李 妍

遼寧宜居尚雅科技有限公司

電子元器件的貯存可靠性及評(píng)價(jià)技術(shù)

李 妍

遼寧宜居尚雅科技有限公司

文章首先針對(duì)電子元器件貯存可靠性的意義與開展重要性層面展開分析，并總結(jié)了電子元器件使用過程中發(fā)生失效問題的主要原因，并分析了電子元器件失效的評(píng)價(jià)技術(shù)方法。

電子元器件；貯存可靠性；評(píng)價(jià)技術(shù)

一、電子元器件貯存可靠性的意義和重要性

電子元器件使用超過一定年限后，在安全性上會(huì)有明顯的下降，長(zhǎng)時(shí)間處于這樣的環(huán)境下，也增大了元器件使用的危害性。對(duì)其貯存可靠性展開研究，能夠得出一個(gè)詳細(xì)的評(píng)判體系，了解在使用期間所遇到的問題，以及需要進(jìn)一步完善優(yōu)化的設(shè)計(jì)內(nèi)容，最大程度的降低使用隱患，在電子元器件達(dá)到安全使用年限前，可以采取維修或者更換的方法來避免故障問題發(fā)生。貯存性能是電子元器件使用安全性的一個(gè)具體體現(xiàn)，對(duì)其可靠性進(jìn)行研究會(huì)整理全面數(shù)據(jù)，達(dá)到一個(gè)更理想的使用效果，這也是傳統(tǒng)方法中所難以實(shí)現(xiàn)的，對(duì)于貯存可靠性的深入研究，現(xiàn)場(chǎng)會(huì)采取技術(shù)性方法來診斷其中所存在的隱患。通過這種可靠性研究并結(jié)合評(píng)價(jià)技術(shù)來了解其使用性能，對(duì)于電子元器件功能實(shí)現(xiàn)也起到了保障作用，在安全時(shí)間內(nèi)，可以達(dá)到理想的使用效果。

二、依據(jù)貯存可靠性研究分析電子元器件失效原因

1、國(guó)內(nèi)電子元器件貯存失效形式及原因

我國(guó)的電子行業(yè)發(fā)展起步較晚，在所應(yīng)用過程中大部分故障問題都是由于使用中的外線損壞所造成的，對(duì)功能也帶來了直接性的影響。元器件的焊接問題也是比較嚴(yán)重的，元器件與焊接線路之間銜接不合理，最終造成了嚴(yán)重的安全故障隱患。檢修時(shí)間設(shè)置不合理也是造成此類問題的主要原因，間隔過長(zhǎng)時(shí)間導(dǎo)致電子元器件使用隱患問題不能及時(shí)被發(fā)現(xiàn)，長(zhǎng)時(shí)間在這樣的環(huán)境下也增大了運(yùn)行使用中的電能損耗，保護(hù)裝置失去了對(duì)電流荷載的控制作用，通過過多的電流導(dǎo)致電子元器件燒毀，也不利于使用功能實(shí)現(xiàn)。當(dāng)前國(guó)內(nèi)的檢測(cè)評(píng)價(jià)技術(shù)仍然需要提升，針對(duì)檢測(cè)結(jié)果方面的研究也缺乏全面性，需要在技術(shù)方面強(qiáng)化研究。

2、國(guó)外電子元器件貯存失效形式及原因

國(guó)外電子行業(yè)發(fā)展起步較早，在相關(guān)技術(shù)上也較國(guó)內(nèi)更為成熟。從國(guó)外電子行業(yè)市場(chǎng)整體情況進(jìn)行研究，可以發(fā)現(xiàn)導(dǎo)致這一問題的主要原因是所開展的設(shè)計(jì)連接中存在不合理現(xiàn)象。電子元器件自身使用功能是十分完善的，但受連接過程中的多種因素影響，并不能到達(dá)預(yù)期的設(shè)計(jì)使用效果，也增大了設(shè)備發(fā)生故障隱患的幾率。電阻器在使用中主要發(fā)揮著線路的保護(hù)作用，一旦其喪失效果，接下來的功能也將會(huì)受到影響，由于電阻器的使用功能受到限制，所造成的影響問題也十分嚴(yán)重，連接后對(duì)電子元器件不能發(fā)揮保護(hù)作用，在使用期間所遇到的問題表現(xiàn)多樣性，在檢測(cè)過程中也很難發(fā)現(xiàn)造成這一問題深層次原因。

三、電子元器件貯存可靠性的主要評(píng)價(jià)技術(shù)

1、現(xiàn)場(chǎng)貯存、長(zhǎng)期貯存試驗(yàn)評(píng)價(jià)

