徐世明
珠海格力新元電子有限公司 廣東珠海 519110
半導(dǎo)體功率器件正在向著高度集成的方向發(fā)展,越來越多半導(dǎo)體功率器件中的芯片需要與引線框架進(jìn)行鍵合。而鍵合質(zhì)量作為評(píng)估半導(dǎo)體功率器件可靠性的重要指標(biāo),越來越受到半導(dǎo)體廠家的重視。封裝制程中評(píng)估鍵合質(zhì)量的手段不斷發(fā)展,已經(jīng)不局限于傳統(tǒng)的推拉力測(cè)試、彈坑實(shí)驗(yàn),而轉(zhuǎn)向運(yùn)用統(tǒng)計(jì)制程管理SPC等過程工具的趨勢(shì),因此在滿足基本鍵合強(qiáng)度的基礎(chǔ)上,如何進(jìn)一步提高鍵合點(diǎn)外觀的一致性及穩(wěn)定性,是目前本領(lǐng)域技術(shù)人員急需解決的問題。
現(xiàn)有鍵合技術(shù)一般是采用引線鍵合機(jī)將芯片的電極與引線框架的引腳進(jìn)行鍵合,即引線鍵合機(jī)中的超聲波發(fā)生器產(chǎn)生高頻信號(hào),由換能系統(tǒng)將高頻信號(hào)轉(zhuǎn)換為高頻機(jī)械振動(dòng),在一定時(shí)間內(nèi)將芯片的電極與引線框架的引腳鍵合形成共同結(jié)晶。目前用于承載引線框架的基塊均為金屬基座,金屬基座的鍵合區(qū)域用于承載引線框架,當(dāng)引線框架在其上發(fā)生高頻機(jī)械振動(dòng)時(shí),往往使得引線框架在金屬基座上發(fā)生共振,進(jìn)而造成鍵合點(diǎn)外觀毛刺(如圖1所示,以功率器件IGBT模塊封裝結(jié)構(gòu)為例,圖中紅色標(biāo)注部分為金屬基座鍵合點(diǎn)外觀上的毛邊),影響鍵合點(diǎn)質(zhì)量。因此,如何有效地消除鍵合過程中引線框架與金屬基座間的共振,成為提升鍵合點(diǎn)外觀一致性的關(guān)鍵點(diǎn)。
為了消除鍵合過程中引線框架與金屬基座產(chǎn)生的共振問題,經(jīng)過多次試驗(yàn)研究,提出防震基座的概念。采用防震基座替代金屬基座,引線框架則直接與防震基座接觸,當(dāng)引線框架發(fā)生高頻機(jī)械振動(dòng)時(shí),引線框架與金屬基座之間的震動(dòng)會(huì)被防震基座吸收,從而避免引線框架在金屬基座上發(fā)生位置偏移,影響鍵合質(zhì)量。如此進(jìn)行鍵合,可以有效的減少鍵合點(diǎn)結(jié)晶表面的毛刺,提高其外觀質(zhì)量。
防震基座采用橡膠為減震的關(guān)鍵材料,橡膠既有高彈性又有高粘性,橡膠的彈性是由其卷曲分子構(gòu)象的變化產(chǎn)生的,橡膠分子間相互作用會(huì)妨礙分子鏈的運(yùn)動(dòng),又表現(xiàn)出粘性特點(diǎn),以致應(yīng)力與應(yīng)變往往處于不平衡狀態(tài)。橡膠這種卷曲的長(zhǎng)鏈分子結(jié)構(gòu)及分子間存在的較弱的次級(jí)力,使得橡膠材料呈現(xiàn)出獨(dú)特的粘彈性能,因而具有良好的減震、隔音和緩沖性能。
橡膠作為防震基座的關(guān)鍵,必須選用合適厚度和硬度的橡膠,橡膠材質(zhì)的厚度太厚或者硬度太軟,都會(huì)造成鍵合點(diǎn)的虛焊,反之,厚度太薄或者硬度太硬則會(huì)影響減震效果。因此,經(jīng)過多次實(shí)驗(yàn)總結(jié)得出,橡膠墊的厚度為1.55mm~1.65mm,邵氏硬度為64HA~66HA時(shí),減震效果最佳,鍵合效果較好。另外,橡膠墊可以采用聚乙烯材質(zhì)制作形成,其中聚乙烯的緩沖性能較好,適合制作橡膠墊。
