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(諾基亞上海貝爾股份有限公司，杭州 310053)

引 言

聯(lián)合測試行動小組(Joint Test Action Group, JTAG) 邊界掃描(Boundary Scan) 是IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)，其接口在大量的數(shù)字芯片中集成，方便調(diào)試和編程。集成電路板上一般將各個芯片的JTAG接口串接起來形成菊花鏈，這樣可以通過JTAG工具進(jìn)行統(tǒng)一的自動化操作。FLASH存儲芯片往往掛載在具有JTAG接口的芯片的總線上，這樣在工廠進(jìn)行大規(guī)模生產(chǎn)時，可以通過JTAG鏈對FLASH芯片進(jìn)行編程。

1 JTAG接口簡介

JTAG接口一般有4個信號，分別為測試數(shù)據(jù)輸入(TDI)、測試數(shù)據(jù)輸出(TDO)、測試時鐘(TCK)、測試模式選擇(TMS)，測試復(fù)位信號(TRST)是可選的。TMS、TCK連入芯片內(nèi)部的測試接入端口(TAP)，TDI串接到芯片引腳的邊界掃描單元(BS)上，這些單元串接后通過TDO連出芯片。TAP控制器在TCK觸發(fā)下通過一系列的TMS信號進(jìn)行狀態(tài)機(jī)的改變，這些狀態(tài)包括：Capture DR(得到當(dāng)前數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容)，Shift DR(對數(shù)據(jù)寄存器進(jìn)行數(shù)據(jù)移位，從TDI移入，TDO移出)，Update DR(更新當(dāng)前數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容)，Capture IR(得到當(dāng)前數(shù)據(jù)指令寄存器的內(nèi)容)，Shift IR(對指令寄存器進(jìn)行數(shù)據(jù)移位，從TDI移入、TDO移出)，Update IR(更新當(dāng)前指令寄存器的內(nèi)容)。

IR和DR一起進(jìn)行邊界掃描單元的控制，比如當(dāng)IR是全1時，一般對應(yīng)的功能是測試數(shù)據(jù)直通輸出(通過1比特的移位寄存器Bypass Register)。還可以控制引腳數(shù)據(jù)是從內(nèi)部邏輯得到還是掃描單元得到，掃描單元的數(shù)據(jù)是從引腳輸入還是輸出到引腳上，從而實現(xiàn)特定的JTAG動作(如圖1所示)。

圖1 TAP控制器原理框圖

2 FLASH器件的編程

集成電路板上的FLASH器件一般掛載在具有JTAG接口的芯片上，在批量生產(chǎn)中往往需要通過JTAG燒寫一個小的引導(dǎo)程序或數(shù)據(jù)文件，大小從幾十KB到幾MB不等。

傳統(tǒng)的邊界掃描方式是依次將數(shù)據(jù)串行移位到芯片的掃描單元(BS)里，準(zhǔn)備好各個數(shù)據(jù)線(data)、地址線(address)、片選線(cs)、讀寫使能線(wr)、輸出使能(oe)、編程使能(AW)，接線如圖2所示。

圖2 FLASH連接圖

因為每次移位都需要遍歷芯片的所有BS，一次數(shù)據(jù)的準(zhǔn)備需要額外的開銷，所以這種方式的編程十分低效，只能用來燒寫小塊的程序和數(shù)據(jù)。即便這樣，這種方式的耗時也不可小覷，以1 MB的數(shù)據(jù)和有100個引腳的芯片以及有32字節(jié)編程塊緩存的FLASH(即有N=32K字節(jié)塊，一次性可以編程32字節(jié))為例。

為方便計算,忽略FLASH的命令字,僅僅計算有效字節(jié)編程時間。一個塊編程周期包含片選CS從高到低，然后寫有效信號WE從高到低，數(shù)據(jù)有效(可同時)，WE從低到高，WE從高到低，數(shù)據(jù)有效(可同時)，WE從低到高…… 最后CS從低到高。JTAG控制器就需要至少移位K=(2N+3) cycles(對應(yīng)一個TCK時鐘周期)，每次都需要移位Tshift=100次。假設(shè)JTAG控制器的TCK時鐘為Ttck=20 MHz,那么T cycle=50 ns。總時間就是：

