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        飛控計(jì)算機(jī)導(dǎo)通絕緣測(cè)試方法探索與實(shí)踐*

        2018-05-02 03:17:47王勇陳春歌粘朋雷
        現(xiàn)代防御技術(shù) 2018年2期
        關(guān)鍵詞:控計(jì)算機(jī)萬(wàn)用表測(cè)試儀

        王勇,陳春歌,粘朋雷

        (中國(guó)人民解放軍 91550部隊(duì),遼寧 大連 116023)

        0 引言

        飛控計(jì)算機(jī)是飛行器執(zhí)行任務(wù)成功的關(guān)鍵環(huán)節(jié)[1]。飛控計(jì)算機(jī)單元測(cè)試期間,需要進(jìn)行導(dǎo)通檢查和絕緣性能測(cè)試。主要做法是采用萬(wàn)用表、飛控計(jì)算機(jī)單元測(cè)試系統(tǒng)配置的測(cè)試電纜、以及細(xì)銅絲(通常用一只金屬膜電阻的金屬引腳)作為檢測(cè)工具,通過(guò)人工查點(diǎn)、手工逐一測(cè)量的方式進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試方法上存在諸多問(wèn)題,影響了技術(shù)準(zhǔn)備效率和操作安全性。為此,研制單位配套研制一種“絕緣測(cè)試盒”使得絕緣測(cè)試方法有所改進(jìn)。絕緣測(cè)試主要做法是采用萬(wàn)用表、“絕緣測(cè)試盒”、飛控計(jì)算機(jī)單元測(cè)試系統(tǒng)配置的測(cè)試電纜作為檢測(cè)工具,仍然通過(guò)人工查點(diǎn)、手工逐一測(cè)量的方式進(jìn)行測(cè)試。與配置“絕緣測(cè)試盒”前相比較,絕緣測(cè)試點(diǎn)通過(guò)測(cè)試電纜引入到“絕緣測(cè)試盒”上,人工查點(diǎn)和點(diǎn)選測(cè)試點(diǎn)的操作更加方便(測(cè)試盒上是較粗的“測(cè)試孔”,可以使用萬(wàn)用表測(cè)試探針直接點(diǎn)選測(cè)試),在一定程度上,解決了絕緣測(cè)試中,操作效率低、安全隱患大的問(wèn)題。但是改進(jìn)后的測(cè)試方法,仍存在測(cè)試工具簡(jiǎn)陋、操作過(guò)程復(fù)雜、人為因素多、安全隱患高的問(wèn)題[2]。為了加強(qiáng)飛控計(jì)算機(jī)導(dǎo)通檢查和絕緣測(cè)試過(guò)程狀態(tài)控制,減少人為操作失誤,提高工作效率,解決使用中遇到的難題,開(kāi)展導(dǎo)通絕緣測(cè)試方法研究。

        1 傳統(tǒng)測(cè)試方法及其存在的問(wèn)題

        在實(shí)際使用中,通過(guò)導(dǎo)通檢查和絕緣測(cè)試,目的是確定飛控計(jì)算機(jī)是否具備通電檢查或通電使用條件的基本操作。導(dǎo)通檢查實(shí)際上是對(duì)飛控計(jì)算機(jī)的各功能板卡的“保護(hù)地”信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,確保信號(hào)“保護(hù)地”(或屏蔽層)均連通。絕緣測(cè)試實(shí)際上是對(duì)飛控計(jì)算機(jī)各功能板卡的信號(hào)處理電路的隔離情況進(jìn)行測(cè)試,確保各關(guān)鍵功能信號(hào)電路均不連通(而各功能模塊電路之間的地線相互獨(dú)立)。傳統(tǒng)導(dǎo)通、絕緣測(cè)試存在的問(wèn)題主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:

