張曉帆,徐守利,郎秀蘭,李曉東
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P波段1200W脈沖功率LDMOSFET研制
張曉帆,徐守利,郎秀蘭,李曉東
(中國電子科技集團公司第十三研究所,河北石家莊 050051)
基于自主開發(fā)的LDMOS工藝平臺,研制了一款P波段大功率LDMOSFET器件,并設計了器件的外匹配電路。該器件工作電壓50 V,在工作脈寬1 ms、占空比10%的工作條件下,在380~480 MHz帶寬內實現(xiàn)寬帶輸出功率大于1200 W,功率增益大于18 dB,漏極效率大于50%,抗駐波能力大于5:1,表現(xiàn)出了良好的RF性能,實現(xiàn)了國產P波段LDMOS器件1200 W的突破。
P波段;脈沖功率;LDMOSFET;巴倫;推挽;內匹配
硅脈沖功率橫向雙擴散金屬氧化物半導體場效應晶體管(LDMOSFET)相比傳統(tǒng)硅BJT功率晶體管來說具有高增益、高線性、較強的抗燒毀和過驅動能力以及易于并聯(lián)大功率輸出的特點[1-2],使之在3.8 GHz以下射頻功率放大器領域成為替代硅BJT功率晶體管的核心器件,并且因其材料成本低和器件制造工藝技術成熟成為GaN微波功率器件強有力的競爭對手。特別在1000 MHz以下,由于功率LDMOSFET優(yōu)異的性能,低廉的價格,成熟的制造技術,目前占主導地位。
脈沖功率LDMOSFET器件經(jīng)過數(shù)十年的發(fā)展已達到較高水平,國外已開發(fā)出第八代產品,在VHF頻段單器件最高輸出功率達1400 W[3],工作頻率最高已經(jīng)達到3.8 GHz,國外器件在移動通訊基站等民用領域處于壟斷地位。國內微波功率LDMOSFET器件處于研制階段,受電子裝備需求的牽引,研制了P波段36 V工作的420 W和350 W等產品,并實現(xiàn)了批量工程化應用。但隨著裝備的小型化要求越來越高,對國產千瓦級器件提出了迫切要求,亟需工作電壓50 V、輸出功率千瓦以上的器件,但國內尚未見P波段輸出功率大于1200 W的LDMOSFET器件的研制報道?;诖?,本文依托自主開發(fā)的LDMOS工藝平臺,進行P波段輸出功率大于1200 W的LDMOSFET器件的研制,以滿足裝備小型化的需要。本文研制的器件功率大于1200 W的同時,保持了P波段50 V工作的LDMOS器件的增益和效率水平,綜合指標國內領先,實現(xiàn)了國產P波段LDMOS器件1200 W的突破,且具有工程化應用能力。此外,本文還詳細介紹了器件的內外匹配電路設計過程。
射頻功率LDMOS器件的輸出功率o為:
式中:ds為工作電壓;Dsat為飽和壓降;D為漏極電流;D為漏極效率。從式(1)中可以看出,要提高器件的功率,需要提高工作電壓和電流,減小飽和壓降以及提高效率。而高工作電壓要求器件芯片具有更高的擊穿電壓,擊穿電壓至少大于2倍的工作電壓才能保證器件可靠工作,但擊穿電壓的提高會增大飽和壓降,降低效率,需要綜合考慮各參數(shù)。
為了實現(xiàn)單器件千瓦級功率輸出,器件選擇50 V高壓工作,為此自主開發(fā)了50 V的LDMOS工藝平臺,平臺采用擴散通源、硅化物合金柵、屏蔽柵場板和多層金屬布線等工藝,通過優(yōu)化LDD區(qū)長度及多層場板技術,研制成功了擊穿電壓大于110 V,功率密度達到10 W/cm的芯片。
根據(jù)公式(1),提高器件的輸出功率,除了工作電壓外,另外一個重要因素就是工作電流,而工作電流D由公式(2)決定[5]:
式中:0為溝道載流子遷移率;ox為柵氧單位面積電容;gs為柵源電壓;T為閾值電壓;為器件總柵寬;為器件溝道長度。從公式(2)中可以看出,工藝確定后,器件電流主要取決于器件總柵寬。
綜合1200 W的功率輸出要求,以及器件穩(wěn)定性、多芯片合成相位一致性、散熱、合成損耗及寬帶工作等因素,根據(jù)10 W/cm的功率密度,進行功率冗余20%的余量進行設計,確定了器件總柵寬,器件采用8芯片合成,單芯片面積3 mm×3 mm。圖1為芯片照片。
圖1 器件管芯
1.2 器件結構設計
