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        利用探地雷達(dá)時距曲線求取介質(zhì)介電常數(shù)及其應(yīng)用

        2018-08-06 03:34:52王治華
        上海國土資源 2018年2期
        關(guān)鍵詞:時距探地介電常數(shù)

        王 遠(yuǎn),王治華

        (上海市地質(zhì)調(diào)查研究院,上海 200072)

        近年來,探地雷達(dá)(ground penetrating radar, GPR)在城市地下管線探測、城市地質(zhì)災(zāi)害探測等方面發(fā)揮了重要作用。隨著城市地質(zhì)工作的不斷精細(xì)化,對探地雷達(dá)探測的要求也越來越高,特別是雷達(dá)剖面成果的時深轉(zhuǎn)換,更是直接關(guān)系到探測成果的準(zhǔn)確與否。

        在影響雷達(dá)剖面成果的諸多因素中,介電常數(shù)的選取至關(guān)重要。目前,探地雷達(dá)探測中主要采用的是人為給定某一個經(jīng)驗值作為時深轉(zhuǎn)換的介電常數(shù)值,這在不同地區(qū)不同環(huán)境的探測情況下往往產(chǎn)生較大的誤差。

        本文從探地雷達(dá)的工作方法出發(fā),遵從射線追蹤的原理,分析不同模型探地雷達(dá)的時距曲線特征,提出一種利用時距曲線求取介質(zhì)介電常數(shù)方法,并對上海陸家嘴地區(qū)探地雷達(dá)剖面進(jìn)行介電常數(shù)的提取,分析其分布規(guī)律并采用提取結(jié)果校正雷達(dá)剖面異常體的埋深。

        1 點(diǎn)源探地雷達(dá)波形的時距曲線本質(zhì)

        探地雷達(dá)的原理是利用高頻電磁波在地下介質(zhì)中的傳播特性進(jìn)行異常識別。

        根據(jù)電磁波傳播原理,電磁波傳播速度主要受介質(zhì)介電常數(shù)影響。在低損耗介質(zhì)中傳播時,介電常數(shù)的虛部可以忽略,其傳播速度如式(1),其中ε為介質(zhì)的介電常數(shù),c為真空中電磁波傳播速度(c=0.3m/ns),v為電磁波在地層中的傳播速度。根據(jù)介電常數(shù)可以計算傳播速度,同理若傳播速度已知,便可以根據(jù)式(1)計算得出介質(zhì)的介電常數(shù)。

        根據(jù)探地雷達(dá)電磁波在介質(zhì)中的傳播特性,電磁波在介質(zhì)中的傳播可以近似地看作地震勘探中彈性波在介質(zhì)中的傳播,因此可以用射線追蹤理論解釋雷達(dá)波在介質(zhì)中的傳播。

        當(dāng)均勻介質(zhì)中存在一個點(diǎn)源目標(biāo)體時,理論上能得到如圖1所示的雷達(dá)波形。此波形為一雙曲線繞射波形,其包含了豐富的介質(zhì)信息。如果除去子波的影響,波形的形態(tài)可以看作是雷達(dá)波按照射線追蹤傳播原理的時距曲線的反映。

        圖1 均勻介質(zhì)中點(diǎn)狀目標(biāo)體的雷達(dá)波形Fig.1 Radar wave of point object in medium

        圖2(a)為探地雷達(dá)工作方法示意圖,天線為收發(fā)一體天線,從A點(diǎn)向C點(diǎn)探測過程中,目標(biāo)體的反射波路徑如圖中所示,根據(jù)其幾何原理,雷達(dá)波時距曲線遵循式(2)所示的數(shù)學(xué)方程。其中H為目標(biāo)體深度,X為探測點(diǎn)與目標(biāo)體正上方地面點(diǎn)的間距, 為雷達(dá)經(jīng)過目標(biāo)體正上方(B點(diǎn))時的電磁波雙程走時, 為雷達(dá)地面位置偏離目標(biāo)體X米處(A點(diǎn)或C點(diǎn))的電磁波雙程走時,單位為ns,v為電磁波在介質(zhì)中的傳播速度。根據(jù)方程得到如圖2(b)所示的時距曲線示意圖,可見其形態(tài)與雷達(dá)波圖像形態(tài)一致。這是利用時距曲線分析雷達(dá)波形態(tài)特征的理論依據(jù)。

