韋 華
(廣西壯族自治區(qū)計(jì)量檢測(cè)研究院,廣西 南寧 530007)
絕緣電阻表測(cè)量結(jié)果不確定度評(píng)定
韋 華
(廣西壯族自治區(qū)計(jì)量檢測(cè)研究院,廣西 南寧 530007)
文章通過實(shí)例對(duì)絕緣電阻表的示值誤差不確定度進(jìn)行了分析和評(píng)定。
絕緣電阻表;不確定度;評(píng)定
1.1 測(cè)量依據(jù)
依據(jù)JJG622-1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規(guī)程》。
1.2 計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)
主要計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備為0.2級(jí)兆歐表檢定裝置,測(cè)量范圍:100Ω~200GΩ。
1.3 被測(cè)對(duì)象
10級(jí)絕緣電阻表,測(cè)量范圍:0.1MΩ~500 MΩ。
1.4 測(cè)量方法
采用直接測(cè)量法測(cè)量絕緣電阻表,通過調(diào)節(jié)兆歐表檢定裝置的十進(jìn)盤,直接測(cè)出被檢表的實(shí)際值?,F(xiàn)對(duì)絕緣電阻表每個(gè)帶數(shù)字的刻度值進(jìn)行分析。
式中: △R—— 被檢表示值誤差;
Rx—— 絕緣電阻表示值;
Rs—— 檢定裝置讀數(shù)值。
其中:c(Rx )=?f /?(Rx )=1
c(Rs )=?f/?(Rs)=-1
表1 不確定度分量分析表
5.1 輸入量Rx的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Rx)的評(píng)定
輸入量 Rx的標(biāo)準(zhǔn)不確定度 u(Rx)的來源主要是由被檢絕緣電阻表的測(cè)量不重復(fù)引起的,可以通過連續(xù)測(cè)量得到測(cè)量列,采用A類方法進(jìn)行評(píng)定。 取一臺(tái)絕緣電阻表,依據(jù)規(guī)程規(guī)定,對(duì)每個(gè)帶數(shù)字的刻度值進(jìn)行校準(zhǔn),即需校準(zhǔn)0.1 MΩ、0.2 MΩ、0.5 MΩ、1MΩ、2 MΩ、5 MΩ、10 MΩ、20 MΩ、50 MΩ、100 MΩ、200 MΩ、500 MΩ共十二個(gè)點(diǎn),在相同溫濕度,同一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)器的重復(fù)性條件下分別連續(xù)獨(dú)立測(cè)量10次,分別獲得測(cè)量列如表2:
表2 校準(zhǔn)點(diǎn)10次測(cè)量重復(fù)性數(shù)據(jù)
再任意選取2臺(tái)同類型絕緣電阻表,各在重復(fù)性條件下連續(xù)測(cè)量10次,共得12組測(cè)量列,每組測(cè)量列分別按上述方法計(jì)算得到單次實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差如表3所示:
表3 校準(zhǔn)點(diǎn)單次實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)據(jù)
校準(zhǔn)點(diǎn)(MΩ) S1 S2 S3實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差sj5 0. 014 0. 010 0. 01210 0. 044 0. 040 0. 0 4 020 0. 067 0. 067 0. 0 6 3 50 0.42 0.48 0. 42100 0.82 0.74 0. 82200 0.92 0.82 0. 8 8 500 1.05 0.94 0.97
合并樣本標(biāo)準(zhǔn)差:
5.2 輸入量Rs的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Rs)的評(píng)定
輸入量Rs的不確定度主要由兆歐表檢定裝置誤差引起的標(biāo)準(zhǔn)不確定度u(Rs),采用B類方法進(jìn)行評(píng)定。考慮到標(biāo)準(zhǔn)裝置穩(wěn)定性、調(diào)節(jié)細(xì)度及讀數(shù)分辨力所引起的不確定度已包含在重復(fù)性條件下所得的測(cè)量列的分散性中,故在此不另作分析。
