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        機(jī)載MBI板檢測(cè)方法研究

        2018-09-10 04:56:00張小輝劉良勇
        航空維修與工程 2018年9期

        張小輝 劉良勇

        摘要:多路傳輸總線接口通信接口(MBI)是航空電子系統(tǒng)的通信基石,航空電子系統(tǒng)的任一分系統(tǒng)都要通過MBI板才能進(jìn)入1553B通信系統(tǒng)。本文概述了某型飛機(jī)的機(jī)載MBI板的結(jié)構(gòu)組成和工作原理,通過對(duì)MBI板的FMEA分析,研究MBI板的檢測(cè)方法,制定了MBI板的FMEA分析表,在此基礎(chǔ)上開發(fā)了MBI的測(cè)試系統(tǒng),并通過了對(duì)實(shí)際MBI板的測(cè)試驗(yàn)證。

        關(guān)鍵詞:MBI測(cè)試;FMEA分析;DPRAM測(cè)試

        0引言

        飛機(jī)航空電子系統(tǒng)中采用1553B數(shù)據(jù)總線作為連接航電系統(tǒng)各子系統(tǒng)之間的紐帶,承擔(dān)著所有航空電子系統(tǒng)之間信息交互的主要任務(wù)。為完成這一任務(wù),航空電子系統(tǒng)各子系統(tǒng)中均配置了一塊MBI板,即1553B總線接口板,以實(shí)現(xiàn)信息的交互通信。各子系統(tǒng)的MBI板,除內(nèi)部軟件不同外,結(jié)構(gòu)、功能、原理完全相同,且在其他國(guó)產(chǎn)機(jī)型中,相同的MBI板也得到了廣泛的應(yīng)用。目前,在飛機(jī)修理過程中已經(jīng)出現(xiàn)了MBI板故障,以及因此引起的航電電子各子系統(tǒng)性能不合格的狀況?;诤娇针娮赢a(chǎn)品的特點(diǎn),該問題必然長(zhǎng)期存在。因此,為有效解決MBI板的各類故障,需要對(duì)其檢測(cè)方法和修理技術(shù)進(jìn)行研究。

        1 MBI板的FMEA分析

        1.1 FMEA分析方法的介紹

        FMEA即故障模式及影響分析,是提高產(chǎn)品可靠性的重要手段,是產(chǎn)品設(shè)計(jì)的一部分,在研制的各階段與設(shè)計(jì)工作協(xié)調(diào)進(jìn)行并反復(fù)迭代,以找出產(chǎn)品所有潛在的故障并評(píng)估其影響,以便采取補(bǔ)救措施,提高產(chǎn)品的可靠性水平。盡可能找出設(shè)備所有可能發(fā)生的故障模式及其可能產(chǎn)生的最壞影響,確定嚴(yán)酷等級(jí),給出故障的檢測(cè)方式,設(shè)計(jì)補(bǔ)償措施及使用補(bǔ)償措施,以便于消除或削弱故障帶來的影響和危害,為設(shè)計(jì)的改進(jìn)和方案的權(quán)衡提供依據(jù)。

        通過FMEA的報(bào)故信息在一定程度上可以反推出故障發(fā)生點(diǎn),隔離故障,能夠快速對(duì)故障定位。因此,F(xiàn)MEA分析是板件測(cè)試的輸入,是產(chǎn)品可靠性分析的一個(gè)重要的工作項(xiàng)目,也是開展維修性分析、安全性分析、測(cè)試性分析和保障性分析的基礎(chǔ)。

        在FMEA分析過程中需掌握MBI板的工作原理、繪制功能框圖、開展元器件故障和MBI板故障模式分析,這是開展MBI板FMEA分析的基礎(chǔ)。

        1.2 MBI板的故障研究

        1)分析MBI板的工作原理

        以某型飛機(jī)非航電電子系統(tǒng)監(jiān)控處理機(jī)MBI板為研究對(duì)象,根據(jù)MBI板的原理圖以及器件手冊(cè),研究該型非航電電子系統(tǒng)監(jiān)控處理機(jī)的底板總線技術(shù)、80C186的應(yīng)用技術(shù)、FPGA的軟件分析技術(shù)、可編程門電路(GAL)代碼解析技術(shù)和1553B協(xié)議實(shí)現(xiàn)電路,對(duì)某型飛機(jī)的MBI板進(jìn)行原理分析。其原理為:主機(jī)和MBI板之間的通信采用“命令/響應(yīng)”方式,即主機(jī)向MBI模塊的DPRAM中命令字單元寫相應(yīng)命令,而MBI執(zhí)行命令之后,會(huì)在DPRAM中響應(yīng)字單元寫響應(yīng)字。