        圖2 探地雷達(dá)工作原理圖Fig.2 Working principle of GPR

        2 不同模型的時距曲線分析

        時距曲線的形態(tài)跟介質(zhì)速度(介電常數(shù))、目標(biāo)體埋深均有關(guān)系,即探地雷達(dá)剖面中雷達(dá)繞射波的形態(tài)反映了介質(zhì)速度(介電常數(shù))、目標(biāo)體埋深等信息。為了便于識別實際采集剖面中的繞射波形態(tài)信息,設(shè)計兩種模型。模型Ⅰ是目標(biāo)體埋深不變,設(shè)置不同的介質(zhì)速度(介電常數(shù)),分析不同介質(zhì)速度(介電常數(shù))對雷達(dá)波時距曲線的影響。模型Ⅱ是保持介質(zhì)速度(介電常數(shù))不變,設(shè)置不同的埋深,分析不同埋深對雷達(dá)波時距曲線的影響,其具體參數(shù)設(shè)置見表1。

        表1 時距曲線分析模型參數(shù)表Table 1 Time-distance model parameter

        2.1 介質(zhì)介電常數(shù)對時距曲線的影響

        當(dāng)目標(biāo)體埋深不變,介質(zhì)速度(介電常數(shù))發(fā)生變化時,其雷達(dá)波時距曲線如圖3。需要說明的是,理論上各時距曲線的頂點(diǎn)不在同一時間點(diǎn),本文為了對比曲線形態(tài),特將所有曲線頂點(diǎn)平移到同一時間點(diǎn),而曲線形態(tài)保持不變。

        從圖3中可見,不同介質(zhì)速度(介電常數(shù))的雷達(dá)波時距曲線均為雙曲線,隨著介質(zhì)速度的減?。ń殡姵?shù)的增大),雙曲線斜率逐漸變大。由此可見,當(dāng)目標(biāo)體埋深一定時,雷達(dá)波斜率的變化可以表征介質(zhì)速度(介電常數(shù))變化。反過來說,雷達(dá)剖面中同一異常繞射的斜率發(fā)生變化時,代表著介質(zhì)速度(介電常數(shù))發(fā)生了變化,即介質(zhì)物理性質(zhì)發(fā)生了變化。在同一個剖面中的同一時間軸上,可以通過判斷繞射異常的斜率變化來分析介質(zhì)橫向性質(zhì)的改變情況。

        圖3 不同介質(zhì)速度的雷達(dá)波時距曲線圖Fig.3 Time-distance curve with diあerent velocity

        2.2 目標(biāo)體埋深對時距曲線的影響

        當(dāng)速度保持不變,深度發(fā)生變化時,雷達(dá)波時距曲線如圖4。同樣需要說明,理論上各時距曲線的頂點(diǎn)不在同一時間點(diǎn),本文為了對比曲線形態(tài),將所有曲線頂點(diǎn)平移到同一時間點(diǎn),而曲線形態(tài)保持不變。

        從圖4可見,不同埋深的雷達(dá)波時距曲線均為雙曲線,但雙曲線斜率發(fā)生了變化。隨著目標(biāo)體埋深的逐漸變小,雙曲線斜率逐漸變大。由此可以預(yù)見,在均勻介質(zhì)中,同一種目標(biāo)體在埋深越大,時距曲線斜率越小,即雷達(dá)波剖面中繞射波斜率越小。例如,鋼筋混凝土中經(jīng)常見到不同深度的同一種鋼筋繞射波形態(tài)斜率不一樣。

        圖4 不同目標(biāo)體深度的雷達(dá)波時距曲線圖Fig.4 Time-distance curve with diあerent depth

        3 利用時距曲線特征提取介質(zhì)介電常數(shù)

