李洪濤,張繼東,徐凌云,朱志秀,郅惠博,王 彪,樊浩天,宿太超
(1.上海出入境檢驗(yàn)檢疫局工業(yè)品與原材料檢測(cè)技術(shù)中心,上海 200135;2.河南理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,河南焦作 454000)
熱電材料是一種基于熱電效應(yīng)(塞貝克效應(yīng)、帕爾帖效應(yīng)和湯姆遜效應(yīng))將熱能和電能直接轉(zhuǎn)換的功能材料[1]。利用塞貝克效應(yīng),熱電材料可以被制成溫差發(fā)電機(jī)[1-2],從而有效利用工業(yè)余熱、放射性同位素及地?zé)岬葻嵩窗l(fā)電;利用帕爾帖效應(yīng),熱電材料可以被制成固態(tài)電制冷裝置。利用熱電材料制成的發(fā)電機(jī)和制冷裝置具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、無(wú)運(yùn)動(dòng)部件、壽命長(zhǎng)、安全、環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)。
熱電材料的性能由熱電優(yōu)值ZT決定,定義為σS2T/κ,其中:S、σ和κ分別為材料的Seebeck系數(shù)、電導(dǎo)率和熱導(dǎo)率,T為絕對(duì)溫度。從ZT值的表達(dá)式可以看出,提高熱電性能可通過(guò)增大Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率或降低熱導(dǎo)率實(shí)現(xiàn),但這3個(gè)參數(shù)并非獨(dú)立的,它們?nèi)Q于材料的電子結(jié)構(gòu)、載流子濃度及散射情況。
PbTe是目前唯一商業(yè)化應(yīng)用的溫差發(fā)電用中溫區(qū)熱電材料,具有熱電優(yōu)值高、各向同性、載流子濃度容易控制等優(yōu)點(diǎn)[2-3]。目前,PbTe已被成功應(yīng)用到航天領(lǐng)域,為空間飛行器提供能源[3]。PbTe材料的結(jié)構(gòu)和電學(xué)輸運(yùn)性能對(duì)壓力比較敏感[4-6],在4 GPa條件下會(huì)發(fā)生相變[6]。Zhu等人[5]的早期研究表明,高壓方法能夠有效地提高PbTe的熱電性能,這主要是因?yàn)楦邏汉铣蓸悠返碾娮杪屎蜔釋?dǎo)率低于常壓合成的樣品。宿太超等人[7-8]利用Bi2Te3和Sb2Te3為摻雜劑,采用高壓方法進(jìn)一步優(yōu)化了PbTe的電聲輸運(yùn)性能。他們還制備了Pb過(guò)量的非化學(xué)計(jì)量比PbTe,并在690 K時(shí)得到最大熱電優(yōu)值,約為0.37[9]。此后,陳波等人[10]采用熔煉法結(jié)合高壓燒結(jié)技術(shù)制備了Pb過(guò)量的Pb0.55Te0.45材料,并在700 K時(shí)得到最大熱電優(yōu)值0.59。目前報(bào)道的采用高壓方法制備的PbTe及摻雜材料均為n型材料,但在實(shí)際應(yīng)用中,需要熱膨脹系數(shù)相近的n型和p型熱電材料制成熱電器件,而利用高壓方法制備p型PbTe材料尚未見(jiàn)報(bào)道。對(duì)于PbTe材料,通過(guò)調(diào)整元素的化學(xué)計(jì)量比,能夠?qū)崿F(xiàn)載流子類型的調(diào)制及載流子濃度的優(yōu)化[11]。研究表明:Pb過(guò)量會(huì)提高電子的濃度,獲得n型PbTe并提高其力學(xué)性能;Te過(guò)量會(huì)提高空穴濃度,獲得p型PbTe材料。常壓下制備的本征PbTe多為p型半導(dǎo)體,說(shuō)明常壓下容易形成Pb空位;而高壓下PbTe為n型半導(dǎo)體,說(shuō)明壓力抑制了Pb空位的形成,且易形成Te空位。高壓方法能否直接合成p型PbTe尚需驗(yàn)證。
本研究通過(guò)調(diào)節(jié)Te的含量,采用高壓方法合成Te過(guò)量的PbTe,研究并優(yōu)化其室溫?zé)犭娦阅堋?/p>
將高純度的Pb(質(zhì)量分?jǐn)?shù)為99.9%)和Te(質(zhì)量分?jǐn)?shù)為99.999%)按PbTe1+x(x為0.04~0.27)的化學(xué)配比稱量,置于瑪瑙研缽中充分研磨1 h,之后用液壓機(jī)粉壓成?10 mm×4 mm的圓柱體,組裝于葉蠟石塊中。將組裝塊在國(guó)產(chǎn)六面頂液壓機(jī)SPD(6×1 200 MN)上高溫高壓(壓力為2.0 GPa,溫度為1 200 K)處理30 min后,淬冷到室溫。
