楊宇明
(北京正達(dá)時(shí)代電子技術(shù)有限公司,北京100083)
新型在線測試夾和多樣離線測試板
楊宇明
(北京正達(dá)時(shí)代電子技術(shù)有限公司,北京100083)
從在線測試夾和離線測試板視角,介紹國內(nèi)第三代在線電路維修測試儀在使用環(huán)節(jié)上取得的最新成果以及未來發(fā)展方向。
測試夾;離線測試板;第三代測試儀
第三代在線電路維修測試儀的突出特點(diǎn)是具有80路數(shù)字測試通道,可對40管腳以上的數(shù)字IC直接功能測試,可測試數(shù)字IC高頻動態(tài)參數(shù)故障。從在線測試夾和離線測試板這個(gè)視角,介紹國內(nèi)第三代ZD9610測試儀在使用環(huán)節(jié)上取得的最新成果以及未來發(fā)展方向。
所謂在線測試主要體現(xiàn)在測試夾上,借助多種規(guī)格測試夾,可對焊接在電路板上的集成IC直接測試。
目前國內(nèi)在線電路維修測試儀主要配備3種規(guī)格IC測試夾,分別為DIP測試夾:雙列直插封裝,管腳中心距2.54 mm;SOP測試夾:雙列貼片封裝,管腳中心距1.27 mm;PLCC測試夾:4側(cè)J形管腳貼片封裝,管腳中心距1.27 mm。
集成IC的發(fā)展方向是小型化和多管腳。近年來,早期DIP封裝趨少,SOP封裝應(yīng)用較廣,同時(shí)衍生出SSOP(縮小型SOP)、TSSOP(薄縮小型SOP)等許多新型封裝形式,一些貼片IC管腳中心距僅為0.5 mm。由于測試夾的限制,對新型封裝IC更多采用離線測試方式。
上兩代測試儀離線測試貼片IC的方法,是將IC對應(yīng)的單獨(dú)測試插座插接到離線測試盒上的40管腳DIP鎖緊插座中,通過轉(zhuǎn)換完成測試。這是因?yàn)樯蟽纱鷾y試儀只配備一個(gè)帶DIP/ 40 pin插座的離線測試盒。這帶來2個(gè)問題,一是使用過程相對繁瑣;二是對超過40管腳的貼片IC無法測試。
電路測試儀的強(qiáng)項(xiàng)就是測試集成IC,無論在線還是離線,無論是功能測試還是VI曲線測試。在線測試夾和離線測試板至關(guān)重要。例如,某IC管腳自身相互短路或特性改變,若IC管腳數(shù)是N,任意2個(gè)管腳之間測試1次,要測試N(N-1)/2次。這意味著對一個(gè)48管腳IC至少要測試1128次。用VI探棒難以完成這個(gè)測試,而采用測試夾(或離線測試板)測試1128條VI曲線,則不超過10 s鐘。對于第三代ZD9610測試儀而言,提供種類豐富的在線測試夾和離線測試板是一個(gè)繞不過去的問題。當(dāng)務(wù)之急是配備多種類型的離線測試板。
標(biāo)準(zhǔn)離線測試板(圖1)采用2組60線測試電纜。包括管腳中心距2.54 mm的DIP插座,管腳中心距1.27 mm的SOP, PLCC插座以及<1.27 mm的SSOP,TSSOP等插座(圖2)。整板采用撥碼開關(guān)、插針跳線2種供電方式。
從左至右,插座管腳數(shù)分別為34 pin,24 pin,56 pin,64 pin。其中34 pin,56 pin是SSOP插座,管腳中心距0.65 mm。64 pin是TSSOP插座,管腳中心距0.5 mm。第三代ZD9610測試儀可對74FCT16460(56 pin),74ALVCH16832(64 pin/3.3 V供電)等數(shù)百種40管腳以上復(fù)雜數(shù)字IC功能/性能測試和型號識別。標(biāo)準(zhǔn)離線測試板成為第三代ZD9610測試儀測試功能大幅躍升的有力保證。
綜合測試板A(圖3)采用1組40線和1組60線測試電纜,可兼顧在第二代測試儀上使用。測試插座以SOP,SSOP為主,兼有DIP插座,寬體/窄體SDIP插座(收縮型DIP封裝/管腳中心距1.778 mm)等。
圖1 ZD系列標(biāo)準(zhǔn)離線測試板
圖2 ZD系列標(biāo)準(zhǔn)離線測試板局部
圖3 ZD系列綜合測試板A