        根據(jù)探地雷達(dá)射線追蹤原理的時距曲線本質(zhì),如果從探地雷達(dá)的成果剖面中能夠識別繞射雙曲線形態(tài)的反射波,并擬合出一條時距曲線,則即可得到介質(zhì)速度和介電常數(shù)。在實際的探地雷達(dá)剖面中,這種雙曲線繞射現(xiàn)象多有發(fā)生,經(jīng)大量實際工作驗證,其反映的一般是地下管線、鋼筋等,沿著地下管線的橫截面進(jìn)行探地雷達(dá)探測,即可得到明顯的雙曲線繞射形態(tài)反射波。這里從探地雷達(dá)成果剖面出發(fā),識別繞射雙曲線,提取繞射雙曲線的頂點(diǎn)值及側(cè)邊反射點(diǎn)的 值,根據(jù)式(3)可得。

        由式(3)可以計算得出多個tx處的v值,再利用不同v值擬合雙曲線,選擇一個與剖面繞射波形最吻合的雙曲線對應(yīng)的v值作為此處繞射的最佳速度值,再根據(jù)式(1)得到介質(zhì)介電常數(shù)值。

        以上海陸家嘴地區(qū)為例,在陸家嘴地區(qū)道路范圍內(nèi)進(jìn)行了大量探地雷達(dá)探測,發(fā)現(xiàn)多處繞射波異常。圖5為陸家嘴地區(qū)世紀(jì)大道某處雷達(dá)探測成果剖面圖,從圖中可見,在不同位置分布有多個雙曲線繞射形態(tài)雷達(dá)波,對這些繞射波形進(jìn)行基于時距曲線的速度提取,可以得到各個繞射波處的最佳速度值,并計算各處的介電常數(shù)值。圖6(a)為某處繞射波形剖面圖,可見繞射波形態(tài)完好特征明顯,圖6(b)為擬合好的雙曲線及計算出的速度值(0.078m/ns)。

        對地區(qū)內(nèi)所有雷達(dá)探測剖面進(jìn)行繞射波形識別及速度提取后,得出如表2所示的雷達(dá)波速度及介電常數(shù)統(tǒng)計表。

        圖5 上海陸家嘴世紀(jì)大道某處雷達(dá)剖面圖Fig.5 Radar pro fi le of Lujiazui area in Shanghai

        圖6 實際剖面中某處繞射波形擬合Fig.6 Pro fi le fi tting of a section

        對表2中的43組數(shù)據(jù),分別做v-t散點(diǎn)圖和ε-t散點(diǎn)圖,可以得到如圖7所示的介電常數(shù)散點(diǎn)圖和圖8所示的介質(zhì)速度散點(diǎn)圖。圖7所示的介電常數(shù)散點(diǎn)圖代表介質(zhì)介電常數(shù)在實際雷達(dá)剖面中隨雙程走時的變化。圖中綠色虛線表示散點(diǎn)的分布趨勢,可見隨著雙程走時的增加,介電常數(shù)呈逐漸增加的趨勢。據(jù)統(tǒng)計,瀝青的介電常數(shù)為3~5,而濕土的介電常數(shù)為8~15,從路面到地下地層也基本上是從瀝青到濕土的過程。圖7所示的散點(diǎn)趨勢與這一介質(zhì)物性變化一致。根據(jù)散點(diǎn)的分布,采用最小二乘法的多項式擬合方法,擬合出一條如圖中所示的介電常數(shù)隨雙程走時的曲線公式,此公式與各散點(diǎn)的相關(guān)系數(shù)為0.705。同理,圖8所示的介質(zhì)速度散點(diǎn)圖代表介質(zhì)速度在實際雷達(dá)剖面中隨雙程走時的變化。圖中綠色虛線表示散點(diǎn)的分布趨勢,可見隨著雙程走時的增加,介質(zhì)速度呈逐漸減小趨勢。同樣擬合出一條介質(zhì)速度隨雙程走時的曲線公式,此公式與各散點(diǎn)的相關(guān)系數(shù)為0.675。

        表2 雷達(dá)探測剖面中提取的速度及介電常數(shù)值Table 2 Velocity and dielectric constant value of Radar pro fi les

