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        一種ASA曲線的處理方法及其在電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)和故障診斷中的應(yīng)用*

        2016-08-09 18:54:08史賢俊康宇航馬長(zhǎng)李馬瑞萍
        航天控制 2016年2期
        關(guān)鍵詞:狀態(tài)監(jiān)測(cè)電路板故障診斷

        廖 劍 史賢俊 康宇航 馬長(zhǎng)李 馬瑞萍

        1.中國(guó)人民解放軍91550部隊(duì),大連 116000 2.海軍航空工程學(xué)院控制工程系,煙臺(tái) 264001 3.海軍裝備研究院,北京 100037

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        一種ASA曲線的處理方法及其在電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)和故障診斷中的應(yīng)用*

        廖 劍1,2史賢俊2康宇航2馬長(zhǎng)李3馬瑞萍3

        1.中國(guó)人民解放軍91550部隊(duì),大連 116000 2.海軍航空工程學(xué)院控制工程系,煙臺(tái) 264001 3.海軍裝備研究院,北京 100037

        電路板的狀態(tài)監(jiān)測(cè)和故障診斷是裝備維修保障的重要研究課題,本文介紹了ASA(analog signature analysis)技術(shù)的原理、特點(diǎn)并分析了其應(yīng)用特點(diǎn),提出了一種將數(shù)字灰度圖的表示方法用于ASA曲線的處理方法,該方法能對(duì)海量數(shù)據(jù)進(jìn)行轉(zhuǎn)換與壓縮,并用于電路板狀態(tài)的監(jiān)測(cè)與故障診斷。實(shí)驗(yàn)表明,該方法能極大地縮小數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)規(guī)模,提高電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷的自動(dòng)化程度。 關(guān)鍵詞 ASA技術(shù);電路板;灰度圖;狀態(tài)監(jiān)測(cè);故障診斷

        隨著晶體管與集成電路技術(shù)的不斷發(fā)展,電子電路板的集成度越來越高,其涉及的技術(shù)也越來越復(fù)雜,因此對(duì)其進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)測(cè)和故障診斷的難度也越來越大,特別是對(duì)沒有電路原理圖以及相關(guān)資料的電路板要完成其健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷更是難上加難,各級(jí)修理單位客觀上已經(jīng)很難達(dá)到維修大綱所要求的裝備維修等級(jí)[1-2]。因此,找到一種簡(jiǎn)單易行、快速有效的電路板狀態(tài)自動(dòng)監(jiān)測(cè)方法已迫在眉睫。

        通過用萬用表測(cè)量電路節(jié)點(diǎn)對(duì)地阻抗或電路節(jié)點(diǎn)兩兩之間的阻抗來判斷與該節(jié)點(diǎn)關(guān)聯(lián)的器件是否有故障是一種廣泛使用的電路檢修方法。但這種方法對(duì)維修人員的要求較高,維修保障能力的形成周期長(zhǎng)、成本高,特別是近年電子裝備更新速度快,種類和數(shù)量也明顯增多,這種傳統(tǒng)方法已明顯不能適應(yīng)形勢(shì)的需要[3]。針對(duì)電路板檢測(cè),近些年也出現(xiàn)了一些新方法,如數(shù)控針床法、紅外成像法和自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)[4-6]等。但由于實(shí)用性不強(qiáng),診斷的覆蓋率低和成本較高等原因并沒有得到廣泛應(yīng)用。而模擬特征分析(Analog Signature Analysis, ASA)技術(shù)[7],也稱為VI曲線測(cè)試,作為萬用表檢測(cè)方法的一種自然延伸,由于其測(cè)試原理簡(jiǎn)單而得到廣泛應(yīng)用。目前市場(chǎng)上能完成電路板ASA曲線測(cè)試的儀器非常多,如電路在線維修測(cè)試儀[8],但都存在一個(gè)問題,即測(cè)得的ASA曲線只能通過以即時(shí)圖形的顯示方式,靠用戶通過肉眼比對(duì)所測(cè)ASA曲線的異同來判斷電子元器件的好壞或以原始數(shù)據(jù)存入計(jì)算機(jī),靠人來完成各種數(shù)據(jù)的比對(duì)。數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)量巨大,非常不便于電路板的狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷,更不便通過如此巨大的數(shù)據(jù)量來完成電路板健康狀態(tài)的自動(dòng)監(jiān)測(cè)與診斷。因此,本文提出一種對(duì)電路板ASA海量測(cè)試數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換與壓縮方法,通過ASA曲線數(shù)據(jù)來自動(dòng)完成對(duì)電路板的狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷。

