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        一種不共地系統(tǒng)的電壓門(mén)限監(jiān)控電路

        2018-07-03 10:54:42邢亞第
        微處理機(jī) 2018年3期
        關(guān)鍵詞:三極管門(mén)限電平

        邢亞第

        (中船重工集團(tuán)公司第七二六研究所,上海201108)

        1 引言

        電子產(chǎn)品中經(jīng)常需要對(duì)某些電壓進(jìn)行監(jiān)控,當(dāng)所監(jiān)控電壓在門(mén)限電壓范圍之外時(shí)控制芯片產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)[1-3]。比如作者遇到的情況是,由電池供電的系統(tǒng)中,隔離的單片機(jī)需要對(duì)對(duì)電池電壓進(jìn)行監(jiān)控。當(dāng)電池電壓過(guò)低,不大于最大報(bào)警電壓(VCA)時(shí),單片機(jī)產(chǎn)生報(bào)警信息;當(dāng)電池電壓不小于最小不報(bào)警電壓(VCUA)時(shí),單片機(jī)不產(chǎn)生報(bào)警信息。如圖1電池電壓的門(mén)限監(jiān)控電路所示,圖中隔離轉(zhuǎn)換電路即本次用于不共地系統(tǒng)的電壓門(mén)限監(jiān)控電路。隔離轉(zhuǎn)換電路將圖1左邊被監(jiān)控的電壓信號(hào)(電池電壓VCC)轉(zhuǎn)化為可被圖1右邊監(jiān)控側(cè)的控制單元(以下簡(jiǎn)稱MCU)識(shí)別、讀取的信息形式。MCU根據(jù)轉(zhuǎn)化后的信息,推斷出被監(jiān)控電壓是否達(dá)到門(mén)限要求。

        2 方案設(shè)計(jì)

        由于被監(jiān)控側(cè)與監(jiān)控側(cè)通過(guò)隔離DC/DC分開(kāi),分屬不同的電壓基準(zhǔn),因此監(jiān)控側(cè)的MCU對(duì)于被監(jiān)控側(cè)電壓VCC的監(jiān)控需要通過(guò)隔離方式。常見(jiàn)的隔離方式有光隔離(光耦、光纖)、電磁隔離(變壓器等)[4]。由于電池組是直流供電,因此變壓器隔離的方式不適用。

        光隔離的方式通常采用線性光耦加ADC采樣的方案[5-6]。線性光耦的隔離原理與普通光耦沒(méi)有差別,只是將普通光耦的單發(fā)單收模式稍加改變,增加一個(gè)光接受電路用于反饋。這樣,雖然兩個(gè)光接受電路都是非線性的,但兩個(gè)光接受電路的非線性特性都是一樣的,就可以通過(guò)反饋通路的非線性來(lái)抵消直通通路的非線性,從而達(dá)到實(shí)現(xiàn)線性隔離的目的[7]。

        圖1 電池電壓的門(mén)限監(jiān)控電路

        傳統(tǒng)型的隔離轉(zhuǎn)換電路如圖2所示,該方案的思路是,MCU對(duì)線性光耦耦合輸出的電壓采樣值進(jìn)行轉(zhuǎn)換求值,得出光耦前端的電源電壓值,進(jìn)而判斷其值是否超出電壓門(mén)限。該方案的優(yōu)點(diǎn)是可以準(zhǔn)確得知被監(jiān)控的電壓值;缺點(diǎn)是所需的元器件較多,成本較高,系統(tǒng)資源消耗也較大,且由于涉及運(yùn)算所以程序編寫(xiě)、調(diào)試較復(fù)雜,時(shí)間開(kāi)銷也較大。該方案適用于對(duì)被監(jiān)控電源的電壓值有實(shí)時(shí)線性要求的情況。