        (1) 飛控計(jì)算機(jī)導(dǎo)通絕緣測(cè)試涉及到7根J7型電纜插頭和插座。這些插頭和插座的插針和插孔尺寸都比較小(與萬(wàn)用表的測(cè)量表筆探頭端相比較,直徑僅為其1/4左右)。對(duì)于“插孔”內(nèi)信號(hào)無(wú)法直接用萬(wàn)用表的測(cè)試表筆插入到電纜插頭或插座對(duì)應(yīng)的插孔中進(jìn)行測(cè)量;對(duì)“插針”上信號(hào),直接用萬(wàn)用表的測(cè)試表筆進(jìn)行接觸式測(cè)量時(shí),需要躲避周圍插針信號(hào)(由于插針尺寸較小,各插針排列緊密,插針間距較近)。

        (2) 由于用萬(wàn)用表的探針無(wú)法直接接觸到被測(cè)電纜插孔的金屬信號(hào)端子,測(cè)試時(shí)通常是找一個(gè)非標(biāo)準(zhǔn)件的細(xì)銅絲(例如一個(gè)電阻元件的一條金屬引腳)插入到電纜插孔內(nèi),再通過(guò)萬(wàn)用表接觸該引腳,將被測(cè)信號(hào)引出,這樣的測(cè)試方法存在的問(wèn)題是會(huì)因?yàn)榉菢?biāo)準(zhǔn)件(金屬引腳)的插入對(duì)電纜插孔的鍍層、卡簧彈性等的造成難以估量的永久性損傷,直接影響到飛控計(jì)算機(jī)的信號(hào)傳輸性能。

        (3) 無(wú)論是對(duì)插針信號(hào)檢測(cè)還是插孔信號(hào)檢測(cè),每次插入或?qū)?zhǔn)某一個(gè)孔或針之前都要核對(duì)位置,操作復(fù)雜,容易點(diǎn)錯(cuò)點(diǎn)號(hào)、漏掉點(diǎn)號(hào),引起錯(cuò)操、漏操。

        (4) 在絕緣測(cè)試盒上進(jìn)行的操作,也是人工查點(diǎn)、逐點(diǎn)兩兩測(cè)量,同樣,容易出現(xiàn)錯(cuò)操、漏操現(xiàn)象。

        2 測(cè)試方法改進(jìn)總體思路與實(shí)現(xiàn)

        2.1 總體思路

        研制一臺(tái)具備接口匹配性好、安全性高,經(jīng)濟(jì)、實(shí)用的測(cè)試儀,實(shí)現(xiàn)對(duì)飛控計(jì)算機(jī)對(duì)應(yīng)芯線點(diǎn)號(hào)的安全可靠引入、快速測(cè)量和顯示。利用飛控計(jì)算機(jī)單元測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)配套的7根專用測(cè)試電纜和一根接殼測(cè)量線,將測(cè)試儀與飛控計(jì)算機(jī)連接在一起形成閉環(huán),提高測(cè)試效率和測(cè)試操作安全性。

        導(dǎo)通檢查和絕緣測(cè)試點(diǎn)位分配,通過(guò)測(cè)試儀操作面板上的波段開(kāi)關(guān)固化下來(lái),并設(shè)計(jì)清晰的信號(hào)標(biāo)識(shí),便于理解測(cè)試操作內(nèi)容;操作過(guò)程可直觀顯示操作狀態(tài);信號(hào)測(cè)量和顯示通過(guò)測(cè)量芯片自動(dòng)進(jìn)行,提高測(cè)試準(zhǔn)確性并實(shí)現(xiàn)自動(dòng)量程測(cè)試。

        測(cè)試儀實(shí)現(xiàn)自檢和自校驗(yàn)功能,提高自身狀態(tài)的易檢性和狀態(tài)“自檢”能力;設(shè)計(jì)監(jiān)測(cè)接口,實(shí)現(xiàn)使用外接測(cè)試設(shè)備進(jìn)行監(jiān)測(cè)功能,可便于故障排查比對(duì);供電控制和電池更換均在操作面板上實(shí)現(xiàn),提高操作便捷性。