        兩個擬合公式反映了此區(qū)域的一般規(guī)律,可以用來檢驗在時深轉(zhuǎn)換中介電常數(shù)和速度選取的合理性,但在局部進(jìn)行時深轉(zhuǎn)換時,特別是對某一處繞射異常需要更為精確的確定深度時,還是建議進(jìn)行此處繞射的速度提取,并采用提取出的速度進(jìn)行時深轉(zhuǎn)換。例如,圖9(a) 為初始采集的時深轉(zhuǎn)換剖面,其速度(v=0.1m/ns)來自雷達(dá)采集時設(shè)定的初始介電常數(shù),則圖中繞射頂點(diǎn)深度為1.3m,圖9(b)為利用此繞射波時距曲線計算出的速度(v=0.078m/ns)校正后的時深轉(zhuǎn)換剖面,圖中繞射頂點(diǎn)深度為1.1m, 二者相差0.2m,對于這個埋深1m左右的管道,其誤差已經(jīng)達(dá)到18.2%。

        圖7 介電常數(shù)散點(diǎn)圖Fig.7 Dielectric constant scatter plot

        4 應(yīng)用前景分析

        根據(jù)上文分析,利用時距曲線特征可以求取繞射波形以上地層的介電常數(shù),由此獲得了一種求取地層介電常數(shù)的方法。

        圖8 介質(zhì)速度散點(diǎn)圖Fig.8 Velocity scatter plot

        圖9 速度校正前后時深轉(zhuǎn)換剖面圖Fig.9 Pro fi le before and after correction

        這種方法最直接的應(yīng)用是在管線探測中,利用求取的介電常數(shù)進(jìn)行雷達(dá)剖面的時深轉(zhuǎn)換,從而提高時深轉(zhuǎn)換的準(zhǔn)確性。

        同時,在淺部地質(zhì)結(jié)構(gòu)調(diào)查、地下建(構(gòu))筑物探測、地質(zhì)災(zāi)害調(diào)查等方面,只要發(fā)現(xiàn)明顯的繞射波形就可利用此法求取介電常數(shù),提高探測精度。甚至根據(jù)現(xiàn)場需要,人工埋設(shè)能產(chǎn)生繞射波形的異常體,進(jìn)行介電常數(shù)的求取,為成果解釋服務(wù)。

        此外,在水土污染調(diào)查中,可利用此法求取受污染與未受污染地層的介電常數(shù),對比分析其差別,圈定污染場地范圍,甚至建立介電常數(shù)與污染程度的關(guān)系,進(jìn)行規(guī)律性的定量分析。

        5 結(jié)論

        (1)探地雷達(dá)時距曲線分析顯示,目標(biāo)體埋深不變時,隨著介質(zhì)速度的減小(介電常數(shù)的增大),雙曲線斜率逐漸變大;介電常數(shù)不變時,隨著目標(biāo)體埋深的逐漸變小,雙曲線斜率逐漸變大。

        (2)探地雷達(dá)的應(yīng)用多數(shù)是在市區(qū)范圍內(nèi)的瀝青路面上,成果剖面中的繞射曲線多為埋深1~2m的管線反映,在這個深度范圍內(nèi),介質(zhì)從上往下一般有瀝青、混凝土、雜填土、干濕砂等,故得到的雷達(dá)剖面成果中的介電常數(shù)應(yīng)該是多種介質(zhì)的綜合反映,不宜用某一種介質(zhì)的介電常數(shù)進(jìn)行時深轉(zhuǎn)換。

        (3)實際應(yīng)用時,在雷達(dá)成果剖面時深轉(zhuǎn)換前,先利用繞射曲線進(jìn)行介電常數(shù)的擬合提取,再利用提取出的介電常數(shù)值進(jìn)行時深轉(zhuǎn)換,則更能保證時深轉(zhuǎn)換的準(zhǔn)確性。

        (4)除管線探測外,在淺部地質(zhì)結(jié)構(gòu)調(diào)查、地下建(構(gòu))筑物探測、地質(zhì)災(zāi)害調(diào)查、水土污染調(diào)查等方面,求取介電常數(shù)的方法對于提高雷達(dá)探測精度具有借鑒意義。

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