楊育偉,朱 穩(wěn),魯 元
(西安特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測(cè)院,西安 710065)
按超聲波傳播過程中介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與波的傳播方向的關(guān)系,可將超聲波分為縱波、橫波、表面波等波型,其中,縱波和橫波是實(shí)際檢測(cè)時(shí)使用最多的兩種波型。在板材、鍛件、管材等原材料檢測(cè)時(shí)用縱波直探頭實(shí)現(xiàn)縱波檢測(cè),焊縫檢測(cè)時(shí)用橫波斜探頭實(shí)現(xiàn)橫波檢測(cè)。探頭中壓電材料制成的晶片是產(chǎn)生超聲波的核心元件,目前常見的有縱波直探頭和橫波斜探頭,晶片產(chǎn)生的超聲波都是縱波。縱波沿晶片的法線方向傳播并垂直進(jìn)入工件,即縱波直探頭;縱波在第一臨界角和第二臨界角之間傾斜進(jìn)入工件,在工件中就產(chǎn)生了折射橫波,即橫波斜探頭。傾斜入射的縱波在第二介質(zhì)中產(chǎn)生折射橫波,垂直入射的縱波在第二介質(zhì)中是否也會(huì)有一個(gè)橫波還未知。筆者通過介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)狀態(tài)的定性分析,以及對(duì)垂直入射的縱波在第二介質(zhì)中產(chǎn)生的橫波位置的定量計(jì)算,再經(jīng)過試驗(yàn)來研究垂直入射的縱波是否在固體界面產(chǎn)生橫波。
振動(dòng)產(chǎn)生波動(dòng),波動(dòng)是介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)狀態(tài)的傳播。介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)僅在其平衡位置附近做往復(fù)振動(dòng),并產(chǎn)生微觀上的位移最后又回到平衡位置,而不會(huì)產(chǎn)生宏觀上的位移隨波前行。超聲波的縱波、橫波、表面波等波型的傳播都是如此。介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向平行于傳播方向的波為縱波,垂直于傳波方向的波為橫波。下面對(duì)縱波傳播過程中,微觀狀態(tài)下聲束中心軸線上的介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)和其附近質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)情況做定性分析,如圖1所示。為討論方便,把x軸的方向稱為縱向,y軸的方向稱橫向。圖中沿縱向、斜向及由斜向分解出的縱向和橫向達(dá)到最大位移(即振幅)的質(zhì)點(diǎn)均用加圈的點(diǎn)表示。
圖1(a)所示為時(shí)刻0,即擾動(dòng)前各質(zhì)點(diǎn)的狀態(tài)。此時(shí),中心軸線各質(zhì)點(diǎn)(a、b、c、d、e)、兩側(cè)軸線y+各質(zhì)點(diǎn)(1、2、3、4、5)及y-各質(zhì)點(diǎn)(6、7、8、9、10)均位于其平衡位置,未產(chǎn)生位移。
圖1(a)所示為時(shí)刻1,即擾動(dòng)后某一時(shí)刻各質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)及位移的狀態(tài)。此時(shí),質(zhì)點(diǎn)a受外力F沿x方向的作用后離開了平衡位置并沿x軸達(dá)到了最大縱向位移A(即縱向振幅)。受質(zhì)點(diǎn)a的作用,質(zhì)點(diǎn)b、c、d、e依次受到干擾后開始振動(dòng)并產(chǎn)生了不同程度的縱向位移。因外力F沿x軸方向作用于質(zhì)點(diǎn)a,所以中心軸線上的各質(zhì)點(diǎn)只做縱向振動(dòng)產(chǎn)生縱向位移而無其他方向的振動(dòng)和位移。