綜合測試板B(圖4)采用2組60線測試電纜。測試插座以PLCC為主,兼有DIP插座、PGA插座(陣列插針式封裝/管腳中心距2.54 mm)和QFP插座(4側(cè)L形管腳扁平式封裝/管腳中心距0.65 mm/100 pin)等。
器件篩選測試板A(圖5)采用2組60線測試電纜。測試插座涵蓋DIP,SDIP,SOP,SSOP,TSSOP,PLCC等多型,管腳中心距為0.50~2.54 mm,適用范圍廣。
圖4 ZD系列綜合測試板B
圖5 ZD系列器件篩選測試板A
器件篩選測試板B(圖6)采用2組60線測試電纜。測試插座以QFP為主,管腳中心距有1 mm,0.8 mm,0.65 mm,0.5 mm等規(guī)格,最大管腳數(shù)120 pin。還包括多種PGA插座,針對性很強(qiáng)。
圖6 ZD系列器件篩選測試板B
該板采用4組60線測試電纜,專門用來測試QFP封裝管腳中心距0.5 mm的240 pin器件(圖7)。
圖7 ZD系列240pin器件測試板
鑒于國內(nèi)測試儀原有貼片測試夾已經(jīng)使用20多年,只能測試管腳中心距為1.27 mm的SOP和PLCC器件,并且雙列SOP測試夾最大管腳數(shù)僅為28 pin,所以研制新型貼片測試夾也變得愈發(fā)迫切。
第三代ZD9610測試儀于2015年驗(yàn)證了新型雙列TSSOP測試夾(圖8),管腳中心距為0.5 mm/48 pin。測試時(shí)管腳定位精確,達(dá)到預(yù)期效果。TSSOP測試夾首次大幅突破國內(nèi)貼片測試夾管腳中心距1.27 mm這個(gè)界限。SSOP測試夾的研制難度小于TSSOP測試夾(圖9),因此首先驗(yàn)證TSSOP測試夾的意義更大。
圖8 ZD系列TSSOP測試夾(48pin)
雖然離線測試插座種類豐富,但研制一款高精密測試夾的難度卻很大。這可不是將離線測試插座倒扣過來測試IC那樣簡單。以TSSOP封裝為例,離線測試時(shí)IC在插座中是底面向下,放置后各個(gè)管腳被充分包裹。而在線測試時(shí)IC被焊接在電路板上,測試夾要從IC上面向下夾取。管腳接觸面積小,穩(wěn)定性差,定位困難。研制中要面對定位方式、材料選擇、加工工藝、合格率、方便性、耐用性等一個(gè)又一個(gè)非常棘手的難題。
第三代ZD9610測試儀于2016年再次驗(yàn)證了方形QFP測試夾(圖10),管腳中心距為0.65 mm/64 pin。由于QFP器件4側(cè)管腳接觸面多,管腳呈L形向外伸展,定位難度大。北京正達(dá)公司在整個(gè)研制過程中遇到很大困難,反復(fù)調(diào)整測試方案。最終QFP測試夾采用按壓測試方案,測試效果滿意。
圖9 ZD系列TSSOP測試夾在線測試
圖10 ZD系列QFP測試夾(64pin)
TSSOP測試夾和QFP測試夾都是首次在國內(nèi)測試儀上應(yīng)用,意義很大。同時(shí)應(yīng)當(dāng)看到,這兩款測試夾都帶有探索性,并非完美無缺。TSSOP測試夾的研制難度大于研制SSOP測試夾,更是明顯大于原有的SOP測試夾。QFP測試夾相比于PLCC測試夾同樣難很多。對于方便性、耐用性而言,相對于SOP,PLCC測試夾尚有差距,也存在進(jìn)一步改進(jìn)的空間。
器件的發(fā)展趨勢在無形之中預(yù)示著在線電路維修測試儀的發(fā)展未來。若不能積極面對器件的飛速變化,僅滿足于使用探棒類似萬用表那般地對新型器件逐點(diǎn)測試VI曲線,不在IC功能測試上下功夫,不在IC測試夾具上下功夫,電路測試儀將退化成一種簡單工具,沒有未來。唯有緊跟技術(shù)發(fā)展步伐,在測試技術(shù)和使用環(huán)節(jié)上都不斷地做出突破,才是正確的發(fā)展方向。研制種類豐富的在線測試夾和離線測試板,正是第三代ZD9610測試儀高端品質(zhì)的詮釋,不斷發(fā)展的縮影。
〔編輯 利文〕
TH17
B
10.16621/j.cnki.issn.1001-0599.2017.01.26