合成后的樣品經(jīng)表面拋光后,在常溫下進(jìn)行結(jié)構(gòu)分析及熱電輸運(yùn)性能測(cè)試。X射線衍射(X-Ray Diffraction,XRD)測(cè)試采用日本真空理學(xué)D/MAX-RA衍射儀。電導(dǎo)率和霍爾系數(shù)測(cè)試采用范德堡法,測(cè)試電流為20 mA。Seebeck系數(shù)測(cè)試采用自制的Seebeck測(cè)試裝置,將樣品兩端保持5~10 K的溫差,用K型熱電偶同時(shí)測(cè)量樣品兩端的溫度及電勢(shì)差,電動(dòng)勢(shì)的測(cè)試由計(jì)算機(jī)輔助完成。熱導(dǎo)率通過(guò)公式κ=Dρcp計(jì)算得出,其中:D為熱擴(kuò)散系數(shù),由Netzsch LFA457激光導(dǎo)熱儀測(cè)得;cp為定壓比熱容,由杜隆珀替定律計(jì)算;ρ為密度,由阿基米德排水法測(cè)得。
圖1為高壓方法制備的PbTe1+x樣品的XRD測(cè)試結(jié)果??梢钥闯觯寒?dāng)x≤0.12時(shí),隨著Te含量的增大,高壓制備PbTe1+x樣品的衍射峰向衍射角(θ)增大的方向偏移,這可能是由于隨著Te含量的增大,Pb空位濃度增大,從而晶格常數(shù)變小所致;當(dāng)x>0.12時(shí),隨著Te含量的增加,衍射峰開始向衍射角減小的方向移動(dòng),這可能是因?yàn)門e含量進(jìn)一步增大時(shí),部分Te被壓制到晶格間隙而引起晶格膨脹所致。陳波等人[12]同樣發(fā)現(xiàn),高壓作用下Se容易被壓制進(jìn)入PbSe的晶格間隙中。
圖1 高壓合成PbTe1+x(x為0.04~0.27)樣品的XRD圖譜Fig.1 XRD patterns of PbTe1+x (x ranges from 0.04 to 0.27) samples prepared by high pressure method
如表1所示,當(dāng)x≥0.06時(shí),樣品的霍爾系數(shù)均大于零,說(shuō)明x≥0.06的樣品的主要載流子為空穴,屬于p型半導(dǎo)體。因此,我們著重研究x≥0.06的p型PbTe樣品的熱電輸運(yùn)性能。
表1 高壓合成PbTe1+x的霍爾系數(shù)、載流子濃度(n)、載流子遷移率(u)和載流子有效質(zhì)量(m*)Table 1 Hall coefficient,carrier concentration (n),Hall mobility (u) and carrier effective mass (m*) of PbTe1+x prepared by high pressure method
圖2 高壓合成PbTe1+x的Seebeck系數(shù)和電導(dǎo)率Fig.2 Seebeck coefficient and electrical conductivity of PbTe1+x prepared by high pressure method
圖2為高壓法制備的PbTe1+x(x為0.06~0.27)樣品的Seebeck系數(shù)和電導(dǎo)率。由圖2可以看出,所有樣品的Seebeck系數(shù)均為正,表明所得樣品為p型半導(dǎo)體材料,與表1中霍爾系數(shù)測(cè)試結(jié)果相符。隨著Te含量的增大,PbTe1+x的Seebeck系數(shù)先增大后減小,在x=0.12時(shí)獲得最大值,約為213.9 μV/K。Seebeck系數(shù)隨Te含量變化的規(guī)律與宿太超等人[7]報(bào)道的n型PbTe類似,他們將Seebeck系數(shù)隨摻雜量的不規(guī)則變化歸因于電子結(jié)構(gòu)變化。圖3為Seebeck系數(shù)隨載流子濃度的變化,可見(jiàn),高壓合成PbTe1+x的Seebeck系數(shù)基本滿足Pisarenko關(guān)系[13],說(shuō)明高壓合成Te過(guò)量的PbTe的電子結(jié)構(gòu)未發(fā)生明顯變化。PbTe1+x的Seebeck系數(shù)隨x的變化與電子結(jié)構(gòu)無(wú)關(guān)。金屬和簡(jiǎn)并半導(dǎo)體的Seebeck系數(shù)S可由下式表示
(1)
圖3 高壓合成PbTe1+x(x為0.06~0.27)的Seebeck系數(shù)與載流子濃度的關(guān)系Fig.3 Relationship between Seebeck coefficient and the carrier concentration of PbTe1+x (x ranges from 0.06 to 0.27) prepared by high pressure method
式中:kB為Boltzmann常數(shù),h為Planck常數(shù),e為電子電荷。由(1)式可知,Seebeck系數(shù)主要與載流子濃度及載流子有效質(zhì)量有關(guān)。載流子濃度和載流子有效質(zhì)量隨Te含量的變化(見(jiàn)表1)決定Seebeck系數(shù)的變化。
PbTe1+x的電導(dǎo)率隨著Te含量的增大而逐漸減小,電導(dǎo)率主要與載流子濃度n和載流子遷移率u有關(guān),即σ=neu。其中,載流子濃度主要與雜質(zhì)含量及本征缺陷濃度有關(guān),遷移率與散射機(jī)理有關(guān)。如表1所示,隨著Te含量的增大,PbTe載流子濃度的變化沒(méi)有明顯規(guī)律,當(dāng)x=0.06、0.22和0.27時(shí)樣品的載流子濃度較大,在5×1018cm-3以上。載流子濃度的不規(guī)則變化可能是因?yàn)閾饺脒^(guò)量Te后,可能同時(shí)存在Pb空位、Te填隙原子及第二相Te,這些缺陷和雜質(zhì)同時(shí)影響PbTe的載流子濃度。載流子遷移率隨著Te含量的增大而減小,可歸因于雜質(zhì)和缺陷對(duì)載流子的散射。
