陳偉
(上海航天八O五所,上?!?01109)
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星載天線驅(qū)動器磁保持繼電器觸點保護(hù)技術(shù)
陳偉
(上海航天八O五所,上海201109)
摘要:磁保持繼電器在星載天線驅(qū)動器中廣泛使用。但是,在驅(qū)動器加斷電的過程中,由于容性負(fù)載的存在,浪涌電流會對磁保持繼電器的觸點的可靠性產(chǎn)生較大的影響。給出了型號上繼電器失效的具體案例和相關(guān)分析,并提出了一種有效的繼電器觸點保護(hù)技術(shù)。
關(guān)鍵詞:星載天線驅(qū)動器;磁保持繼電器;失效;觸點;保護(hù)技術(shù)
磁保持繼電器只在其轉(zhuǎn)換工作瞬間消耗能量,在狀態(tài)保持時不耗能,因此,其在對能源消耗有特殊限制的場合得到了廣泛的應(yīng)用,例如:衛(wèi)星和空間站等。天線驅(qū)動器(以下簡稱機(jī)構(gòu)驅(qū)動器)作為衛(wèi)星天線機(jī)構(gòu)驅(qū)動部件,也大量地采用磁保持繼電器來控制其一次母線加斷電、主備線路切換和主備電機(jī)繞組切換等過程。該類繼電器在實際使用的過程中,由于需要驅(qū)動電動機(jī)負(fù)載,因此,如果未采用恰當(dāng)?shù)南擞侩娐?則可能會出現(xiàn)由于浪涌電流過大而引起繼電器觸點電弧并使觸點燒蝕等惡性故障,因此,本文對星載天線驅(qū)動器磁保護(hù)繼電器的觸點的保護(hù)技術(shù)進(jìn)行了探討。
1.1失效案例
某星載天線驅(qū)動器在一次執(zhí)行加斷電遙控指令時,出現(xiàn)了遙控指令無法正常響應(yīng)的異?,F(xiàn)象。機(jī)構(gòu)驅(qū)動器驅(qū)動線路的供電原理圖如圖1所示,電動機(jī)繞組等效模型為電阻R串接電感L,由于感性負(fù)載在切換過程中會產(chǎn)生很大的反電動勢,因此為了泄放該反電動勢,在驅(qū)動輸出端并接了較大的容性負(fù)載C。
圖1 機(jī)構(gòu)驅(qū)動器驅(qū)動線路供電原理圖
經(jīng)排查,定位出現(xiàn)上述故障現(xiàn)象的原因為加斷電磁保持繼電器M212-J2A-563出現(xiàn)異常。該繼電器為兩組轉(zhuǎn)換自保持繼電器,其電路圖如圖2所示,單機(jī)使用了其中的動合觸點(2-1和5-4觸點),正常情況下發(fā)送開機(jī)指令后(X1-X2線圈激勵), 2-3和5-6觸點斷開, 2-1和5-4觸點導(dǎo)通;發(fā)送關(guān)機(jī)指令后(Y1-Y2線圈激勵), 2-1和5-4觸點斷開, 2-3和5-6觸點導(dǎo)通。故障時發(fā)送開機(jī)指令后觸點狀態(tài)正常,但發(fā)送關(guān)機(jī)指令后繼電器不動作,觸點處于開機(jī)指令狀態(tài)。
圖2 M212底視線路圖
用X射線檢測儀對繼電器進(jìn)行檢查,發(fā)現(xiàn)與正常樣品對比,失效繼電器銜鐵左側(cè)未貼合到位。對Y1-Y2線圈激勵,繼電器無動作聲音,銜鐵狀態(tài)未發(fā)生變化;對X1-X2線圈激勵,聽到動作的聲音,銜鐵左側(cè)貼合到位;對Y1-Y2線圈激勵,聽到動作聲音,銜鐵正常轉(zhuǎn)動到位。失效件和比對件的X射線照片如表1所示,左側(cè)為失效品X射線照片,右側(cè)為對比樣品X射線照片。
用機(jī)械方法將繼電器啟封,然后將其放在顯微鏡下觀察,發(fā)現(xiàn)繼電器的內(nèi)部未出現(xiàn)可動多余物,銜鐵也未出現(xiàn)異常,對線圈緩慢加電,銜鐵轉(zhuǎn)動也未見異常,但觀察到兩付動合觸點有明顯的金屬轉(zhuǎn)移后形成的一面有凹坑,一面有堆積物的現(xiàn)象,繼電器觸點目視圖如圖3所示。
圖3 繼電器觸點目視