        圖2 傳統(tǒng)型的隔離轉(zhuǎn)換電路框圖

        針對(duì)以上缺點(diǎn),當(dāng)未對(duì)被監(jiān)控電壓有實(shí)時(shí)線性要求時(shí),我們可以采用數(shù)字化思維方式,將前端的報(bào)警門(mén)限電壓與后端MCU的輸入門(mén)檻電壓進(jìn)行轉(zhuǎn)換、關(guān)聯(lián),將對(duì)監(jiān)控門(mén)限的比較操作前移至MCU的數(shù)字輸入端口。比如本例,僅要求在電池組電壓VCC≤VCA時(shí)MCU產(chǎn)生報(bào)警信息,VCC≥VCUA時(shí)不產(chǎn)生報(bào)警信息。因此隔離轉(zhuǎn)換電路僅需在被監(jiān)控電壓的以上兩個(gè)門(mén)限電壓處輸出不同的的邏輯電平即可。MCU根據(jù)隔離轉(zhuǎn)換電路產(chǎn)生的邏輯電平,判斷是否需要產(chǎn)生報(bào)警信息,如圖3所示。該方案的優(yōu)點(diǎn)是,MCU的I/O資源開(kāi)銷大幅下降,由N路輸出變?yōu)閱温份敵?,選用硬件成本也大幅降低,由于將模擬信息進(jìn)行數(shù)字化轉(zhuǎn)化,因此提高了抗干擾能力,電路調(diào)試簡(jiǎn)單,同時(shí)由于MCU無(wú)需進(jìn)行復(fù)雜的軟件運(yùn)算,系統(tǒng)的時(shí)間開(kāi)銷也較少。

        圖3 新型的隔離轉(zhuǎn)換電路框圖

        光耦的輸出無(wú)需線性地映射為被監(jiān)控電壓值,僅需確保在預(yù)設(shè)的門(mén)限電壓值VCUA與VCA處輸出不同的邏輯電平即可。即,所需光耦輸出值由連續(xù)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡x散信號(hào)。例如本例,光耦在VCC≤VCA時(shí)產(chǎn)生的邏輯電平,觸發(fā)MCU的外部電平中斷,MCU據(jù)此可以快速判斷電池電壓低于報(bào)警電壓。

        3 系統(tǒng)分析及計(jì)算

        3.1 系統(tǒng)分析

        為了在MCU的數(shù)字輸入端口產(chǎn)生符合數(shù)字門(mén)電路要求的邏輯電平,當(dāng)被監(jiān)控電壓處于邊界值時(shí),光耦的光敏三極管應(yīng)處于開(kāi)關(guān)狀態(tài)。本例中門(mén)電路采用正邏輯,當(dāng)VCC≥VCUA時(shí),光耦的光敏三極管應(yīng)為飽和狀態(tài),并且其在MCU的數(shù)字輸入端口產(chǎn)生的電平應(yīng)滿足MCU的邏輯高電平門(mén)檻電壓;同樣,VCC≤VCA時(shí),光耦的光敏三極管應(yīng)為截止?fàn)顟B(tài)(IC=0),和/或其在MCU的數(shù)字輸入端口產(chǎn)生的電平應(yīng)滿足MCU的邏輯低電平的門(mén)檻電壓,即三極管輸出的電平邏輯,或者由光耦輸入端提供(由IF=0,導(dǎo)致IC=0,進(jìn)而VI=0),或者由光耦后端MCU的數(shù)字輸入門(mén)檻電壓提供(雖然IC>0,但VI<UIL)。

        光耦通常歸類為流控器件,其轉(zhuǎn)化率CTR=IC/IF類似于三極管中的β。由于CTR在標(biāo)稱范圍內(nèi)離散性較大,為了確保三極管工作在開(kāi)關(guān)狀態(tài),需要光耦在最壞情況下依然能夠滿足設(shè)計(jì)要求。即,在VCC≥VCUA條件下,即使CTR屬于標(biāo)稱低值,三極管仍處于飽和狀態(tài);在VCC≤VCA條件下,即使CTR屬于標(biāo)稱高值三極管仍處于截止?fàn)顟B(tài),考慮到VCA<VCUA,以上要求同光耦光敏三極管的特性相反。基于上述原因,采用分壓電阻控制光耦輸入電流IF,進(jìn)而控制光耦光敏三極管輸出電壓的常規(guī)方案不可取。因此應(yīng)該利用某些元器件的數(shù)字特性,在光耦前端將監(jiān)控電壓或光耦的輸入電流進(jìn)行量化處理,進(jìn)而控制光耦光敏三極管輸出符合要求的邏輯電平。為此,本研究選用穩(wěn)壓管,來(lái)對(duì)前端元件的情況加以分析與計(jì)算。

        3.2 參數(shù)分析與計(jì)算

        由穩(wěn)壓管與光耦構(gòu)造的門(mén)限電壓監(jiān)控電路如圖4所示。

        圖4 使用穩(wěn)壓管與普通光耦的門(mén)限電壓監(jiān)控電路

        其中所選中的關(guān)鍵器件有穩(wěn)壓管V1,光耦E5,其關(guān)鍵參數(shù)如下:

        可知,IZT=2mA,IZK=0.5mA。穩(wěn)壓管的膝點(diǎn)(轉(zhuǎn)折點(diǎn))電流:I=IZK=0.5mA,即穩(wěn)壓管內(nèi)流過(guò)的電流必須不小于IZK=0.5mA才能保證穩(wěn)定電壓的功能。

        光耦:

        IF∈[0.5,5]時(shí),CTR≥300%(特殊篩選),待測(cè)電源電壓VCC,待測(cè)電源最大電壓VCCmax=57V;

        單片機(jī)供電電壓:VDD=5V;

        單片機(jī)的邏輯門(mén)檻電壓:UIH=0.8VDD=4V;UIL=0.18VDD=0.9V;

        最小不報(bào)警電壓:VCUA=54V,即VCC≥VCUA時(shí)不報(bào)警(電壓充足);

        最大報(bào)警電壓:VCA=50V,即VCC≤VCA時(shí)報(bào)警(電壓過(guò)低)。

        在已知上述條件下,需要給出合適的電阻值:R1、R2和 R3。

        圖4中光敏三極管采用下拉形式進(jìn)行輸出。三極管輸出處于截止區(qū)或無(wú)輸出時(shí),其后端單片機(jī)端口處產(chǎn)生邏輯低電平;三極管飽和輸出時(shí),其在后端單片機(jī)端口處產(chǎn)生邏輯高電平。需要注意的是,三極管輸出處于放大區(qū)時(shí),其在后端單片機(jī)端口處產(chǎn)生的電平不能確保為邏輯高電平。光敏三極管與

        普通三極管類似,其飽和輸出條件為:

        因此,使光敏三極管飽和輸出的最小光耦輸入電流為:

        當(dāng)IF≥IFH時(shí),光敏三極管飽和輸出,且輸出電壓滿足MCU的最小輸入高電壓。

        已知 CTR≥300%,取 R3=3.9kΩ,則 IFH=0.43mA。

        對(duì)于MCU的輸入邏輯低電平,可通過(guò)穩(wěn)壓二極管進(jìn)行控制產(chǎn)生。當(dāng)VCC≤VZmin=50V時(shí),認(rèn)為穩(wěn)壓管不導(dǎo)通,進(jìn)而IF=0,單片機(jī)端口處輸入邏輯低電平,滿足電壓過(guò)低產(chǎn)生報(bào)警信號(hào)的設(shè)計(jì)要求。因此,MCU輸入的邏輯低電平完全由穩(wěn)壓管特性控制產(chǎn)生。

        為了使穩(wěn)壓管正常工作,流過(guò)穩(wěn)壓管的電流應(yīng)大于其膝點(diǎn)電流,即IZ≥IZK=0.5mA。本方案中需要在電壓大于最小不報(bào)警電壓時(shí)穩(wěn)壓管正常工作,以驅(qū)動(dòng)光耦在單片機(jī)端口處產(chǎn)生輸入邏輯高電平。由圖4可知,IZ>IR≥IZK時(shí),穩(wěn)壓管正常工作。

        以最低不報(bào)警電壓VCUA為邊界條件,計(jì)算穩(wěn)壓管正常工作的條件:

        代入 VCUA=54V,VZmax=52V,得R1≤ 4kΩ,取R1=3.9kΩ;

        為了保護(hù)穩(wěn)壓二極管,應(yīng)對(duì)其流過(guò)電流進(jìn)行限制??紤]實(shí)際使用情況,應(yīng)對(duì)穩(wěn)壓二極管的IZmax進(jìn)行降額[8]。如果采用I級(jí)降額,IZlim|i=0.5Izmax=5mA。IR與 IF均隨IZ的增大而增大,因此:

        在I級(jí)降額的情況下IZmax=IZlim|i=0.5Izmax,代入VCCmax=57V,VZmin=50V,VCUA=54V,VZmax=52V,得:IRmax≈1.8mA,IRmin≈0.51mA,IFmax=3.2mA。限流電阻R2應(yīng)使IF同時(shí)滿足IFH與IZlim的要求:

        由于VF與IF的正相關(guān)關(guān)系,在利用公式(11)計(jì)算IFmax所對(duì)應(yīng)的R2的值時(shí),選取IF=IFmax=3.2mA時(shí)所對(duì)應(yīng)的VF的值,是可以接受的近似運(yùn)算。

        通過(guò)查光耦參數(shù)圖,如圖5所示,可知VF|IF=3.2mA≈1.25V。

        圖5 光偶參數(shù)IF~VF~Ta關(guān)系曲線圖

        又由公式(7)、(11)、(12),可得:

        取R2=2kΩ。

        查光耦參數(shù)圖,圖中最小IF=1mA,對(duì)應(yīng)的VF≈1.2V。又由公式(8)、(11)、(12),可得:

        在R2阻值的選取滿足IZmax,IZmin的同時(shí),還需要滿足IF>IFH(即IFmin)的要求,也是使光敏三極管飽和輸出的要求。

        由于IFmin=(54-52-1.2)/2=0.4mA,而IFH=0.43mA,則 IFmin<IFH,說(shuō)明以上 R1,R2,R3的取值無(wú)法同時(shí)滿足IZ的I級(jí)降額、穩(wěn)壓管膝點(diǎn)電流IZK和IF的最小電流IFH這三者的要求。

        3.3 參數(shù)修正

        修正參數(shù)有兩個(gè)思路:下調(diào)IFH(下文的條件a);降低IZ的降額標(biāo)準(zhǔn)(下文的條件b)。

        條件a:下調(diào)IFH

        下調(diào) IFH,使 IFmin'≥IFH。根據(jù)公式(3),提高 R3可以降低IFH。

        選取R3=4.7kΩ,IFH=0.354mA <I'Fmin

        選取R3=4.3kΩ,IFH=0.39 mA<I'Fmin

        所以 R3≥ 4.3kΩ時(shí),同時(shí)滿足IZ的I級(jí)降額與IFH的要求。

        條件b:降低IZ的降額等級(jí)至II級(jí)

        根據(jù)應(yīng)用場(chǎng)合的不同,有時(shí)電路不需工作在I級(jí)降額條件,我們可以適當(dāng)降低降額等級(jí)至II級(jí)。根據(jù)國(guó)軍標(biāo)要求,II降額時(shí)IZmax|II=0.65IZmax=6.5mA。根據(jù)公式 (6),R1≤4kΩ,選取R1=3.9kΩ。根據(jù)公式(7),得IRmax|II=1.8mA。根據(jù)公式 (10),IFmax|II=IZmax|IIIRmax|II=6.5-1.8=4.7mA。查光耦圖可知,VF|IF=4.7mA≈1.35V。根據(jù)公式(13)得 R2 ≥1.2kΩ,取 R2=1.5kΩ。

        根據(jù)公式(7)、(9)、(13),有:

        根據(jù)公式(8)、(14)、(15),得:

        3.4 參數(shù)校驗(yàn)

        校驗(yàn)不同條件下R1,R2,R3的取值是否滿足電路要求。

        條件a:

        R1=3.9kΩ±1%,R2=2kΩ±1%,R3=4.7k±1%,穩(wěn)壓二極管采用I級(jí)降額,IZmax|I=0.5Izmax=5mA。

        計(jì)及電阻差值的情況下,有:

        且IFmin|a>IFH|a。

        所以,以上電阻取值滿足穩(wěn)壓二極管在I級(jí)降額下正常工作,并在取樣電壓大于最小不報(bào)警電壓時(shí),光耦輸出端三極管呈現(xiàn)開(kāi)關(guān)導(dǎo)通狀態(tài)。

        條件b:

        R1=3.9kΩ±1%,R2=1.5kΩ±1%,R3=3.9kΩ±1%,穩(wěn)壓二極管采用II級(jí)降額,IZmax|II=6.5Izmax=5mA,IFH|b=0.43mA。

        且IFmin|b>IFH|b。

        所以,以上電阻取值滿足穩(wěn)壓二極管在II級(jí)降額下正常工作,并在取樣電壓大于最小不報(bào)警電壓時(shí),光耦輸出端三極管呈現(xiàn)開(kāi)關(guān)導(dǎo)通狀態(tài)。

        4 結(jié)束語(yǔ)

        在使用穩(wěn)壓管與普通光耦代替線性光耦與ADC芯片的基礎(chǔ)上,針對(duì)構(gòu)建該隔離轉(zhuǎn)換電路的元器件的參數(shù)選取進(jìn)行討論與計(jì)算,并根據(jù)不同應(yīng)用條件下的降額標(biāo)準(zhǔn),對(duì)參數(shù)進(jìn)行必要修正。該轉(zhuǎn)換電路的構(gòu)建,降低了電路成本的同時(shí),使電路結(jié)構(gòu)更緊湊,降低空間需求。進(jìn)一步地,門(mén)限電壓向邏輯電平的映射關(guān)系已在電路構(gòu)建階段完成,降低了電路運(yùn)行階段對(duì)于后端MCU的運(yùn)算需求。

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