高 健,苗 興,李 軍
(國網(wǎng)甘肅省電力公司電力科學(xué)研究院,甘肅 蘭州 730070)
2015-09-08T08:35,某330 kV變電站Ⅱ母線擴建延長部分(第5串)與原母線門型架(相鄰第4串)連接處新安裝的懸式絕緣子串A相炸裂,A相母線下垂,僅依靠跳、引線固定,A相母線與絕緣子掛點處存有肉眼可見放電痕跡。圖1為該絕緣子炸裂后的鋼帽和瓷片。
該變電站Ⅱ母線擴建延長部分于2014-09-23投運,其懸式瓷絕緣子供貨商為國內(nèi)某電瓷公司(以下簡稱甲公司),型號為XXX-160,為防污瓷質(zhì)絕緣子;鋼帽型號為24016R-1,商標(biāo)為XXX-160KN,23片連接。
為了排除事故隱患,對全站瓷絕緣子進行了紫外成像檢測,然后對其中1串存在電暈放電的絕緣子進行逐片絕緣電阻測量,最后對零值片和正常片開展對比試驗和檢測,進而找出了該串瓷絕緣子失效的原因。
常規(guī)絕緣子檢測方法分為帶電檢測和停電檢測2種。紫外成像檢測是一種非接觸式帶電檢測方法,可以對高壓電氣設(shè)備表面的電暈放電實施直觀地檢測。為保證檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性,分別從出線側(cè)和主變側(cè)2個方位對該站懸式瓷絕緣子進行了紫外成像檢測,范圍包括由甲公司供貨的24串和其他公司供貨的39串瓷絕緣子。檢測結(jié)果發(fā)現(xiàn):甲公司供貨的瓷絕緣子有8串存在不同程度放電,其中2串持續(xù)放電、6串間歇放電;而其他廠家供貨的瓷絕緣子未發(fā)現(xiàn)放電現(xiàn)象。放電檢測結(jié)果如表1所示。
圖1 炸裂絕緣子鋼帽及瓷片
表1 紫外成像檢測結(jié)果
由紫外成像檢測結(jié)果可知,甲公司供貨的瓷絕緣子多串出現(xiàn)放電現(xiàn)象,其放電率達到33.3 %,而其他公司供貨的絕緣子均未發(fā)現(xiàn)問題。因此,可以斷定甲公司供貨的瓷絕緣子存在家族性缺陷。
DL/T741—2010《架空輸電線路運行規(guī)程》規(guī)定,運行中的瓷質(zhì)絕緣子絕緣電阻不得小于300 MΩ。對甲公司供貨的第5間隔東側(cè)龍門架A相懸式瓷絕緣子逐片進行了絕緣電阻檢測,測得低、零值絕緣子17片,合格6片,檢測結(jié)果如表2所示。
表2 絕緣電阻檢測結(jié)果 MΩ
由表2可知,該串瓷絕緣子低、零值絕緣子片數(shù)量多于合格絕緣子片,且合格絕緣子片間隔分布于整串絕緣子。每種材料的電阻是其固有的物理屬性,而上述絕緣子片的電阻值分布在0—10 000 MΩ,說明該串瓷絕緣子制造質(zhì)量參差不齊。
為進一步分析其失效原因,對更換下來的懸式瓷絕緣子解剖取樣,進行檢測試驗。樣品為上述第5間隔東側(cè)龍門架A相懸式瓷絕緣子的第4片(正常絕緣子片)和第3片(零值絕緣子片)各1只。檢測項目為瓷體電阻測量、聲速測定和超聲波探傷、硬度測量等。
首先采用角向砂輪機切開瓷絕緣子鋼帽頂部,沿膠裝水泥與瓷體結(jié)合面取下鋼帽上半部,再對影響切割的瓷絕緣子傘裙部分進行切除,然后沿縱向破開鋼帽下半部,使其與瓷體脫離,最后將絕緣子瓷體及其內(nèi)部膠裝水泥沿縱向切開,使瓷絕緣子整個縱切面暴露。切割后的試樣形貌如圖2所示。
圖2 切割后試樣形貌
為找出絕緣子瓷體絕緣薄弱點位置,采用KYORITSU3125型兆歐表對2個樣品瓷體各部位絕緣電阻進行測試。測試發(fā)現(xiàn),正常絕緣子片瓷體各部位檢測點間電阻均為無窮大或在數(shù)百GΩ數(shù)量級,整個瓷體絕緣性能較好且較均勻;而零值絕緣子片瓷體部分區(qū)域電阻明顯下降,最小值位于鋼帽內(nèi)部瓷體頂端球形區(qū)域,僅為3.2 MΩ。此區(qū)域瓷體外部未掛釉,內(nèi)表面釉色呈黃褐色,與其他部位的灰白色釉質(zhì)存在差異,并且在測試過程中試筆接觸點可見明顯的打火放電現(xiàn)象,其他部位電阻值基本正常(數(shù)百GΩ以上)。
測量結(jié)果說明,該串瓷絕緣子部分絕緣子片的某些部位在制造過程中存在質(zhì)量偏差,其絕緣性能遠遠低于正常絕緣子片。
為測定2只絕緣子的聲速差別,采用游標(biāo)卡尺對絕緣子瓷體鋼帽內(nèi)球形部分頂端平整區(qū)域瓷體厚度進行了測量,并根據(jù)厚度測量值采用超聲波測厚對該區(qū)域瓷體聲速進行了測量,同時對測量區(qū)域瓷體內(nèi)部有無宏觀缺陷也進行了超聲波探傷檢測,結(jié)果如表3所示。