表1 銜鐵位置
1.2理論分析
1.2.1繼電器常見失效模式及機(jī)理
電磁繼電器的失效模式主要有以下7種[1]。
a)機(jī)械卡死
其失效機(jī)理為: 1)機(jī)械變形使得機(jī)械系統(tǒng)運動受阻;2)機(jī)械系統(tǒng)混入雜物使得系統(tǒng)運動受阻;3)裝配時運動橋一側(cè)與主體支架之間的間隙過小,擠壓塑料填片產(chǎn)生過大的阻力。
b)觸點行程不夠
其失效機(jī)理為: 1)推桿變形使得推桿與動觸點之間的距離過大,進(jìn)而造成動觸點的實際行程過短;2)動觸簧或靜觸簧變形使得有效接觸需要的行程變長或者不能正常復(fù)位。
c)線圈或引線斷裂
其失效機(jī)理為: 1)線圈受到機(jī)械損傷,從而使得導(dǎo)線的截面積變小,導(dǎo)電性能變差,最終因過熱而熔斷;2)振動環(huán)境下線圈松動,并隨著振動產(chǎn)生徑向位移,反復(fù)拉動線圈和引線,線圈或引線因應(yīng)力作用而疲勞斷裂;3)電阻絲過細(xì)且纏繞過緊,材料的熱膨脹系數(shù)不同,溫度升高時內(nèi)芯體和電阻絲產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力發(fā)生脆斷;4)線圈通電電流過大,從而導(dǎo)致線圈因過熱而熔斷。
d)觸點上產(chǎn)生融化圓坑或針刺
其失效機(jī)理為:分合電路時,發(fā)生電弧放電,產(chǎn)生高溫,從而使觸點表面融化。
e)觸點表面污染,接觸壓降過大
其失效機(jī)理為:觸點表面受到污染,形成微粒污染膜、無機(jī)化學(xué)膜和有機(jī)化學(xué)膜等。
f)密封失效
其失效機(jī)理為:常閉點玻璃絕緣子破裂,引線松動。
g)虛焊
其失效機(jī)理為:線圈內(nèi)部引線焊接不牢。
利用高倍放大鏡對開蓋后的失效繼電器進(jìn)行觀察,發(fā)現(xiàn)觸點產(chǎn)生了金屬轉(zhuǎn)移現(xiàn)象,因而可以判斷,該繼電器的失效模式屬于上述第4種失效模式,其失效機(jī)理為分合電路時發(fā)生了電弧放電,產(chǎn)生了高溫,從而導(dǎo)致了觸點表面融化。
1.2.2電弧放電對觸點電接觸失效的影響
磁保持繼電器的觸點在閉合的過程中,由于簧片自身具有一定的彈性,因而觸點處會產(chǎn)生短時間的回跳。當(dāng)兩邊觸點之間的距離較小而兩端電壓較大時容易出現(xiàn)擊穿電?。ㄈ蓟。┈F(xiàn)象。觸點動作包括吸合過程和釋放過程。其中,吸合過程分為靜合觸點分?jǐn)噙^程、動觸點自由運動過程和動合觸點閉合過程;釋放過程分為動合觸點分?jǐn)噙^程、動觸點自由運動過程和靜合觸點閉合過程。因此,觸點轉(zhuǎn)換一次即相當(dāng)于線圈的一次吸合和釋放過程,會出現(xiàn)4次燃弧過程和至少2次回跳[2]。觸點轉(zhuǎn)換的過程中會出現(xiàn)觸點間隙預(yù)擊穿和回跳現(xiàn)象,回跳產(chǎn)生的電弧會造成觸點材料的侵蝕,最終導(dǎo)致磁保持繼電器電接觸失效。
在電感負(fù)載中,特別是電動機(jī)中,通常驅(qū)動線路中會并接泄放反電動勢的電容,開始通電時,電動機(jī)啟動轉(zhuǎn)矩最大,因而啟動電流就大。一般情況下,啟動瞬態(tài)電流應(yīng)是平均電流的5~15倍。如果選用的磁保持繼電器降額過小,啟動產(chǎn)生的瞬態(tài)啟動電流則會大大地超出繼電器的接觸電流的范圍。此外,磁保持繼電器動作吸合過程中,由于觸點剛接觸時簧片的彈性,會產(chǎn)生短時間的同跳現(xiàn)象,此時瞬態(tài)接觸電流會達(dá)到最大,但是,由于觸點之間的接觸面積又很小,因而會產(chǎn)生接觸電弧,電弧又會產(chǎn)生高溫,最終使得接觸點周圍的金屬熔化[3]。