        1 ASA原理及其特點(diǎn)

        所謂端口“模擬特征分析”(Analog Signature Analysis, ASA),即“VI曲線測(cè)試”,是斷電排除電子故障的獨(dú)有[6]技術(shù)。它是一種不加電的故障診斷技術(shù),在待測(cè)電路板未接通電源的情況下,對(duì)板上被測(cè)器件的引腳施加一個(gè)限流的激勵(lì)信號(hào)AC作為掃描波形,記錄交變電壓或電流在負(fù)載上的變化,在計(jì)算機(jī)屏幕上顯示出來(如示波器CRT或計(jì)算機(jī)顯示器等)。在設(shè)備不加電的情況下,在被測(cè)器件的管腳與地(或其他管腳)組成的端口之間,施加一個(gè)交變的掃描信號(hào)(通常是正弦信號(hào)),該端口就相應(yīng)的產(chǎn)生一個(gè)阻抗變化,把端口產(chǎn)生的阻抗變化在電壓、電流平面上顯示出來,就形成了ASA曲線。它適用于各種器件的測(cè)試,其原理如圖1所示。與萬用表測(cè)量電阻不一樣,萬用表是穩(wěn)壓電壓(通常是1.5V)下對(duì)應(yīng)的電流值,表現(xiàn)在電壓-電流平面上僅為一點(diǎn),而ASA曲線則是測(cè)試一系列電壓下所對(duì)應(yīng)的電流,表現(xiàn)在電壓-電流平面上為一條曲線,測(cè)試要比萬用表測(cè)試直觀、全面。

        圖1 VI測(cè)試原理

        因不同類型的元器件具有不同的阻抗特性,也就有不同的VI曲線。元件發(fā)生故障時(shí),它的VI曲線也會(huì)改變。而電路板上的節(jié)點(diǎn)都連接著多個(gè)元件,這些元件組合也會(huì)形成一個(gè)復(fù)合VI曲線,只要電路板或元件結(jié)構(gòu)一樣,在性能良好的情況下,它們的VI曲線應(yīng)該是一樣的,反之曲線會(huì)不相同。在進(jìn)行故障定位時(shí),只要有1個(gè)好的電路板或元件,與待查的電路板或元件相對(duì)比,在示波器上比較兩者的VI曲線,就可以根據(jù)2條曲線的誤差大小直觀分析,從而迅速地判斷設(shè)備的故障點(diǎn)。

        ASA技術(shù)對(duì)故障診斷有諸多優(yōu)勢(shì):1)易于上手,不涉及電路原理圖,無需電路處于工作狀態(tài),僅需在元件兩端施加1個(gè)掃描波,通過對(duì)比與正常狀態(tài)下的VI曲線的差異就能發(fā)現(xiàn)故障;2)不涉及電路板上器件的功能,無論是數(shù)字器件、模擬器件、專用器件還是分離元件均可測(cè)試;3)ASA測(cè)試是逐點(diǎn)進(jìn)行的,基本上不受電路板上元器件封裝的限制;4)對(duì)元件任意2個(gè)管腳都能測(cè)試ASA曲線,信息含量豐富。

        2 ASA數(shù)據(jù)處理及其故障診斷方法

        雖然目前通過電路在線維修測(cè)試儀容易得到電路板任意2個(gè)元件引腳之間的ASA曲線數(shù)據(jù),而且儀器還能自動(dòng)調(diào)節(jié)輸出電壓和輸出阻抗來完成對(duì)反

        應(yīng)電路故障靈敏度最高曲線的拾取,但面對(duì)1塊電路板數(shù)據(jù)量如此巨大的ASA曲線數(shù)據(jù)則無能為力,只能通過一條條曲線的人工比對(duì)來完成電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷。因此,如何完成如此巨大的ASA測(cè)試數(shù)據(jù)的壓縮與轉(zhuǎn)換,從中提取出能反應(yīng)電路板健康狀態(tài)的敏感信息將非常關(guān)鍵。本文提出一種ASA曲線數(shù)據(jù)的處理方法,其基本步驟如下:

        1)將所有ASA曲線中的電壓和電流數(shù)據(jù)分別進(jìn)行歸一化

        (1)

        對(duì)ASA曲線數(shù)據(jù)中的電流值也采用同樣的處理方式,將把所有ASA曲線的數(shù)據(jù)縮放到[-1,1]范圍,消除了數(shù)據(jù)量綱不同引起的影響。