基里爾告訴記者,BPC希望滿足各國的市場需求,對于中國能否繼續(xù)保持100美元/噸的差價,市場沒有更多的利好信息。他說:“我看到很多市場大出口商尚在調整銷售方向,就是因為這個差距太大了,所以大家都在關注巴西市場。我們覺得,中國與BPC之間的新價格將會對中國市場和國際市場帶來一些新的推進?!蹦壳皝砜矗幽么笤趦鹊囊恍┐蠊痰墓┙o壓力很大?;餇栂Mc中國盡快達成大合同價格共識,給予中國市場一定數(shù)量的保障。
器件要求1200 W以上的輸出功率,需要較大的總柵寬,導致器件阻抗較低,對器件的阻抗匹配提出了很高的要求,同時大輸出功率要求器件具有良好的散熱能力?;谏鲜鲆螅骷捎?芯片推挽合成,器件每側具有4個參數(shù)一致的芯片,兩側共8個芯片燒結于雙腔體管殼,形成平衡推挽結構,為了提升器件阻抗便于外電路匹配,同時在各芯片之間較好地進行功率分配,器件輸入端采取“T”型輸入預匹配網(wǎng)絡。
千瓦級輸出功率對器件散熱提出了極高的要求,為了降低熱阻,提升散熱能力,器件采用高熱導率的材料制作的管殼,同時增大單芯片面積,8個芯片布滿管殼腔體,另外對芯片厚度進行了減薄,有效地降低了器件熱阻,提升了散熱能力。
1.3 器件內匹配設計
器件輸出阻抗高于輸入阻抗,經(jīng)ADS仿真,在中心工作頻率點,器件單側輸入阻抗實部約0.4 Ω,輸出阻抗實部約1.3 Ω,輸入阻抗過低,如果不加預匹配,寬帶匹配很難實現(xiàn),同時為了實現(xiàn)千瓦功率輸出,采用多芯片合成,需要在各芯片之間實現(xiàn)功率均分,為此,器件采用輸入“T”型內匹配網(wǎng)絡,電路結構原理圖見圖2,“T”型網(wǎng)絡電路圖見圖3,其輸出阻抗較高,且管殼空間有限,輸出不進行預匹配。
圖2 器件輸入內匹配電路原理圖
圖3 器件輸入電路圖
LDMOS芯片的輸入阻抗可等效為電阻和電容,圖3中Cin和Rin為由器件芯片輸入阻抗等效的電阻和電容,加入“T”型網(wǎng)絡后,“T”型網(wǎng)絡中L2可分為兩部分:L20和L21,通過調整電感量,L21可以將芯片阻抗的容抗部分抵消掉,此時器件輸入等效電路見圖4。
圖4 L21抵消Cin后的器件輸入電路圖
器件輸入阻抗為[6]:
(4)
式(2)中,當1=20時,器件輸入阻抗為:
從公式(3)中可以看出,設計時,選取合適的1、2及,器件的輸入阻抗虛部消除,實部由in變換至,調整2和的大小可以實現(xiàn)不同的阻抗變比,但是高阻抗變比和寬帶寬是一對矛盾,需要結合外匹配電路進行平衡和折中,出于兼顧帶寬的考慮,一般“T”型網(wǎng)絡的阻抗變比控制在3倍左右,在實現(xiàn)時,電容C采用MOS電容,結合計算、使用ADS仿真和測試數(shù)據(jù),本文研制的器件容值控制在200~300 pF,電感L1和L2通過鍵合金絲實現(xiàn),通過改變鍵合線數(shù)量和弧度來調整電感量的大小,圖5為裝配好的器件照片。
圖5 器件照片
Fig.5 The graph of the device
由于工作波長較長,無法直接通過預匹配網(wǎng)絡將器件匹配至50 Ω,預匹配后的器件需通過外電路將輸入、輸出端匹配至50 Ω。電路采用推挽結構,推挽電路能有效提升器件阻抗,同時也可以獲得優(yōu)良的偶次諧波抑制比。輸入、輸出電路采用巴倫(Balun)實現(xiàn)平衡推挽結構,同時巴倫還參與阻抗匹配,見圖6。通過適當優(yōu)化選取巴倫電纜長度和特性阻抗,在一定帶寬內可以實現(xiàn)一定的阻抗變比。通過仿真優(yōu)化,兼顧帶寬性能和阻抗變比,本文輸入、輸出均采用特性阻抗25 Ω的半剛性電纜,長度50 mm,見圖6。在輸入端,通過巴倫可將50 Ω端口阻抗變換至推挽結構下實部24 Ω,對應單側12 Ω,見圖7。每側再通過微帶-電容匹配網(wǎng)絡將12 Ω的阻抗匹配至器件的輸入阻抗,見圖8,輸出端匹配過程相同。
圖6 巴倫仿真圖
圖7 巴倫仿真結果
圖8 外匹配電路原理圖[7]