        圖1所示為MBI的功能模塊構(gòu)成,包括:

        a.主機(jī)接口功能模塊,負(fù)責(zé)與CPU模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。

        b.通信控制功能模塊,負(fù)責(zé)處理1553B總線消息的接受、發(fā)送以及錯(cuò)誤處理。

        c.總線接口功能模塊,負(fù)責(zé)MBI與雙余度1553B總線雙絞屏蔽電纜的變壓器耦合。

        d.計(jì)時(shí)器功能模塊,負(fù)責(zé)提供航電所需要的DT、RTC和WDT計(jì)數(shù)器。

        e.串行口功能模塊,負(fù)責(zé)在調(diào)試過程中與PC或者CRT進(jìn)行通信,方便調(diào)試。

        2)繪制MBI原理框圖

        根據(jù)研究結(jié)果得出MBI的功能框圖,如圖2所示。MBI板由80C186、雙口SRAM、MIL-STD-1553協(xié)議芯片、FPGA、靜態(tài)存儲(chǔ)器等器件組成。輸入輸出信號(hào)有電源、總線信號(hào),輸出信號(hào)有1553B、232信號(hào)。

        3) MBI板的元器件故障分析

        根據(jù)原理圖,列出MBI板的所有元器件,對(duì)所有元器件進(jìn)行性能分析,分析MBI的器件特性,確定其所有可能的硬件故障模式(如電阻器的開路、短路和參數(shù)漂移等),進(jìn)而對(duì)MBI板的每個(gè)硬件故障模式進(jìn)行分析;列出MBI板的每個(gè)元器件,分析其失效模式,并分析對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生影響的常用的元器件、零組件,可參考國(guó)內(nèi)外某些標(biāo)準(zhǔn)、手冊(cè)確定。

        4) MBI故障模式分析

        通過對(duì)目前飛機(jī)MBI板故障的統(tǒng)計(jì)分類、MBI板原理圖的分析和MBI板元器件特性分析,結(jié)合原理分析等方法獲取MBI板的故障模式,并對(duì)引起MBI板故障的原因進(jìn)行分析。

        1.3建立MBI板的FMEA表

        根據(jù)MBI板的故障模式分析結(jié)果,結(jié)合產(chǎn)品原理分析和功能框圖,根據(jù)GJBZ1391-2006故障模式、影響及危害性分析指南,按表1繪制MBI板的FMEA表。

        根據(jù)以上要求制定了某型機(jī)非航電電子系統(tǒng)監(jiān)控處理機(jī)MBI板FMEA分析表。通過制定FMEA分析表,能夠更加掌握MBI板的工作原理,通過FMEA的報(bào)故信息,在一定程度上可以反推出故障發(fā)生點(diǎn),為后續(xù)的測(cè)試提供參考。

        2整板通電測(cè)試方法研究

        2.1硬件連接

        將MBI板接口的A39(BUSA-)和A40(BUSA+)或D39(BUSB-)和D40(BUSB+)與1553B總線分析儀板卡的通道1連接,如圖3所示。MBI板的出廠RT地址均為25。

        2.2軟件測(cè)試

        將MBI板通電,如圖4所示,若連接成功,則圖示位置為綠色;若連接不成功,則圖示位置為黃色。

        3板載芯片測(cè)試方法研究

        3.1 DPRAM測(cè)試方法研究

        IDT7025為高速8K×16雙口靜態(tài)RAM,提供兩個(gè)獨(dú)立的口,如圖5所示,兩口可以獨(dú)立控制,有獨(dú)立的地址和I/O引腳,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)內(nèi)存任何地址的獨(dú)立的、異步的存?。ㄗx寫)。芯片使能(CE)具有自動(dòng)的特點(diǎn),使每一個(gè)端口的片上電力可以進(jìn)入超低功耗備用模式。

        通過查看DPRAM的DATASHEET,分析DPRAM芯片的控制時(shí)序,確定其地址空間為0x0000~0X3FFF,如圖6、圖7所示。

        結(jié)合DPRAM芯片的控制時(shí)序,通過分析GAL的邏輯關(guān)系,確定通過LBE總線接口控制DPRAM左口的時(shí)序。

        開展MBI板DPRAM左口測(cè)試。左口測(cè)試流程為:寫入第一個(gè)地址為0x55,再寫入第二個(gè)地址為0xaa,讀取第一個(gè)地址,判斷是否一致;再寫入第三個(gè)地址,讀取第二個(gè)地址,判讀是否一致;依次類推,對(duì)DPRAM的4K空間遍歷測(cè)試。

        1)制作MBI板測(cè)試板

        MBI板測(cè)試板以80C51F040為核心,以EPM7128為CPLD設(shè)計(jì)控制電路,按照確定的LBE總線接口的控制時(shí)序編寫80C51F040的程序和EPM7128的控制程序,實(shí)現(xiàn)對(duì)DPRAM左口空間讀寫測(cè)試的功能。

