李 河
(廣州JFE鋼板有限公司,廣東 廣州 511464)
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第一性原理研究Cu對ZnO電子結(jié)構(gòu)的影響
李河
(廣州JFE鋼板有限公司,廣東廣州511464)
通過第一性原理方法研究了銅元素在氧化鋅結(jié)構(gòu)中的電子結(jié)構(gòu)的影響,經(jīng)過理論計算結(jié)果發(fā)現(xiàn):由于在氧化鋅電子結(jié)構(gòu)中通過加入銅元素電子結(jié)構(gòu)的介入,使氧化鋅的能帶結(jié)構(gòu)中出現(xiàn)了較明顯的電子局域化現(xiàn)象,并使氧化鋅電子結(jié)構(gòu)中的費米能級附近出現(xiàn)了新的能級,使氧化鋅的價帶頂?shù)碾娮硬荒苡行⑴c導(dǎo)電,從而提高了氧化鋅在摻入銅元素薄膜的電阻率。
第一性原理;銅;氧化鋅;摻雜
近些年來,由于氧化鋅(ZnO)是一種具有多種功能的直接寬禁帶半導(dǎo)體材料,其在透明導(dǎo)電薄膜[1],同質(zhì)p-n結(jié),紫外激光發(fā)射[2],低維納米結(jié)構(gòu)[3]等很多方面都取得了突破進展。在器件方面,如發(fā)光二極管[4]、紫外探測器[5]和與其相關(guān)的器件等潛在的實際應(yīng)用價值,也引起了科學(xué)研究者高度關(guān)注。ZnO在信息存儲材料、太陽能電池、壓電轉(zhuǎn)換器件、表面聲波器件、氣敏傳感元件和濕敏傳感元件等光電器件領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用研究。同時,單晶體ZnO也展現(xiàn)出閃爍、發(fā)光、電光、壓電、半導(dǎo)體等性能[6],從而使ZnO繼氮化鎵(GaN)之后成為了光電子領(lǐng)域又一個熱點研究對象。
銅(Cu)作為IB族元素,比鋅(Zn)少一個電子,在礦物中Cu與Zn易形成銅鋅伴生礦,可以制備黃銅。很多研究者利用其易伴生特點,將Cu作為ZnO薄膜的摻雜元素,希望獲得較好的電學(xué)性能。但通過摻雜發(fā)現(xiàn),Cu在10at%,15at%和20at%三種摩爾比ZnO中摻雜(ZnO:Cu),均未得到很好的電學(xué)性能,薄膜的電阻率很高[7]。由于Cu摻雜ZnO的電子結(jié)構(gòu)很少有人研究,本文希望借助第一性原理計算的方法,通過電子結(jié)構(gòu)來分析電阻率高的原因。
本文所用計算是基于密度泛函理論,采用第一性原理贗勢法。贗勢法是將每個原子的內(nèi)層核心電子與原子核的庫侖作用簡化為離子對價電子的贗勢作用,由計算中忽略了內(nèi)層核心電子存在,使價電子的運動波在原子核附近變得平滑且與離子實的波函數(shù)正交,可以用較少平面波來構(gòu)造電子波函數(shù),從而計算量大幅下降[8]。在Kohn-sham能量泛函形式中,電子間相互作用的交換-關(guān)聯(lián)能轉(zhuǎn)化為電子密度形式。本文中交換-關(guān)聯(lián)勢的近似采用廣義梯度近似(GGA)[9],GGA比局域密度近似(LDA)對摻雜計算的局域化現(xiàn)象更符合實際要求。
圖1 ZnO超晶格結(jié)構(gòu)圖
理想化學(xué)配比的ZnO為六維纖鋅礦結(jié)構(gòu),空間群為P63mc,每個晶胞有2個O原子和2個Zn原子組成。計算采用的幾何模型為32個原子組成的ZnO2×2×2的超晶胞結(jié)構(gòu)(如圖1所示),使用晶格常數(shù)為a=0.3294 nm,c/a=1.602,這與實驗值a=0.325 nm,c/a=1.60[10]比較吻合。計算過程中能量截斷值選為Ecut=340 eV,4×4×2Monkorst-park對稱K點對Brillouin求和,計算在簡易倒易空間內(nèi)進行,自恰過程結(jié)束后,單點能收斂于2×10-6eV/atom,每個原子上收斂的作用力小于0.05 eV/nm,偏移公差小于2×10-4nm,應(yīng)力松弛力小于0.1 GPa,費米能級設(shè)在0 eV處。Zn電子軌道為3d104s2,Cu電子軌道為3d104s1,計算使用Cu2+離子。