        2.2 測(cè)試儀研制實(shí)現(xiàn)情況

        機(jī)箱采用鋁合金材料加工而成的可拆卸上蓋的翻蓋式包裝箱結(jié)構(gòu)(圖1),上下2部分由可分離合頁(yè)連接,操作使用方便,翻開(kāi)或拆下上蓋,可操作;閉合箱蓋,使得放置、運(yùn)輸更加安全可靠。采用CAD 技術(shù)和COREDRAW平面繪圖技術(shù)設(shè)計(jì)的操作面板(圖2)由鋁板加工而成,外表面覆彩印PVC貼膜。其上安裝操作按鈕、開(kāi)關(guān)和接線端子,人機(jī)交互方便。

        測(cè)試儀以臺(tái)灣富晶FS9721[3]測(cè)量芯片是核心測(cè)量部件,具備自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換[4]功能,可完成導(dǎo)通檢查和絕緣電阻測(cè)量任務(wù)。

        圖2中K1實(shí)現(xiàn)供電控制功能,K2實(shí)現(xiàn)測(cè)量檔位選擇功能。K3和K4共同實(shí)現(xiàn)測(cè)試信號(hào)分配和控制功能,可將各路測(cè)量信號(hào)逐“對(duì)”引入K2控制的信號(hào)檢測(cè)儀表。將圖2中K4置“導(dǎo)通·絕緣”檔測(cè)試時(shí),K3從“K.K0”檔至“K.7”7個(gè)檔位依次順時(shí)針旋轉(zhuǎn),可快速、安全地完成所有導(dǎo)通項(xiàng)目檢查;K3從“K.-B”檔至“T.B”檔15個(gè)檔位依次順時(shí)針旋轉(zhuǎn),可完成所有絕緣檢查項(xiàng)目。

        該電路設(shè)計(jì)具有很好的實(shí)用性,實(shí)際工作中,某導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀研制中應(yīng)用該電路設(shè)計(jì)方案設(shè)計(jì)制作了24路測(cè)量通道信號(hào)分選控制電路和5種標(biāo)準(zhǔn)電阻狀態(tài)下的自校驗(yàn)電路。設(shè)備操作面板見(jiàn)圖2。圖2中的K1是測(cè)試儀電源開(kāi)關(guān),K2是設(shè)備內(nèi)部嵌入的測(cè)量?jī)x表(以優(yōu)利德UT10萬(wàn)用表作為嵌入式測(cè)量?jī)x表)功能控制開(kāi)關(guān),K3是24檔4層波段開(kāi)關(guān),K4是12檔4層波段開(kāi)關(guān)。

        3 測(cè)試電路設(shè)計(jì)

        3.1 信號(hào)控制與分段自檢結(jié)合的測(cè)試電路設(shè)計(jì)

        多層多檔復(fù)合波段開(kāi)關(guān)[5-8]為主體的測(cè)試電路設(shè)計(jì)和操作面板設(shè)計(jì)有機(jī)結(jié)合,實(shí)現(xiàn)測(cè)試信號(hào)通道轉(zhuǎn)換有效控制、合理分配與分段機(jī)內(nèi)測(cè)試(BIT)。測(cè)量控制電路如圖3所示。

        (1) JC1,JC2分別和Ka-Mo,Ka-Mp相連;Kb-Mo,Kb-Mp分別和Ka-o-v,Ka-p-v相連;Kb-o-i,Kb-p-i分別和Aj,Bj相連。在Ka的第v檔、Kb的第i檔接通的情況下,2個(gè)前級(jí)測(cè)量點(diǎn)JC1,JC2和任意2個(gè)被檢測(cè)點(diǎn)Aj,Bj連通在一起,形成測(cè)量通道。

        (2) Ka-o-u和Ka-p-u短路連接。在Ka的第u檔位接通的情況下,從JC1,JC2端可檢查JC1至Ka-Mo和JC2至Ka-Mp連通情況(通路正常、斷路、電路阻抗異常等,下同)。

        (3) Kb-o-f和Kb-p-f短路連接。在Ka的第v檔、Kb的第f檔位接通的情況下,從JC1,JC2端可檢查JC2至Ka-Mp,JC1至Ka-Mo,Ka-p-v至Kb-Mp,Ka-o-v至Kb-Mo各段連通情況。

