李碩明(中山職業(yè)技術(shù)學(xué)院信息工程學(xué)院,廣東中山528404)
基于新型延遲電路的CMOS片上溫度傳感器*
李碩明*
(中山職業(yè)技術(shù)學(xué)院信息工程學(xué)院,廣東中山528404)
為在較大溫度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的片上溫度檢測(cè),提出一種基于新型延遲電路的CMOS時(shí)域溫度傳感器。該傳感器以新型延遲電路為基礎(chǔ),利用二極管連接的雙極結(jié)型晶體管(BJT)生成PWM信號(hào),相較于其它時(shí)域溫度傳感器,僅需要單一偏置電流以及比較器就可生成PWM信號(hào);利用簡易的數(shù)字計(jì)數(shù)器可確定占空比,且占空比會(huì)被轉(zhuǎn)換成數(shù)字值;傳感器設(shè)計(jì)采用了0.18 μm CMOS技術(shù)。實(shí)際測(cè)試結(jié)果顯示,相較于其它類似傳感器,提出的傳感器在較寬的溫度范圍內(nèi)精確度較高;在兩個(gè)溫度點(diǎn)上進(jìn)行數(shù)字校準(zhǔn)之后,在0~125℃范圍內(nèi)的精確度為±0.1℃;電源為1.5 V時(shí),此傳感器僅消耗了2.48μA,功耗為3.8μW。
時(shí)域溫度傳感器;延遲電路;低電壓低功率;時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC)
CMOS片上溫度傳感器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于硅集成電路應(yīng)用中,主要用于實(shí)現(xiàn)高度精確、節(jié)能、低成本的溫度數(shù)字采集功能。包括低功率的感應(yīng)領(lǐng)域,如生物醫(yī)學(xué)、生命科學(xué)和物流等領(lǐng)域。大致來說,CMOS片上溫度傳感器可分為3大類[1]:
(1)電壓傳感器該類傳感器利用隨溫度而變的電壓電源以及電壓ADC,將溫度信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字值[2-3]。文獻(xiàn)[3]中的傳感器利用了雙極設(shè)備和變焦ADC,并結(jié)合了SAR和ΔΣ原理。在-55℃~125℃的溫度范圍內(nèi),傳感器的精確度高達(dá)±0.15℃,并且功耗為5.1μW。然而,由于ADC十分復(fù)雜,傳感器實(shí)現(xiàn)成本較高。
(2)頻率溫度傳感器該類傳感器的結(jié)構(gòu)與之前提及的溫度傳感器相似,隨著溫度變化,傳感器的輸出頻率發(fā)生相應(yīng)改變[3-4]。在0~100℃范圍內(nèi),文獻(xiàn)[5]中記錄的傳感器的誤差為-1.6℃/+3℃,且功耗為200 nW。
(3)時(shí)域溫度傳感器該類傳感器中,延遲發(fā)生器生成的數(shù)字脈沖帶有隨溫度而變的延遲,如文獻(xiàn)[6]。利用簡易的數(shù)字計(jì)數(shù)器可實(shí)現(xiàn)時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC),此轉(zhuǎn)換器可以測(cè)量延遲,并生成相應(yīng)的數(shù)字輸出。利用開關(guān)電容電路[7]或者逆變器可實(shí)現(xiàn)延遲發(fā)生器[5-6]。文獻(xiàn)[7]中提出了超低功率片上CMOS溫度傳感器,功率為100 nW,且轉(zhuǎn)換率為25 sample/s。在-20℃~+30℃范圍內(nèi),誤差為±0.8℃,且分辨率為0.2℃。然而,由于溫度范圍較小,僅限于小范圍內(nèi)使用。文獻(xiàn)[8-9]中提出了逆變型延遲發(fā)生器;經(jīng)過兩點(diǎn)校正之后,在0~+90℃的范圍內(nèi)誤差為-0.4℃~+0.6℃。當(dāng)轉(zhuǎn)換率為2 sample/s時(shí),傳感器的平均功耗為36.7μW。
本文提出了一種新型時(shí)域低電壓低功率CMOS片上溫度傳感器,適用的溫度范圍為-40℃~125℃。該傳感器中的PWM發(fā)生器以新型延遲電路為基礎(chǔ),利用二極管連接的雙極結(jié)型晶體管生成PWM信號(hào),此信號(hào)的占空比與絕對(duì)溫度成正比。實(shí)際測(cè)試結(jié)果顯示,在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)之后,在0~125℃的范圍內(nèi),傳感器的精確度高達(dá)±0.1℃。