圖1(b)~(f)分別為時(shí)刻2~時(shí)刻5,即擾動(dòng)后的某四個(gè)特定時(shí)刻。其時(shí),質(zhì)點(diǎn)b、c、d、e分別達(dá)到了最大縱向位移A(也即縱向振幅,圖上用表示波峰位置)。也就是說,受外力F的作用之后,質(zhì)點(diǎn)a把達(dá)到縱向振幅的振動(dòng)狀態(tài)沿縱向依次傳遞給質(zhì)點(diǎn)b、c、d、e。中心軸線上各質(zhì)點(diǎn)的這種縱向振動(dòng)狀態(tài)沿縱向的傳播即為縱波。
超聲波在彈性介質(zhì)中傳播,介質(zhì)中的各質(zhì)點(diǎn)以彈性力連接并相互作用。當(dāng)中心軸線上各質(zhì)點(diǎn)(a、b、c、d、e)做縱向振動(dòng)并產(chǎn)生縱向位移時(shí),其兩側(cè)軸線y+和y-上的各質(zhì)點(diǎn)(1、2、3、4、5)和(6、7、8、9、10)則分別受到與中心軸線各質(zhì)點(diǎn)相連的彈性力的作用沿斜向振動(dòng)并產(chǎn)生斜向位移。在質(zhì)點(diǎn)a受外力F作用后的某四個(gè)特定時(shí)刻,質(zhì)點(diǎn)(1、2、3、4、5)和質(zhì)點(diǎn)(6、7、8、9、10)分別沿斜向達(dá)到了最大斜向位移。如圖2所示。
這種斜向位移可以分解為沿x軸的縱向位移和沿y軸的橫向位移。最大斜向位移當(dāng)然也就分解成為最大縱向位移Ax(也即縱向振幅)和最大橫向位移Ay(也即橫向振幅)。可見,受中心軸線質(zhì)點(diǎn)縱向振動(dòng)的作用,兩側(cè)軸線各質(zhì)點(diǎn)同時(shí)進(jìn)行著縱向振動(dòng)和橫向振動(dòng),并將這種振動(dòng)向前面的各質(zhì)點(diǎn)依次傳遞。兩側(cè)軸線各質(zhì)點(diǎn)沿縱向傳播的縱向振動(dòng)即為主聲束旁的縱波,如圖3所示。而兩側(cè)軸線各質(zhì)點(diǎn)沿縱向傳播的橫向振動(dòng)應(yīng)該就是橫波,如圖4所示。
在呂慶貴等[1]的研究中,利用聲場(chǎng)的數(shù)字模擬和光學(xué)玻璃圓棒動(dòng)態(tài)光彈試驗(yàn),也發(fā)現(xiàn)垂直入射的縱波后面出現(xiàn)橫波,如圖5所示。
圖5 數(shù)值模擬和動(dòng)態(tài)光彈試驗(yàn)的比較
試驗(yàn)采用Hs616e 型數(shù)字式超聲波探傷儀、2.5 MHz/φ20mm直探頭、2.5P13mm×13mmK2斜探頭及CSK-ⅠA 試塊。對(duì)該試塊進(jìn)行聲速測(cè)試,測(cè)試結(jié)果是縱波聲速為5 974m·s-1,橫波聲速為3 230m·s-1。按縱波聲程1∶1調(diào)節(jié)掃描速度。此時(shí),厚度為t的大平底面的一次底波B1、二次底波B2、三次底波B3在超聲探傷儀屏幕上的位置依次為t、2t和3t。
首先,分析計(jì)算幾種不同情況下縱波后的橫波在屏幕上的位置。第一,跟隨在入射縱波后面的橫波到達(dá)底面并反射回探頭,這個(gè)回波的傳播過程為:入射橫波+反射橫波,稱之為Bss1,則Bss1=1.85t,顯然,Bss1應(yīng)在二次底波B2之前靠近B2的地方;第二,入射縱波到達(dá)底面后會(huì)產(chǎn)生反射縱波,跟隨在這個(gè)反射縱波后面橫波的回波的傳播過程為:入射縱波+反射橫波,稱為Bls1,則Bls1=1.425t,Bls1應(yīng)在一次底波B1和二次底波B2之間略靠近B1的地方;第三,跟隨在二次入射縱波后面的橫波到達(dá)底面并反射回探頭,這個(gè)回波的傳播過程為:入射縱波+反射縱波+二次入射橫波+二次反射橫波,稱為Bss2,則Bss2=2.85t,Bss2應(yīng)在三次底波B3之前靠近B3的地方;第四,二次入射縱波到達(dá)底面后會(huì)產(chǎn)生二次反射縱波,跟隨在這個(gè)二次反射縱波后面的橫波回波的傳播過程為:入射縱波+反射縱波+二次入射縱波+二次反射橫波,稱為Bls2,則Bls2=2.425t,Bls2應(yīng)在二次底波B2和三次底波B3之間略靠近B2的地方。