通過計算理想化學(xué)配比的ZnO能帶結(jié)構(gòu)和ZnO:Cu能帶結(jié)構(gòu)可知,計算的ZnO能帶結(jié)構(gòu)的禁帶寬度為1.01 eV(實際ZnO的禁帶寬度為3.37 eV),如圖2a所示;而ZnO:Cu能帶結(jié)構(gòu)的禁帶寬度為0.41 V(實際CuO的禁帶寬度為1.54 eV),如圖2b所示。禁帶寬度過小的原因主要是因為計算過程中過高地估計了Zn3d的貢獻,但僅采用GGA不影響對其電子結(jié)構(gòu)的分析[11-14]。
圖2 為電子能帶結(jié)構(gòu)圖
由于Cu2+離子的介入,不但使價帶頂向上移動,而且使導(dǎo)帶底向下移動,禁帶寬度變小,導(dǎo)帶區(qū)域整體向下移動了0.48 eV,而價帶區(qū)域也向下移動了約0.74 eV。同時從圖2a和圖2b比較可以看出,ZnO:CuZn模型中的能帶結(jié)構(gòu)在費米能級附近出現(xiàn)了明顯的軌道雜化現(xiàn)象,并出現(xiàn)了一個新的能級,在對稱點G處,-6.5~-4.0 eV能帶雜化現(xiàn)象比較嚴(yán)重,-2.5~-1.6 eV 和-1.8~-0.7 eV也出現(xiàn)了新的能級,局域化比較明顯。
為了進一步了解能帶結(jié)構(gòu)中的信息,計算了理想化學(xué)配比的ZnO和ZnO:CuZn模式的態(tài)密度,如圖3所示。
從圖3a和圖3b比較可以看出,ZnO:CuZn模型中的態(tài)密度在費米能級附近出現(xiàn)了一個新的態(tài)密度峰p1,該態(tài)密度峰為電子在費米能級能量態(tài)局域化的表現(xiàn),這種局域化現(xiàn)象,使電子不能有效進行共有化運動,對ZnO:Cu薄膜的導(dǎo)電性非常不利,電阻率升高;p2峰相對減弱,p3峰能級寬度展寬,在-3 eV附近出現(xiàn)了態(tài)密度新峰p4,-5 eV以下的態(tài)密度峰出現(xiàn)了減弱現(xiàn)象,這些新峰的出現(xiàn)為電子躍遷提供了平臺,很有可能造成ZnO:Cu薄膜出現(xiàn)較復(fù)雜的吸收峰,這與Wang等[7]報道的PL光譜比較一致。
圖3 電子態(tài)密度
為更好地了解電子在費米能級附近的局域化的現(xiàn)象,計算了Cu周圍的Zn、O原子的偏態(tài)密度,如圖4所示。
圖4 電子偏態(tài)密度
從圖4的a、b和c可以看出,Cu的介入使費米能級附近出現(xiàn)局域化態(tài)密度峰p1,同時也促進其周圍的O2p軌道上出現(xiàn)了局域化現(xiàn)象,出現(xiàn)了p1峰;而其周圍的Zn原子沒有受到Cu態(tài)密度峰的影響。這種現(xiàn)象可以說明Cu摻雜只對其周圍的O原子產(chǎn)生影響,局域化特性非常突出,限制了Cu周圍的電子只能在Cu-O鍵附近運動。
通過第一性原理計算了ZnO:CuZn模型可知:由于ZnO中Cu的介入,使能帶結(jié)構(gòu)中出現(xiàn)了明顯的局域化現(xiàn)象,并在費米能級附近出現(xiàn)了新的能級,使價帶頂?shù)碾娮硬荒苡行⑴c導(dǎo)電,從而提高了ZnO:Cu薄膜的電阻率。同時Cu摻入,也使光吸收現(xiàn)象變得復(fù)雜。
[1]劉佳,蔡偉,張強.透明導(dǎo)電薄膜氧化鋅鋁的研究進展[J].重慶:慶科技學(xué)院學(xué)報,2009:11(6):74-77.