圖1是提出的延遲發(fā)生器原理圖,隨溫度改變而發(fā)生變化。本結(jié)構(gòu)包含3個(gè)模擬路徑,通過電流為偏置電流Ibias。最右端的路徑由C1和S1組成。開啟或關(guān)閉S1會(huì)分別致使Ibias向C1充電或放電。中間路徑由二極管連接雙極晶體管Q1組成,能夠生成電壓VBE1。最左端的路徑由C2、S2和Q2組成。S2用于重置C2。Q2的發(fā)射極面積是Q1的n倍,Q2可以生成電壓VBE2。根據(jù)S3的位置,比較器會(huì)將VC1或者VC2與VBE1進(jìn)行比較。
圖1 提出的延遲發(fā)生器原理圖
同時(shí)重置C1和C2可以生成PWM信號(hào)[10],然后利用Ibias向C1充電直至VC1=VBE1,最后,利用Ibias向C2充電直至VC2=VBE1。圖2是對(duì)應(yīng)電壓波形以及開關(guān)時(shí)序S1…3,期望的PWM輸出信號(hào)由此生成。
電容器的充電時(shí)間t1和t2取決于:
圖2 延遲發(fā)生器內(nèi)部的波形以及信號(hào)時(shí)序
根據(jù)總充電時(shí)間可以得出PWM周期tp。
對(duì)應(yīng)的占空比Q可表示為:
CT,VBE和 CT,ΔVBE可以分別表示 VBE1和 ΔVBE的溫度系數(shù)。如果選取的電容比m=C2/C1可以讓m= |CT,VBE/CT,ΔVBE|,則:
在式(6)中,VBG代表虛擬帶隙電壓,顯然不能用電路元件構(gòu)建。由于ΔVBE=ln(n)kT/q,占空比Q最終可表示如下:其中,k表示玻爾茲曼常數(shù),q表示元電荷,T表示開爾文溫度:
根據(jù)式(7)可知,Q(T)與絕對(duì)溫度成正比。盡管文獻(xiàn)[7]中的電路會(huì)利用兩個(gè)帶有互補(bǔ)溫度系數(shù)的電流,但是本文提出的結(jié)構(gòu)僅需要單一偏置電流。未發(fā)現(xiàn)有關(guān)溫度系數(shù)的特定限制,原因在于常常可以按照式(6)的要求設(shè)計(jì)m。由于n=8,CT,VBE≈-2mV/℃并且CT,ΔVBE≈ln(n)·0.087mV/℃,得出m≈11。由于VBG≈1.2 V,當(dāng)T∈[-40℃,125℃]時(shí),Q(T)會(huì)在38.6%~66%的范圍內(nèi)變化。
提出延遲發(fā)生器的CMOS實(shí)現(xiàn)必須考慮到多個(gè)非理想因素。開關(guān)S1和S2均有非零導(dǎo)通電阻Ron以及有限的斷開電阻Roff。尺寸最小的晶體管可以使Roff最大化,但是Ron會(huì)增加,并且在每個(gè)充電周期開始時(shí)會(huì)導(dǎo)致C1和C2出現(xiàn)非零初始電壓。這樣,連同比較器的偏移誤差會(huì)導(dǎo)致t1、t2和tp(式(1)~式(4))出現(xiàn)時(shí)序誤差,也就會(huì)出現(xiàn)式(5)中的非線性占空比誤差。難以對(duì)這些誤差進(jìn)行數(shù)字化補(bǔ)償,原因在于誤差電壓同樣也與溫度有關(guān)。
Q(T)中的非線性更多是來源于比較器的有限傳播延遲tpd,1和tpd,2,常常會(huì)將它們分別添加至充電時(shí)間t1和t2。然而,如果設(shè)計(jì)的電路會(huì)致使PWM周期tp足夠長,以致于可以忽略此效應(yīng),就不需要特定的傳播延遲補(bǔ)償技術(shù)。
圖3是本文提出的延遲發(fā)生器的實(shí)現(xiàn)。與圖1相比之下,通過開關(guān) S3可將Ibias1連接至4個(gè)節(jié)點(diǎn)(VC1、VC2、VBE2以及GND)之中的一個(gè),這樣,C1和C2可由相同電流源充電,如圖4(b)和圖4(d)所示。圖4是提出延遲發(fā)生器電路在4個(gè)切換相位時(shí)的等效電路,其中的4個(gè)切換相位,如圖5(c)所示。因此,只有 Ibias1和 Ibias2需要精確匹配。Ibias3并非關(guān)鍵,原因在于其僅用于維持Q2的偏置點(diǎn),如圖4(a)和圖4(b)所示。當(dāng)閑置電容器短路時(shí),Ibias1都會(huì)流經(jīng)一個(gè)電容器。即使在Ron較高的情況下,也可以消除通過電容器的初始電壓。重疊時(shí)鐘可以對(duì)S1和S2進(jìn)行控制,這樣,C1和C2可以免受S3和S4的電荷注入。同時(shí),在重疊期間,也會(huì)排出比較器輸入及電線的寄生電容。四相切換方案包括一個(gè)重置相位(在啟動(dòng)傳感器之前,模擬部分中的電壓處于靜止?fàn)顟B(tài))。
