吳 強(qiáng),雷 宛,2,劉 倫
(1.成都理工大學(xué) 地球物理學(xué)院,四川 成都 610059,2.成都理工大學(xué) 環(huán)境與土木工程學(xué)院,四川 成都 610059)
地下水的分布以及流向是地下水調(diào)查的重要內(nèi)容。傳統(tǒng)調(diào)查地下水流向的方法是在場(chǎng)地內(nèi)外鉆取多個(gè)孔(孔深至第一隔水層即可),然后量取潛水面到井口的相對(duì)高度以及井口的GPS數(shù)據(jù),獲得各個(gè)孔潛水面的高程,從而推斷地下水流向。
該方法優(yōu)點(diǎn)是單孔數(shù)據(jù)精度高,缺點(diǎn)是由于井孔的數(shù)量有限,存在“以點(diǎn)概面”的不足[1]。
高密度電法作為環(huán)境地球物理方法的一種,是以地下地質(zhì)體間的導(dǎo)電性差異為物性基礎(chǔ),通過在監(jiān)測(cè)區(qū)布設(shè)剖面/平面,進(jìn)行小點(diǎn)距(<10m)多道測(cè)量,從而獲得地下二維/三維的電性結(jié)構(gòu)。
地下地質(zhì)體由于巖性、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、含水性、壓實(shí)程度不同,其電性特征也會(huì)存在差異,這為高密度電法勘查提供了可能。
潛水面的上下巖土層由于含水率差異明顯導(dǎo)致電阻率差異大,因此利用高密度電法可以獲得大面積的地下水潛水面的分布特征,同時(shí)通過井孔數(shù)據(jù)的對(duì)比,可以獲得場(chǎng)地內(nèi)的潛水面等值線圖,判斷地下水的流向。
砂土層具有呈層性,高密度電法在淺層地下水勘查中,可以將砂土層近似為兩層,上層為包氣帶內(nèi)的砂土層,下層為潛水面下的含飽和水的砂土層。在淺地表,砂土壓實(shí)性不足,空隙連通性良好,因此影響砂粘土的電阻率大小因素主要是含水率和飽和度,飽和度越高,孔隙水連通好,砂土層電阻率將越低??梢允褂冒柶婀娇疾闇\地表砂土的電阻率特征。
Rt:砂土電阻率;Rw:地下水的電阻率;Φ:砂土空隙度;Sw:砂土含水飽和度。
有公式可知:孔隙度(Φ)越大,含水飽和度(Sw)越大,則砂土電阻率(Rt)越低。對(duì)于潛水面以下的砂土層,其含水率高于包氣帶內(nèi)的砂粘土層,飽和度達(dá)到100%,潛水面以下砂粘土的電阻率將明顯低于包氣帶內(nèi)的砂粘土層的電阻率,因此利用電阻率探測(cè)砂土地區(qū)的潛水面在物性上具有可行性。
研究區(qū)處于平原區(qū),近地表為第四系砂土層,覆蓋層厚度超過50m,該地區(qū)地下水位在4~12m?,F(xiàn)擬在此建一個(gè)高純銦提純工廠。銦作為劇毒物質(zhì),即使微量銦進(jìn)入地下水也會(huì)造成污染,為此對(duì)該區(qū)開展了環(huán)評(píng)工作。為了全面了解場(chǎng)地的地下水分布特征以及地下水流向,本次嘗試布設(shè)了高密度電法剖面。
圖1 8線高密度電法剖面成果圖
為了控制廠區(qū)地下水的上下游,圍繞擬建工廠,布設(shè)了4條剖面,構(gòu)成“井”字型剖面覆蓋場(chǎng)地。施工采用重慶地質(zhì)儀器WDJD-3多功能電法儀和WDJD-3多路轉(zhuǎn)換器,裝置類型選擇了α裝置[2]。
圖1為剖面8線高密度電法部分成果圖,可以看出兩條剖面的電阻率成典型的兩層結(jié)構(gòu),第一層為高阻,電阻率介于300Ω.m~1200Ω.m,第二層為低阻,電阻率介于20Ω.m~500Ω.m,上下兩層界面清晰,電阻率差異明顯,能較好的反映潛水面[3]。
另在高密度電法剖面上選擇了三個(gè)位置進(jìn)行鉆孔并實(shí)測(cè)了潛水面深度(表1)。從表中可以看出高密度電法測(cè)得潛水面深度可靠。
表1 潛水面深度測(cè)量結(jié)果
根據(jù)所有剖面探測(cè)的潛水面深度繪制了如圖2所示的潛水面等值線圖。從圖2可知:本區(qū)地下水潛水面總體呈北高南低的趨勢(shì),潛水面深度變化范圍4~9m,等值線平緩,說(shuō)明本區(qū)潛水面總體變化不大。
根據(jù)水流方向垂直于潛水面等值線的特性,推斷場(chǎng)地內(nèi)地下水徑流主方向?yàn)樽员毕蚰稀?/p>
圖2 地下水潛水面推斷等值圖
將高密度電法應(yīng)用于地下水流向的調(diào)查中,具有良好的物性前提,潛水面在高密度電法成果剖面內(nèi)反映明顯,通過多條測(cè)線,可以獲得本區(qū)地下水潛水面的等值線圖,據(jù)此可推斷場(chǎng)地內(nèi)地下水的流向。
[1]楚澤涵,關(guān)于環(huán)境地球物理學(xué)的思考,地球物理學(xué)進(jìn)展,1995.
[2]雷宛等,高密度電法中幾種裝置勘探效果的比較,中國(guó)地球物理,2006.
[3]雷宛,肖宏躍,鄧一謙.工程與環(huán)境物探[M].地質(zhì)出版社,2006.