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        基于SiC的裂變靶室中子靈敏度標(biāo)定技術(shù)

        2018-07-09 12:58:12劉金良劉林月張顯鵬張忠兵歐陽曉平阮金陸何世熠
        現(xiàn)代應(yīng)用物理 2018年2期
        關(guān)鍵詞:測量實驗系統(tǒng)

        陳 亮, 劉金良, 劉林月, 張顯鵬, 張忠兵, 歐陽曉平, 阮金陸, 金 鵬, 何世熠

        (西北核技術(shù)研究所, 西安 710024; 強(qiáng)脈沖輻射環(huán)境模擬與效應(yīng)國家重點(diǎn)實驗室, 西安 710024)

        裂變靶室中子探測系統(tǒng)利用半導(dǎo)體探測器收集中子與裂變材料作用產(chǎn)生的裂變碎片實現(xiàn)中子探測[1],對裂變主能區(qū)中子能量響應(yīng)較為平坦,同時具有較高的n/γ分辨能力、較快的時間響應(yīng),且中子靈敏度在較寬的范圍內(nèi)可以調(diào)節(jié),在脈沖裂變中子總數(shù)測量中具有非常重要的應(yīng)用價值[2]。傳統(tǒng)的裂變靶室采用Si-PIN探測器從側(cè)面收集裂變碎片,受Si-PIN探測器直照響應(yīng)及耐輻照能力的限制,裂變靶室系統(tǒng)在中子靈敏度標(biāo)定和實際應(yīng)用中面臨信噪比低、屏蔽難度大、器件易受輻照損傷等一系列問題。在裂變靶室系統(tǒng)中子靈敏度標(biāo)定實驗中,為避免Si-PIN探測器被高強(qiáng)度的中子直接照射,不得不采用體積龐大的準(zhǔn)直器和屏蔽體,裂變靶與加速器靶頭之間的距離比較遠(yuǎn),導(dǎo)致測點(diǎn)注量率下降很多。此外,中子與準(zhǔn)直器作用會在束流通道上形成大量的散射中子,這部分散射中子與裂變靶作用形成干擾信號,很難從實驗上準(zhǔn)確扣除,導(dǎo)致裂變靶室系統(tǒng)中子靈敏度標(biāo)定精度難以提高,低靈敏裂變靶室的中子靈敏度精確標(biāo)定問題一直未能得到很好解決[3-4]。

        為克服Si-PIN探測器存在的問題,西北核技術(shù)研究所研制了基于寬禁帶半導(dǎo)體探測器SiC的新型裂變靶室中子探測系統(tǒng)[5-7]。與Si器件相比,SiC器件耐高壓、耐輻照、暗電流低。此外,通過控制SiC探測器的靈敏層厚度,可以保證裂變碎片能量全部沉積,并降低器件對中子、γ的直照響應(yīng)。采用SiC探測器的新型裂變靶室不僅大幅度提高了系統(tǒng)的抗輻照能力,而且使系統(tǒng)器件的抗直照干擾能力提高了近一個量級。得益于器件耐輻照能力的提高和直照本底的降低,基于SiC的裂變靶室中子靈敏度標(biāo)定可以在沒有屏蔽體的條件下進(jìn)行,不僅簡化了實驗過程,而且縮短了裂變靶與加速器靶頭之間的距離,使裂變靶室系統(tǒng)的可標(biāo)定下限得到拓展。此外,散射本底干擾可以通過擋影錐的方法準(zhǔn)確測量和扣除,使得中子靈敏度標(biāo)定精度也得到提高。低靈敏裂變靶室系統(tǒng)的中子靈敏度精確標(biāo)定問題在一定程度上得以解決,本文主要對相關(guān)標(biāo)定技術(shù)進(jìn)行研究和討論。

        1 標(biāo)定原理和方法

        根據(jù)裂變靶室系統(tǒng)的工作原理,裂變靶室系統(tǒng)的中子靈敏度S(En)可表示為

        (1)

        2 實驗過程

        圖1 2×2陣列SiC探測器照片F(xiàn)ig.1 Photograph of the 2×2 array SiC detector

        高壓倍加器的實驗布局如圖2所示。裂變靶與SiC探測器放置在同一個真空腔室內(nèi)。裂變靶處在加速器靶頭0°方向,垂直于束流,與加速器靶頭之間的距離約為50 cm。SiC探測器在與束流成45°方向收集裂變碎片,探測器中心與裂變靶中心的距離為10 cm。SiC探測器信號經(jīng)前放、主放后,由多道記錄。中子產(chǎn)額通過155°伴隨α金硅面壘探測器在線監(jiān)測。測點(diǎn)中子注量根據(jù)Φ(En)=KNα-155°/4πL2計算,其中,K=1.251×107;Nα-155°為伴隨α計數(shù);L為裂變靶與加速器靶頭之間的距離,cm。高壓倍加器采用水冷TiT靶,D+離子直接轟擊TiT靶產(chǎn)生D-T中子。D+離子加速電壓為300 kV,加速器靶頭0°方向輸出的D-T中子平均能量為14.9 MeV。實驗通過擋影錐的方法扣除散射本底,具體過程是:首先在標(biāo)定靶室和加速器靶頭之間放置擋影錐,測量獲得單位注量中子產(chǎn)生的裂片碎片數(shù)目,該結(jié)果主要是環(huán)境散射中子的貢獻(xiàn);然后去掉擋影錐重新測量,得到的結(jié)果包含了凈信號和散射中子貢獻(xiàn);最后將兩組數(shù)據(jù)相減,即可獲得系統(tǒng)對D-T中子的絕對探測效率。此外,實驗前利用237Np、243Am和244Cm三個不同能量的α源對SiC探測器的多道測量系統(tǒng)進(jìn)行了能量線性刻度,刻度結(jié)果如圖3所示。