兆歐表檢定裝置經(jīng)上級(jí)多年傳遞,符合其技術(shù)指標(biāo)要求。×0.1MΩ、×1MΩ、×10MΩ、×100MΩ測(cè)量盤最大允許誤差分別為±0.2%、±0.2%、±0.5%、±1.0%,在測(cè)量0.1 MΩ、0.2MΩ、0.5MΩ、1MΩ、2MΩ、5MΩ時(shí)其允許誤差限分別為:
±(0.2%×0.1MΩ)=±0.0002MΩ,即半寬區(qū)間0.0002MΩ
±(0.2%×0.2MΩ)=±0.0004MΩ,即半寬區(qū)間0.0004MΩ
±(0.2%×0.5MΩ)=±0.0010MΩ,即半寬區(qū)間0.0010MΩ
±(0.2%×1MΩ)=±0.002MΩ,即半寬區(qū)間0.002MΩ
±(0.2%×2MΩ)=±0.004MΩ,即半寬區(qū)間0.004MΩ
±(0.2%×5MΩ)=±0.010MΩ,即半寬區(qū)間0.010MΩ
在測(cè)量10MΩ、20MΩ、50MΩ時(shí)其允許誤差限為:
±(0.5%×10MΩ)=±0.05MΩ,即半寬區(qū)間0.05MΩ
±(0.5%×20MΩ)=±0.10MΩ,即半寬區(qū)間0.10MΩ
±(0.5%×50MΩ)=±0.25MΩ,即半寬區(qū)間0.25MΩ
在測(cè)量100MΩ、200MΩ、500MΩ時(shí)其允許誤差限為:
±(1.0%×100MΩ)=±1.0MΩ,即半寬區(qū)間1.0MΩ
±(1.0%×200MΩ)=±2.0MΩ,即半寬區(qū)間2.0MΩ
±(1.0%×500MΩ)=±5.0MΩ,即半寬區(qū)間5.0MΩ
輸入量Rx與Rs彼此獨(dú)立不相關(guān),所以合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度可按下式得:
U =kcu,取k =2,得
0.1MΩ:U = kcu=2×0.001=0.002MΩ
0.2MΩ:U = kcu=2×0.002=0.004MΩ
0.5MΩ:U = kcu=2×0.005=0.010MΩ
1MΩ:U = kcu=2×0.005=0.010MΩ
2MΩ:U = kcu=2×0.008=0.016MΩ
5MΩ:U = kcu=2×0.013=0.026MΩ
10MΩ:U = kcu=2×0.050=0.100MΩ
20MΩ:U = kcu=2×0.088=0.176MΩ
50MΩ:U = kcu=2×0.46=0.92MΩ
100MΩ:U = kcu=2×0.98=1.96MΩ
200MΩ:U = kcu=2×1.44=2.88MΩ
500MΩ:U = kcu=2×3.05=6.10MΩ
換算至相對(duì)擴(kuò)展不確定度:
0.1MΩ:Urel=2.0% 0.2MΩ:Urel=2.0%
0.5MΩ:Urel=2.0% 1MΩ:Urel=1.0%
2MΩ:Urel=0.8% 5MΩ:Urel=0.5%
10MΩ:Urel=1.0% 20MΩ:Urel=0.9%
50MΩ:Urel=1.8% 100MΩ:Urel=2.0%
200MΩ:Urel=1.4% 500MΩ:Urel=1.2%
10級(jí)絕緣電阻表是使用0.2級(jí)兆歐表檢定裝置校準(zhǔn)的最佳被校絕緣電阻表,因此該項(xiàng)目的CMC為:(0.1~500)MΩ:Urel=0.5%~2.0%。
[1] 全國法制計(jì)量管理計(jì)量技術(shù)委員會(huì). JJF1059.1-2012測(cè)量不確定度評(píng)定與表示[S].北京:中國質(zhì)檢出版社,2012.
[2] 全國法制計(jì)量管理計(jì)量技術(shù)委員會(huì).JJF1001-2011通用計(jì)量術(shù)語及定義[S].北京:中國質(zhì)檢出版社,2011.
Evaluation of measurement uncertainty for Insulating Resistance Meters
This paper mainly introduces the evaluation of measurement uncertainty for Insulating Resistance Meters giving a specific example.
Insulating Resistance Meters; uncertainty; evaluation
TM54
A
1008-1151(2016)01-0047-03
2015-12-10
韋華(1977-),女,廣西壯族自治區(qū)計(jì)量檢測(cè)研究院工程師,從事電學(xué)方面計(jì)量器具檢測(cè)工作。