        (4) 在上述(2),(3)同時(shí)進(jìn)行的情況下,可推測(cè)出Ka-p-v至Kb-Mp,Ka-o-v至Kb-Mo的連通狀態(tài)。

        (5) Ka,Kb通過(guò)測(cè)量通道控制實(shí)現(xiàn)了Aj,Bj多組測(cè)量信號(hào)的選擇和分配,經(jīng)由JC1,JC2公共端將選中的第j組信號(hào)(Aj,Bj)送到測(cè)試儀內(nèi)部測(cè)量模塊檢測(cè)端,得出檢測(cè)結(jié)果。

        (6) Ka,Kb通過(guò)檔位組合控制實(shí)現(xiàn)了對(duì)JC1,JC2至Kb之間的各段測(cè)量通道的分段機(jī)內(nèi)“自檢”,提高了系統(tǒng)的BIT設(shè)計(jì),可在設(shè)備故障時(shí)精確定位故障點(diǎn)。

        (7) 圖3中的JC1,JC2連接到圖2操作面板上K2對(duì)應(yīng)的嵌入式儀表;Ka,Kb分別對(duì)應(yīng)圖2操作面板上的K4,K3波段開(kāi)關(guān)。K3和K4旋鈕開(kāi)關(guān)一起實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試通道的分配和控制,運(yùn)用圖3所示的電路原理將各路測(cè)量信號(hào)逐“對(duì)”引入信號(hào)檢測(cè)端,并實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)量通道的分段機(jī)內(nèi)“自檢”。

        3.2 信號(hào)控制與全通道閉環(huán)自檢結(jié)合的測(cè)試電路設(shè)計(jì)

        如圖4所示, Kb-o-i(i=1,2,3,…,N為整數(shù),下同),Kb-p-i分別和Aj,Bj相連。Ka-o-v和Ka-o-u相連,Ka-p-v和Ka-p-u相連。Kb-q-i,Kb-r-i分別和Aj,Bj相連。Kb-Mq和Ka-Mq相連,Kb-Mr和Ka-Mr相連,Ka-q-v和Ka-r-v短路連接。

        在Ka的第u檔、Kb的第i檔接通的情況下,JC2,JC1和Bj,Aj分別由過(guò)JC2,Ka-Mp,Ka-p-u,Kb-Mp,Kb-p-i,Bj的電路和過(guò)JC1,Ka-Mo,Ka-o-u,Kb-Mo,Kb-o-i,Aj點(diǎn)的電路連接在一起,形成測(cè)量通道;在Ka的第v檔、Kb的第i檔接通的情況下,Aj,Bj由過(guò)Aj,Kb-Mq,Ka-Mr,Bj點(diǎn)的電路短接在一起,形成自檢閉合回路H。可通過(guò)測(cè)量回路H的連通情況,診斷出JC1-Aj測(cè)量通道和JC2-Bj測(cè)量通道的連通情況。

        圖4中的JC1,JC2連接到圖2操作面板上K2對(duì)應(yīng)的嵌入式儀表;Ka,Kb分別對(duì)應(yīng)圖2操作面板上的K4,K3波段開(kāi)關(guān)。K3和K4旋鈕開(kāi)關(guān)一起實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試通道的分配和控制,運(yùn)用圖4所示的電路原理實(shí)現(xiàn)對(duì)多測(cè)量通道的控制和機(jī)內(nèi)閉環(huán)“自檢”。

        3.3 對(duì)外測(cè)量接口設(shè)計(jì)

