代彥偉,肖 梅,張曉兵,吳曉斌,王魁波,羅 艷
(1.東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院,南京 210096;2.中國(guó)科學(xué)院光電研究院,北京 100000)
基于四極質(zhì)譜儀O形氟橡膠圈的放氣研究
代彥偉1,肖梅1,張曉兵1,吳曉斌2,王魁波2,羅艷2
(1.東南大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院,南京210096;2.中國(guó)科學(xué)院光電研究院,北京100000)
在真空系統(tǒng)中,接口之間的密封主要有金屬與橡膠密封。橡膠屬于彈性元件,是一種適應(yīng)性很強(qiáng)的密封件,其廣泛應(yīng)用于真空系統(tǒng)中。實(shí)驗(yàn)研究了O形氟橡膠圈放氣特性對(duì)痕量氣體分析的影響,在利用超高真空封閉式離子源的四極質(zhì)譜系統(tǒng),對(duì)O形氟橡膠圈釋放氣體進(jìn)行分析。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)O形氟橡膠圈釋放大量的氧氣等雜質(zhì)氣體,在痕量雜質(zhì)分析系統(tǒng)上,不適合使用O形橡膠圈作為密封器件。
O形橡膠圈;痕量雜質(zhì)氣體;封閉式離子源;四極質(zhì)譜儀
密封按接觸面間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)可以分為靜密封和動(dòng)密封[1]。在真空系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)靜態(tài)密封的途徑有很多種,最常用到的密封件主要是金屬密封、橡膠密封圈密封。金屬密封屬于強(qiáng)制性密封,通過CF法蘭刀口與金屬墊片之間的緊密咬合,從而達(dá)到密封的效果。金屬密封的效果較好,可以實(shí)現(xiàn)He的泄漏率小于10-8cm3/s的水平。但是金屬密封的缺點(diǎn)是拆卸不方便、金屬墊圈使用次數(shù)有限、價(jià)格昂貴等。
在真空設(shè)備徑向和軸向的靜密封,以及速度和壓力較小情況下的動(dòng)密封中,橡膠密封圈作為密封材料的應(yīng)用最為普遍。橡膠的特性使得橡膠圈一旦被壓縮總是傾向于恢復(fù)初始的截面形狀,從而產(chǎn)生對(duì)接觸面的壓緊力。另外,橡膠還具有較好的空間延展性,在較小的接觸壓力下,能填充凹凸不平的接觸面,形成密封面[2]。橡膠密封圈具有結(jié)構(gòu)緊湊、制造簡(jiǎn)單、可反復(fù)拆卸安裝、能彌補(bǔ)一定密封面的加工缺陷、密封效果好、成本低廉等特點(diǎn),是一種適應(yīng)性很強(qiáng)的密封件[3]。然而任何固體材料在大氣環(huán)境下都能溶解和吸附一些氣體[4],因此橡膠密封圈在真空系統(tǒng)中使用都會(huì)放氣,同時(shí)由于靜態(tài)分析與動(dòng)態(tài)分析的差異,所放出氣體成分及其含量可能會(huì)對(duì)分析存在不利的影響。文章利用含封閉式離子源的四極質(zhì)譜系統(tǒng),研究O形氟橡膠圈的放氣特性對(duì)痕量雜質(zhì)氣體分析的影響。
在此實(shí)驗(yàn)中用到的實(shí)驗(yàn)裝置如圖1所示。使用前置機(jī)械泵和分子泵對(duì)系統(tǒng)抽真空,樣品室、封閉式離子源組成一體化結(jié)構(gòu),計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)真空系統(tǒng)的實(shí)時(shí)掃描。
圖1 實(shí)驗(yàn)裝置原理圖
電子碰撞型離子源是質(zhì)譜儀最重要的離子源形式,有開放式和封閉式兩種。在痕量氣體分析中,封閉式離子源是常用的離子源。這是因?yàn)殚_放式離子源是指產(chǎn)生離子流信號(hào)的電離空間暴露在真空系統(tǒng)中的離子源。此時(shí),真空系統(tǒng)殘氣本底就是電離空間的本底。由于質(zhì)譜儀存在著三個(gè)方面的干擾[5]:(1)真空系統(tǒng)的本地干擾;(2)燈絲的熱分解和化學(xué)反應(yīng)物干擾;(3)樣品的碎片和分子離子反應(yīng)物的干擾。所以開放式離子源質(zhì)譜計(jì)很難達(dá)到較高的痕量分析靈敏度。
封閉式離子源是質(zhì)譜計(jì)氣體放電離子源的改進(jìn)方案,其放電空間用封閉筒與真空室隔離。氣體經(jīng)過毛細(xì)管直接進(jìn)入封閉筒內(nèi),極大減少了真空室內(nèi)殘氣的干擾,提高了樣品分析的痕量靈敏度。
根據(jù)本實(shí)驗(yàn)裝置的樣品室和分析室之間通過內(nèi)徑1 mm的毛細(xì)管連接,能實(shí)現(xiàn)在準(zhǔn)靜態(tài)下樣品的進(jìn)樣。在高真空準(zhǔn)靜態(tài)封閉式離子源下研究O形氟橡膠圈的放氣量,因此可以不考慮四極質(zhì)譜系統(tǒng)本底對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響。
實(shí)驗(yàn)使用的O形氟橡膠密封圈尺寸如圖2所示。四極質(zhì)譜儀的工作條件:電子加速電壓Va為70.9 V,電子能量電壓Ve為6.2 V,加速極電壓Vd為29.8 V,發(fā)射電流Ie為24 uA,倍增器高壓Vb為2 000 V,高阻為109Ω,濾波為300 ms,掃描速度1 000 ms/amu。為了研究O形氟橡膠圈的放氣特性,分別進(jìn)行了以下實(shí)驗(yàn)。