圖3 提出的延遲發(fā)生器的具體實(shí)現(xiàn)
圖4 延遲發(fā)生器等效電路
圖5(a)是零偏移理想比較器的波形。比較器會(huì)即時(shí)向點(diǎn)發(fā)送信號(hào),Vin會(huì)準(zhǔn)確通過VBE1設(shè)置的閾值?,F(xiàn)在,假設(shè)Vos≠0。需要Vin超過VBE1+Vos來切換比較器,從而,t1和t2會(huì)按比例增加或減少,這取決于Vos的符號(hào),如圖5(b)所示。比較器會(huì)利用斬波器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)消除偏移電壓Vos的影響,如圖5(c)所示?;诒壤瓌t,通過每隔一個(gè)周期對(duì)斬波器的極性進(jìn)行顛倒,計(jì)算t1和t2的平均值,可完全補(bǔ)償偏移產(chǎn)生的誤差。
圖5 各類型比較器輸入電壓Vin
圖6是提出溫度傳感器的設(shè)計(jì)原理圖,該感器由一個(gè)延遲發(fā)生器和一個(gè)TDC組成。其結(jié)構(gòu)與文獻(xiàn)[7]中的傳感器相似,但是卻只需要單一偏置電流。TDC可以測(cè)量延遲發(fā)生器生成的PWM信號(hào)的占空比,并且會(huì)在每個(gè)轉(zhuǎn)換周期結(jié)束時(shí)輸出對(duì)應(yīng)的數(shù)值Dout,Dout為判斷指示信號(hào)。
圖6 提出的CMOS溫度傳感器的結(jié)構(gòu)圖
采用0.18μm CMOS技術(shù)實(shí)現(xiàn)了提出的溫度傳感器,測(cè)試芯片電路的顯微照片如圖7所示。延遲發(fā)生器和數(shù)字邏輯的面積分別為0.076 mm2和0.072mm2。電容器陣列的面積為0.55mm2;為了能夠有足夠長的PWM周期以達(dá)到預(yù)期的精確度,此面積是必需的。在室溫下,當(dāng)電源為1.5 V時(shí),延遲發(fā)生器會(huì)消耗1.5μA。由于并未將測(cè)試芯片上任何外圍邏輯組件做出的電流貢獻(xiàn)計(jì)算在內(nèi),如:串行數(shù)據(jù)接口,傳感器的固有數(shù)字部分消耗了大約1μA。樣機(jī)的轉(zhuǎn)換時(shí)間為1.2ms,與PWM周期的長度相對(duì)應(yīng)。
圖7 測(cè)試芯片的照片
圖8是測(cè)量裝置,用于確定絕對(duì)溫度誤差以及校準(zhǔn)設(shè)備。傳感器芯片樣品是粘在Pt1000基準(zhǔn)電阻上面,當(dāng)氣溫在-40℃~125℃范圍內(nèi)以5℃的梯度自動(dòng)變化時(shí),每一個(gè)梯度都會(huì)保持60 s,這樣可以在獲取讀數(shù)之前在被測(cè)設(shè)備內(nèi)部建立熱平衡。10MHz的片外時(shí)鐘以及片上計(jì)數(shù)器是用于評(píng)估PWM信號(hào)。該TDC配置的分辨率每次計(jì)數(shù)都大約為0.06℃。
圖8 測(cè)量設(shè)置
圖9是校準(zhǔn)前后的實(shí)測(cè)誤差,范圍為2℃~9℃。在溫度掃描之后,利用在主機(jī)軟件上執(zhí)行的線性校正函數(shù)Tcorr=αTraw+β對(duì)原始傳感器數(shù)據(jù)進(jìn)行校正。利用對(duì)應(yīng)的Pt1000讀數(shù)校準(zhǔn)0~80℃范圍內(nèi)的校正函數(shù)之后,在-40℃~125℃的全溫范圍內(nèi),提出的CMOS傳感器的絕對(duì)誤差為-0.1℃~0.5℃;在0~125℃的范圍內(nèi),絕對(duì)誤差為±0.1℃??傮w分辨率為0.28℃,主要限制來源于偏置源以及開關(guān)產(chǎn)生的熱噪聲和閃光噪聲。表1是對(duì)性能的總結(jié)及比較。
圖9 校準(zhǔn)前后的誤差測(cè)量結(jié)果