T=K×Tcycle×Tshift=327.695 s>5 min

實際上的引腳會更多，編程命令字的開銷也不少，JTAG工具每批次移位的間隔還有時間，需要更多的編程時間。

3 虛擬JTAG簡介

批量生產(chǎn)的自動化測試需要用到JTAG接口，而傳統(tǒng)的JTAG編程又比較低效費時，有沒有兩全其美的方法呢？答案是肯定的，就是可編程器件FPGA或CPLD(Complex Programmable Logic Device)的虛擬JTAG技術(shù)。Virtual JTAG 是ALTERA(已被Intel收購)公司提出的一個概念，XILINX公司和LATTICE公司也有相對應(yīng)的提法，具體實現(xiàn)大同小異。

在可編程器件里面，JTAG TAP控制器可以作為一個硬核對用戶開放，用戶可以得到TAP狀態(tài)機(jī)的各種狀態(tài)，當(dāng)然包括TDI、TCK、TDO，從而可以接管TDI的數(shù)據(jù)，自定義返回給TDO的數(shù)據(jù)。

觸發(fā)用戶自定義的JTAG后級控制器的原理用到了指令寄存器(instruction register)里面的用戶數(shù)據(jù)寄存器(user data register)。當(dāng)輸入特定數(shù)據(jù)給用戶寄存器0和用戶寄存器1后，相應(yīng)的狀態(tài)指示線發(fā)出高電平，JTAG后級控制器就可以知道后面的數(shù)據(jù)都是輸入給它的，就可以對這些數(shù)據(jù)進(jìn)行自定義的操作、自定義虛擬指令寄存器(Virtual Instruction Register,VIR)和虛擬數(shù)據(jù)寄存器(Virtual Data Register, VDR)， 從而完成了虛擬JTAG的實現(xiàn)，如圖3所示。

圖3 Virtual JTAG實現(xiàn)原理圖

4 掛載FPGA上的FLASH的快速編程

基于Virtual JTAG技術(shù)，可以自定義后級JTAG TAP控制器，定義好虛擬數(shù)據(jù)寄存器(VDR)和虛擬指令寄存器(IR)。再移植一個Flash Memory Controller，由相應(yīng)的虛擬IR指令得到擦除、讀取、編程等命令，相應(yīng)的數(shù)據(jù)從VDR得到或保存于VDR。一般的FPGA有足夠的內(nèi)部存儲空間RAM，所以上位機(jī)可以一次性把大容量數(shù)據(jù)通過虛擬JTAG傳給VDR，后級的Flash Controller就可以啟動相應(yīng)的編程序列，從而節(jié)省了很多傳輸和邊界移位的開銷，極大地提高了FLASH的編程效率。圖4就是一種實現(xiàn)的功能框圖。

圖4 虛擬JTAG 快速FLASH編程實現(xiàn)框圖

TAP控制器里面對Virtual JTAG的內(nèi)核進(jìn)行了封裝，導(dǎo)出了三個總線，分別是對下級模塊輸出的虛擬IR、虛擬DR以及從下級模塊輸入的虛擬DR。下級的命令轉(zhuǎn)換模塊從輸入的VIR和VDR得到命令和數(shù)據(jù)，通過Wishbone總線轉(zhuǎn)換為FLASH控制器的命令和數(shù)據(jù)，以及得到返回的數(shù)據(jù)。FLASH控制器進(jìn)行對FLASH的實際讀寫操作。

VIR定義為4比特位寬, 其定義如表1所列。

還是以1 MB的數(shù)據(jù)為例，VDR存儲深度為1 KB，如果VDR的存儲深度變得更大(一般FPGA里面有足夠多的內(nèi)存)，那么時間將更少，最后的瓶頸取決于FLASH自身的編程速度。

表1 VIR VDR對應(yīng)關(guān)系表

T=K×Tcycle×Tshift=52.633 6 s<1 min

結(jié) 語

[1] Dr. Ben Bennetts.IEEE 1149.1 JTAG and Boundary Scan Tutorial[EB/OL].[2017-10]. https://www.asset-intertech.com/eresources/ieee-11491-jtag-and-boundary-scan-tutorial.

[2] ALTERA. Virtual JTAG (altera_virtual_jtag) IP Core User[EB/OL].[2017-10]. https://www.altera.com/en_US/pdfs/literature/ug/ug_virtualjtag.pdf.

丁峰平(硬件工程師), 主要研究方向為電信硬件電路、FPGA設(shè)計和實現(xiàn)；陳莉萍(項目經(jīng)理)，主要研究方向為電信工程項目組織計劃和實現(xiàn)。