由室溫下測(cè)得的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率結(jié)果計(jì)算得到PbTe1+x的功率因子,如圖4所示。由圖4可以看出,隨著x的增大,功率因子先逐漸升高而后下降,在x=0.12時(shí)達(dá)到最大值,約為1 350 μW/(m·K2),比宿太超等人[7-8]利用高溫高壓方法制備的非摻雜PbTe(1 030 μW/(m·K2))高約30%,說(shuō)明調(diào)整Te含量有利于優(yōu)化PbTe的電學(xué)輸運(yùn)性能。
圖4 高壓合成PbTe1+x的功率因子Fig.4 Power factor of PbTe1+x prepared by high pressure method
圖5 高壓合成PbTe1+x的熱導(dǎo)率Fig.5 Thermal conductivity of PbTe1+x prepared by high pressure method
熱導(dǎo)率主要包括聲子熱導(dǎo)率(κphonon)和載流子熱導(dǎo)率(κe)兩部分。半導(dǎo)體熱電材料的熱導(dǎo)率主要取決于聲子熱導(dǎo)率。載流子熱導(dǎo)率可根據(jù)Wiedemann-Franz定律計(jì)算得出,即κe=LσT,其中L為L(zhǎng)orenz常數(shù)。對(duì)于PbTe,Lorenz常數(shù)隨著溫度和載流子濃度的變化而變化。根據(jù)不同理論模型計(jì)算出的L值不同,但常溫下L=24.5 nW·Ω·K-2廣泛被研究者所接受[14]。圖5為高壓制備PbTe樣品的熱導(dǎo)率隨Te含量的變化。當(dāng)x≤0.17時(shí),PbTe1+x的熱導(dǎo)率隨著Te含量的增加而減??;載流子熱導(dǎo)率占總熱導(dǎo)率的比例較小,聲子熱導(dǎo)率占主要部分,與宿太超等人[7-8]報(bào)道的n型PbTe結(jié)果一致。聲子熱導(dǎo)率隨x的變化趨勢(shì)與總熱導(dǎo)率相似。當(dāng)x=0.17時(shí),PbTe1+x的聲子熱導(dǎo)率最小,約為1.71 W/(m·K),遠(yuǎn)小于相同方法制備的非摻雜PbTe的聲子熱導(dǎo)率(約為2.3 W/(m·K))[7-8]。聲子熱導(dǎo)率的降低可歸因于Te過(guò)量而產(chǎn)生的Pb空位或填隙Te,空位或填隙等本征熱缺陷能夠有效散射聲子,降低聲子熱導(dǎo)率。通過(guò)調(diào)控樣品化學(xué)計(jì)量比產(chǎn)生空位從而引起聲子散射,也被應(yīng)用于其它熱電體系材料中[15]。當(dāng)x>0.17時(shí),PbTe1+x樣品熱導(dǎo)率的增大可歸因于第二相成分Te,如圖1所示,當(dāng)x>0.17時(shí),出現(xiàn)Te的衍射峰。
由功率因子及測(cè)得的熱導(dǎo)率計(jì)算出熱電優(yōu)值,列于表2。從表2可以看出:高溫高壓合成的PbTe1+x樣品的熱電優(yōu)值隨x的增加先逐漸增大,而后逐漸下降。在x=0.12時(shí),熱電優(yōu)值達(dá)到最大值,約為0.21。這一結(jié)果較相同方法制備的不摻雜PbTe的結(jié)果(約為0.14)增大了近50%[7-8],主要?dú)w因于Seebeck系數(shù)的增大而得到較大的功率因子,同時(shí)高壓下Te偏析產(chǎn)生空位或填隙缺陷,導(dǎo)致PbTe的聲子熱導(dǎo)率降低而具有較低的熱導(dǎo)率,從而具有較高的熱電性能。
表2 高壓合成PbTe1+x的熱電優(yōu)值Table 2 Figure-of-merit of PbTe1+x prepared by high pressure method
利用國(guó)產(chǎn)六面頂高溫高壓設(shè)備,成功制備了Te過(guò)量的PbTe材料。XRD測(cè)試表明,當(dāng)Te過(guò)量6%(即x≥0.06)時(shí),高壓制備的PbTe1+x樣品屬于p型半導(dǎo)體材料。隨著Te含量的增大,電導(dǎo)率減小。當(dāng)x=0.12時(shí),Seebeck系數(shù)和功率因子均達(dá)到最大值,分別約為213.9 μV/K和1 350 μW/(m·K2)。Te含量的增大有助于降低PbTe的聲子熱導(dǎo)率。當(dāng)x=0.12時(shí),PbTe的熱電優(yōu)值達(dá)到最大值,為0.21,比標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)計(jì)量比的PbTe提高了50%。綜上所述,利用高壓方法結(jié)合化學(xué)計(jì)量比調(diào)整能夠成功制備出具有高熱電性能的p型PbTe熱電材料。