表1 與參考文獻(xiàn)傳感器的性能比較
本文提出了一種新型低電壓低功率時(shí)域溫度傳感器電路,采用0.18μm CMOS技術(shù)制成。傳感器的PWM發(fā)生器以新型延遲電路為基礎(chǔ),其占空比與絕對(duì)溫度成正比。通過利用時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)量占空比,獲得了數(shù)字溫度值。利用在微控制器或主系統(tǒng)軟件上執(zhí)行的線性校正函數(shù)可以數(shù)字化校正原始傳感器讀數(shù)的絕對(duì)誤差。在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)之后,在0~125℃的范圍內(nèi),傳感器的精確度高達(dá)±0.1℃。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,相較于其它先進(jìn)的設(shè)備,本文提出的傳感器在較寬的溫度范圍內(nèi)精確度較高,同時(shí)運(yùn)行速度快,并且節(jié)能,適用于各種低成本和低功率的傳感應(yīng)用領(lǐng)域。
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李碩明(1981-),男,漢族,工程師,博士研究生,研究方向?yàn)槲锫?lián)網(wǎng)應(yīng)用技術(shù)、智能信息處理,lishuoming404@sina.com。
CMOSon-Chip Temperature Sensor Based on a NovelDelay Circuit*
LI Shuoming*
(School of Information Engineering,Zhongshan Polytechnic,Zhongshan Guangdong 528404,China)
In order to realize high precision on-chip temperature detection,a CMOS time domain temperature sensorbased on noveldelay circuit is proposed.The sensor isbased on a noveldelay circuit,the PWM signal isgenerated by the diode connected bipolar junction transistor(BJT),and the PWM signal is generated by a single bias current and a comparator.A simple digital counter can be used to determine the duty cycle,and the duty cycle can be converted into a digital value.The sensor is designed with 0.18 CMOSM technology.The test results show that the accuracy of the proposed sensor ishigher than thatofother similar sensors in awide temperature range.After a digital calibration at two temperature points,the sensor isaccurate to±0.1℃from 0℃to 125℃.Itdraws only 2.48μA from a 1.5 V supply,corresponding to a power dissipation of3.8μW.
time domain temperature sensor;delay circuit;low voltageand low power;time to digitalconverter(TDC)EEACC:7230;7320R
10.3969/j.issn.1005-9490.2016.04.007
TP212.11
A
1005-9490(2016)04-0785-05
項(xiàng)目來源:中山市科技計(jì)劃項(xiàng)目(2015B2357)
2015-11-15修改日期:2016-01-06