        2)端口曲線分組與混疊

        首先,明確幾個(gè)概念,本文將1個(gè)元件引腳對(duì)其他任何元件引腳(包括元件引腳本身)形成的ASA曲線集合稱為端口曲線組。把按該方式將曲線分組的過程稱為端口曲線分組。將電路板上器件的任何2個(gè)管腳組成的端口都進(jìn)行ASA測(cè)試的方法稱為多端口測(cè)試方式。將對(duì)“1-2”和“2-1”都進(jìn)行測(cè)試的方式稱為對(duì)稱方式。將包含對(duì)參考腳本身的測(cè)試方式稱為含參考腳測(cè)試,正常情況下此端口曲線是一條短路曲線。本文討論的ASA測(cè)試數(shù)據(jù)就是在多端口對(duì)稱含參考腳測(cè)試情況下得到的。比如,1個(gè)電路板由很多元件引腳形成了512個(gè)端口,那么做多端口對(duì)稱含參考腳ASA曲線測(cè)試的時(shí)候,1個(gè)引腳將能和其他任意511個(gè)引腳和引腳自己本身得到512條不同的曲線,這512條曲線就構(gòu)成了這個(gè)端口的端口曲線組。

        在將所有ASA測(cè)試數(shù)據(jù)歸一化處理后,實(shí)際按端口對(duì)曲線進(jìn)行分組并把同一端口的所有ASA曲線數(shù)據(jù)繪制在同一坐標(biāo)系的過程即實(shí)現(xiàn)了曲線數(shù)據(jù)的混疊。

        3)疊加曲線像素區(qū)域中落點(diǎn)的歸結(jié)與統(tǒng)計(jì)

        (2)

        式中,i為采樣點(diǎn)序號(hào),i∈[1,n]∩Z;j為像素點(diǎn)橫軸編號(hào),j∈Z;k為像素點(diǎn)縱軸編號(hào),k∈Z;d為圖像區(qū)像素劃分步長(zhǎng),且滿足j×d≤1,k×d≤1。

        (3)

        這樣就將大量的ASA測(cè)試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為對(duì)數(shù)字圖像灰度值的表示方法,完成了數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換,極大地縮小了數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)規(guī)模。

        4)基于各個(gè)端口數(shù)字圖像相關(guān)性的電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷

        當(dāng)電路板中的某個(gè)元件或元件的引腳發(fā)生參數(shù)變化或故障時(shí),與之相關(guān)的ASA曲線形狀將會(huì)發(fā)生變化,在對(duì)其曲線混疊后將會(huì)反應(yīng)到端口曲線組的變化上,并最終影響端口數(shù)字圖像灰度值的分布,表現(xiàn)出不同的端口特性。為了完成電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)與故障診斷,就需要比較電路端口“指紋”特性是否發(fā)生了變化。對(duì)于數(shù)字圖像,采用相關(guān)的方法進(jìn)行處理比較是最直接有效的方法[9]。本文為了完成電路板的狀態(tài)監(jiān)測(cè),需要比較在不同狀態(tài)下的每個(gè)端口形成的數(shù)字灰度圖的互相關(guān)性,設(shè)定1個(gè)閾值,如果2個(gè)圖像之間的互相關(guān)性大于此閾值,則認(rèn)為2幅圖像是一樣的,反之,則認(rèn)為2幅圖像發(fā)生了較大變化,電路板存在故障,與此端口連接的元件其可能發(fā)生了故障。根據(jù)數(shù)字圖像的互相關(guān)性計(jì)算的方法,本文采用下面的方法:設(shè)電路板通過步驟1)~3)處理后得到某一端口在正常狀態(tài)下的數(shù)字圖像為f(i,j),某一未知狀態(tài)下的數(shù)字圖像為g(i,j),則端口數(shù)字圖像相關(guān)系數(shù)的計(jì)算公式如式(4)所示:

        (4)

        通過式(4)即可求得在不同狀態(tài)下的端口ASA曲線的互相關(guān)性,通常情況下,當(dāng)端口的ASA曲線的互相關(guān)性取0.9時(shí)比較合適,既權(quán)衡了不同狀態(tài)下采集數(shù)據(jù)的噪聲引起的偶然性,也能較好的分別出發(fā)生的異常。對(duì)整個(gè)電路板通過比較不同端口的數(shù)字圖像的互相關(guān)性即可自動(dòng)確定電路板的健康狀態(tài),也能通過異常的端口數(shù)字圖像找出與之相關(guān)的故障元器件。