        圖2 高壓倍加器實驗布局示意圖Fig.2 Layout of the CPNG experiment

        圖3 多道系統(tǒng)線性刻度結(jié)果Fig.3 Linear calibration of the multi-channel analyzer system

        利用西安脈沖反應(yīng)堆的水平徑向孔道進(jìn)行實驗測量,實驗照片如圖4所示。中子經(jīng)過厚度為20 cm的含硼聚乙烯和厚度為8 cm的鉛準(zhǔn)直限束后入射到裂變靶片上,保持電子學(xué)系統(tǒng)連接狀態(tài)和參數(shù)設(shè)置與高壓倍加器實驗條件完全一致。標(biāo)定235U靶時,反應(yīng)堆運(yùn)行功率為100 kW,標(biāo)定238U靶時反應(yīng)堆功率為2 MW。每次實驗,先將反應(yīng)堆功率提升到預(yù)定值,然后打開水平徑向孔道,開始測試,當(dāng)脈沖幅度譜到達(dá)一定計數(shù)后,關(guān)閉水平徑向孔道。

        圖4 西安脈沖反應(yīng)堆實驗照片F(xiàn)ig.4 Photograph of the experiment on the Xi’an pulsed reactor

        3 實驗結(jié)果分析

        圖5為CPNG上實測的典型裂變碎片幅度譜。其中,圖5(a)為235U裂變靶的實測結(jié)果,包含了正常條件下的信號譜以及擋影錐條件下的本底譜,每條譜線的測量時間約為3 h。由于總計數(shù)有限,各道計數(shù)的統(tǒng)計起伏比較大,得到的裂變碎片幅度譜輪廓特征并不明顯。圖5(a)中信號和本底裂變碎片總計數(shù)分別為4 016和1 235,對應(yīng)的伴隨α計數(shù)分別為10 870 773和10 881 217,散射本底約占總信號的1/3??鄢镜赘蓴_后得到235U-9#裂變靶與SiC探測器組合對14.9 MeV中子的探測效率為3.01×10-7。Nf引入的不確定度小于2%,基本滿足標(biāo)定需求。從圖5(b)可以看出,盡管238U-3#和238U-4#裂變靶的鈾面密度有所不同,分別為0.568 mg·cm-2和0.697 mg·cm-2,但兩片238U裂變靶的幅度譜形差異并不明顯;238U裂變靶與235U裂變靶的實測幅度譜形非常相似。由于238U對中子響應(yīng)存在閾能,環(huán)境散射低能中子與238U裂變靶形成的本底干擾比235U裂變靶明顯減少,擋影錐條件下散射帶來的計數(shù)僅占總信號的約1/10。

        (a) 235U target

        (b) 238U target

        圖5CPNG上實測的裂變碎片幅度譜
        Fig.5PulseheightspectraofthefissionfragmentmeasuredontheCPNG

        綜合上述實驗結(jié)果,可以計算得到不同鈾裂變靶與SiC探測器組成的裂變靶室系統(tǒng)對14.9 MeV單能中子的響應(yīng)靈敏度,如表1所列。實驗測量中子靈敏度的相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為7.5%(k=1),主要包括散射本底、幅度譜中低能干擾、加速器源等引入的不確定度。裂變靶厚度的增加,雖然能夠提高探測效率和靈敏度,但是等效平均能量隨靶厚度而降低,低能干擾對裂變碎片幅度譜的干擾也會增加,導(dǎo)致中子靈敏度標(biāo)定不確定度增大。為保證測量精度,本文將裂變靶面密度控制在0.8 mg·cm-2以下。

        (a) 235U-9# target

        (b) 238U target

        圖6 西安脈沖反應(yīng)堆上實測的裂變碎片幅度譜Fig.6 Pulse height spectra of the fission fragment measured on the Xi’an pulsed reactor

        同時,上述實驗表明,基于SiC裂變靶室系統(tǒng)的中子實驗可以在沒有準(zhǔn)直器和屏蔽體的條件下進(jìn)行,裂變靶位置處的中子強(qiáng)度較有準(zhǔn)直器和屏蔽體的情形提高一個量級以上,低靈敏裂變靶室系統(tǒng)的可標(biāo)定下限提高一個量級以上,同時,散射本底的影響可以通過擋影錐的方法進(jìn)行準(zhǔn)確測量和扣除,使中子靈敏度標(biāo)定結(jié)果的精度顯著提高。

        4 結(jié)論

        根據(jù)裂變靶室系統(tǒng)工作原理,提出了對中子探測效率與等效平均能量分別進(jìn)行實驗測量,再合成得到中子靈敏度的方法。分別利用高壓倍加器和西安脈沖反應(yīng)堆開展了實驗測量,得到了SiC器件與不同裂變靶組合的14.9 MeV中子靈敏度及其相對標(biāo)準(zhǔn)不確定度為7.5%(k=1),很好地滿足了裂變靶室在脈沖中子測量領(lǐng)域中的應(yīng)用需求。

        致謝

        感謝中國原子能科學(xué)研究院物理所中子發(fā)生器組陳洪濤等提供的中子束流和實驗保障。

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