吳夢維,王振鐸
(哈爾濱理工大學 軟件與微電子學院,黑龍江 哈爾濱 150000)
近年來,互補金屬氧化物半導體(CMOS)已廣泛用于傳感器電路設計。2016年,Mansoor等人[1]設計了一種硅絕緣體CMOS多傳感器微機電系統(tǒng)芯片,其可以同時測量溫度、壓力和流量。2017年,Wen-Sheng等人[2]提出了一種用于變溫系統(tǒng)中光探測器的暗電流抑制技術。CMOS溫度傳感器的優(yōu)點包括體積小、成本低、性能高,且易于批量生產(chǎn)。在眾多工業(yè)應用中,溫度傳感器可在-30~125 ℃的寬溫度范圍內(nèi)工作[3]。通常使用雙極型和金屬氧化物半導體(MOS)晶體管來實現(xiàn)片上傳感器,例如溫度傳感器[4]。在雙極型晶體管中,基極-發(fā)射極電壓與飽和電流用于提取基本信號。而在MOS晶體管的情況下,基本信號來源于閾值電壓和遷移率。然而,溫度傳感器的大部分電路均是由雙極晶體管使用的,因雙極晶體管的溫度特性比MOS晶體管更好[5]。
本文設計基于CMOS的集成溫度傳感器,其主要由偏置電路、運算放大器以及熱傳感器組成。文中討論了電路的主要設計,包括偏置電路、運算放大器電路、熱傳感器。并在50 nm工藝下對電路進行仿真,得出該傳感器的溫度系數(shù)為5.9 mV /℃。
圖1所示為溫度傳感器電路的結構。傳感器電路由電流鏡像源,一對雙極型晶體管和一個電阻組成。Q1和Q2是兩個NPN雙極晶體管;I1和I2分別為Q1和Q2的集電極電流,分別由恒流源提供;電阻R上的電壓是VBE1和VBE2之間的電壓差。電壓和電流之間的關系[6]為
(1)
(2)
其中K是玻爾茲曼常數(shù),q是電子電荷,T是絕對溫度;γ是Q1和Q2的發(fā)射極面積比。當γ=1時,式(2)有效。根據(jù)式(1)和式(2),當溫度升高時,基級-發(fā)射極電壓降低,因此,傳感器可以將溫度信號轉換成電壓信號。
圖1 溫度傳感器原理圖
為了給放大器電路提供偏置,偏置電路分為啟動電路和β乘法器電路。啟動電路集成在一起,以確保電路穩(wěn)定在正確的工作點。Liu X等人[7]提出的β乘法電路可用于實現(xiàn)MOS源側的電阻,同時還可計算電流數(shù)據(jù)。根據(jù)圖2所示,VGS1和VGS2之間的關系表示為
VGS1=VGS2+IREF·R1,VGS1>VGS2
(3)
為滿足式(3),為M2的β2選擇較大的W2/L2。 然后,只需要一個較小的柵源電壓便可獲得所需的電流IREF。電壓和電流之間的關系為[8]
(4)
(5)
β2=K·β1
(6)
所以
(7)
在β乘法電路參考電壓源中,M1的柵極電壓總是與溫度有關。通過Spice軟件模擬,結果顯示溫度變化為60 mV / 100 ℃[9]。
圖2 β乘法電路圖
短溝道偏置電路由β乘法器電路和基準電路組成。 根據(jù)式(8)~式(15),計算電路參數(shù)。在短溝道偏置電路設計中,柵極-源極電壓VGS和閾值電壓VTHN之間的差值是柵極過驅(qū)動電壓VOVN。柵極過驅(qū)動電壓是一個重要的參數(shù),其與MOS反轉頻率fT成正比。為了實現(xiàn)更高的工作速度,漏電流ID和跨導gm均與MOS的寬度有關。
VOVN=VGS-VTHN≠VDS,Sat
(8)
VOVN=70 mV→VGS=350 mV
(9)
(10)
ID=Vsat·Cox·W·(VGS-VTHN-VDS,sat)
(11)
(12)
ID=10 μA
(13)
gm=150 μA/V
(14)
(15)
運放模塊如圖3所示,其中,包括差分放大器和二級放大器。采用共源共柵結構差分放大器作為第一級放大器,vp和vn為輸入端,其的輸出為V1out。次級放大器是一個共源放大器,該放大器的輸出是V2out。整個放大器的增益AOLDC取決于兩級增益A1和A2的乘積,如式(16)所示。A1是差分放大器的增益,其取決于跨導gmn和輸出電阻R1的乘積。在差分放大器中,輸出電阻R1是ron和rop的并聯(lián)電阻,可由式(18)給出。A2是次級放大器的增益,其取決于跨導gmp和輸出電阻R2的乘積。采用高增益的單級放大器來避免兩級結構的穩(wěn)定性補償,故需要高跨導gm[10]。在次級放大器中,輸出電阻R2近似等于由式(19)給出的rop。
AOLDC=A1·A2=gmn·(ron‖rop)·gmp·rop
(16)
A1=gmn·R1,A2=gmp·R2
(17)
R1=ron‖rop=111 kΩ
(18)
R2=ron‖rocasn?rop=333 kΩ
(19)
(20)
這些電路包含一個由C1實現(xiàn)的輸出緩沖器。放大器的輸出電阻rop為333 kΩ。若將緩沖器添加到次級放大器的輸出端,電路將獲得合適的增益和良好的電源抑制比。雖該過程可能會導致次級增益降低,但由于第一級電路增益更大,電路仍可獲得更合理的整體增益。在第一級電路中,差分放大器增益為500;第二級放大器采用拓撲結構,其增益取決于其驅(qū)動負載阻力。 若沒有負載連接到另一個輸出,則增益如下
(21)
AOLDC=A1·A2=15 800
(22)
20lgAOLDC=84 dB
(23)
最后,整體運算放大器增益為84 dB。
圖3 運算放大器電路圖
如圖4所示,熱傳感器的結構由幾個部分組成。Q1和Q2是兩個NPN雙極型晶體管,vp和vn是運算放大器的輸入端,M30是一個共源放大器,用于獲得更高的精度。
圖4 熱傳感器電路圖
圖5 擬合曲線圖
本文采用LTspice and Matlab進行電路設計,并在50 nm工藝下對傳感器電路進行仿真。取傳感器輸出節(jié)點作為模擬測試點,其也是整個電路的輸出端。根據(jù)模擬數(shù)據(jù),擬合曲線如圖5所示,點和線分別代表原始數(shù)據(jù)與擬合曲線。輸出電壓V與溫度T之間的關系為
V=-0.005 9T+3.897 3
(24)
溫度系數(shù)為5.9 mV /℃,這意味著當溫度每變化1 ℃時,電壓將改變5.9 mV。
為提高溫度傳感器的測量精度及縮小其面積與功耗,本文設計了一種使用NPN晶體管進行溫度測量的完全集成CMOS半導體傳感器,并在50 nm技術中模擬了可以感知溫度變化的全集成CMOS傳感器。由于采用了50 nm技術,節(jié)省了應用電路的面積,降低了功耗,且提高了運行速度。在-30~125 ℃的測試范圍內(nèi),溫度傳感器的靈敏度為5.9 mV/℃。該設計可以植入集成電路中以監(jiān)測芯片上的溫度,并確保芯片的安全。