        MBI板測(cè)試板原理圖如圖8所示,PCB圖如圖9所示。

        2)配合總線控制,編寫CPLD程序

        程序編與規(guī)則如表2所示。

        3)結(jié)合LBE總線時(shí)序和DPRAM的控制時(shí)序,編寫80C51F040單片機(jī)程序,實(shí)現(xiàn)對(duì)DPRAM左口空間讀寫的操作。測(cè)試流程如圖10所示。

        4) MBI板連接自制板。

        5)測(cè)試判斷

        MBI板通電后,利用遍歷法對(duì)DPRAM左口進(jìn)行測(cè)試。在遍歷測(cè)試過程中和結(jié)束處設(shè)置斷點(diǎn),若程序運(yùn)行到遍歷結(jié)束斷點(diǎn)處,則雙口RAM左口測(cè)試通過;若程序運(yùn)行到測(cè)試過程中斷點(diǎn)處,則雙口RAM測(cè)試不通過。通過查看測(cè)試停止的狀態(tài),定位DPRAM的故障地址。

        3.2處理器、RAM和ROM測(cè)試方法研究

        通過編寫更改80C186的程序,測(cè)試響應(yīng)是否正確。80C186程序編寫更改方法如下:

        a.利用idag軟件對(duì)從MBI板上讀取的源碼進(jìn)行反匯編,通過分析得出MBI板80C186處理器的寄存器配置信息。

        b.根據(jù)寄存器配置信息、程序運(yùn)行過程中的跳轉(zhuǎn)地址和反匯編的80C186程序代碼,利用80C186處理器開發(fā)軟件(emu8086),開發(fā)MBI板上ROM、RAM、1553B測(cè)試程序。

        c.利用EXE轉(zhuǎn)BIN軟件,將生成的EXE文件轉(zhuǎn)換為可燒寫到ROM里的BIN文件。

        d.將生成的BIN文件燒寫到CY7C261(裝載程序的ROM芯片)。

        1) RAM測(cè)試方法

        通過編寫80C186測(cè)試程序,對(duì)RAM空間遍歷寫Ox55和OxAA,再進(jìn)行讀取,判斷是否一致。測(cè)試程序如下:

        ramtestloop:

        MOV DI,DS:[BX]

        MOV DS:[BX],5555h

        CMP DS:[BX],5555h

        JNE ramerr

        MOV DS:[BX],0AAAAh

        CMP DS:[BX],0AAAAh

        JNE ramerr

        MOV DS:[BX],DI

        ADD BX,2

        LOOP ramtestloop

        2) DPRAM右口測(cè)試方法

        通過編寫80C186測(cè)試程序,對(duì)DPRAM右口空間遍歷寫Ox55和OxAA,再進(jìn)行讀取,判斷是否一致。測(cè)試程序如下:

        dpramtestloop:

        MOV DI,ES:[BX]

        MOV ES:[BX],5555h

        CMP ES:[BX],5555h

        JNE dpramerr

        MOV ES:[BX],0AAAAh

        CMP ES:[BX],0AAAAh

        JNE dpramerr

        MOV ES:[BX],DI

        ADD BX,2

        LOOPdpramtestloop:

        3) ROM測(cè)試方法

        將板載ROM焊接處理后進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取并與原程序進(jìn)行比對(duì),判斷是否一致。

        3.3 FPGA測(cè)試方法

        1)在DPRAM右口測(cè)試正常的情況下,對(duì)其存儲(chǔ)芯片XC1765A進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取與備份數(shù)據(jù)比對(duì),一致則判斷XC1765A合格,不一致則判斷XC1765A不合格。

        2)通過編寫簡(jiǎn)單的程序,燒寫至XC1765A,來測(cè)試FPGA是否工作正常。

        3.4 1553B協(xié)議層和物理層測(cè)試

        通過編寫80C186測(cè)試程序判讀1553B協(xié)議芯片寄存器的狀態(tài)是否正常,編寫控制程序判斷1553B收發(fā)是否正常。

        4結(jié)束語

        通過對(duì)機(jī)載MBI板的測(cè)試研究,得出如下結(jié)論:

        1)通過對(duì)MBI板的原理分析,掌握了MBI板的器件組成、工作原理和外部接口定義。

        2)通過對(duì)MBI板的故障模式及影響分析,得出了MBI板所有元器件的故障類型、故障模式及影響分析表(FMEA表)。

        3)實(shí)現(xiàn)了對(duì)MBI板通信正常測(cè)試以及雙口RAM、處理器、RAM、ROM、FPGA和1553B協(xié)議層和物理層等板載芯片的測(cè)試。

        4)實(shí)現(xiàn)了通過修改80C186代碼達(dá)到測(cè)試板件的目的。

        通過機(jī)載MBI板的檢測(cè)方法研究,掌握了機(jī)載MBI板的工作原理、故障模式分析方法和測(cè)試技術(shù),形成了機(jī)載MBI板的單板故障檢測(cè)和修理能力,提高了MBI板的單板修理深度。

        參考文獻(xiàn)

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