通過仿真選定巴倫后,50 Ω端口經(jīng)巴倫變換后阻抗約為12 Ω,需要通過電容帶線網(wǎng)絡匹配至器件的輸入、輸出阻抗,此時改變電容位置時,相當于帶線的長度也同時發(fā)生了變化,當器件阻抗低時,電容位置對電路影響非常大,通過仿真給出大致方向的同時需要精心、細致地調試,特別是調試靠近器件引線的電容時,需要格外小心。此外,由于器件輸出功率大,初始調試,電路失配會造成器件結溫過高,需先在窄脈沖、小占空比下,逐步增加工作電壓進行調試。調試好的測試電路見圖9。
圖9 器件測試電路
在工作電壓50 V、工作脈寬1 ms、占空比10%的條件下進行了測試,380~480 MHz帶寬內,輸出功率1220~1320 W,帶內功率分布見圖10,增益大于18 dB,效率52.1%~55.4%,帶內分布見圖11。進行了抗輸出失配能力測試,器件能通過5:1駐波,抗駐波能力良好。對器件進行了紅外結溫測試,峰值結溫120℃,熱性能良好,見圖12。對器件進行了150℃、48 h的高溫反偏、160 h的功率老煉等溫度和電應力實驗,試驗結果表明器件可靠性良好。
圖10 帶內輸出功率和功率增益曲線
圖11 帶內效率曲線
圖12 器件瞬態(tài)峰值結溫
本文研制的器件功率大于1200 W,保持了P波段50 V工作的LDMOS器件的增益和效率水平,綜合指標國內領先。此外還詳細介紹了器件的內外匹配電路設計過程,研制的器件在380~480 MHz帶寬內,帶內輸出功率大于1200 W,效率大于50%,抗駐波能力較強,熱性能良好。實現(xiàn)了國內P波段LDMOSFET器件輸出功率千瓦級的突破,具備工程化應用能力。
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(編輯:陳渝生)
Development of P band 1200 W pulse power LDMOSFET
ZHANG Xiaofan, XU Shouli, LANG Xiulan, LI Xiaodong
(The 13th Research Institute, China Electronic Technology Croup Co., Shijiazhuang 050051, China)
A P band high power LDMOSFET device was developed under self-developing process platform, and its output matching circuit was designed. Under operating conditions ofds= 50 V, pulse width=1 ms, pulse operation=10%,the device can deliver the output power of more than 1200 W with at least 18 dB of power gain and more than 50% of drain efficiency at the frequency band of 380-480 MHz. The anti VSWR capability of the device is above 5:1. The good RF performances are presented. The device achieves a breakthrough in the domestic LDMOSFET of 1200 W output power at P band.
P band; pulse power; LDMOSFET; Balun; push-pull; internal matching
10.14106/j.cnki.1001-2028.2017.06.015
TN386
A
1001-2028(2017)06-0075-05
2017-03-09
張曉帆
張曉帆(1983-),男,甘肅西和人,工程師,主要從事微波功率器件的研究和開發(fā)工作,E-mail: xiaofan622627@163.com 。
網(wǎng)絡出版時間:2017-06-07 13:45
http://kns.cnki.net/kcms/detail/51.1241.TN.20170607.1345.015.html