彭奕賢 黃啟濤 陳翠華 劉思平 常清賢
南方醫(yī)科大學南方醫(yī)院婦產(chǎn)科(廣州510515)
側腦室擴張是指產(chǎn)前超聲提示胎兒單側或雙側側腦室后角的寬度≥10 mm,為最常見的胎兒神經(jīng)發(fā)育異常指標,研究統(tǒng)計其發(fā)生率為0.78%~2.2%[1]。側腦室擴張不伴發(fā)其他顱內(nèi)外結構異常或超聲軟指標異常,則稱為孤立性側腦室擴張(isolated ventriculomegaly,IVM),反之為非孤立性側腦室擴張(non?isolate ventriculomegaly,NIVM)[2]。NIVM 合并的顱內(nèi)異常包括:Dandy?Walker畸形、胼胝體發(fā)育不良、腦發(fā)育不良、顱內(nèi)囊腫、顱內(nèi)腫瘤、蛛網(wǎng)膜下腔增寬等;合并的顱外畸形包括心血管發(fā)育異常、超聲軟指標異常、骨骼系統(tǒng)異常、顏面部異常等。重度側腦室擴張的病例中常合并畸形,GAGLIOTI等[3]統(tǒng)計發(fā)現(xiàn),60%的重度側腦室擴張患兒中合并異常,以胼胝體發(fā)育不全和脊柱裂最常見。而輕度側腦室擴張合并異常的報道差異較大,文獻報道其發(fā)生率在10%~76%之間不等[4-5],與納入研究的對象及對輕度側腦室擴張的定義不同相關。ADDARIO[6]認為約50%的輕度側腦室擴張患兒中合并異常,最常見的中樞系統(tǒng)異常為脊柱裂、胼胝體發(fā)育不全。NIVM預后取決于合并異常的嚴重程度及種類,影響著妊娠期管理,妊娠終止,宮內(nèi)治療和分娩時機。因此,本文對非孤立性側腦室擴張患兒合并畸形類型做一具體統(tǒng)計,分析常見的合并畸形及其臨床意義,以便更好地進行臨床決策。
1.1 研究對象 2010年3月至2016年12月,因產(chǎn)前超聲提示胎兒側腦室擴張(單側或雙側側腦室寬度≥10.0 mm)到南方醫(yī)院高危產(chǎn)科就診的單胎妊娠孕婦298例,其中孤立性側腦室擴張109例,非孤立性側腦室擴張189例。所有研究對象均在作者的解釋下簽署書面知情同意書。
1.2 研究方法 按側腦室寬度分為輕度組(10.0~11.9 mm)、中度組(12.0~14.9 mm)、重度組(≥15.0 mm)。按側腦室是否合并其他異常分為IVM和NIVM。當側腦室擴張伴其他顱內(nèi)異常,或顱外各系統(tǒng)發(fā)育異常,或超聲軟指標異常時為NIVM,反之為IVM。通過超聲分析統(tǒng)計NIVM合并的畸形類型,比較不同側腦室寬度間合并的畸形是否存在差異。
1.3 統(tǒng)計學方法 采用SPSS 19.0進行數(shù)據(jù)分析,符合正態(tài)分布的計量資料以均數(shù) ±標準差(±s)表示。計數(shù)資料用率表示,兩組率的比較用χ2檢驗或Fisher精確概率法。等級資料采用非參數(shù)檢驗,兩獨立樣本非參數(shù)檢驗采用Mann?whitney檢驗,多樣本非參數(shù)檢驗采用Kruskal?WallisH檢驗。P<0.05為差異有統(tǒng)計學意義。
2.1 一般臨床資料 IVM者109例,輕度組65例,中度組37例,重度組7例;平均孕周為(28.50±5.49)周,平均年齡為(26.47±3.47)歲。NIVM者189例,輕度組85例,中度組78例,重度組26例;平均孕周為(25.78±5.49)周,平均年齡為(27.64.64±5.77)歲。對側腦室擴張者進行染色體核型和基因芯片分析,檢測出有意義的染色體異常21例,包括3例致病性染色體拷貝數(shù)變異,19例染色體數(shù)目異常。21例中,10例為21三體綜合癥,占47.62%(10/21),2例為性染色體異常,1例為19號染色體嵌合體。染色體異常者中,IVM組者有4例,占3.67%(4/109),N?IVM組者有17例,占8.99%(17/189)。
2.2 不同側腦室寬度的NIVM合并異常具體分類 189例孕婦影像學結果顯示合并額外異常,累及異常數(shù)目為252例。最常見合并神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育異常,占37.30%(94/252);其次為超聲軟指標異常,占27.78%(70/252)。常合并的顱內(nèi)異常包括:顱內(nèi)囊腫、胼胝體發(fā)育不良、脊柱形態(tài)異常、腦發(fā)育不良、蛛網(wǎng)膜下腔增寬等;常合并的顱外畸形包括超聲軟指標異常,如左心室強光點、腎盂分離、腸管回聲增強,其次為心臟發(fā)育異常、顏面部異常、泌尿系異常、骨骼系統(tǒng)異常等。
2.3 不同側腦室寬度的NIVM組間合并系統(tǒng)異常 NIVM輕度組中發(fā)現(xiàn)合并影像學異常105例次,其中合并超聲軟標志異常發(fā)生率最高,占44.76%(47/105),其次為其他超聲指標,占18.10%(19/105),主要為羊水量異常;中度組中發(fā)現(xiàn)異常93例次,其中合并中樞神經(jīng)系統(tǒng)異常發(fā)生率較高,占45.16%(42/93),以顱內(nèi)囊腫、胼胝體發(fā)育不全、小腦下蚓部缺失、腦發(fā)育不良、透明隔異常等為主;其次為超聲軟指標異常,占21.51%(20/93);重度組發(fā)現(xiàn)異常54例次,其中中樞神經(jīng)系統(tǒng)異常占62.96%(34/54),主要為脊柱形態(tài)異常、胼胝體發(fā)育不良、顱內(nèi)囊腫等,其次為心血管系統(tǒng)異常占14.81%(8/54)。見圖1。