以功率器件IGBT封裝結(jié)構(gòu)為例,對(duì)OE7200HD鋁線鍵合設(shè)備的鍵合金屬基座進(jìn)行改造優(yōu)化。
圖1 金屬基座鍵合點(diǎn)外觀
圖3 防震基座裝配后示意圖
圖2 防震基座裝配示意圖
圖4 鍵合示意圖
(1)選取厚度為1.6mm、邵氏硬度(A)65度、背面帶有粘性、材質(zhì)為氯乙烯的材料,并按照?qǐng)D2中防震橡膠的形狀進(jìn)行裁切,邊緣用鋒利的小刀去除毛刺,防震橡膠的面積必須覆蓋整個(gè)鍵合區(qū)域。
(2)制作如圖2所示的金屬基座,表面開槽的厚度為1.6mm,開槽的形狀及大小與防震橡膠一致,需保證開槽表面的平整度,以避免承載面不平導(dǎo)致鍵合不良。
(3)如圖3所示,貼付防震橡膠,將裁切好的防震橡膠帶有粘性的一面與金屬基座進(jìn)行粘合,保證表面良好的平整度。以鑲嵌的方式將防震橡膠卡在槽中,可防止鍵合過程中的摩擦造成的移位,提高使用壽命。
(4)將裝配好的防震橡膠基座重新裝回鍵合設(shè)備的焊接區(qū)域。
(5)如圖4所示,裝配好的防震橡膠基座承載著整個(gè)引線框架的焊接區(qū)域,在鍵合過程中,可以吸收引線框架和金屬基座間的震動(dòng),使鍵合過程超聲波的輸出可以穩(wěn)定作用在鍵合點(diǎn)上,以便形成良好的鍵合點(diǎn)。
(6)在同一種類型芯片、不同位置的鍵合點(diǎn)上,使用相同功率、壓力、鍵合時(shí)間等參數(shù)進(jìn)行鍵合,并對(duì)鍵合后的樣品使用顯微鏡觀察外觀,可發(fā)現(xiàn)使用防震基座的鍵合點(diǎn)外觀(如圖5所示)明顯改善,且無毛刺。
圖5 防震基座鍵合點(diǎn)外觀
圖6 金屬基座壓扁寬度的過程能力
(7)使用測(cè)量顯微鏡測(cè)量鍵合點(diǎn)的壓扁寬度,并對(duì)壓扁寬度進(jìn)行制程統(tǒng)計(jì)分析,采用金屬基座鍵合壓扁寬度CPK為1.37(如圖6),采用防震基座鍵合壓扁寬度的CPK提升至1.74(如圖7),達(dá)到預(yù)期鍵合點(diǎn)外觀一致性提升效果。
圖7 防震基座壓扁寬度的過程能力
在半導(dǎo)體功率器件高度集成化的趨勢(shì)下,引線框架設(shè)計(jì)的復(fù)雜性逐漸提高,內(nèi)部引腳間構(gòu)造的差異性愈發(fā)明顯,而這種差異性引發(fā)鍵合過程中不同共振的程度和方式,最終影響鍵合點(diǎn)外觀的一致性,嚴(yán)重的會(huì)造成鍵合點(diǎn)外觀不良。鍵合點(diǎn)的壓扁寬度可以反映出鍵合強(qiáng)度的大小,這是一種非破壞性的檢測(cè)方式,采取防震基座替代傳統(tǒng)的金屬基座,解決了共振問題帶來的鍵合點(diǎn)外觀不一致的問題,使我們可以采取非破壞性的檢測(cè)手段,替代原有的破壞性推拉力測(cè)試等評(píng)估方法,用更科學(xué)的過程監(jiān)測(cè)手段控制鍵合質(zhì)量,為半導(dǎo)體功率器件的可靠性發(fā)展提供有利的技術(shù)支持。
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