[1] GOLDSMID H J.Introduction to thermoelectricity [M].Germany:Springer,2009.
[2] LALONDE A D,PEI Y,WANG H,et al.Lead telluride alloy thermoelectrics [J].Mater Today,2011,14(11):526-532.
[3] RAVICH Y I,EFIMOVA B A,SMIRNOV I A.Semiconducting lead chalcogenides [M].New York:Plenum Press,1970.
[4] FAN H,SU T,LI H,et al.High temperature thermoelectric properties of PbTe prepared by high pressure method [J].Mater Sci-Poland,2015,33(1):152-156.
[5] ZHU P,IMAI Y,ISODA Y,et al.Electrical transport and thermoelectric properties of PbTe prepared by HPHT [J].Mater Trans,2004,45(11):3102-3105.
[6] OVSYANNIKOV S V,SHCHENNIKOV V V.High-pressure thermopower of PbTe-based compounds [J].Phys Status Solidi B,2004,241(14):3231-3234.
[7] 宿太超,朱品文,馬紅安,等.高溫高壓摻雜N型PbTe的熱電性能 [J].高壓物理學(xué)報(bào),2007,21(1):55-58.
SU T C,ZHU P W,MA H A,et al.Thermoelectric properties of N-type PbTe prepared by HPHT [J].Chinese Journal of High Pressure Physics,2007,21(1):55-58.
[8] SU T,ZHU P,MA H,et al.Electrical transport and high thermoelectric properties of PbTe doped with Bi2Te3prepared by HPHT [J].Solid State Commun,2006,138(12):580-584.
[9] SU T,JIA X,MA H,et al.Thermoelectric properties of nonstoichiometric PbTe prepared by HPHT [J].J Alloy Compd,2009,468(1):410-413.
[10] 陳 波,孫振亞,黎明發(fā),等.高壓燒結(jié)對(duì)n型PbTe基材料熱電性能的影響 [J].高壓物理學(xué)報(bào),2012,26(2):121-126.
CHEN B,SU Z Y,LI M F,et al.Effect of high pressure sintering on the thermoelectric properties of n-type PbTe [J].Chinese Journal of High Pressure Physics,2012,26(2):121-126.
[11] BREBRICK R F,ALLGAIER R S.Composition limits of stability of PbTe [J].J Chem Phys,1960,32(6):1826-1831.
[12] 陳 波.高壓燒結(jié)制備PbSe基熱電材料的微結(jié)構(gòu)與熱電性能研究 [D].武漢:武漢理工大學(xué),2012.
CHEN B.Thermoelectric properties and microstructure of PbSe based thermoelectric materials fabricated with high pressure sintering [D].Wuhan:Wuhan University of Technology,2012.
[13] RAVICH Y,EFIMOVA B,SMIRNOV I.Semiconducting lead chalcogenides [M].New York:Plenum Press,1970.
[14] ORIHASHI M,NODA Y,KAIBE H T,et al.Evaluation of thermoelectric properties of impurity-doped PbTe [J].Mater Trans,1998,39(6):672-678.
[15] LI Z,XIAO C,FAN S J,et al.Dual vacancies:an effective strategy realizing synergistic optimization of thermoelectric property in BiCuSeO [J].J Am Chem Soc,2015,137(20):6587-6593.