圖1 不同側腦室寬度的NIVM組間合并系統(tǒng)異常差異Fig.1 Different abnormalities between NIVM with different width of lateral ventricles
2.4 不同側腦室寬度的NIVM常見合并異常間的比較 不同側腦室寬度的NIVM合并神經(jīng)系統(tǒng)、超聲軟指標異常間存在差異,差異有統(tǒng)計學意義。合并心血管系統(tǒng)異常不存在差異。見表1。
表1 不同側腦室寬度的NIVM常見合并異常間的比較Tab.1 Comparison of common abnormality of NIVM with different width of lateral ventricles例
側腦室擴張病因復雜,可能為正常變異,也可能為神經(jīng)系統(tǒng)疾病的早期表現(xiàn),或者其他系統(tǒng)疾病的顱內(nèi)表現(xiàn)[7-8]。與不明原因智力低下、自閉癥、多動癥等疾病有一定關系,不僅影響患兒的生存率,還可導致患兒出生后的智力、語言及運動能力發(fā)育障礙[9-10]。BEEGHLY等[11]研究發(fā)現(xiàn),輕度側腦室擴張?zhí)旱拇婊盥蕿?3%,中重度側腦室擴張?zhí)旱拇婊盥蕿?4%,若伴發(fā)其他畸形,即為NIVM,則存活率降至60%。追蹤隨訪側腦室擴張患兒發(fā)現(xiàn),輕中度側腦室擴張?zhí)撼錾笊窠?jīng)發(fā)育遲滯的風險約為7.9%[12]。且神經(jīng)發(fā)育、運動及認知功能在側腦室擴張合并其他異常更易發(fā)生,無論是合并顱內(nèi)還是顱外異常[4]。側腦室擴張?zhí)旱念A后與其側腦室的寬度及是否伴發(fā)畸形密切相關[13],因此,本文對NIVM患兒合并的異常做一具體統(tǒng)計,以更好地進行預后判斷及指導臨床決策。
189例胎兒影像學顯示合并額外異常,累積異常數(shù)目為252例次。最常合并神經(jīng)系統(tǒng)發(fā)育異常(37.30%,94/252),分別為顱內(nèi)囊腫、胼胝體發(fā)育不良、腦發(fā)育不良、蛛網(wǎng)膜下腔增寬等,提示其可能為神經(jīng)系統(tǒng)疾病的早期表現(xiàn),可影響胎兒出生后的遠期發(fā)育。如胼胝體是連接大腦半球的白質中最大的部分,對與感覺、運動、視覺和認知過程(語言、抽象推理、復雜感官信息)等功能的整合非常重要。胼胝體缺失、部分發(fā)育不良或增生均會不同程度影響神經(jīng)功能的發(fā)育[14]。其次常見合并超聲軟指標異常,占27.78%(70/252),分別為左心室強光點、腎盂分離、腸管回聲增強等,這均與染色體非整倍體異常相關[15]。而染色體異常為側腦室增寬的常見病因之一,研究報道[16]輕度IVM患兒染色體異常風險為5%~10%,而當伴發(fā)其他結構異常或超聲軟指標異常時,染色體異常的風險可達18%。我們研究發(fā)現(xiàn)經(jīng)核型分析和基因芯片分析提示染色體異常者,IVM組者有4例(3.67%,4/109),N?IVM組者有17例(8.99%,17/189),且21三體綜合癥者占47.62%(10/21)。即,NIVM染色體異常的風險較IVM高,且最常為21三體綜合征。
NIVM中輕度組合并超聲軟標志異常發(fā)生率最高,其次為胎兒其他超聲異常;中度組合并中樞神經(jīng)系統(tǒng)異常發(fā)生率較高,其次為超聲軟指標異常;重度組最常見合并中樞神經(jīng)系統(tǒng)異常,其次為心血管系統(tǒng)異常。不同NIVM組間中樞神經(jīng)系統(tǒng)異常、超聲軟標志異常、心血管系統(tǒng)異常發(fā)生率相對較高,對這3類異常發(fā)生率進行比較,不同NIVM組間中樞神經(jīng)系統(tǒng)、超聲軟指標異常發(fā)生率存在差異,心血管系統(tǒng)異常發(fā)生率不存在統(tǒng)計學差異。這可以解釋既往研究報道的輕度側腦室擴張患兒遠期中樞神經(jīng)發(fā)育障礙輕,預后較好;重度側腦室擴張患兒的遠期中樞神經(jīng)發(fā)育障礙較輕、中度組嚴重。
綜上所述,染色體異常、顱內(nèi)結構發(fā)育異常是側腦室擴張患兒的重要病因。因此,當產(chǎn)前超聲提示胎兒側腦室擴張時,應仔細檢查是否伴發(fā)其他顱內(nèi)外異?;虺曑浿笜水惓?,側腦室擴張的程度越重,合并胎兒超聲軟指標或畸形越多,提示胎兒發(fā)生不良結局的概率越高。在排除孕婦自身因素,如TORCH感染等外,還應建議行染色體檢查以確診胎兒是否存在染色體異常。本文的不足缺乏NIVM胎兒的遠期隨訪數(shù)據(jù),難以準確評估不同側腦室寬度及合并不同異常的患兒遠期預后。進一步研究將對其進行定期臨床(如智力量表評估)和影像學(如超聲和MRI檢查)隨訪,以便于預后評估及臨床決策。
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