裴玉東
摘 要:分析了支柱絕緣子缺陷產(chǎn)生的主要原因,介紹了超聲波無損探傷的基本原理,利用超聲波檢測支柱絕緣子內(nèi)部缺陷的方法。列舉了利用爬波方法對支柱絕緣子內(nèi)部的缺陷進行檢測的實例。
關(guān)鍵詞:支柱絕緣子;末裙;超聲波無損探傷;縱波;爬波;DAC曲線
0 引言
托克托電廠有一個500kV變電站和兩個220kV變電站,支柱絕緣子是變電站重要的組成設(shè)備,如果在制作過程中配方不當,工藝流程中原料混合不均勻,容易形成瓷件內(nèi)部缺陷,由于沒有固有的形變能力且韌性極低,運行中長期承受機械負荷、強電場、強機械應(yīng)力,從而使附加應(yīng)力增大。若支柱絕緣子存在微小缺陷,可能造成嚴重的設(shè)備損壞和設(shè)備停電事故,影響安全供電,同時對工作人員的人身安全構(gòu)成極大的威脅,成為升壓站安全運行的一大隱患。因此必須在事故前檢測出缺陷并進行處理。
1 支柱瓷絕緣子的組織結(jié)構(gòu)
支柱瓷絕緣子是采用陶瓷、金具和水泥等多種材料組合而成的,瓷體主要有粘土、長石石英等鋁硅酸鹽原料混合配制,加工成一定形狀后,在高溫下燒結(jié)成的無機絕緣材料,瓷表面覆蓋了一層玻璃質(zhì)平滑薄層釉。陶瓷一般是通過將粉末原料成型,燒結(jié)而成的。經(jīng)過這些工藝所制得的陶瓷,是由許多微晶聚集的多晶體構(gòu)成,這就不可避免的存在著晶界。晶界不僅在陶瓷燒結(jié)過程中起著重要作用,而且還對燒結(jié)體物理、化學性能有很大影響。陶瓷晶界有錯位、空孔等晶格缺陷和晶格畸變存在,雜質(zhì)就容易集中,形成晶界偏析層、層狀析出物、粒狀析出物。由此可知陶瓷材料的特點是顯微組織且不均勻。
2 支柱瓷絕緣子斷裂的原因
支柱瓷絕緣子劣化因素既與制造廠的材料、配方、工藝流程有關(guān),也與環(huán)境及運行中承受的負荷有關(guān)。
(1)運行中的支柱瓷絕緣子大都在法蘭處斷裂,支柱瓷絕緣子如果在制作過程中配方不當,工藝流程中原料混合不均,焙燒火力不足等,易形成瓷件內(nèi)部缺陷,在長期承受運行中的機械負荷,以及風、雨等因素影響,從而使末裙與法蘭交界處附加應(yīng)力增大,導致支柱瓷絕緣子產(chǎn)生裂紋、氣隙,以至斷裂。
(2)陶瓷、金具和水泥緊密粘合在一起,組成支柱瓷絕緣子,而三種材料的膨脹系數(shù)和導熱系數(shù)都是不同的,當環(huán)境溫度發(fā)生驟變時,使得法蘭內(nèi)瓷體承受的應(yīng)力過大和集中,應(yīng)力無法釋放,就會作用在有缺陷的絕緣子端部,使支柱瓷絕緣子產(chǎn)生裂紋等缺陷,最終在外部環(huán)境作用下導致瓷件斷裂。
(3)在隔離開關(guān)安裝過程中,錯位別勁,這樣在溫度變化時,由于熱脹冷縮作用,產(chǎn)生機械應(yīng)力,長時間作用也可能導致支柱瓷絕緣子斷裂。
(4)由于檢修維護不到位,隔離開關(guān)出現(xiàn)銹蝕、卡澀等現(xiàn)象,由于溫度變化作用,產(chǎn)生長時間的高變應(yīng)力,最終導致支柱瓷絕緣子疲勞斷裂。
(5)隔離開關(guān)操作次數(shù)頻繁,操作不當,產(chǎn)生很大的短時機械負荷,導致支柱瓷絕緣子斷裂。
3 超聲波無損探傷的基本原理
超聲波探傷具有靈敏度高、穿透力強、檢測速度快、對被測試品和人員均無害。目前托克托電廠使用的是美國泛美的EPOCH-LT超聲波探傷儀和南京卓實的專業(yè)探頭,現(xiàn)在超聲波探傷儀大部分是A掃描方式的,即顯示器的橫坐標是超聲波在被測試品中的傳播距離或傳播時間,縱坐標是超聲波反射波的幅值。由反射波的位置可以確定缺陷位置,由反射波的幅值可以估算缺陷大小。超聲波探傷是通過探頭產(chǎn)生和接收超聲波的,探頭的核心元件是薄片狀壓電晶體,通常稱為壓電晶片。探傷儀發(fā)射電路產(chǎn)生的高頻電脈沖加于探頭時,激勵壓電晶片發(fā)生高頻振動,產(chǎn)生超聲波。產(chǎn)生的超聲波經(jīng)耦合后傳入被測試品中,遇到異質(zhì)界面處,就會全部或部分被反射,反射回來的超聲波又被探頭接收,通過儀器內(nèi)部的電路處理,在儀器的顯示屏上就顯示出不同高度和有一定間距的波形,根據(jù)波形的變化特征,判斷缺陷在被測試品中的深度、長度和類型。
4 支柱瓷絕緣子爬波探傷方法的研究
4.1 支柱瓷絕緣子檢測的重點
