劉 濤，梁絲柳

(廣東省珠寶玉石及貴金屬檢測中心，廣東 廣州 510080)

1 前言

銀是一種歷史悠久的貴金屬，其中925銀首飾是在含量為92.5%的純銀基礎(chǔ)上加上7.5%的合金，其合金通常為銅和鋅。合金的作用使銀的硬度、光澤、亮度都會(huì)有明顯的改善。同時(shí)能夠鑲嵌各種寶石，做成中高檔首飾，其性價(jià)比高，屬于消費(fèi)者最喜愛的首飾品種之一[1]。

目前市場流行的銀首飾為了使表面更加美觀和亮白，均在工藝上采用表面鍍層的方式，總結(jié)出銀首飾表面鍍層分兩大類：第一類表面鍍層為金屬銠，作用是為了防止銀首飾氧化，同時(shí)增加銀首飾視覺上的美觀。第二類表面鍍層為金屬銀，經(jīng)過鍍銀處理的銀首飾表面更加的亮白[2]。

然而，首飾銀含量是廣大消費(fèi)者極其關(guān)心的事情。目前，國內(nèi)對于銀首飾銀含量的常用檢測方法有：X射線熒光光譜法[3]、電位滴定法[4-5](仲裁法)、ICP光譜分析法[6]等。為此，本次實(shí)驗(yàn)針對含鍍層樣品的925銀合金首飾，采用X射線熒光光譜法、電位滴定法、ICP光譜法對其銀含量進(jìn)行研究，比較三種方法的銀含量測定結(jié)果，探討鍍層樣品對其銀含量在檢測方法中的差異。

2 儀器設(shè)備基本情況

表1 儀器設(shè)備基本情況

3 樣品基本情況記錄表和樣品圖片

表2 樣品情況基本描述

圖1 樣品壓片前后照片F(xiàn)ig.1 The pictures of the samples before and after being pressed

4 三種檢測方法的操作步驟

4.1 X射線熒光光譜法測定首飾銀含量

根據(jù)作業(yè)指導(dǎo)書將X射線熒光分析儀調(diào)試到最佳的狀態(tài)，根據(jù)樣品的大概銀含量范圍，選擇儀器已建立好的分析方法，在樣品中選擇6個(gè)有代表性的、不同位置的測試點(diǎn)進(jìn)行測試，測試完成后分析圖譜計(jì)算出樣品中的銀含量。

4.2 電位滴定法測定首飾銀含量

準(zhǔn)確稱取0.30000g銀首飾樣品于玻璃燒杯中，加入體積比為1∶2的HNO3溶液溶解樣品，用KBr標(biāo)準(zhǔn)溶液滴定樣品溶液來測定其中的銀含量，并用電位計(jì)指示終點(diǎn)。平行測試樣品三次。

4.3 ICP光譜法測定首飾銀含量

準(zhǔn)確稱取0.10000g銀首飾樣品于燒杯中，加入硝酸溶解樣品，后加入鹽酸，靜止使銀完成沉淀成氯化銀，過濾到100mL容量瓶中，加入適量鹽酸，用水定容至刻度。使用ICP光譜儀測定樣品中雜質(zhì)元素含量，用差減法確定銀含量。平行測試樣品二次。

5 結(jié)果數(shù)據(jù)分析過程

5.1 X射線熒光光譜法測定銀含量結(jié)果分析

筆者首先使用X射線熒光光譜法分析銀首飾表面銀含量，發(fā)現(xiàn)表面銀含量較高，約為950.4‰。通過觀察，發(fā)現(xiàn)銀首飾表面相當(dāng)明亮，可以得出這三個(gè)銀首飾采用表面電鍍，鍍層為銀元素的結(jié)論。