[2]Tang Z K,Wong G K L,Yu P,et al.Room-temperature ultraviolet laser emission from self-assembled ZnOmicrocrystallite thin films[J].Appl.Phys.Lett,1998,72(2):3270-3272.
[3]王智東.微波加熱合成氧化鋅晶須的研究[M].武漢:武漢理工大學(xué),2005:39-44.
[4]王艷新,張琦峰,孫暉,等.ZnO納米線二極管發(fā)光器件制備及特性研究[J].物理學(xué)報,2008,57(2):1141-1144.
[5]邵立,程東明.ZnO基紫外探測器及其研究進展[J].山西:山西電子技術(shù),2008(4):77-78.
[6]李新華,徐家躍.半導(dǎo)體ZnO單晶生長的技術(shù)進展[J].功能材料,2005,5(36):652-657.
[7]Deyi Wang,Jian Zhou,Guizhen Liu.The microstructure and photoluminescence of Cu-doped ZnOnano-crystal thin films prepared by sol-gel method[J].Journal of Alloys and Compounds,2009,487:545-549.
[8]萬齊欣,熊志華,饒建平,等.Ag摻雜ZnO的第一性原理計算[J].半導(dǎo)體學(xué)報,2007,28(5):696-700.
[9]John P Pedew,Kieron Burke,Matthias Ernzerhof.Generalized Gradient Approximation Made Simple[J].Physical Review Letters,1996,77(18): 3865-3868.
[10]蘇宏波,戴江南,蒲勇,等.生長溫度對ZnO薄膜性能的影響[J].半導(dǎo)體學(xué)報,2006,27 (7):1221-1224.
[11]唐鑫,呂海峰,馬春雨,等.Be 摻雜纖鋅礦ZnO電子結(jié)構(gòu)的第一性原理[J].物理學(xué)報,2008,57(12):7806-7811.
[12]陳琨,范廣涵,章勇,等.In-N共摻雜ZnO第一性原理計算[J].物理學(xué)報,2008,57(5):3138-3148.
[13]張富春,周虎,軍峰,等.ZnO電子結(jié)構(gòu)與光學(xué)性質(zhì)的第一性原理計算[J].光學(xué)學(xué)報,2006,26(8):1203-1210.
[14]陳琨,范廣涵,章勇,等.N摻雜p-型ZnO的第一性原理計算[J].物理化學(xué)學(xué)報,2008,24(1):61-66.
First-principles Study on the Effect of the Electronic Structure of Copper Doped in ZnO
LI He
(Guangzhou JFE Steel Sheet Company Ltd.,Guangdong Guangzhou 511464,China)
The first-principles method was used to calculate the electronic structure of ZnO doped with Cu.The results revealed that there was a clear electronic localization because of Cu in ZnO and there appeared in a new energy level near Fermi level so that electrons on the top of Valence Band can not participate effectively in the conductivity,thereby increasing the resistivity of ZnO:Cu film.
the first-principle; copper; oxide zinc; doping
李河(1979-),男,工程師,主要從事汽車板用鋼材料技術(shù)服務(wù)與研究。
O641-3
A
1001-9677(2016)011-0114-03