產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)就做好噪聲的防治工作，是做成高質(zhì)量低噪聲產(chǎn)品的重要工作。

（7）性能測(cè)試。意思就是容限測(cè)試，是指系統(tǒng)正常工作的輸入允許變化的范圍。容限測(cè)試的目的是通過電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試詳細(xì)知道設(shè)備在什么樣的范圍下可以正常工作。什么條件下會(huì)出現(xiàn)故障，優(yōu)缺點(diǎn)是什么，根據(jù)產(chǎn)品設(shè)計(jì)規(guī)格書的要求，通過硬件測(cè)試的元件的實(shí)力降額范圍，并找到它的里極限值，進(jìn)而可以保證產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)。

3 電子產(chǎn)品硬件測(cè)試的級(jí)別

電子產(chǎn)品硬件測(cè)試依附于系統(tǒng)的繁瑣性通常分為下述幾個(gè)級(jí)別：（1）單元測(cè)試。針對(duì)獨(dú)立功能單元予以測(cè)試；（2）集成測(cè)試。對(duì)具有集成性的下屬系統(tǒng)予以測(cè)試；（3）系統(tǒng)測(cè)試。對(duì)完整的系統(tǒng)予以全面的測(cè)試。電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試切勿只局限于一個(gè)層次，我們要忽視層次間的界限。層與層之間的配合很容易存在潛在的隱患，舉例說明，單板軟件和硬件邏輯配合、高層軟件和單板軟件的配合都很可能存在問題，因此我們可依附于下屬子系統(tǒng)予以劃分。

4 電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試中的問題解決

（1）問題種類確認(rèn)。應(yīng)用硬件測(cè)試技術(shù)對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)時(shí)，需做好硬件測(cè)試問題種類的確認(rèn)工作。一般情況下，測(cè)試問題主要分為兩種類別，一是在硬件測(cè)試過程中可重復(fù)出現(xiàn)的問題，二是在硬件測(cè)試過程中不可重復(fù)出現(xiàn)的問題。電子產(chǎn)品硬件測(cè)試過程中，可重復(fù)出現(xiàn)的問題有的表現(xiàn)為不定時(shí)出現(xiàn)，有的則表現(xiàn)為每次故障測(cè)試過程中都會(huì)出現(xiàn)。電子產(chǎn)品硬件測(cè)試過程中，僅僅出現(xiàn)過一次就再也不曾出現(xiàn)的問題，就是所謂的不可重復(fù)出現(xiàn)的問題。只有明確可重復(fù)出現(xiàn)問題與不可重復(fù)出現(xiàn)問題，才能夠做好電子產(chǎn)品硬件測(cè)試問題種類的確認(rèn)工作，為電子產(chǎn)品硬件測(cè)試問題的跟蹤與解決提供有利條件。

（2）測(cè)試問題跟蹤和解決辦法。在電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)過程中，通過硬件測(cè)試發(fā)現(xiàn)測(cè)試問題后，負(fù)責(zé)硬件測(cè)試的工程師將測(cè)試問題反饋至相關(guān)部門，相關(guān)部門經(jīng)理審批后，轉(zhuǎn)發(fā)給電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)師，由電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)師就問題進(jìn)行處理，優(yōu)化電子產(chǎn)品功能，之后再將處理完成的問題返還至相關(guān)部門，相關(guān)部門經(jīng)審批后再返還給測(cè)試部門經(jīng)理，測(cè)試部門經(jīng)濟(jì)將處理后的測(cè)試問題返還給硬件測(cè)試工程師，工程師再次開展硬件測(cè)試，至此完成電子產(chǎn)品整個(gè)硬件測(cè)試問題跟蹤和解決辦法，從而確保電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)的有效性。

總之，電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試技術(shù)在產(chǎn)品的研發(fā)生產(chǎn)中起著的地方重要的作用，做好電子產(chǎn)品的硬件測(cè)試，從而做好電子產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)工作有利于一個(gè)公司的可持續(xù)性發(fā)展，所以企業(yè)要重視這一相關(guān)技術(shù)的發(fā)展，并逐漸完善。