從支柱瓷絕緣子損壞情況來看,通常在鑄鐵法蘭和瓷絕緣子的結(jié)合部。這里也是支柱瓷絕緣子應(yīng)力最集中、最容易產(chǎn)生裂紋和發(fā)生斷裂的區(qū)域。該區(qū)域的顯著特點是水平跨距較小,約為20mm~50mm。此處一般有部分砂層覆蓋,扣除探頭無法放置的砂層過渡區(qū)后,跨距至多為20mm所以本此研究檢測的重點是支柱瓷絕緣子在埋藏在法蘭口內(nèi)側(cè)2~3mm或與瓷體相交的表層下的裂紋。
4.2 爬波探頭功能
爬波僅僅對距表面深度1~8mm內(nèi)缺陷有效。應(yīng)調(diào)整e角度盡可能找出最大索范圍。試驗表明回波聲速快距離始脈沖較近,同時橫波聲速僅為爬波的1/2,由橫波產(chǎn)生的信號在時間基線上位置明顯滯后,因此不會干擾檢測。
4.3 爬波探頭的選擇及位置
探頭的弧度劃分為φ100、φ120、φ140、φ160、φ180、φ200、φ240以及平面等8種規(guī)格。選擇探頭的原則是根據(jù)被探支柱瓷絕緣子的外徑選擇,探頭接觸面的弧度應(yīng)略大于瓷件的外徑。同時要注意被檢測瓷件的材質(zhì),選擇同類別的試塊和探頭。
4.4 耦合劑的規(guī)定
應(yīng)采用良好的耦合劑,必須保持耦合劑的清潔,且耦合劑不得對支柱絕緣子造成腐蝕等不良影響。
4.5 探傷試塊的規(guī)定
探傷試塊材質(zhì)的致密性應(yīng)良好,應(yīng)具有與被檢測的支柱絕緣子相同或相近的聲學性能。探傷試塊形狀為圓形實心瓷件,其上有均布4個方向的深度分別為1mm、3mm、5mm、7mm的人工割口缺陷。
4.6 測試方法
首先選擇合適的探頭,利用標準試塊,用1mm人工割口繪制DAC曲線,DAC曲線將作為標準和所測波形來判斷被測試品中是否有缺陷。在檢測過程,探頭與瓷件之間必須填充耦合介質(zhì)以實現(xiàn)聲能的傳遞。耦合劑在瓷件與探頭接觸面上具有排除空氣,填充不平的凹坑和間隙,此外耦合劑還有減少摩擦、方便移動的功能。若支柱瓷絕緣子出現(xiàn)缺陷時,缺陷波前基本無雜波,移動探頭時,隨著缺陷距離的迫近,缺陷波高顯著增強,此時可采用絕對靈敏度測定其指示長度。
4.7 爬波探傷靈敏度的確定
將探頭置于試塊,找出距探頭前沿20mm深度2mm模擬裂紋的最強反射波,調(diào)整至80%波高,將探頭置于支柱絕緣子的探測面,如果是普通瓷應(yīng)在此基礎(chǔ)上衰減6~8dB,中強瓷衰減8~10dB,高強瓷衰減12~14dB,即為探傷靈敏度(探傷部位如果已經(jīng)涂刷防水膠時應(yīng)在確定探傷靈敏度后再增益5~6dB)。
4.8 掃查方式
環(huán)繞支柱絕緣子徑向旋轉(zhuǎn)掃查。
4.9 爬波探傷缺陷的評定
采用爬波檢查外壁缺陷時,顯示屏始脈沖后基本無雜波,缺陷信號容易識別,指示長度易測定,掃查時會出現(xiàn)兩種情況:第一種情況是外壁缺陷反射波高≤深度1mm模擬裂紋反射波高,此時應(yīng)以用于指示長度,當指示長度>10mm時應(yīng)判定為裂紋,<10mm時應(yīng)判定為點狀缺陷。第二種情況是當缺陷反射波高>深度1mm模擬裂紋反射波高時,當長度5 支柱瓷絕緣子的運行維護
(1)判斷瓷瓶質(zhì)量好壞正確與否,很大程度上取決于探傷人員的實際經(jīng)驗,除了加強工作人員的探傷技術(shù)培訓,還必須清楚絕緣子的制造工藝,熟悉缺陷的產(chǎn)生機理。
(2)在停電時間允許的情況下,要結(jié)合爬波和縱波兩種方法對支柱瓷絕緣子內(nèi)部的缺陷進行全面檢測。
(3)對運行中的高壓支柱瓷絕緣子,在設(shè)備檢修和運行中,應(yīng)認真檢查,正確操作,嚴禁蠻力操作。
(4)為了進一步了解支柱瓷絕緣子的狀況,應(yīng)建立測試臺帳及相關(guān)管理制度,確定合理的測試周期,做到心中有數(shù),為升壓站的安全穩(wěn)定運行提供了可靠的保證。
(5)支柱瓷絕緣子的超聲探傷檢測周期:一是更換支柱瓷絕緣子時。二是對新投運的支柱瓷絕緣子,在投運一年內(nèi)進行一次普測,測試報告存檔。三是運行15年及以上的支柱瓷絕緣子檢測周期為3年。四是運行15年以下的支柱瓷絕緣子檢測周期為6年。五是對停電困難的母線的支柱瓷絕緣子、母線側(cè)隔離開關(guān)支柱瓷絕應(yīng)創(chuàng)造停電條件對支柱絕緣子進行檢測。
參考文獻
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(作者單位:大唐國際發(fā)電股份有限公司)