在觸點接觸瞬間由于觸點表面金屬熔化而且觸點緊密接觸,觸點間會被熔化的金屬焊接住,也就是發(fā)生動熔焊現(xiàn)象。觸點間發(fā)生動熔焊后若分?jǐn)鄷r機(jī)械系統(tǒng)提供的分?jǐn)嗔^小,則會出現(xiàn)分?jǐn)嗍?兩個觸點無法正常被分開?;靥^程中熔化的表層金屬會在觸點間發(fā)生轉(zhuǎn)移,從而形成針刺或者圓坑[4]。另外,發(fā)生動熔焊現(xiàn)象的觸點分?jǐn)嗨查g,熔焊金屬也會附著在某個觸點表面并再次電弧放電,從而導(dǎo)致觸點表面粗糙,下次無法正常接觸。
在電弧放電的過程中,若環(huán)境中氧氣的濃度較大,還會導(dǎo)致觸頭表面因被氧化而形成氧化膜,進(jìn)而影響觸點的電接觸性能甚至導(dǎo)致觸點因性能不符合要求而失效[5]。
1.2.3浪涌電流分析
機(jī)構(gòu)驅(qū)動器線路模型圖如圖4所示。
圖4 機(jī)構(gòu)驅(qū)動器驅(qū)動線路供電原理圖
圖4中: K——磁保持繼電器觸點;
R0——供電線路印制線等等效限流電阻;
C——繞組并聯(lián)泄放電容;
rc——電容等效串聯(lián)電阻。
代入R0實測值為1.2 Ω, rc電容等效串聯(lián)電阻手冊值為100 mΩ,浪涌電流理論計算值為21.5 A。
采用電流鉗對供電線路浪涌電流進(jìn)行了實際測試,得到峰值電流接近20 A,到達(dá)峰值的時間約為10 μs,與理論計算值基本一致,測試結(jié)果如圖5所示。
圖5 浪涌電流
1.2.4繼電器觸點回跳波形監(jiān)測
用Agillent DSO7014B數(shù)字示波器對失效繼電器動合觸點回跳波形進(jìn)行監(jiān)測,監(jiān)測結(jié)果如圖6所示。從圖6可以看出,動合觸點閉合到第一次斷開的時間約為8 μs,與浪涌電流到達(dá)峰值所需要的時間接近。
圖6 觸點回跳波形圖
1.2.5綜合分析
繼電器加電不動作一般與線圈故障、活動部件的卡滯和觸點粘連有關(guān)。該繼電器失效后線圈電阻的阻值正常,施加額定工作電壓后,工作電流正常但故障保持,因而可以排除線圈故障。內(nèi)部目檢未發(fā)現(xiàn)可動多余物,銜鐵、轉(zhuǎn)軸等活動部件也未見異常,因而可以排除活動部件的卡滯故障。內(nèi)部目檢觀察到使用的兩付動合觸點均有明顯的金屬物轉(zhuǎn)移現(xiàn)象,因而可以判斷該繼電器的失效與觸點粘連有關(guān)。
對使用線路的浪涌電流進(jìn)行了實際測試,得到峰值電流接近20 A,到達(dá)峰值的時間約10 μs;對失效繼電器觸點回跳波形進(jìn)行了監(jiān)測,得到觸點閉合到第一次斷開的時間約為8 μs,這表明失效繼電器觸點在第一次斷開時是對一個較大的電流進(jìn)行了分?jǐn)?而磁保持繼電器的觸點在分?jǐn)噍^大的電流時會產(chǎn)生熔化,從而使觸點發(fā)生粘連,一旦觸點粘連后所需的分?jǐn)嗔Τ^了繼電器驅(qū)動部分所能提供的分?jǐn)嗔?繼電器就會出現(xiàn)線圈激勵后無法動作的故障。
該繼電器出現(xiàn)線圈激勵后無法動作的故障是由于動合觸點閉合時存在回跳,且回跳過程中第一次斷開的時間接近浪涌電流的峰值時間,從而使觸點產(chǎn)生粘連所致。
1.3解決方案
1.3.1解決方案1
在驅(qū)動線路供電端采用消浪涌電路,如圖7所示。在上電瞬間,利用C1、C2電容兩端的電位差為0的特性,保證PMOS管處于關(guān)斷狀態(tài),之后電容通過R3進(jìn)行放電,在電容放電的過程中, MOS管柵源級電壓差會逐漸地增大,當(dāng)柵源電壓差為-10 V左右時, PMOS管完全導(dǎo)通。因此,選取適合的C1、C2和R2、R3值便可以有效地控制浪涌電流的幅值。
圖7 消浪涌電路
1.3.2解決方案2