        輸入接口采用7個(gè)50芯和38芯J7型、J7Ⅰ型、J7Ⅱ型防誤插座,便于使用和測(cè)試儀維修。7個(gè)測(cè)量輸入接口安裝在圖1所示測(cè)試儀的后側(cè),如圖5所示。圖2操作面板左側(cè)設(shè)計(jì)“W1”和“W2”“外測(cè)”端子,內(nèi)部并聯(lián)到測(cè)量模塊的測(cè)試輸入端。通過(guò) “W1”和“W2”從外部接入測(cè)量?jī)x表(例如萬(wàn)用表),可以用外接測(cè)量?jī)x表進(jìn)行“監(jiān)測(cè)”比較和故障排查;通過(guò)“W1”和“W2”外接測(cè)量線,本測(cè)試儀可對(duì)外進(jìn)行電壓、電阻等測(cè)量。接口設(shè)計(jì)提高了本測(cè)試儀實(shí)用性。

        4 相對(duì)優(yōu)勢(shì)

        (1)與萬(wàn)用表比較:無(wú)論是模擬式還是數(shù)字萬(wàn)用表[3-4],均不具備信號(hào)控制與分段自檢結(jié)合、全通道閉環(huán)自檢結(jié)合的信號(hào)轉(zhuǎn)換控制和測(cè)試過(guò)程控制功能,測(cè)試效率和操作安全性無(wú)法保障。

        (2) 李德堯和劉筠筠等研制的典型小型化自動(dòng)電阻測(cè)量?jī)x[9-10]具有體積小、精度高的特點(diǎn),且具備自動(dòng)量程切換和控制功能,但其一方面面向通用電阻設(shè)計(jì),接口單一,無(wú)法直接用于飛控計(jì)算機(jī)導(dǎo)通絕緣測(cè)試使用;另一方面,在機(jī)內(nèi)自檢和“外測(cè)”接口“監(jiān)測(cè)“設(shè)計(jì)方面不及本測(cè)試方案。

        (3) 唐宇等針對(duì)某種或某幾種電纜接口專門(mén)研制的帶有典型性的測(cè)試轉(zhuǎn)接盒[11],比飛控計(jì)算機(jī)傳統(tǒng)測(cè)試方案中配套“絕緣測(cè)試盒”的測(cè)試方法先進(jìn)一些,但其本身不具備測(cè)量功能且操作開(kāi)關(guān)多達(dá)幾十個(gè),信號(hào)分選和操作過(guò)程復(fù)雜,系統(tǒng)的集成度不高,相比之下,本測(cè)試方案提供的測(cè)試方法更方便、實(shí)用。

        (4) 楊勝兵、柳穎、喬楠楠等研制的測(cè)試儀[12-15]一般都實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)測(cè)量,基本原理和測(cè)試方法與本測(cè)試方案有類似之處,但其信號(hào)的轉(zhuǎn)換和控制一般都是通過(guò)繼電器矩陣[12-15]實(shí)現(xiàn),因此需要較強(qiáng)的供電能力,系統(tǒng)通常構(gòu)成復(fù)雜,體積較大,耗電量相對(duì)較大,用于測(cè)試絕緣電阻的電源電壓(根據(jù)國(guó)際電工委員會(huì)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC6101[16],測(cè)量前需要確定被測(cè)對(duì)象的耐壓情況,現(xiàn)場(chǎng)選擇儀器需要的作用電壓,通常最小的設(shè)計(jì)值為直流250 V),無(wú)法直接用于飛控計(jì)算機(jī)導(dǎo)通、絕緣測(cè)試。相比之下,該測(cè)試方案提供的測(cè)試方法可實(shí)現(xiàn)低功耗,自供電,接口匹配性也好,應(yīng)用優(yōu)勢(shì)明顯。

        5 結(jié)束語(yǔ)

        針對(duì)使用單位技術(shù)準(zhǔn)備中遇到的難題,研究改進(jìn)的飛控計(jì)算機(jī)測(cè)試方案,嘗試采用波段開(kāi)關(guān)實(shí)現(xiàn)了信號(hào)控制與BIT[17]設(shè)計(jì)相結(jié)合的測(cè)試電路設(shè)計(jì)方案,研制出一體化、小型化、低成本的導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀,創(chuàng)新了飛控計(jì)算機(jī)的導(dǎo)通檢查和絕緣測(cè)試方法。經(jīng)應(yīng)用檢驗(yàn),檢測(cè)效率提高4.5倍左右。

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