        3 應(yīng)用實(shí)例

        為了驗(yàn)證該方法的有效性,將該方法應(yīng)用于某一電路板的健康狀態(tài)監(jiān)測(cè)與診斷。使用電路在線測(cè)試儀測(cè)試電路板所有節(jié)點(diǎn)得到所有VI曲線,并將全部VI曲線進(jìn)行混疊,如圖2所示。然后采用第2節(jié)所述方法,將如圖2轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰度圖的表示形式(圖中僅給出數(shù)字灰度圖的部分?jǐn)?shù)值)完成數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換和壓縮。同時(shí),給電路設(shè)置一個(gè)人為故障,采用同樣方法,得到如圖4和5所示的VI曲線混疊圖和數(shù)字灰度圖。從圖2和3中可以看出,當(dāng)電路板某一處發(fā)生故障時(shí),電路板形成的VI混疊曲線將發(fā)生變化,轉(zhuǎn)化成的數(shù)字灰度圖也將變化。通過式(4)即可計(jì)算出2個(gè)數(shù)字灰度圖的相似度為0.89,小于設(shè)定的閾值,判定電路板發(fā)生故障,進(jìn)一步通過確定灰度圖中的異同點(diǎn)位置可以找出電路板發(fā)生故障的準(zhǔn)確位置??梢?,該方法能夠?qū)崿F(xiàn)電路板狀態(tài)的監(jiān)測(cè)與診斷。

        圖2 電路板正常狀態(tài)的VI曲線混疊圖

        圖3 電路板正常狀態(tài)下的數(shù)字灰度圖

        圖4 電路板故障狀態(tài)的VI曲線混疊圖

        圖5 電路板故障狀態(tài)下的數(shù)字灰度圖

        4 結(jié)論

        提出了一種ASA曲線數(shù)據(jù)的處理方法,在保證數(shù)據(jù)完備性的同時(shí),將數(shù)字圖像的表示方法應(yīng)用于任意2個(gè)節(jié)點(diǎn)間的ASA曲線存儲(chǔ),通過比較數(shù)字圖像相關(guān)度的方法來完成電路板狀態(tài)的監(jiān)測(cè)。通過應(yīng)用實(shí)例驗(yàn)證該方法實(shí)現(xiàn)了對(duì)海量數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換與壓縮,縮小了數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)規(guī)模,提高了電路板狀態(tài)監(jiān)測(cè)和故障診斷的自動(dòng)化程度。

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        An ASA Curve Processing Method and Its Application to the Condition Monitor and Fault Diagnosis of Circuit Board

        Liao Jian1, 2, Shi Xianjun2, Kang Yuhang2, Ma Changli3, Ma Ruiping3

        1. No.91550 Troop of PLA, Dalian 116000, China 2. Department of Control Engineering,Naval Aeronautical and Astronautical University, Yantai 264001, China 3. Naval Academy of Armament, Beijing 100037, China

        Theconditionmonitorandfaultdiagnosisofcircuitboardisanimportantresearchsubjectinequipmentmaintenancesupport.TheprincipleandcharacteristicsofASAtechnologyareintroducedinthispaperandtheshortageofASAisanalyzed.Aimingattheshortage,agray-scalemapforprocessingASAcurveisproposedinthispaper.Theproposedmethodcanrealizetheconversionandcompressionofmassivedataandbeusedfortheconditionmonitorandfaultdiagnosisofcircuitboard.Theexperimentresultsshowthatthesizeofstoragedatacanbegreatlyreduced.Atthesametime,thedegreeofautomationofconditionmonitorandfaultdiagnosisofcircuitboardcanbeimproved.

        ASAtechnology;Circuitboard;Gray-scalemap;Conditionmonitor;Faultdiagnosis

        *國(guó)家自然科學(xué)基金(61203168)資助

        2013-09-03

        廖 劍(1985-),男,江西南康人,博士,工程師,主要研究方向?yàn)殡娮酉到y(tǒng)設(shè)計(jì)、測(cè)試與故障診斷;史賢俊(1968-),男,山東萊州人,博士,教授,主要研究方向?yàn)殡娮酉到y(tǒng)設(shè)計(jì)、測(cè)試與故障診斷;康宇航(1989-),男,江西泰和人,博士,主要研究方向?yàn)閷?dǎo)航、制導(dǎo)與控制;馬長(zhǎng)李(1983-),男,長(zhǎng)春人,碩士,工程師,主要研究方向?yàn)檠b備維修保障;馬瑞萍(1965-),女,陜西蒲城人,碩士,高級(jí)工程師,主要研究方向?yàn)檠b備維修保障。

        TP277

        A

        1006-3242(2016)02-0071-05

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