接著，筆者把三個(gè)銀首飾樣品壓片剪碎平均分成11份，送到11個(gè)檢測場所，使用四種不同型號的XRF儀器測試，匯總結(jié)果見表3，盡管是不同型號的XRF儀器，但其測試值的標(biāo)準(zhǔn)偏差小于0.2%，結(jié)果令人滿意。從表3可以看出，樣品S1的銀含量平均值為929.80‰，S2的銀含量平均值為926.54‰，S3的銀含量平均值為927.20%。樣品壓片后使用XRF測試銀含量均比表面測試銀含量降低，但銀含量均在925‰之上。

5.2 電位滴定法(仲裁法)和ICP光譜法測定銀含量結(jié)果分析

為了進(jìn)一步確定三個(gè)銀首飾樣品的整體銀含量，使用最廣泛的電位滴定法(仲裁法)測定其銀含量，結(jié)果見表4，樣品S1的銀含量平均值為922.4‰，S2的銀含量平均值為920.6‰，S3的銀含量平均值為921.2%。同時(shí)也使用ICP光譜法分析樣品的銀含量，表5分析數(shù)據(jù)表明三個(gè)銀含量樣品的雜質(zhì)元素為銅和鋅，樣品S1的銀含量平均值為925.5‰，S2的銀含量平均值為921.8‰，S3的銀含量平均值為922.0%。兩者結(jié)果比較，ICP法檢測結(jié)果和銀滴定的檢測結(jié)果基本符合。但其銀含量皆小于925%。判定三個(gè)樣品其純度不符合銀925的標(biāo)準(zhǔn)。

表3 X射線光譜法測定樣品的銀含量結(jié)果

表4 電位滴定法測定樣品的銀含量結(jié)果

表5 ICP光譜法測定樣品的銀含量結(jié)果

5.3 X射線熒光光譜法與電位滴定法結(jié)果比較

綜合X射線熒光光譜法的測定結(jié)果和電位滴定法測試結(jié)果比較，發(fā)現(xiàn)這兩種方法測定的銀含量結(jié)果相差很大，測試的銀首飾樣品為表面銀鍍層，出現(xiàn)表面銀含量較高情況，但實(shí)際的銀含量卻不足925‰，分析其原因?yàn)楸敬螌?shí)驗(yàn)測試的銀首飾樣品表面都有鍍層，樣品在使用XRF分析時(shí)只是壓片后剪碎測試的，鍍層殘留在壓片表面是引起X射線熒光法測試結(jié)果整體偏高的原因。

6 結(jié)論

使用X射線熒光分析法是一種無損檢測法，其中銀首飾的鍍層對檢測結(jié)果的影響是存在的，不能只對銀首飾表面進(jìn)行簡單的測定就給出判定結(jié)果。因此，提醒相關(guān)貴金屬檢測部門，在檢測中若發(fā)現(xiàn)貴金屬樣品有鍍層的現(xiàn)象，須進(jìn)一步與客戶商議，除去鍍層后再進(jìn)行相關(guān)的檢測，針對樣品的具體情況采取適當(dāng)?shù)臋z測方法，對結(jié)果有疑惑或有爭議時(shí)，應(yīng)以化學(xué)方法的結(jié)果為準(zhǔn)。

[1] 羅志高,朱敏,李蒙.影響珠寶首飾中銀含量檢測結(jié)果的因素[J].現(xiàn)代測量與實(shí)驗(yàn)室管理,2016(3):20-22.

[2] 莫森,趙木蓮,梁錫海,等.18K含銠鍍層飾品金含量測試方法[J].中國檢驗(yàn)檢測,2017(2):14-16.

[3] GB/T 18043-2013.首飾貴金屬含量的測定X射線熒光光譜法[S].

[4] 閆中健.電位滴定法測定銀飾品銀含量的測量不確定度評定[J].山西科技,2016,31(2):52-54+57.

[5] 龔誠,楊佩,楊鶴,等.兩種滴定方法測定銀首飾中銀含量不確定度的評定[J].貴金屬,2013,34(S1):186-189.

[6] 高瑞峰,楊佩,周亮,等.ICP-AES法測定高純銀中的鋅元素[J].貴金屬,2011,32(3):46-49.