檢測結(jié)果表明,零值絕緣子鋼帽內(nèi)瓷體球形部分頂端厚度大于正常絕緣子,而瓷體聲速明顯小于正常絕緣子,說明零值絕緣子瓷質(zhì)彈性模量較低,2者的微觀組織應(yīng)具有明顯差異。超聲波檢測結(jié)果表明2個樣品檢測區(qū)域均未發(fā)現(xiàn)宏觀缺陷。
對上述2個絕緣子樣品鋼帽內(nèi)瓷體球形部分頂端采用里氏硬度計進行測量,結(jié)果如表4所示。
表3 聲速測量及超聲波檢測結(jié)果
表4 瓷體里氏硬度測量結(jié)果 HL
測量結(jié)果表明:正常絕緣子硬度明顯高于零值絕緣子;而對于同一絕緣子來說,傘裙部位的硬度又明顯高于鋼帽內(nèi)瓷體球形頂端部位硬度。在硬度測試過程中,可明顯聽出2只絕緣子在受到探頭敲擊時發(fā)出的聲響存在差異,其中正常絕緣子發(fā)出的聲音較零值絕緣子更為清脆。
從以上各項試驗結(jié)果來看,引起該站懸式瓷絕緣子失效的直接原因是存在零值絕緣子,而形成零值絕緣子的主要原因是絕緣子鋼帽部分內(nèi)部瓷體的瓷質(zhì)不良,其組織結(jié)構(gòu)與正常絕緣子存在較大差異。具體表現(xiàn)在電阻偏低、聲速偏小、硬度值偏小,因而整串絕緣子的絕緣性能較正常絕緣子存在很大差異。根據(jù)紫外成像檢測和解剖試驗檢測結(jié)果,可以判定:甲公司在生產(chǎn)瓷絕緣子時,存在制造工藝控制不嚴(yán)的情況,從而引起該批絕緣子性能不良、產(chǎn)品不良率較高,而且在該批瓷絕緣子出廠時,甲公司未嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)要求進行絕緣電阻測試。
(1)對于懸式瓷絕緣子,絕緣電阻測試是一種簡單高效的絕緣性能判定方法,不論在出廠檢驗或者到貨驗收時,都應(yīng)該嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進行此項測試。
(2) 紫外成像技術(shù)作為一種帶電檢測方法,可通過瓷絕緣子表面的電暈放電的圖像檢測,達到確定絕緣子電暈的強度和具體部位的目的,從而為絕緣子運行情況提供可靠的依據(jù)。
(3) 根據(jù)解剖試驗檢測中聲速測定和硬度測量結(jié)果,可以初步判斷瓷絕緣子絕緣電阻值和聲速、硬度之間存在某種對應(yīng)關(guān)系,這種關(guān)系可用于瓷絕緣子絕緣性能的深入研究。
1 朱 虎,李衛(wèi)國,林 冶,等.絕緣子檢測方法的現(xiàn)狀與發(fā)展[J].電瓷避雷器,2006,49(6):13-17.
2 陳海拔.懸式盤形絕緣子的帶電檢測[J].電網(wǎng)技術(shù),2007,31(1):128-130.
3 鄔正榮.盤形懸式絕緣子的在線檢測[J].電瓷避雷器,2006,49(3):10-13.
4 郭 磊,張曉鵬,仝松利,等.低(零)值盤形懸式瓷絕緣子帶電檢測及實驗研究[J].電瓷避雷器,2015,58(4):14-18.
5 張 攀,俸 波,陸小藝.懸式瓷絕緣子低(零)值帶電檢測方法研究[J].紅水河,2015,35(5):49-52.
6 夏強峰.瓷質(zhì)懸式絕緣子劣化非接觸式檢測方法的研究[D].重慶:重慶大學(xué),2010.
7 潘榮超,劉 念,甘德剛,等.500 kV絕緣子串含零值絕緣子時的電暈放電分析[J].電測與儀表,2014,51(6):50-54.
8 杜文玉.送電線路懸式瓷絕緣子老化原因分析[J].電力建設(shè),1993,14(8):23-28.
9 龔國洪,劉世榮,鄧華興,等.三類高強度懸式瓷絕緣子的成分特征和產(chǎn)品性能的關(guān)系[J].礦物學(xué)報,2004,24(3):315-319.
10 謝玉敏.淺析懸式瓷絕緣子擊穿率高的原因與對策[J].電瓷避雷器,2005,48(4):20-22.
11 蘇冬冬.懸式瓷絕緣子炸裂的分析及改進措施[J].上海鐵道科技,2013,35(2):70-71.
12 邱志斌,阮江軍,黃道春,等.輸電線路懸式瓷絕緣子老化形式分析與試驗研究[J].高電壓技術(shù),2016,42(4):1 259-1 267.
13 陳曉娟,周海東.XP-70型懸式瓷絕緣子出現(xiàn)劣化的原因分析[J].企業(yè)改革與管理,2014,22(8):162-163.
14 伍企舜.懸式瓷絕緣子的故障機理分析及改進[J].華中電力,1993,6(3):33-36.
15 盧 明,姚德貴,張國民,等.劣化絕緣子檢測方法的對比分析[J].電瓷避雷器,2006,49(5):9-13.