采用在電容端串接電阻的方式降低浪涌電流,由于驅(qū)動線路并聯(lián)的固體鉭電容的正向耐壓值為63 V,而反向耐壓值僅為1 V,因而將其連接在一次母線電源+29 V端時會存在可靠性問題。實際中,可以把兩串兩并鉭電容(CAK-63 V-10 uF±10%)更改為10 Ω電阻串接兩個瓷介電容器(CT4L-3-2C1-100 V-474-K。),更改后的驅(qū)動線路串電阻電路圖如圖8所示。對改進(jìn)后的供電線路的浪涌電流進(jìn)行測試,測試結(jié)果如圖9所示,從圖9可以看出,更改后的供電線圖的浪涌電流峰值為4 A左右,上升時間為2 μs。
圖8 驅(qū)動線路串電阻電路圖
圖9 浪涌電流
1.3.3方案比較
解決方案1可以最大限度地減小浪涌電流,但是需要增加一部分電路,考慮到驅(qū)動線路過流大,因而需要采用MOSFET串接在供電母線上,這樣風(fēng)險較大,因此不建議采用;解決方案2簡單、易實施,僅需要在電機(jī)驅(qū)動路濾波電容上串接合適的限流電阻即可,并且經(jīng)產(chǎn)品實際驗證,此方案能夠有效地降低浪涌幅值,使得磁保持繼電器的觸點不被燒蝕。
實際案例的理論分析和實際測試均表明,在使用磁保持繼電器的過程中,必須仔細(xì)地考慮天線驅(qū)動器加斷電過程中浪涌電流對觸點的影響。通過對解決方案進(jìn)行比較,發(fā)現(xiàn)采用驅(qū)動線路端串接限流電阻的方案,可以有效地降低浪涌電流的影響,降低觸點被燒蝕的風(fēng)險。
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Protection Technology of the Contact of Magnetic Latching Relays Used in Spaceborne Antenna Driver
CHEN Wei
(No.805 Research Institute of SAST, Shanghai 201109, China)
Abstract:Magnetic latching relay is widely used in spaceborne antenna driver. But in the process of power outage and power-up of the driver, surge current will have a great impact on the reliability of the contact of magnetic latching relay due to the existence of capacitive load. A specific failure case of the magnetic latching relay used in a spaceborne antenna driver and the correlation analysis are given, and an effective protection technology of the contact of magnetic latching relay is proposed.
Key words:spaceborne antenna driver;magnetic latching relay;failure;contact;protection technology
作者簡介:陳偉(1982-),男,福建漳平人,上海航天八院八O五所工程設(shè)計中心工程師,碩士,從事星載機(jī)構(gòu)驅(qū)動器的研制開發(fā)工作。
收稿日期:2015-09-07
doi:10.3969/j.issn.1672-5468.2016.01.006
中圖分類號:V 443;TM 581.3
文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A
文章編號:1672-5468(2016)01-0026-04