圖2 O形氟橡膠圈尺寸標(biāo)注圖
2.1本底分析
在圖1中,V4用無(wú)氧銅密封圈作為密封件,樣品室不放置任何樣品。此時(shí),在高真空電離計(jì)G2讀數(shù)為8.33×10-5Pa時(shí),打開四極質(zhì)譜儀對(duì)系統(tǒng)的本底進(jìn)行掃描,掃描譜圖如圖3所示。在高阻為109Ω掃描時(shí),系統(tǒng)沒有烘烤時(shí),主要的成分是水峰18峰,離子流為I18=2.0×10-8A。
圖3 不含氟橡膠圈的系統(tǒng)本底掃描譜圖
2.2樣品室進(jìn)氣路上含O形密封圈
在圖1中使用KF密封V4連接處,密封件使用O形氟橡膠圈,且樣品室不放置任何實(shí)驗(yàn)樣品。在高真空電離計(jì)G2讀數(shù)為6.75×10-5Pa時(shí),打開四極質(zhì)譜儀,掃描譜圖如圖4所示。在使用O形氟橡膠圈密封管道連接時(shí),譜圖中的主峰為水峰18峰、28峰和32峰有明顯上升,離子流分別為I18=3.5×10-8A、I28=2.5×10-8A,I32=8.0×10-9A。
2.3將O形氟橡膠圈放入樣品室
將含有氟橡膠圈的閥門取下,用CF盲法蘭封住。在樣品室中直接放入O形橡膠圈,當(dāng)高真空電離計(jì)G2讀數(shù)為1.13×10-5Pa時(shí),打開四極質(zhì)譜儀,掃描譜圖如圖5所示。
圖4 O形氟橡膠圈密封進(jìn)樣系統(tǒng)的譜圖
圖5 O形氟橡膠圈放入樣品室的掃描譜圖
系統(tǒng)譜圖5中的主要成分有:1、18、28和32峰,且其峰高值都相對(duì)較大,產(chǎn)生削頂現(xiàn)象。2、14、16、17、44峰及其附近的峰、55峰和其附近的峰及70峰附近的峰都有出現(xiàn)。圖5和圖4比較,可以發(fā)現(xiàn)O形氟橡膠圈放在樣品室時(shí),放出了大量的雜質(zhì)氣體,如果樣品室有需要分析的痕量雜質(zhì)的話,很明顯會(huì)對(duì)其分析產(chǎn)生大量干擾氣體。
通過對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析,發(fā)現(xiàn)在使用O形橡膠圈密封進(jìn)樣系統(tǒng)時(shí),雖然只有很小表面暴露在真空環(huán)境中,但對(duì)于痕量氣體分析來(lái)說(shuō),其所釋放的氣體不能實(shí)現(xiàn)對(duì)PPM量級(jí)的雜質(zhì)檢測(cè)。因此,在痕量雜質(zhì)分析時(shí),要盡量使用金屬或其他放氣較小的密封件。
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THEDEFLATED RESEARCH ON VITONO-RING BASED ON USING QUADRUPOLE MASSSPECTROMETER
DAIYan-wei1,XIAO Mei1,ZHANG Xiao-bing1,WU Xiao-bin2,WANG Kui-bo2,LUO Yan2
(1.Electronic Science&Engineering,Southeast University,Nanjing210096,China;2.Academ y of Opto-electronics,ChineseAcadem y of Sciences,Beijing100000,China)
In the vacuum system,there are two importantways to seal the interface which aremetal seal and rubber seal.The rubber sealbelongs to self-tight seal,which is a kind of adaptable seals.So the rubber seal is used w idely under the high vacuum.This paper discusses the deflated characteristicsof Viton O-ring impacton analysis of trace impurity gases by using quadrupolemass spectrometerw ith closed ion source system.It is found that the Viton O-ring releases large amountsof oxygen.It'snotsuitable forusing the rubberO-ring assealdevice in the trace of impurity analysis system.
Viton O-ring;trace impurity gases;closed ion source;quadrupolemassspectrometer
TB773;TH145
A
1006-7086(2016)03-0170-03
10.3969/j.issn.1006-7086.2016.03.010
2016-01-11
代彥偉,(1989-),男,安徽阜陽(yáng)人,碩士研究生,從事超高靈敏度痕量氣體檢測(cè)分析研究。E-mail:seu_daiyanwei@163.com。