電子元器件貯存可靠性分析評(píng)價(jià)中，可以通過試驗(yàn)的方法來檢測(cè)是否在運(yùn)行方面存在故障問題。試驗(yàn)需要同時(shí)針對(duì)多種元器件來進(jìn)行，在開展過程中技術(shù)人員對(duì)所檢測(cè)得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄，將其錄入到系統(tǒng)中，通過系統(tǒng)的分析檢測(cè)來發(fā)現(xiàn)其中存在的問題，這樣對(duì)電子元器件的貯存性檢測(cè)效果也更全面。同時(shí)電子元器件的使用也受周邊環(huán)境因素影響，在試驗(yàn)過程中環(huán)境因素也是需要考慮，觀察在不同環(huán)境下電子元器件的貯存性變化，試驗(yàn)是在相同的環(huán)境下，通過改變電子元器件類型來達(dá)到理想檢測(cè)效果的，對(duì)于使用期間可能會(huì)出現(xiàn)的問題，在試驗(yàn)中也都能夠反映出來，繼續(xù)加強(qiáng)使用中的隱患分析，才能夠進(jìn)一步解決電子元器件的使用安全性下降問題。

試驗(yàn)要以成本節(jié)約為原則來開展，這樣能夠最大限度的減少使用損壞的問題，避免因電子元器件損壞帶來不必要的成本增大問題，在研究問題中，加強(qiáng)各個(gè)系統(tǒng)之間的相互配合，通過配合性來開展更全面的設(shè)備使用功能，這樣使用一段時(shí)間后所發(fā)現(xiàn)的問題也能更及時(shí)的解決，加強(qiáng)隱患控制對(duì)貯存性研究也是十分有利的，常規(guī)使用狀態(tài)下可能發(fā)生的問題在貯存性研究中也能發(fā)揮規(guī)劃的作用。

2、極限應(yīng)力評(píng)價(jià)

極限應(yīng)力技術(shù)是通過極端使用環(huán)境營(yíng)造來檢測(cè)電子元器件的使用安全性，在這樣的環(huán)境下，發(fā)現(xiàn)任何問題都能從多方面探討原因，極限應(yīng)力檢測(cè)中能夠通過多方面因素的探討，檢驗(yàn)電子元器件使用過程中應(yīng)對(duì)極限情況的能力，并幫助提升系統(tǒng)穩(wěn)定性。極限應(yīng)力越強(qiáng)，在使用中設(shè)備儀器的老化現(xiàn)象也能得到更好的控制，這一點(diǎn)是其他方法中所不存在的，也是極限應(yīng)力技術(shù)應(yīng)用所針對(duì)的主要內(nèi)容。在開展這一檢測(cè)前，需要針對(duì)電子元器件的各項(xiàng)功能進(jìn)行建模處理，依據(jù)模型基礎(chǔ)上將數(shù)據(jù)一次錄入到其中，通過系統(tǒng)完成自動(dòng)化檢測(cè)，與人工分析相比較結(jié)果可靠性有明顯提升，對(duì)于不同使用階段的電子元器件，檢測(cè)所使用的方法也要做出差異性區(qū)分。

3、加速貯存壽命試驗(yàn)

試驗(yàn)方法應(yīng)用雖然能夠解決問題，但在成本上也比較大，普通的電子行業(yè)使用是很難承受這一成本支出的，通過加速貯存壽命試驗(yàn)?zāi)軌蜻_(dá)到一個(gè)檢測(cè)的效果，在成本上也有明顯降低。當(dāng)前的檢測(cè)以及評(píng)價(jià)技術(shù)，正在向新型技術(shù)創(chuàng)新來轉(zhuǎn)變，能夠幫助解決更多電子元器件使用中所發(fā)生的沖突問題，在對(duì)使用中速度下降的問題，通過加速壽命試驗(yàn)，能夠模擬出電子元器件使用一段時(shí)間后的運(yùn)行狀態(tài)，技術(shù)人員再根據(jù)所檢測(cè)得到的結(jié)果來分析是否需要更換組件，并作出更優(yōu)化合理的組件選擇方法。技術(shù)評(píng)價(jià)的最終結(jié)果是對(duì)電子組件有一個(gè)全面的理解，并根據(jù)所需要的技術(shù)性功能來選擇更合理的組合配套方法。

對(duì)比以上三種評(píng)價(jià)方案，在技術(shù)方面所遇到的問題都能夠采取組合優(yōu)化的方法來繼續(xù)深入解決，雖然每一種方法都存在技術(shù)層面的缺陷，但根據(jù)具體情況來進(jìn)行探討，也能夠達(dá)到理想的評(píng)價(jià)狀態(tài)，這也是單一評(píng)價(jià)方法中所不能達(dá)到的，同時(shí)也關(guān)系到未來電子元器件在精密程度與使用安全性方面的發(fā)展。

總之，由于一些特殊裝備或特殊電子元器件會(huì)在某種特定的條件下長(zhǎng)期處于“長(zhǎng)期貯存，一次使用”的狀態(tài)。因此保持電子元器件的穩(wěn)定性具有十分重要的意義。介于目前電子元器件在長(zhǎng)期貯存條件下的實(shí)效形式和原因。使用長(zhǎng)期貯存試驗(yàn)評(píng)價(jià)技術(shù)，極限應(yīng)力評(píng)價(jià)技術(shù)，加速貯存壽命試驗(yàn)技術(shù)可以對(duì)電子元器件的貯存可靠性進(jìn)行評(píng)價(jià)，進(jìn)而找出相應(yīng)的解決措施。

[1] 電子元器件的貯存可靠性研究[J].李坤蘭，邱森寶.電子元件與材料.2010(09)