然后,用CSK-ⅠA 試塊25mm 的大平底面對(duì)以上計(jì)算的幾種回波在屏幕上的位置進(jìn)行試驗(yàn)。將一次底波B1自動(dòng)增益到80%波高,此時(shí),t=25mm,一次底波B1、二次底波B2、三次底波B3在屏幕上分別位于25,50,75mm 處,如圖6(a)所示,未發(fā)現(xiàn)其他波,考慮到橫波強(qiáng)度較弱,提高增益后發(fā)現(xiàn)在一次底波和二次底波、二次底波和三次底波之間分別有其他波的存在,測(cè)試這些波的深度分別為:45.8,35.4,71.9,60.4mm,按前面計(jì)算分析,當(dāng)t=25mm 時(shí),Bss1=46.25mm,Bls1=35.63mm,Bss2=71.25mm,Bls2=60.63mm分別與圖6中檢測(cè)結(jié)果相對(duì)應(yīng),并非常接近。
圖6 超聲波試驗(yàn)截圖
上述分析計(jì)算和實(shí)際測(cè)試的結(jié)果及其偏差如表1所示。
表1 縱波后的橫波計(jì)算值、實(shí)測(cè)值及偏差
當(dāng)超聲波探傷儀水平線性誤差不大于2%[2],或者超聲波探傷儀水平線性誤差不大于1%[3],都屬于誤差允許值內(nèi),從表1可知,Bss1、Bls1、Bss2、Bls1的計(jì)算值與實(shí)測(cè)值的最大偏差率為0.97%,均小于上述兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的超聲波探傷儀水平線性誤差允許值。所以,可以認(rèn)為上述縱波入射后產(chǎn)生橫波的分析計(jì)算結(jié)果與實(shí)際測(cè)試結(jié)果相吻合。同樣在張紀(jì)周等[4]的研究中,發(fā)現(xiàn)了一次底波和二次底波之間的波,稱為遲到波,就是縱波直探頭垂直入射固體界面在第二介質(zhì)中產(chǎn)生的橫波。
從試驗(yàn)還可看出,橫波的強(qiáng)度遠(yuǎn)小于縱波。從圖6(a)~(c)可知,以80%為基準(zhǔn),回波B1、Bss1、Bls1的增益分別為:B1=12.1dB、Bss1=63.0dB、Bls1=51.9dB,其增益差分別為:ΔB1/Bss1=50.9dB、ΔB1/Bls1=39.8dB。如果衰減48dB,可將80%波高降低為0.312 5%;衰減40dB,可將80%的波高降低為2.5%。也就是說,當(dāng)B1為80%時(shí),Bss1不到0.312 5%,Bls1僅為2.5%。
通過對(duì)縱波傳播過程中介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)狀態(tài)的定性分析、縱波后產(chǎn)生橫波的定量計(jì)算和試驗(yàn)說明:縱波直探頭垂直入射固體界面時(shí),在第二介質(zhì)中也會(huì)產(chǎn)生橫波;由于其強(qiáng)度遠(yuǎn)小于縱波,使得該橫波極易被掩蓋,經(jīng)過折射則可以把它和縱波清晰地區(qū)分開,實(shí)際檢測(cè)中也正是這樣應(yīng)用的。
[1]呂慶貴,宋愛文,陳以方.棒材中超聲散射場(chǎng)的模擬及信號(hào)的識(shí)別[J].無損檢測(cè),2010,32(1):32-35.
[2]JB/T 10061-1999 A 型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件[S].
[3]JB/T 4730-2005 承壓設(shè)備無損檢測(cè)[S].
[4]張紀(jì)周,袁世麗,何順開.用縱波直探頭測(cè)量新型耐熱鋼材料橫波聲速的方法[J].無損檢測(cè),2013,35(12):19-23.